一種紅外探測器響應(yīng)率測試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及光電探測器的檢測技術(shù)，具體是指一種測量紅外探測器響應(yīng)率的裝 置。
【背景技術(shù)】
[0002] 近年來，我國航空航天事業(yè)、工農(nóng)業(yè)生產(chǎn)及科學(xué)技術(shù)的迅速發(fā)展，紅外探測器技術(shù) 在不同領(lǐng)域中得到越來越多、越來越廣泛的應(yīng)用。由于紅外探測器除了本身的體積小、重量 輕、可以識(shí)別不可見光等優(yōu)點(diǎn)之外，同時(shí)還具有高探測率、基本對(duì)波長沒有限制、室溫下可 以正常使用以及比較可靠的結(jié)構(gòu)、具有較好的穩(wěn)定性等優(yōu)點(diǎn)，因此，在航空航天領(lǐng)域、國防 建設(shè)、工農(nóng)業(yè)生產(chǎn)、交通運(yùn)輸及科研系統(tǒng)等領(lǐng)域都有了廣泛的應(yīng)用。為了獲得具有高準(zhǔn)確度 和可信度的數(shù)據(jù)，對(duì)紅外探測器性能的優(yōu)劣提出了越來越高的要求。
[0003] 紅外探測器響應(yīng)率是表征紅外探測器對(duì)入射輻射靈敏程度的物理量，其相應(yīng)率越 大，探測器對(duì)輻射型號(hào)的靈敏程度越好。
[0004] 目前市場上的紅外探測器響應(yīng)率測試裝置在實(shí)用性、安裝簡易性、輻射信號(hào)可調(diào) 整性和黑體溫度可控性等方面均存在不足。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 本發(fā)明的目的在于提供一種簡捷、實(shí)用的測量紅外探測器響應(yīng)率的裝置，以達(dá)到 精確測量響應(yīng)率的目的。
[0006] 為實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的目的，提供以下技術(shù)方案:一種紅外探測器響應(yīng)率測試裝置，其特 征在于包括光學(xué)測試平臺(tái)、設(shè)置于光學(xué)測試平臺(tái)上的可在X、Y、Z三個(gè)方向移動(dòng)的三維位移 臺(tái)、固定于光學(xué)測試平臺(tái)一端的黑體支架、光源系統(tǒng)以及測試處理系統(tǒng)，所述光源系統(tǒng)安裝 于黑體支架上，包括黑體、光闌、濾光片以及黑體控制器，三維位移臺(tái)上安裝有被測探測器， 測試處理系統(tǒng)包括測試計(jì)算機(jī)、測試板卡，測試計(jì)算機(jī)信號(hào)連接黑體控制器，控制黑體輻射 溫度，黑體發(fā)出的輻射信號(hào)通過光闌和濾光片垂直入射到被測探測器上，被測探測器信號(hào) 連接測試板卡，測試板卡與測試計(jì)算機(jī)電連接，由測試計(jì)算機(jī)采集測試板卡上的各項(xiàng)測試 數(shù)據(jù)。
[0007] 作為優(yōu)選，所述光源系統(tǒng)與被測探測器兩者位于一個(gè)光學(xué)軸線。
[0008] 作為優(yōu)選，所述黑體產(chǎn)生的全波段紅外輻射信號(hào)由濾光片進(jìn)行濾光，

[0009] 作為優(yōu)選，光學(xué)測試平臺(tái)置于光、熱屏蔽罩之中。
[0010] 本發(fā)明有益效果：測試計(jì)算機(jī)通過黑體控制器可靈活控制黑體輻射溫度，通過光 闌和濾光鏡可得到不同波段的輻射信號(hào)，通過輸入測試板卡，計(jì)算機(jī)采集測試板卡上的各 項(xiàng)數(shù)據(jù)，同時(shí)調(diào)整黑體輻射信號(hào)，整個(gè)裝置安裝簡捷、實(shí)用、操作簡單，測試精度較高。
【附圖說明】
[0011]圖1為本發(fā)明結(jié)構(gòu)示意圖。 【具體實(shí)施方式】
[0012] -種紅外探測器響應(yīng)率測試裝置，包括光學(xué)測試平臺(tái)1、設(shè)置于光學(xué)測試平臺(tái)1上 的可在X、Y、Z三個(gè)方向移動(dòng)的三維位移臺(tái)2、固定于光學(xué)測試平臺(tái)1一端的黑體支架3、光源 系統(tǒng)4以及測試處理系統(tǒng)5,所述光源系統(tǒng)4安裝于黑體支架3上，包括黑體4.1、光闌4.2、濾 光片4.3以及黑體控制器4.4,三維位移臺(tái)2上安裝有被測探測器6,測試處理系統(tǒng)5包括測試 計(jì)算機(jī)5.1、測試板卡5.2，測試計(jì)算機(jī)信號(hào)5.3連接黑體控制器4.4，控制黑體4.1輻射溫度， 黑體4.1發(fā)出的輻射信號(hào)通過光闌4.2和濾光片4.3垂直入射到被測探測器6上，被測探測器 6信號(hào)連接測試板卡5.2，測試板卡5.2與測試計(jì)算機(jī)5.1電連接，由測試計(jì)算機(jī)5.1采集測試 板卡5.2上的各項(xiàng)測試數(shù)據(jù)。所述光源系統(tǒng)4與被測探測器6兩者位于一個(gè)光學(xué)軸線。所述黑 體4 . 1產(chǎn)生的全波段紅外輻射信號(hào)由濾光片4.3進(jìn)行濾光
，3個(gè)波段的輻射測試信號(hào)。光學(xué)測試平臺(tái)1置于光、熱屏蔽罩7之中。黑體4.1、光闌 4.2、濾光片4.3位于同一光源軸線上。
[0013]本發(fā)明并不局限于上述【具體實(shí)施方式】所涉及的紅外探測器響應(yīng)率測試裝置，熟悉 本技術(shù)領(lǐng)域的人員還可據(jù)此做出多種變化，但任何與本發(fā)明等同或相類似的變化都應(yīng)涵蓋 在本發(fā)明權(quán)利要求的范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種紅外探測器響應(yīng)率測試裝置，其特征在于包括光學(xué)測試平臺(tái)、設(shè)置于光學(xué)測試 平臺(tái)上的可在Χ、Υ、ΖΞ個(gè)方向移動(dòng)的Ξ維位移臺(tái)、固定于光學(xué)測試平臺(tái)一端的黑體支架、光 源系統(tǒng)W及測試處理系統(tǒng)，所述光源系統(tǒng)安裝于黑體支架上，包括黑體、光闊、濾光片W及 黑體控制器，Ξ維位移臺(tái)上安裝有被測探測器，測試處理系統(tǒng)包括測試計(jì)算機(jī)、測試板卡， 測試計(jì)算機(jī)信號(hào)連接黑體控制器，控制黑體福射溫度，黑體發(fā)出的福射信號(hào)通過光闊和濾 光片垂直入射到被測探測器上，被測探測器信號(hào)連接測試板卡，測試板卡與測試計(jì)算機(jī)電 連接，由測試計(jì)算機(jī)采集測試板卡上的各項(xiàng)測試數(shù)據(jù)。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種紅外探測器響應(yīng)率測試裝置，其特征在于所述光源系統(tǒng) 與被測探測器兩者位于一個(gè)光學(xué)軸線。3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種紅外探測器響應(yīng)率測試裝置，其特征在于所述黑體產(chǎn)生 的全波段紅外福射信號(hào)由濾光片進(jìn)行濾光，產(chǎn)生1-3抖3…5押》和8-13鮮w，3個(gè)波段的 福射測試信號(hào)。4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述一種紅外探測器響應(yīng)率測試裝置，其特征在于光學(xué)測試平臺(tái)置 于光、熱屏蔽罩之中。
【專利摘要】一種紅外探測器響應(yīng)率測試裝置，包括光學(xué)測試平臺(tái)、設(shè)置于光學(xué)測試平臺(tái)上的可在X、Y、Z三個(gè)方向移動(dòng)的三維位移臺(tái)、固定于光學(xué)測試平臺(tái)一端的黑體支架、光源系統(tǒng)以及測試處理系統(tǒng)，所述光源系統(tǒng)安裝于黑體支架上，包括黑體、光闌、濾光片以及黑體控制器，三維位移臺(tái)上安裝有被測探測器，測試處理系統(tǒng)包括測試計(jì)算機(jī)、測試板卡，測試計(jì)算機(jī)信號(hào)連接黑體控制器，控制黑體輻射溫度，黑體發(fā)出的輻射信號(hào)通過光闌和濾光片垂直入射到被測探測器上，被測探測器信號(hào)連接測試板卡，測試板卡與測試計(jì)算機(jī)電連接，由測試計(jì)算機(jī)采集測試板卡上的各項(xiàng)測試數(shù)據(jù)，本裝置方法簡便實(shí)用，測試精度較高，可廣泛推廣使用。
【IPC分類】G01J5/00, G01J5/02
【公開號(hào)】CN105571724
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201610063706
【發(fā)明人】張豪, 何旭嬌, 談彬武, 呂鵬, 許勇, 周平
【申請(qǐng)人】無錫元?jiǎng)?chuàng)華芯微機(jī)電有限公司
【公開日】2016年5月11日
【申請(qǐng)日】2016年1月29日