檢驗系統(tǒng)及檢驗系統(tǒng)的控制方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種偵測系統(tǒng)及控制偵測系統(tǒng)的方法，且特別涉及一種檢驗系統(tǒng)及控制檢驗系統(tǒng)的方法。
【背景技術(shù)】
[0002]非破壞性檢測(Non-destructive inspect1n, NDI)可在不傷及物體的結(jié)構(gòu)或不需將上述物體大幅度地進行拆解的狀況下，徹底地對上述物體進行檢測。因此，NDI特別利于避免拆解物體以進行檢測的方式所導(dǎo)致的時間、勞動力及成本的損失，并可進一步避免檢測程序中可能對物體造成的損害。
[0003]在NDI技術(shù)中，X-ray分層照相法為一種影像擷取技術(shù)，其可產(chǎn)生待測物體的選定平面的內(nèi)部剖面影像。一般而言，X-ray分層照相系統(tǒng)包含Χ-ray源、X_ray偵測器及固定基座，上述X-ray偵測器用來界定影像平面，上述固定基座用來將待測物體固定于X_ray源及X-ray偵測器之間。
[0004]然而，X-ray分層照相系統(tǒng)所能取得的影像受限于其自身的結(jié)構(gòu)。舉例而言，待測物體被放置于固定基座上，X-ray源在上述待測物體上方并放射Χ-ray，此Χ-ray會穿透待測物體。在此狀況下，若另一物體放置于待測物體下方，上述另一物體會被待測物體阻擋。進一步而言，若另一物體實為上述待測物體的缺陷，例如另一物體與待測物體本為同一元件，然而此元件破損而分成上述兩個部分(如:另一物體與待測物體)。此時，由于待測物體的缺陷被待測物體所阻擋，導(dǎo)致待測物體的缺陷將被X-ray分層照相系統(tǒng)忽略。
[0005]由此可見，上述現(xiàn)有的方式，顯然仍存在不便與缺陷，而有待改進。為了解決上述問題，相關(guān)領(lǐng)域莫不費盡心思來謀求解決之道，但長久以來仍未發(fā)展出適當?shù)慕鉀Q方案。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]
【發(fā)明內(nèi)容】
旨在提供本公開內(nèi)容的簡化摘要，以使閱讀者對本公開內(nèi)容具備基本的理解。此
【發(fā)明內(nèi)容】
并非本揭示內(nèi)容的完整概述，且其用意并非在指出本發(fā)明實施例的重要/關(guān)鍵元件或界定本發(fā)明的范圍。
[0007]本
【發(fā)明內(nèi)容】
的一個目的是在提供一種檢驗系統(tǒng)及檢驗系統(tǒng)的控制方法，借以改善先前技術(shù)的問題。
[0008]為達上述目的，本
【發(fā)明內(nèi)容】
的一個技術(shù)方面是關(guān)于一種檢驗系統(tǒng)，此檢驗系統(tǒng)包含放射源、影像偵測器及放置裝置，前述放置裝置包含放置裝置及轉(zhuǎn)動機構(gòu)。放射源以及影像偵測器被驅(qū)動以沿著預(yù)設(shè)路徑移動。放置裝置配置于放射源以及影像偵測器之間。承載器用來承載至少一個物體。轉(zhuǎn)動機構(gòu)耦接于承載器并用來轉(zhuǎn)動承載器。
[0009]優(yōu)選地，上述技術(shù)方案中，若放射源朝著第一方向放射X-ray射線，轉(zhuǎn)動機構(gòu)用來轉(zhuǎn)動承載器至第二方向，使第一方向平行于第二方向。
[0010]優(yōu)選地，上述技術(shù)方案中，影像偵測器用來偵測穿透物體的x-ray射線，以取得物體的側(cè)面影像。
[0011]優(yōu)選地，上述技術(shù)方案中，轉(zhuǎn)動機構(gòu)用來控制承載器以沿著軸向轉(zhuǎn)動預(yù)設(shè)角度。
[0012]優(yōu)選地，上述技術(shù)方案中，放射源朝著一方向放射X-ray射線，X-ray射線的方向垂直于軸向。
[0013]優(yōu)選地，上述技術(shù)方案中，預(yù)設(shè)角度在三十度內(nèi)。
[0014]優(yōu)選地，上述技術(shù)方案中，放置裝置還包含:移動機構(gòu)，其耦接于轉(zhuǎn)動機構(gòu)并用來移動轉(zhuǎn)動機構(gòu)。
[0015]優(yōu)選地，上述技術(shù)方案中，放射源、影像偵測器、承載器以及轉(zhuǎn)動機構(gòu)分別被獨立驅(qū)動。
[0016]優(yōu)選地，上述技術(shù)方案中，放射源以及影像偵測器被相應(yīng)驅(qū)動。
[0017]優(yōu)選地，上述技術(shù)方案中，轉(zhuǎn)動機構(gòu)包含步進馬達以及伺服馬達的其中至少一者。
[0018]為達上述目的，本
【發(fā)明內(nèi)容】
的另一個技術(shù)方面是關(guān)于一種檢驗系統(tǒng)的控制方法。檢驗系統(tǒng)包含放射源、影像偵測器以及放置裝置，放置裝置配置于放射源以及影像偵測器之間，放置裝置包含承載器以及轉(zhuǎn)動機構(gòu)?？刂品椒ò?
[0019]驅(qū)動放射源以及影像偵測器以沿著預(yù)設(shè)路徑移動；
[0020]由承載器以承載物體；以及
[0021]由轉(zhuǎn)動機構(gòu)以轉(zhuǎn)動承載器。
[0022]優(yōu)選地，上述技術(shù)方案中，控制方法還包含:由放射源朝著第一方向放射X-ray射線；以及由轉(zhuǎn)動機構(gòu)以轉(zhuǎn)動承載器至第二方向，使第一方向平行于第二方向。
[0023]優(yōu)選地，上述技術(shù)方案中，控制方法還包含:由影像偵測器以偵測穿透物體的X-ray射以取得物體的側(cè)面影像。
[0024]優(yōu)選地，上述技術(shù)方案中，控制方法還包含:由轉(zhuǎn)動機構(gòu)控制承載器以沿著軸向轉(zhuǎn)動預(yù)設(shè)角度。
[0025]優(yōu)選地，上述技術(shù)方案中，控制方法還包含:由放射源朝著一方向放射X-ray射線，X-ray射線的方向垂直于軸向。
[0026]優(yōu)選地，上述技術(shù)方案中，預(yù)設(shè)角度在三十度內(nèi)。
[0027]優(yōu)選地，上述技術(shù)方案中，控制方法還包含:沿著移動機構(gòu)以移動轉(zhuǎn)動機構(gòu)。
[0028]優(yōu)選地，上述技術(shù)方案中，控制方法還包含:獨立驅(qū)動放射源、影像偵測器、承載器以及轉(zhuǎn)動機構(gòu)。
[0029]優(yōu)選地，上述技術(shù)方案中，控制方法還包含:相應(yīng)驅(qū)動放射源以及影像偵測器。
[0030]優(yōu)選地，上述技術(shù)方案中，轉(zhuǎn)動機構(gòu)包含步進馬達以及伺服馬達的其中至少一者。
[0031]因此，根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容，本發(fā)明實施例借由提供一種檢驗系統(tǒng)及檢驗系統(tǒng)的控制方法，借以改善一待測物體被阻擋物擋住原先用來檢測上述物體的X-ray射線，導(dǎo)致上述物體無法被X-ray分層照相法所檢測的問題。
[0032]在參閱下文實施方式后，本發(fā)明所屬本領(lǐng)域技術(shù)人員可輕易了解本發(fā)明的基本精神及其他發(fā)明目的，以及本發(fā)明所采用的技術(shù)手段與實施方面。
【附圖說明】
[0033]為讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征、優(yōu)點與實施例能更明顯易懂，所附附圖的說明如下:
[0034]圖1為根據(jù)本發(fā)明一實施例的一種檢驗系統(tǒng)的示意圖。
[0035]圖2為根據(jù)本發(fā)明另一實施例的一種檢驗系統(tǒng)的操作示意圖。
[0036]圖3為根據(jù)本發(fā)明再一實施例的一種檢驗系統(tǒng)的檢測影像示意圖。
[0037]圖4為根據(jù)本發(fā)明又一實施例的一種檢驗系統(tǒng)的部分結(jié)構(gòu)示意圖。
[0038]圖5為根據(jù)本發(fā)明另一實施例的一種檢驗系統(tǒng)的操作示意圖。
[0039]圖6為根據(jù)本發(fā)明再一實施例的一種檢驗系統(tǒng)的檢測影像示意圖。
[0040]圖7A為根據(jù)本發(fā)明一實施例的一種檢驗系統(tǒng)的待測物示意圖。
[0041]圖7B為根據(jù)本發(fā)明另一實施例的一種檢驗系統(tǒng)的待測物檢測影像示意圖。
[0042]圖7C為根據(jù)本發(fā)明再一實施例的一種檢驗系統(tǒng)的待測物檢測影像示意圖。
[0043]圖8A為根據(jù)本發(fā)明一實施例的一種檢驗系統(tǒng)的待測物示意圖。
[0044]圖SB為根據(jù)本發(fā)明另一實施例的一種檢驗系統(tǒng)的待測物檢測影像示意圖。
[0045]圖SC為根據(jù)本發(fā)明再一實施例的一種檢驗系統(tǒng)的待測物檢測影像示意圖。
[0046]圖9為根據(jù)本發(fā)明一實施方式的一種檢驗系統(tǒng)的控制方法的流程圖。
【具體實施方式】
[0047]根據(jù)慣常的作業(yè)方式，圖中各種特征與元件并未依比例繪制，其繪制方式是為了以最佳的方式呈現(xiàn)與本發(fā)明相關(guān)的具體特征與元件。此外，在不同附圖間，以相同或相似的元件符號來指稱相似的元件/部件。
[0048]為了使本公開內(nèi)容的敘述更加詳盡與完備，下文針對了本發(fā)明的實施態(tài)樣與具體實施例提出了說明性的描述；但這并非實施或運用本發(fā)明具體實施例的唯一形式。實施方式中涵蓋了多個具體實施例的特征以及用來建構(gòu)與操作這些具體實施例的方法步驟與其順序。然而，也可利用其他具體實施例來達成相同或均等的功能與步驟順序。
[0049]除非本說明書另有定義，此處所用的科學(xué)與技術(shù)詞匯的含義與本發(fā)明本領(lǐng)域技術(shù)人員所理解與慣用的意義相同。此外，在不和上下文沖突的情形下，本說明書所用的單數(shù)名詞涵蓋該名詞的復(fù)數(shù)型；而所用的復(fù)數(shù)名詞時也涵蓋該名詞的單數(shù)型。
[0050]另外，關(guān)于本文中所使用的“耦接”，可指二個或多個元件相互直接作實體或電性接觸，或是相互間接作實體或電性接觸，也可指二或多個元件相互操作或動作。
[0051]圖1為根據(jù)本發(fā)明一實施例的一種檢驗系統(tǒng)的示意圖。如圖1所示，檢驗系統(tǒng)包含放射源110、影像偵測器120以及放置裝置130。