一種測量非導電材質涂裝膜厚度的方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明屬于涂裝及真空鍍膜技術領域，涉及一種測量涂裝膜厚度的方法，具體涉及一種測量非導電材質涂裝膜厚度的方法。
【背景技術】
[0002]隨著科學技術的快速發(fā)展，涂層及薄膜的應用越來越廣泛，工業(yè)界對膜厚的測量與質量控制提出了很高的要求。
[0003]作為普通涂裝企業(yè)，涂裝膜厚度的測定一般的方法有以下幾種:
[0004]1、千分尺，測量精度為0.001mm，準確度為0.01mm ；
[0005]2、使用磁感應原理的測試設備，測量精度為0.0lum，準確度為0.lum ;
[0006]3、其他方式。
[0007]以上方式中，第一種可以運用在金屬或非金屬等多種本體材質上，但是其準確度低；第二種只能運用在金屬本體材質上。無論采用上述何種方式，如果需要進行100%的全檢，均不具備大規(guī)模量產操作性。

【發(fā)明內容】

[0008]有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種測量非導電材質表面進行涂裝后涂裝膜厚度的方法，不僅可以運用在非金屬材質上，而且可以實現(xiàn)涂裝膜產品的100%全檢。
[0009]為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術方案:
[0010]本發(fā)明的測量非導電材質涂裝膜厚度的方法，包括下述步驟:
[0011](1)分別制作目標厚度范圍內的多階段涂裝膜產品；
[0012](2)采用斷層切割電子顯微鏡方式進行膜厚的測定；
[0013](3)將連接有高頻天線發(fā)射頭的高周波發(fā)生裝置固定，于天線發(fā)射頭處放置未涂裝的素材產品，確定波形的最低點，將多階段涂裝膜產品分別置于天線發(fā)射頭處并標識波形最低點，確定目標厚度范圍內的膜厚極限值，取空白波形的非波谷任意點，加上膜厚的極限值的波谷點連成直線，作為測定報警線，將涂裝后的產品置于天線發(fā)射頭處進行測試，在報警線范圍內即為合格，超過報警線范圍則為不合格。
[0014]優(yōu)選的，所述的多階段涂裝膜產品的目標厚度范圍為0.5?2.0um。
[0015]本發(fā)明的方法相對現(xiàn)有方法，拋棄了傳統(tǒng)的膜厚測定方式，采用全新的膜厚測定方法，特別適用于非金屬材質表面進行金屬化涂裝的膜厚測定，對涂裝膜本身無破壞性；針對要求特別嚴格的產品，可以進行100%的膜厚檢測，膜厚測量的精度可以達到0.lum的等級。
【具體實施方式】
[0016]下面將對本發(fā)明實施例中的技術方案進行詳細的描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0017]實施例
[0018]本方法采用玻璃非導電材質進行試作
[0019]涂裝方式:含A1粉的金屬涂裝
[0020]客戶要求的涂裝膜厚度為:0.5um?2.0um
[0021]其測試和管控方法為:
[0022]1、按照要求制作0.5um?2.0um的多階段涂裝產品；
[0023]2、采用斷層切割電子顯微鏡方式進行膜厚的測定；
[0024]3、進行高周波相位反射偏移測試的測定方式檢討:
[0025](1)準備可以發(fā)射高周波的設備，如安捷倫、安立等設備；
[0026](2)準備一個能夠發(fā)射高頻的天線發(fā)射頭；
[0027](3)準備沒有涂裝的素材產品
[0028](4)將天線發(fā)射頭與高周波發(fā)生設備連接后，固定；
[0029](5)將沒有涂裝的素材產品放置于天線發(fā)射頭處，確定波形的最低點；
[0030](6)將得到客戶認可的等同膜厚的產品分別放置于天線發(fā)射頭處，并分別標識波形最低點，尤其是需要標識出客戶認可的膜厚的極限值；
[0031](7)取空白波形的非波谷任意點，加上膜厚的極限值的波谷點連成直線，作為測定報警線；
[0032](8)將涂裝后的產品置于天線發(fā)射頭處進行測試，在報警線范圍內即為合格，超過報警線范圍則為不合格。
[0033]于本領域技術人員而言，顯然本發(fā)明不限于上述示范性實施例的細節(jié)，而且在不背離本發(fā)明的精神或基本特征的情況下，能夠以其他的具體形式實現(xiàn)本發(fā)明。因此，無論從哪一點來看，均應將實施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本發(fā)明的范圍由所附權利要求而不是上述說明限定，因此旨在將落在權利要求的等同要件的含義和范圍內的所有變化囊括在本發(fā)明內。
[0034]此外，應當理解，雖然本說明書按照實施方式加以描述，但并非每個實施方式僅包含一個獨立的技術方案，說明書的這種敘述方式僅僅是為清楚起見，本領域技術人員應當將說明書作為一個整體，各實施例中的技術方案也可以經適當組合，形成本領域技術人員可以理解的其他實施方式。
【主權項】
1.一種測量非導電材質涂裝膜厚度的方法，其特征在于，包括下述步驟: (1)分別制作目標厚度范圍內的多階段涂裝膜產品； (2)采用斷層切割電子顯微鏡方式進行膜厚的測定； (3)將連接有高頻天線發(fā)射頭的高周波發(fā)生裝置固定，于天線發(fā)射頭處放置未涂裝的素材產品，確定波形的最低點，將多階段涂裝膜產品分別置于天線發(fā)射頭處并標識波形最低點，確定目標厚度范圍內的膜厚極限值，取空白波形的非波谷任意點，加上膜厚的極限值的波谷點連成直線，作為測定報警線，將涂裝后的產品置于天線發(fā)射頭處進行測試，在報警線范圍內即為合格，超過報警線范圍則為不合格。2.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于:所述的多階段涂裝膜產品的目標厚度范圍為0.5?2.0umo
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種測量非導電材質涂裝膜厚度的方法，通過連接有高頻天線發(fā)射頭的高周波發(fā)生裝置標識目標厚度范圍內的多階段涂裝膜產品及未涂裝的素材產品，確定波形的最低點和膜厚極限值，取空白波形的非波谷任意點，加上膜厚的極限值的波谷點連成直線，作為測定報警線，將涂裝后的產品置于天線發(fā)射頭處進行測試。本發(fā)明的方法特別適用于非金屬材質表面進行金屬化涂裝的膜厚測定，對涂裝膜本身無破壞性；針對要求特別嚴格的產品，可以進行100％的膜厚檢測，膜厚測量的精度可以達到0.1um的等級。
【IPC分類】G01B11/06
【公開號】CN105277128
【申請?zhí)枴緾N201510654235
【發(fā)明人】王寒驍, 沈峰
【申請人】江蘇新思達電子有限公司
【公開日】2016年1月27日
【申請日】2015年10月10日