一種對(duì)不同紫外成像儀檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行校準(zhǔn)的測(cè)試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及電力設(shè)備的紫外檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種對(duì)不同紫外成像儀檢測(cè) 結(jié)果進(jìn)行校準(zhǔn)的測(cè)試方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 紫外檢測(cè)技術(shù)是近幾年逐漸發(fā)展起來(lái)的一種非接觸式的帶電檢測(cè)技術(shù)，通過(guò)檢測(cè) 電力絕緣設(shè)備放電產(chǎn)生的特定波段的紫外光，來(lái)達(dá)到檢測(cè)放電嚴(yán)重程度及絕緣性能的目 的。紫外放電檢測(cè)結(jié)果主要包括紫外光子數(shù)和紫外光斑面積，但由于不同的紫外成像儀存 在差異，在相同的增益設(shè)置下記錄到的同一放電點(diǎn)的紫外光子數(shù)和紫外光斑面積可能會(huì)存 在較大差距，這給不同紫外成像儀的檢測(cè)結(jié)果的比較帶來(lái)困難，也給紫外放電檢測(cè)結(jié)果的 評(píng)估標(biāo)準(zhǔn)制定形成阻礙。現(xiàn)有的研究大多只給出某一臺(tái)紫外成像儀的研究結(jié)論，忽略了不 同儀器之間的差異，其研究結(jié)論不能直接用于其他紫外成像儀的檢測(cè)結(jié)果中或者應(yīng)用結(jié)果 不準(zhǔn)確。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提出一種校準(zhǔn)不同紫外成像儀檢測(cè)結(jié)果的測(cè)試方 法，通過(guò)本發(fā)明的測(cè)試方法進(jìn)行校準(zhǔn)后，即可將不同的紫外成像儀的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行對(duì)比，以 準(zhǔn)確判定電力絕緣設(shè)備的放電嚴(yán)重程度及其絕緣性能。
[0004] 為達(dá)到上述目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案：
[0005] 本發(fā)明公開了一種對(duì)不同紫外成像儀檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行校準(zhǔn)的測(cè)試方法，包括以下步 驟：
[0006] Sl :以增益為變量，其他參數(shù)為定量，采用第一紫外成像儀對(duì)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試對(duì)象在不同 的增益下進(jìn)行測(cè)試，得到所述標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試對(duì)象在不同的增益下的第一組測(cè)試結(jié)果；
[0007] S2 :以增益為變量，其他參數(shù)為定量，采用第二紫外成像儀對(duì)所述標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試對(duì)象在 不同的增益下進(jìn)行測(cè)試，得到所述標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試對(duì)象在不同的增益下的第二組測(cè)試結(jié)果；
[0008] S3:將所述第一組測(cè)試結(jié)果與所述第二組測(cè)試結(jié)果進(jìn)行比較，確定所述第一紫外 成像儀與所述第二紫外成像儀在得到相等或相近的測(cè)試結(jié)果時(shí)分別對(duì)應(yīng)的增益，該對(duì)應(yīng)的 增益是所述第一紫外成像儀與所述第二紫外成像儀的等價(jià)增益，其中相近的測(cè)試結(jié)果是指 數(shù)值相差小于或等于5% ;
[0009] S4 :以所述第一紫外成像儀的所述第一組測(cè)試結(jié)果為標(biāo)準(zhǔn)，將采用所述第二紫外 成像儀在第二增益值下對(duì)于實(shí)際測(cè)試對(duì)象進(jìn)行測(cè)試的結(jié)果與所述第一紫外成像儀在第一 增益值下對(duì)于所述標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試對(duì)象進(jìn)行測(cè)試的結(jié)果進(jìn)行比較，其中所述第一增益值與所述第 二增益值是所述第一紫外成像儀與所述第二紫外成像儀的所述等價(jià)增益。
[0010] 優(yōu)選地，所述第一組測(cè)試結(jié)果與所述第二組測(cè)試結(jié)果均是紫外光子數(shù)的測(cè)試結(jié) 果。
[0011] 優(yōu)選地，所述第一組測(cè)試結(jié)果與所述第二組測(cè)試結(jié)果均是紫外光斑面積的測(cè)試結(jié) 果。
[0012] 優(yōu)選地，采用所述第一紫外成像儀或所述第二紫外成像儀對(duì)所述標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試對(duì)象進(jìn) 行測(cè)試的步驟具體包括：選用棒電極和板電極為試驗(yàn)平臺(tái)，所述棒電極的尖端距離所述板 電極3~5cm，加壓10~15kV，所述第一紫外成像儀或所述第二紫外成像儀的檢測(cè)距離均 為4~IOm 0
[0013] 優(yōu)選地，采用所述第一紫外成像儀或所述第二紫外成像儀對(duì)所述標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試對(duì)象進(jìn) 行測(cè)試的步驟具體包括：選用絕緣子串為試驗(yàn)平臺(tái)，每串所述絕緣子串懸掛10~15片絕緣 子，加壓200~400kV，所述第一紫外成像儀或所述第二紫外成像儀的檢測(cè)距離均為20~ 50m。進(jìn)一步地，所述絕緣子是盤型玻璃絕緣子。
[0014] 優(yōu)選地，所述第一紫外成像儀與所述第二紫外成像儀是同一型號(hào)的不同儀器。
[0015] 優(yōu)選地，采用所述第一紫外成像儀或所述第二紫外成像儀對(duì)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試對(duì)象在增益 以10為步長(zhǎng)從40至180來(lái)進(jìn)行測(cè)試。
[0016] 本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比的有益效果在于：通過(guò)本發(fā)明的測(cè)試方法，校準(zhǔn)了不同紫 外成像儀檢測(cè)結(jié)果，得到不同紫外成像儀對(duì)應(yīng)的等價(jià)增益，使得通過(guò)不同紫外成像儀進(jìn)行 測(cè)試時(shí)可以通過(guò)其對(duì)應(yīng)的等價(jià)增益進(jìn)行對(duì)比，以實(shí)現(xiàn)將一臺(tái)紫外成像儀的研究結(jié)論應(yīng)用到 其他紫外成像儀中，并以此來(lái)準(zhǔn)確判定電力絕緣設(shè)備的放電嚴(yán)重程度及其絕緣性能。
【附圖說(shuō)明】
[0017] 圖1是本發(fā)明實(shí)施例的對(duì)不同紫外成像儀檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行校準(zhǔn)的測(cè)試方法流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0018] 下面對(duì)照附圖并結(jié)合優(yōu)選的實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說(shuō)明。
[0019] 本發(fā)明中的增益是指紫外成像儀對(duì)接收到的紫外光信號(hào)進(jìn)行放大處理倍數(shù)的一 個(gè)參數(shù)，檢測(cè)距離是指紫外成像儀的儀器鏡頭到放電點(diǎn)之間的直線距離；紫外成像儀的檢 測(cè)結(jié)果主要包括紫外光子數(shù)和紫外光斑面積，紫外光子數(shù)可以直接從紫外成像儀的屏幕上 直接讀取，紫外光斑面積需要編寫程序從放電視頻的每幀圖像中提取。
[0020] 如圖1所示，是本發(fā)明實(shí)施例的對(duì)不同紫外成像儀檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行校準(zhǔn)的測(cè)試方法 流程圖，包括以下步驟：
[0021] Sl :以增益為變量，其他參數(shù)為定量，采用第一紫外成像儀對(duì)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試對(duì)象在不同 的增益下進(jìn)行測(cè)試，得到標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試對(duì)象在不同的增益下的第一組測(cè)試結(jié)果；
[0022] S2 :以增益為變量，其他參數(shù)為定量，采用第二紫外成像儀對(duì)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試對(duì)象在不同 的增益下進(jìn)行測(cè)試，得到標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試對(duì)象在不同的增益下的第二組測(cè)試結(jié)果；
[0023] S3:將第一組測(cè)試結(jié)果與第二組測(cè)試結(jié)果進(jìn)行比較，確定第一紫外成像儀與第二 紫外成像儀在得到相等或相近的測(cè)試結(jié)果時(shí)分別對(duì)應(yīng)的增益，該對(duì)應(yīng)的增益是第一紫外成 像儀與第二紫外成像儀的等價(jià)增益，其中相近的測(cè)試結(jié)果是指數(shù)值相差小于或等于5% ;
[0024] S4 :以第一紫外成像儀的第一組測(cè)試結(jié)果為標(biāo)準(zhǔn)，將采用第二紫外成像儀在第二 增益值下對(duì)于實(shí)際測(cè)試對(duì)象進(jìn)行測(cè)試的結(jié)果與第一紫外成像儀在第一增益值下對(duì)于標(biāo)準(zhǔn) 測(cè)試對(duì)象進(jìn)行測(cè)試的結(jié)果進(jìn)行比較，其中第一增益值與第二增益值是第一紫外成像儀與第 二紫外成像儀的等價(jià)增益。
[0025] 其中，第一紫外成像儀與第二紫外成像儀是同一型號(hào)的不同儀器，上述的測(cè)試結(jié) 果可以是紫外光子數(shù)或者紫外光斑面積的測(cè)試結(jié)果。在測(cè)試過(guò)程中需要注意的是：（1)電 力絕緣設(shè)備放電要足夠明顯和嚴(yán)重：為減小試驗(yàn)誤差，放電產(chǎn)生的紫外光子數(shù)及紫外光斑 面積要足夠大，光子數(shù)至少要達(dá)到103數(shù)量級(jí)，最好能達(dá)到104數(shù)量級(jí)；紫外光斑的面積要 肉眼明顯可辨，最好達(dá)到畫面中絕緣子片的大小，保證試驗(yàn)裝置能產(chǎn)生極不均勻電場(chǎng)，且所 加電壓足夠高即可滿足要求；（2)電力絕緣設(shè)備放電要足夠穩(wěn)定：試驗(yàn)中要保證放電強(qiáng)度 足夠穩(wěn)定，使產(chǎn)生的紫外光子數(shù)和紫外光斑面積的最大波動(dòng)幅度維持在10%范圍內(nèi)，若紫 外光子數(shù)和紫外光斑面積波動(dòng)性過(guò)大，就不能辨別其數(shù)值的改變是由于波動(dòng)性，還是其他 影響因素，增強(qiáng)試驗(yàn)裝置所產(chǎn)生電場(chǎng)的不均勻性，有利于提高放電的穩(wěn)定性；(3)儀器記錄 的檢測(cè)結(jié)果數(shù)值要足夠多：在每個(gè)增益參數(shù)下，要求記錄12個(gè)以上的紫外光子數(shù)及時(shí)長(zhǎng)大 于IOs的放電視頻，通過(guò)求平均值作為該參數(shù)下的光子數(shù)值和光斑面積數(shù)值，這也是減小 放電強(qiáng)度波動(dòng)性干擾的一種方法，同時(shí)需注意在記錄放電視頻及紫外光子數(shù)的最初1~2s 內(nèi)，儀器還處于不穩(wěn)定的狀態(tài)，故有效的光子數(shù)及光斑視頻都要從2s之后開始算起。
[0026] 在部分實(shí)施例中，采用第一紫外成像儀或第二紫外成像儀對(duì)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試對(duì)象進(jìn)行測(cè) 試的步驟具體包括：選用棒電極和板電極為試驗(yàn)平臺(tái)，棒電極的尖端距離所述板電極3~ 5cm，加壓10~15kV，第一紫外成像儀或第二紫外成像儀的檢測(cè)距離均為4~10m。
[0027] 在另一部分實(shí)施例中，采用第一紫外成像儀或第二紫外成像儀對(duì)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試對(duì)象進(jìn) 行測(cè)試的步驟具體包括：選用絕緣子串為試驗(yàn)平臺(tái)，每串所述絕緣子串懸掛10~15片絕緣 子，加壓200~400kV，所述第一紫外成像儀或所述第二紫外成像儀的檢測(cè)距離均為20~ 50m。其中絕緣子可以選用盤型玻璃絕緣子。
[0028] 在部分實(shí)施例中，第一紫外成像儀和第二紫外成像儀選用以色列生產(chǎn)的紫外成像 儀，上述的測(cè)試是對(duì)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試對(duì)象在增益以10為步長(zhǎng)從40至180來(lái)進(jìn)行測(cè)試。
[0029] 下述結(jié)合實(shí)例對(duì)校準(zhǔn)不同紫外成像儀檢測(cè)結(jié)果的測(cè)試方法進(jìn)行說(shuō)明。
[0030] 實(shí)例一（不同紫外成像儀的紫外光子數(shù)的檢測(cè)結(jié)果的校準(zhǔn)）：
[0031] 第一紫外成像儀和第二紫外成像儀均選用以色列所產(chǎn)DayCor SuperB型號(hào)，試驗(yàn) 平臺(tái)是棒電極和板電極，棒電極的尖端采用直徑為3mm的銅針或鐵針，尖端距離板電極3~ 5cm，加壓10~15kV (按實(shí)際情況調(diào)整），此時(shí)棒電極的尖端能產(chǎn)生相對(duì)穩(wěn)定且明顯的放電， 光子數(shù)的波動(dòng)幅度在10%范圍內(nèi)，同時(shí)空氣間隙又不會(huì)被擊穿。
[0032] 由于是校準(zhǔn)試驗(yàn)，建議進(jìn)行4組，以減小偶然誤差。將需要校準(zhǔn)的第一紫外成像儀 和第二紫外成像儀均放置在距離放電點(diǎn)4~IOm的同一位置，調(diào)整儀器鏡頭方向使放電點(diǎn) 位于屏幕的正中央，將紫外光子計(jì)數(shù)框調(diào)至最大。第一組試驗(yàn)時(shí)，增益從40開始以10為步 長(zhǎng)增大至180,在每個(gè)增益值處記錄12個(gè)以上的紫外光子數(shù)；第二組試驗(yàn)時(shí)，增益從180開 始以10為步長(zhǎng)減小至40,在每個(gè)增益值處同樣記錄12個(gè)以上的光子數(shù)；第三、四組試驗(yàn)重