比值運算，即每個顯示面板的實際不良數(shù)除以平均不良數(shù)，可以獲得每個顯示面板的聚集倍數(shù)，以聚集倍數(shù)表征每個顯示面板的不良缺陷的聚集分布情況，聚集倍數(shù)越大，則說明該顯示面板所在區(qū)域的不良缺陷越嚴重，這樣，將聚集倍數(shù)的數(shù)據(jù)信息生成對應(yīng)的缺陷分布結(jié)果，這樣相關(guān)工作人員可以據(jù)此對生產(chǎn)工藝進行調(diào)整，及時解決工藝生產(chǎn)中存在的工藝問題，進一步優(yōu)化生產(chǎn)工藝，降低顯示面板的生產(chǎn)成本。
[0062]在具體實施時，本發(fā)明實施例提供的上述顯示裝置中，分析計算單元02，還可以用于:根據(jù)確定的每個顯示面板上缺陷的實際不良數(shù)，計算出每個顯示面板相對于其余所有顯示面板的缺陷聚集倍數(shù)，具體地，本發(fā)明實施例提供的上述顯示裝置中，為了防止因為某個顯示面板出現(xiàn)高發(fā)缺陷聚集，而導(dǎo)致其他顯示面板出現(xiàn)的輕微缺陷聚集被忽視，因此還可以將確定的每個顯示面板的實際不良數(shù)進行比值運算，即分析計算單元02將每個顯示面板的實際不良數(shù)與其余所有顯示面板的實際不良數(shù)進行比值運算，以獲得每個顯示面板相對于其余所有顯示面板的不良缺陷聚集倍數(shù)，其中選取最大的那個比值作為表征該顯示面板聚集倍數(shù)的參數(shù)，這樣可以進一步優(yōu)化玻璃基板上各顯示面板不良缺陷的分布情況，有利于工作人員更精確的觀測出顯示面板生產(chǎn)過程中出現(xiàn)的工藝生產(chǎn)問題，提高顯示面板的成品率。
[0063]在具體實施時，本發(fā)明實施例提供的上述顯示裝置中，顯示單元03，可以具體用于:將多個顯示面板的缺陷在玻璃基板上的分布結(jié)果生成對應(yīng)于顯示區(qū)域的缺陷聚集分布圖，并進行顯示，具體地，本發(fā)明實施例提供的上述顯示裝置中，將檢測單元01檢測獲得的缺陷表征信息經(jīng)過分析計算單元02計算得到缺陷分布結(jié)果，進而顯示單元03將缺陷分布結(jié)果生成對應(yīng)顯示區(qū)域的直觀分布圖并進行顯示，有利于工作人員精確地觀測出顯示面板上對應(yīng)區(qū)域的缺陷分布情況，進而對顯示面板的生產(chǎn)工藝進一步優(yōu)化，及時解決生產(chǎn)工藝中存在的問題，提高顯示面板的成品率，降低量產(chǎn)的風(fēng)險。
[0064]本發(fā)明實施例提供了一種玻璃基板的缺陷分布顯示方法及顯示裝置，玻璃基板上包括多個顯示面板，顯示方法包括:根據(jù)檢測獲得的玻璃基板上的多個顯示面板的缺陷表征信息，生成相應(yīng)的缺陷分布結(jié)果；將生成的缺陷分布結(jié)果生成相應(yīng)的缺陷聚集分布圖并進行顯示，這樣針對玻璃基板上的多個顯示面板的不良缺陷分布情況生成對應(yīng)的不良缺陷聚集分布圖，通過觀測生成的不良缺陷聚集分布圖，精確觀測出顯示產(chǎn)品的不良缺陷聚集分布情況，這樣可以供不良分析人員參考查看，分析獲得顯示面板生產(chǎn)過程中出現(xiàn)的不良情況，及時解決工藝中存在的生產(chǎn)問題，進一步優(yōu)化生產(chǎn)工藝，降低生產(chǎn)成本，降低量產(chǎn)風(fēng)險。
[0065]顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對本發(fā)明進行各種改動和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動和變型在內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種玻璃基板的缺陷分布顯示方法，所述玻璃基板上包括多個顯示面板，其特征在于，所述顯示方法包括: 根據(jù)檢測獲得的所述玻璃基板上的多個顯示面板的缺陷表征信息，生成相應(yīng)的缺陷分布結(jié)果； 將生成的缺陷分布結(jié)果生成相應(yīng)的缺陷聚集分布圖并進行顯示。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，還包括: 對所述玻璃基板上的多個顯示面板缺陷進行檢測，獲得所述缺陷的坐標位置、尺寸、數(shù)量及類型信息。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，根據(jù)檢測獲得的所述玻璃基板上的多個顯示面板的缺陷表征信息，生成相應(yīng)的缺陷分布結(jié)果，具體包括: 確定所述玻璃基板上每個所述顯示面板上的缺陷的實際不良數(shù)，以及整個玻璃基板上總的缺陷不良數(shù)； 根據(jù)確定的玻璃基板上總的缺陷不良數(shù)以及整個玻璃基板包含的顯示面板的個數(shù)，計算出每個所述顯示面板上缺陷的平均不良數(shù)； 根據(jù)確定的每個所述顯示面板上缺陷的實際不良數(shù)和每個所述顯示面板上缺陷的平均不良數(shù)，計算出每個所述顯示面板的缺陷聚集倍數(shù)。
4.如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，根據(jù)檢測獲得的所述玻璃基板上的多個顯示面板的缺陷表征信息，生成相應(yīng)的缺陷分布結(jié)果，還包括: 根據(jù)確定的每個所述顯示面板上缺陷的實際不良數(shù)，計算出每個所述顯示面板相對于其余所有顯示面板的缺陷聚集倍數(shù)。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，將生成的缺陷分布結(jié)果生成相應(yīng)的缺陷聚集分布圖并進行顯示，具體包括: 將多個顯示面板的缺陷在玻璃基板上的分布結(jié)果生成對應(yīng)于顯示區(qū)域的缺陷聚集分布圖，并進行顯示。
6.一種采用如權(quán)利要求1-5任一項所述的玻璃基板的缺陷分布顯示方法的顯示裝置，其特征在于，包括:檢測單元、分析計算單元和顯示單元； 所述檢測單元用于對所述玻璃基板上的多個顯示面板的缺陷進行檢測，獲得所述缺陷的坐標位置、尺寸、數(shù)量及類型信息； 所述分析計算單元用于根據(jù)檢測獲得的所述玻璃基板上的多個顯示面板的缺陷表征信息，生成相應(yīng)的缺陷分布結(jié)果； 所述顯示單元用于將生成的缺陷分布結(jié)果生成相應(yīng)的缺陷聚集分布圖并進行顯示。
7.如權(quán)利要求6所述的顯示裝置，其特征在于，所述分析計算單元，具體用于: 確定所述玻璃基板上每個所述顯示面板上的缺陷的實際不良數(shù)，以及整個玻璃基板上總的缺陷不良數(shù)； 根據(jù)確定的玻璃基板上總的缺陷不良數(shù)以及整個玻璃基板包含的顯示面板的個數(shù)，計算出每個所述顯示面板上缺陷的平均不良數(shù)； 根據(jù)確定的每個所述顯示面板上缺陷的實際不良數(shù)和每個所述顯示面板上缺陷的平均不良數(shù)，計算出每個所述顯示面板的缺陷聚集倍數(shù)。
8.如權(quán)利要求7所述的顯示裝置，其特征在于，所述分析計算單元，還用于: 根據(jù)確定的每個所述顯示面板上缺陷的實際不良數(shù)，計算出每個所述顯示面板相對于其余所有顯示面板的缺陷聚集倍數(shù)。
9.如權(quán)利要求6所述的顯示裝置，其特征在于，所述顯示單元，具體用于: 將多個顯示面板的缺陷在玻璃基板上的分布結(jié)果生成對應(yīng)于顯示區(qū)域的缺陷聚集分布圖，并進行顯示。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種玻璃基板的缺陷分布顯示方法及顯示裝置，玻璃基板上包括多個顯示面板，顯示方法包括：根據(jù)檢測獲得的玻璃基板上的多個顯示面板的缺陷表征信息，生成相應(yīng)的缺陷分布結(jié)果；將生成的缺陷分布結(jié)果生成相應(yīng)的缺陷聚集分布圖并進行顯示，這樣針對玻璃基板上的多個顯示面板的不良缺陷分布情況生成對應(yīng)的不良缺陷聚集分布圖，通過觀測生成的不良缺陷聚集分布圖，精確觀測出顯示產(chǎn)品的不良缺陷聚集分布情況，這樣可以供不良分析人員參考查看，分析獲得顯示產(chǎn)品生產(chǎn)過程中出現(xiàn)的不良情況，及時解決工藝生產(chǎn)中存在的問題，進一步優(yōu)化生產(chǎn)工藝，降低生產(chǎn)成本，降低量產(chǎn)風(fēng)險。
【IPC分類】G01N33-00
【公開號】CN104730217
【申請?zhí)枴緾N201510180884
【發(fā)明人】孫加冕, 袁亮, 陳燕楠, 南春香
【申請人】京東方科技集團股份有限公司, 鄂爾多斯市源盛光電有限責(zé)任公司
【公開日】2015年6月24日
【申請日】2015年4月16日