光電轉(zhuǎn)換模塊檢測(cè)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及光電轉(zhuǎn)換模塊，特別涉及一種光電轉(zhuǎn)換模塊檢測(cè)方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 光電轉(zhuǎn)換模塊一般包括一個(gè)基板、一組設(shè)置于該基板上的光電兀件及一個(gè)通過膠 水固定于該基板上并與該光電元件光耦合的光耦合透鏡。點(diǎn)膠之前通常會(huì)檢測(cè)該基板的高 度及平整度，以確保光耦合效率。目前只有通過目測(cè)來檢測(cè)該基板的高度及平整度，不但效 率低下，而且準(zhǔn)確度極大程度依賴操作員的操作水平，導(dǎo)致產(chǎn)品良率難以保證。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 有鑒于此，有必要提供一種能夠保證良率的光電轉(zhuǎn)換模塊檢測(cè)方法。
[0004] 一種光電轉(zhuǎn)換模塊檢測(cè)方法，包括以下步驟： 提供一個(gè)點(diǎn)膠機(jī)臺(tái)，其包括一個(gè)載具、一個(gè)點(diǎn)膠針頭及一個(gè)與該點(diǎn)膠針頭稱合的驅(qū)動(dòng) 單元，該載具包括一個(gè)承載面，該承載面為一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)平面； 提供一個(gè)檢測(cè)模塊，其包括一個(gè)與該載具及該點(diǎn)膠針頭電性連接的測(cè)量裝置及一個(gè)與 該驅(qū)動(dòng)單元及該測(cè)量裝置通訊的處理單元； 提供一個(gè)光電轉(zhuǎn)換模塊，其包括一個(gè)定位在該承載面上的基板，該基板包括一個(gè)與該 承載面接觸的第一表面及一個(gè)與該承載面相背的第二表面，該基板開設(shè)至少三個(gè)貫穿該第 一表面及該第二表面的過孔，每個(gè)過孔充滿導(dǎo)電材料并在該第一表面及該第二表面分別形 成一個(gè)第一端面及一個(gè)第二端面； 該處理單元控制該驅(qū)動(dòng)單元驅(qū)動(dòng)該點(diǎn)膠針頭朝該承載面及該至少三個(gè)第二端面運(yùn)動(dòng) 并記錄該點(diǎn)膠針頭的坐標(biāo)值； 該處理單元在該測(cè)量裝置的數(shù)值小于一個(gè)預(yù)設(shè)值時(shí)判斷該點(diǎn)膠針頭接觸到該承載面 或該至少三個(gè)第二端面并讀取該點(diǎn)膠針頭對(duì)應(yīng)的坐標(biāo)值； 及該處理單元根據(jù)讀取的坐標(biāo)值計(jì)算該基板的高度及該基板的平整度。
[0005] 本發(fā)明提供的光電轉(zhuǎn)換模塊檢測(cè)方法通過該測(cè)量裝置得到該承載面及該第二端 面的坐標(biāo)值從而得到該基板的高度。另外，由于該承載面為一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)平面，若該第一表面的 平整度不足，則無法保證該至少三個(gè)第一端面全部接觸到該承載面而使該測(cè)量裝置的數(shù)值 小于該預(yù)設(shè)值，因此，該第一表面的平整度也得到保證，進(jìn)而可有效的保證產(chǎn)品良率。
【附圖說明】
[0006] 圖1是本發(fā)明較佳實(shí)施方式的光電轉(zhuǎn)換模塊檢測(cè)方法的裝置示意圖。
[0007] 圖2是圖1中裝置的點(diǎn)膠機(jī)臺(tái)及檢測(cè)模塊的原理示意圖。
[0008] 圖3是圖1中的光電轉(zhuǎn)換模塊的立體示意圖。
[0009] 圖4是圖3中的光電轉(zhuǎn)換模塊的基板的立體示意圖。
[0010] 主要元件符號(hào)說明
如下【具體實(shí)施方式】將結(jié)合上述附圖進(jìn)一步說明本發(fā)明。
【具體實(shí)施方式】
[0011] 本發(fā)明較佳實(shí)施方式的光電轉(zhuǎn)換模塊檢測(cè)方法通過檢測(cè)模塊可獲得光電轉(zhuǎn)換模 塊的基板的高度，同時(shí)可計(jì)算該基板的平整度。
[0012] 請(qǐng)參閱圖1至圖4,檢測(cè)前，需提供一點(diǎn)膠機(jī)臺(tái)10,其包括一個(gè)載具11。該載具11 為導(dǎo)電體，其包括一個(gè)承載面111，該承載面111為一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)平面。該點(diǎn)膠機(jī)臺(tái)10還包括一 個(gè)點(diǎn)膠針頭12及一個(gè)與該點(diǎn)膠針頭12稱合的驅(qū)動(dòng)單元13,該點(diǎn)膠針頭12為導(dǎo)電體。
[0013] 檢測(cè)前，需提供一個(gè)檢測(cè)模塊20,其包括一個(gè)與該點(diǎn)膠針頭12電性連接的測(cè)量裝 置21及一個(gè)與該驅(qū)動(dòng)單元13及該測(cè)量裝置21通訊的處理單元22。本實(shí)施方式中的測(cè)量 裝置21為一個(gè)電阻計(jì)。
[0014] 檢測(cè)前，需提供一個(gè)光電轉(zhuǎn)換模塊30,其包括一個(gè)定位在該承載面111上的基板 31。該基板31為電路板。該基板31包括一個(gè)與該承載面111接觸的第一表面311及一個(gè) 與該承載面111相背的第二表面312,該基板31開設(shè)四個(gè)貫穿該第一表面311及該第二表 面312的過孔313,每個(gè)過孔313充滿導(dǎo)電材料并在該第一表面311及該第二表面312分別 形成一個(gè)第一端面3131及一個(gè)第二端面3132。每個(gè)過孔313位于該基板31的點(diǎn)膠區(qū)域或 點(diǎn)膠路徑的起始點(diǎn)上。每個(gè)第一端面3131的面積及每個(gè)第二端面3132的面積均大于該點(diǎn) 膠針頭12平行于該承載面111方向的截面面積。
[0015] 點(diǎn)膠之前需對(duì)該基板31的高度及平整度進(jìn)行檢測(cè)，該處理單元22控制該驅(qū)動(dòng)單 元13驅(qū)動(dòng)該點(diǎn)膠針頭12朝該承載面111及該至少三個(gè)第二端面3132方向運(yùn)動(dòng)并記錄該點(diǎn) 膠針頭12的坐標(biāo)值，該處理單元22在該測(cè)量裝置21的數(shù)值小于一個(gè)依據(jù)該點(diǎn)膠針頭12、 該載具11及待檢測(cè)的該光電轉(zhuǎn)換模塊30而確定的預(yù)設(shè)值時(shí)判斷該點(diǎn)膠針頭12接觸到一 個(gè)該第二端面3132,該處理單元22讀取該點(diǎn)膠針頭12此時(shí)的坐標(biāo)值（xl，yl，zl)。隨后， 該處理單元22控制該驅(qū)動(dòng)單元13驅(qū)動(dòng)該點(diǎn)膠針頭12運(yùn)動(dòng)，該處理單元22在該測(cè)量裝置 21的數(shù)值再次小于該預(yù)設(shè)值時(shí)判斷該點(diǎn)膠針頭12接觸到該承載面111，該處理單元22讀 取該點(diǎn)膠針頭12此時(shí)的坐標(biāo)值（x0, yO, z0)。該處理單元22依據(jù)坐標(biāo)值（xl, yl, zl)及坐 標(biāo)值（x〇, y〇, z0)計(jì)算該基板31的高度。連續(xù)以以上方法確認(rèn)該基板31的至少三個(gè)高度 值進(jìn)而計(jì)算該基板31的平整度。
[0016] 檢測(cè)完后，該處理單元22依據(jù)得到的該基板31的高度控制該驅(qū)動(dòng)單元13驅(qū)動(dòng) 該點(diǎn)膠針頭12運(yùn)動(dòng)以調(diào)整該點(diǎn)膠針頭12的點(diǎn)膠高度，同樣可以依據(jù)計(jì)算得到的的該基板 31的至少三個(gè)高度值對(duì)該基板31進(jìn)行平整度調(diào)整。由于該承載面111為一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)平面， 若該第一表面311的平整度不足，則無法保證該至少三個(gè)第一端面3131全部接觸到該承載 面111而使該測(cè)量裝置21的數(shù)值小于該預(yù)設(shè)值，因此，可更好的確認(rèn)該基板31的第一表面 311是平貼在該載具11的承載面111。
[0017] 本發(fā)明提供的光電轉(zhuǎn)換模塊檢測(cè)方法通過該測(cè)量裝置得到該承載面及該第二端 面的坐標(biāo)值從而得到該基板的高度。另外，由于該承載面為一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)平面，若該第一表面的 平整度不足，則無法保證該至少三個(gè)第一端面全部接觸到該承載面而使該測(cè)量裝置的數(shù)值 小于該預(yù)設(shè)值，因此，該第一表面的平整度也得到保證，進(jìn)而可有效的保證產(chǎn)品良率。
[0018] 可以理解，每個(gè)過孔313平行于該承載面111方向的截面形狀并不限于本實(shí)施方 式，可以視需求采用其他形狀。本實(shí)施方式中過孔313的數(shù)量為四個(gè)，但這并非對(duì)本發(fā)明的 限制，過孔313的數(shù)量可以依據(jù)實(shí)際需要增加或者減少。
[0019] 可以理解，以上所述實(shí)施方式僅供說明本發(fā)明之用，并非對(duì)本發(fā)明的限制。另外， 本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員依據(jù)本發(fā)明構(gòu)思在相應(yīng)的技術(shù)領(lǐng)域做出的變化應(yīng)屬于本發(fā)明的保 護(hù)范疇。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種光電轉(zhuǎn)換模塊檢測(cè)方法，包括以下步驟： 提供一個(gè)點(diǎn)膠機(jī)臺(tái)，其包括一個(gè)載具、一個(gè)點(diǎn)膠針頭及一個(gè)與該點(diǎn)膠針頭稱合的驅(qū)動(dòng) 單元，該載具包括一個(gè)承載面，該承載面為一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)平面； 提供一個(gè)檢測(cè)模塊，其包括一個(gè)與該載具及該點(diǎn)膠針頭電性連接的測(cè)量裝置及一個(gè)與 該驅(qū)動(dòng)單元及該測(cè)量裝置通訊的處理單元； 提供一個(gè)光電轉(zhuǎn)換模塊，其包括一個(gè)定位在該承載面上的基板，該基板包括一個(gè)與該 承載面接觸的第一表面及一個(gè)與該承載面相背的第二表面，該基板開設(shè)至少三個(gè)貫穿該第 一表面及該第二表面的過孔，每個(gè)過孔充滿導(dǎo)電材料并在該第一表面及該第二表面分別形 成一個(gè)第一端面及一個(gè)第二端面； 該處理單元控制該驅(qū)動(dòng)單元驅(qū)動(dòng)該點(diǎn)膠針頭朝該承載面及該至少三個(gè)第二端面運(yùn)動(dòng) 并記錄該點(diǎn)膠針頭的坐標(biāo)值； 該處理單元在該測(cè)量裝置的數(shù)值小于一個(gè)預(yù)設(shè)值時(shí)判斷該點(diǎn)膠針頭接觸到該承載面 或該至少三個(gè)第二端面并讀取該點(diǎn)膠針頭對(duì)應(yīng)的坐標(biāo)值； 及該處理單元根據(jù)讀取的坐標(biāo)值計(jì)算該基板的高度及該基板的平整度。2. 如權(quán)利要求1所述的光電轉(zhuǎn)換模塊檢測(cè)方法，其特征在于：該載具為導(dǎo)電體。3. 如權(quán)利要求1所述的光電轉(zhuǎn)換模塊檢測(cè)方法，其特征在于：該至少三個(gè)過孔位于該 基板的點(diǎn)膠區(qū)域或點(diǎn)膠路徑的起始點(diǎn)上。4. 如權(quán)利要求1所述的光電轉(zhuǎn)換模塊檢測(cè)方法，其特征在于：每個(gè)第一端面的面積及 每個(gè)第二端面的面積均大于該點(diǎn)膠針頭平行于該承載面方向的截面面積。5. 如權(quán)利要求1所述的光電轉(zhuǎn)換模塊檢測(cè)方法，其特征在于：每個(gè)過孔平行于該承載 面方向的截面可以設(shè)計(jì)成各種形狀。6. 如權(quán)利要求1所述的光電轉(zhuǎn)換模塊檢測(cè)方法，其特征在于：該點(diǎn)膠針頭為導(dǎo)電體。
【專利摘要】一種光電轉(zhuǎn)換模塊檢測(cè)方法，包括以下步驟：提供一點(diǎn)膠機(jī)臺(tái)，其包括一載具及一點(diǎn)膠針頭，該載具包括一承載面；提供一檢測(cè)模塊，其包括一測(cè)量裝置及一處理單元；提供一光電轉(zhuǎn)換模塊，其包括一定位在該承載面上的基板，該基板包括一第一表面及一第二表面，該基板開設(shè)至少三個(gè)貫穿該第一表面及該第二表面的過孔，每個(gè)過孔充滿導(dǎo)電材料并在該第一表面及該第二表面分別形成一第一端面及一第二端面；該處理單元控制該點(diǎn)膠針頭運(yùn)動(dòng)并記錄該點(diǎn)膠針頭的坐標(biāo)值；該處理單元在該測(cè)量裝置的數(shù)值小于一預(yù)設(shè)值時(shí)判斷該點(diǎn)膠針頭接觸到該承載面或該至少三個(gè)第二端面并讀取該點(diǎn)膠針頭對(duì)應(yīng)的坐標(biāo)值進(jìn)而計(jì)算該基板的高度及該基板的平整度。
【IPC分類】G01B21/02, G01B21/30
【公開號(hào)】CN104913753
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201410086135
【發(fā)明人】賴志成
【申請(qǐng)人】鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司
【公開日】2015年9月16日
【申請(qǐng)日】2014年3月11日