開關(guān)具有較好的電路了保護特性，能夠?qū)?電路后電氣設(shè)別的斷路或是過載等問題進行保護，防止設(shè)備損壞。
[0035] 所述待測試電磁爐1包括控制電路，所述控制電路的電路圖如圖1所示，包括：LC 回路、濾波電容C2、開關(guān)管T W及續(xù)流二極管D。其中，所述LC回路包括：并聯(lián)的濾波電感 L W及諧振電容C1 ;所述開關(guān)管T為所述IGBT，所述IGBT包括；柵極g、集電極C W及發(fā)射 極e ;所述濾波電容C2的一個極板通過所述LC回路與所述集電極C連接，另一個極板接地； 所述柵極g W及所述發(fā)射極e接地；所述續(xù)流二極管的正極與所述發(fā)射極e連接，負(fù)極與所 述集電極C連接。
[0036] 所述示波器Μ的第一輸入端連接所述IGBT的集電極C，所述示波器Μ的第二輸入 端連接所述IGBT的發(fā)射極e，所述示波器Μ用于測試所述IGBT發(fā)射極e與集電極C之間的 電壓，W測試所述發(fā)射極e與所述集電極C承受的耐壓。
[0037] 由于在LC回路發(fā)生震蕩時，會在所述IGBT的集電極C與發(fā)射極e之間加載一個 很到的高壓，為了防止示波器Μ的損壞，需要采用一個具有較高額定工作電壓的示波器，且 所述示波器包括能夠耐高壓的高壓差分探頭。在本實施例中，所述示波器Μ的額定工作電 壓大于或等于1000V，且所述示波器包括能搞耐高壓的高壓差分探頭，所述高壓差分探頭的 正極探頭為所述第一輸入端，所述高壓差分探頭的負(fù)極探頭為所述第二輸入端。需要保證 所述示波器Μ兩個輸入端的與所述IGBT的發(fā)射極e W及集電極C的連接正確性，防止示波 器損壞。
[0038] 所述測試裝置還包括；插線板2 W及第一電壓波動端W及第二電壓波動端。其中， 所述第一電壓波動端與所述第一極板連接，所述第二電壓波動端通過所述控制開關(guān)與所述 第二極板連接；所述插線板包括：第一插座P1 W及第二插座P2,所述第一插座P1與所述第 二插座P2均用于連接工作電源，在本實施例中，所述工作電源為可W提供220V交流電壓的 電源；所述第一插座P1與所述第二插座P2其中的一個用于與所述待測試電磁爐1的兩個 輸入電極連接，另一個用于與所述第一電壓波動端W及所述第二電壓波動端連接。
[0039] 通過所述插線板的兩個插座，可W便于所述待測試電磁爐1 W及所述電壓波動裝 置與所述工作電源的連接。當(dāng)所述待測試電磁爐1 W及所述電壓波動裝置與所述插線板2 上對應(yīng)的插座連接后，二者即同時連接在了所述工作電源。
[0040] 當(dāng)所述控制開關(guān)斷開時，所述待測試電磁爐的控制電路在所述工作電源提供的工 作電壓下正常工作，控制電路的IGBT導(dǎo)通，當(dāng)所述控制開關(guān)閉合時，由于所述工作電源需 要為所述控制電容充電，所述IGBT柵極與發(fā)射極電壓降低，導(dǎo)致IGBT關(guān)斷，所述控制電路 的濾波電感將會產(chǎn)生一個瞬間較大的電壓加載在所述IGBT的發(fā)射極與集電極兩端，此時 通過所述示波器可W測試所述IGBT兩端承受的電壓?？梢?，通過控制所述控制開關(guān)的開關(guān) 頻率，即可實現(xiàn)為所述IGBT的集電極W及發(fā)射極兩端施加設(shè)定頻率的脈沖電壓，并通過所 述示波器獲取所述IGBT的集電極W及發(fā)射極兩端承受的電壓值，W測試IGBT的耐壓性能。
[0041] 所述測試裝置的電壓波動裝置只需要一個控制電容及一個控制開關(guān)，結(jié)構(gòu)簡單且 制作成本較低。通過所述控制電容W及所述控制開關(guān)即可模擬電網(wǎng)的電壓波動，為測試電 磁爐提供一個脈沖電壓，通過調(diào)節(jié)控制開關(guān)的開關(guān)頻率可W調(diào)節(jié)所述IGBT發(fā)射極e W及集 電極C之間的電壓，通過所述示波器即可獲取所述IGBT發(fā)射極e W及集電極C之間的電壓， 從而實現(xiàn)對所述IGBT的耐壓測試。
[0042] 基于上述測試裝置實施例，本申請的另一個實施例還提供了一種電磁爐IGBT耐 壓測試方法，采用上述實施例所述的測試裝置對待檢測電磁爐進行測試，所述測試方法包 括：
[0043] 步驟S1 ;為所述待測試電磁爐的兩輸入電極提供工作電壓。
[0044] 所述測試裝置與所述待測試電磁爐的電路連接關(guān)系可參見圖2 W及上述實施例 中對應(yīng)描述，在此不再賞述。
[0045] 步驟S2 ; W設(shè)定開關(guān)頻率控制所述測試裝置的控制開關(guān)進行開關(guān)動作。
[0046] 當(dāng)所述測試裝置與所述待測試電磁爐均連接在工作電源時，通過控制所述測試裝 置的控制開關(guān)的開關(guān)頻率，會使得所述待測試電磁爐的控制電路的LC回路發(fā)生震蕩。開關(guān) 頻率越快，即所述控制電容的充電時間越短，所述IGBT的斷開時間越短，則其集電極C與發(fā) 射極e么間的電壓?? = ，當(dāng)化越小時，由所述LC回路的濾波電感L產(chǎn)生的感應(yīng)電壓 at 值越高，將導(dǎo)致集電極C與發(fā)射極e之間出現(xiàn)瞬間的峰值電壓V。。。
[0047] 通過調(diào)節(jié)所述控制開關(guān)的開關(guān)頻率，即可模擬電網(wǎng)電壓波動，為所述IGBT提供一 個脈沖電壓，當(dāng)開關(guān)頻率越快，模擬的電網(wǎng)波動就越大。
[0048] 步驟S3 ;通過所述測試裝置的示波器獲取所述IGBT集電極與發(fā)射極之間的電壓。
[0049] 在上述步驟中控制所述控制開關(guān)進行開關(guān)操作時，每一個開關(guān)周期，所述示波器 均會獲得一個集電極C與發(fā)射極e之間的峰值電壓。
[0050] 通過上述描述可知，所述測試方法通過控制所述電壓波動裝置模擬供電電網(wǎng)的電 壓波動通過所述示波器獲取當(dāng)前加載在所述IGBT集電極C與發(fā)射極e之間的電壓，從而可 W實現(xiàn)對待測試電磁爐耐值的壓測試，測試方法簡單，測試效率快。
[0051] 對所公開的實施例的上述說明，使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本發(fā)明。 對送些實施例的多種修改對本領(lǐng)域的專業(yè)技術(shù)人員來說將是顯而易見的，本文中所定義的 一般原理可W在不脫離本發(fā)明的精神或范圍的情況下，在其它實施例中實現(xiàn)。因此，本發(fā)明 將不會被限制于本文所示的送些實施例，而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點相一 致的最寬的范圍。
【主權(quán)項】
1. 一種電磁爐IGBT耐壓測試裝置，其特征在于，包括： 電壓波動裝置，所述電壓波動裝置包括：測試電容以及控制開關(guān)，所述測試電容的第一 極板通過所述控制開關(guān)與待測試電磁爐的一個輸入電極連接，所述測試電容的第二極板與 所述待測試電磁爐的另一個輸入電極連接； 示波器，所述示波器的第一輸入端連接所述IGBT的集電極，所述示波器的第二輸入端 連接所述IGBT的發(fā)射極，所述示波器用于測試所述IGBT發(fā)射極與集電極之間的電壓。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述測試電容是CBB電容。3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述控制開關(guān)是空氣開關(guān)。4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述示波器的額定工作電壓大于或 等于1000V。5. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試裝置，其特征在于，所述示波器包括高壓差分探頭； 其中，所述高壓差分探頭的正極探頭為所述第一輸入端，所述高壓差分探頭的負(fù)極探 頭為所述第二輸入端。6. 根據(jù)權(quán)利要求1-5任一項所述的測試裝置，其特征在于，還包括：插線板以及第一電 壓波動端以及第二電壓波動端； 其中，所述第一電壓波動端與所述第一極板連接，所述第二電壓波動端通過所述控制 開關(guān)與所述第二極板連接；所述插線板包括：第一插座以及第二插座，所述第一插座與所 述第二插座均用于連接工作電源；所述第一插座與所述第二插座其中的一個用于與所述待 測試電磁爐的兩個輸入電極連接，另一個用于與所述第一電壓波動端以及所述第二電壓波 動端連接。7. -種電磁爐IGBT耐壓測試方法，其特征在于，采用如權(quán)利要求1-6任一項所述的測 試裝置對待檢測電磁爐進行測試，所述測試方法包括： 為所述待測試電磁爐的兩輸入電極提供工作電壓； 以設(shè)定開關(guān)頻率控制所述測試裝置的控制開關(guān)進行開關(guān)動作； 通過所述測試裝置的示波器獲取所述IGBT集電極與發(fā)射極之間的電壓。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種電磁爐IGBT耐壓測試裝置及方法，所述測試裝置包括：電壓波動裝置，所述電壓波動裝置包括：測試電容以及控制開關(guān)，所述測試電容的第一極板通過所述控制開關(guān)與待測試電磁爐的一個輸入電極連接，所述測試電容的第二極板與所述待測試電磁爐的另一個輸入電極連接；示波器，所述示波器的第一輸入端連接所述IGBT的集電極，所述示波器的第二輸入端連接所述IGBT的發(fā)射極，所述示波器用于測試所述IGBT發(fā)射極與集電極之間的電壓。本發(fā)明所述測試裝置及方法可以模擬供電電網(wǎng)的電壓波動，為待測試電磁爐的IGBT提供脈沖測試電壓，實現(xiàn)IGBT的耐壓測試。
【IPC分類】G01R1/28, G01R31/12
【公開號】CN105486988
【申請?zhí)枴緾N201410529546
【發(fā)明人】羅金, 胡少偉, 黎奇
【申請人】江蘇中科君芯科技有限公司
【公開日】2016年4月13日
【申請日】2014年10月9日