±2環(huán)境下，持續(xù)48h，結(jié)束時檢查樣品濕熱后線體有無起泡、變形、變色、功能喪失，數(shù)據(jù)通信是否正常，再用絕緣電阻表250V檔位測量絕緣電阻值。
[0034]在本步驟中，如經(jīng)過耐濕熱性能測試后，樣品無起泡、無變形、無變色、功能良好，數(shù)據(jù)通信正常，且絕緣電阻是否大于1000ΜΩ，表明樣品耐濕熱性能測試通過。
[0035]步驟S106，對USB數(shù)據(jù)線樣品鹽霧測試。
[0036]取常溫下檢查外觀無異常樣品，將樣品置于鹽霧箱內(nèi)，設(shè)置中性鹽霧條件，即在35±2°C的密閉環(huán)境中，溫度大于85%，PH值在6.5-7.2范圍內(nèi)，用5%±0.1%的Nacl溶液連續(xù)噴霧48h，鹽霧后取到常溫下用清水沖洗干凈并擱置2小時，檢查樣品外觀、接口金屬部分、PIN針有無腐蝕、生銹、氧化，數(shù)據(jù)通信是否正常。
[0037]在本步驟中，如經(jīng)過耐濕熱性能測試后，樣品無腐蝕、無生銹、無氧化，數(shù)據(jù)通信正常，表明樣品鹽霧測試測試通過。
[0038]步驟S107，對USB數(shù)據(jù)線樣品進(jìn)行彎曲疲勞測試。
[0039]常溫下，將USB數(shù)據(jù)線樣品模擬實際使用，分別對USB數(shù)據(jù)線樣品二端微卡處進(jìn)行3000次的彎折測試，每彎折500次，將數(shù)據(jù)線連接電腦檢查數(shù)據(jù)通訊功能及充電功能是否正常。
[0040]本步驟用于考察USB數(shù)據(jù)線樣品二端接口微卡處耐彎折疲勞性能，經(jīng)3000次彎折后芯線無短路現(xiàn)象，且數(shù)據(jù)通訊及充電功能正常，表明樣品通過彎曲疲勞測試。
[0041]步驟S108，對USB數(shù)據(jù)線樣品進(jìn)行接力強(qiáng)度測試。
[0042]常溫下測量樣品自然拉直時的長度，之后將樣品安裝固定在拉力機(jī)上，在樣品上逐漸施加IKG拉力，并持續(xù)拉lmin，觀察受力過程線體有無斷裂，之后再連接電腦檢查數(shù)據(jù)通訊功能及充電功能是否正常。
[0043]在步驟中，經(jīng)IKG拉力試驗芯線不斷裂，拉伸不超過2mm，能正常充電及正常通訊，表明樣品通過接力強(qiáng)度測試。
[0044]步驟S109，對USB數(shù)據(jù)線樣品進(jìn)行插拔疲勞測試。
[0045]常溫下將相應(yīng)的USB數(shù)據(jù)線樣品及USB座固定在插拔機(jī)上，設(shè)置以200次/h的頻率進(jìn)行插拔測試，共進(jìn)行10000次插拔測試，觀察插拔中途接口及線體有無異常，每1000次檢查樣品充電及數(shù)據(jù)通訊功能是否正常，并測量其拔出力度。
[0046]本步驟中，USB數(shù)據(jù)線樣品接口經(jīng)10000次插拔后充電及通訊功能正常，與配套USB座接口配合時拔出力不小于3N，表明測試樣品通過插拔疲勞測試。
[0047]步驟S110，對USB數(shù)據(jù)線樣品進(jìn)行滿載老化測試。
[0048]在常溫?zé)o風(fēng)的環(huán)境下，給USB數(shù)據(jù)線樣品施加2A的電流持續(xù)工作4h，測量工作時線表最高溫，并觀察線體是否發(fā)燙，變軟。
[0049]本步驟中，測試樣品帶載2A持續(xù)工作4h，不發(fā)燙，線表最高溫< 40°C，表明通過滿載老化測試。
[0050]可以理解的是，本技術(shù)方案提供的USB數(shù)據(jù)線測試方法，其中步驟S102至步驟SllO可以不按照先后順序進(jìn)行。進(jìn)行步驟S102至步驟SllO測試的樣品，需要先進(jìn)行步驟SlOl的測試。
[0051]可以理解的是，本技術(shù)方案提供的USB數(shù)據(jù)線測試方法，也可以根據(jù)實際需要，不包括其中的一個或者幾個步驟。
[0052]本技術(shù)方案提供的USB數(shù)據(jù)線測試方法，通過對USB數(shù)據(jù)線樣品進(jìn)行上述的步驟SlOl至SllO的測試，能夠有效地模擬USB數(shù)據(jù)線在實際使用時的情況，檢測出由于長期使用后的異常而造成的功能失效，能夠發(fā)現(xiàn)USB數(shù)據(jù)線的內(nèi)在缺陷、生產(chǎn)缺陷或者設(shè)計缺陷，快速的檢測出USB數(shù)據(jù)線樣品質(zhì)量的優(yōu)劣。從而為產(chǎn)品的開發(fā)提供優(yōu)質(zhì)樣品提供依據(jù)，使產(chǎn)品能在經(jīng)過長期使用后，仍具有較高的品質(zhì)水準(zhǔn)，滿足客戶長期使用的需求，同時也有益于提高產(chǎn)品的可靠度，使得產(chǎn)品更具有市場競爭力。
[0053]以上所述是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤飾，這些改進(jìn)和潤飾也視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項】
1.一種USB數(shù)據(jù)線測試方法，用于對USB數(shù)據(jù)線進(jìn)行可靠性檢測，包括步驟:對USB數(shù)據(jù)線樣品進(jìn)行外觀及尺寸測試，以得到外觀及尺寸符合要求USB數(shù)據(jù)線樣品； 將外觀及尺寸符合要求USB數(shù)據(jù)線樣品與USB母座配合測試，然后再用拉力計測量插入與拔出時的力度，取配套USB設(shè)備與USB數(shù)據(jù)線連接好，再與電腦連接，檢查所述設(shè)備能否正常充電及數(shù)據(jù)傳輸，將USB數(shù)據(jù)線插入母座的插放力小于或者等于35牛頓，將USB數(shù)據(jù)線從母座拔出的拔出力大于或者等于10牛頓，得到配合性符合要求的USB數(shù)據(jù)線樣品； 用絕緣電阻儀250V檔位測量配合性符合要求的USB數(shù)據(jù)線樣品的數(shù)據(jù)線與外殼的絕緣電阻值，之后再用耐壓儀給USB數(shù)據(jù)線樣品的芯線之間施加AC500V/50HZ的電壓持續(xù)一分鐘，觀察耐電壓過程有無擊穿、短路、閃絡(luò)現(xiàn)象，得到絕緣耐壓性能滿足要求的USB數(shù)據(jù)線樣品； 將絕緣耐壓性能滿足要求的USB數(shù)據(jù)線模擬實際使用，分別對其二端微卡處進(jìn)行3000次的彎折測試，每彎折500次，將所述數(shù)據(jù)線樣品連接電腦檢查數(shù)據(jù)通訊功能及充電功能是否正常，得到彎曲疲勞測試滿足要求的USB數(shù)據(jù)線樣品；測量彎曲疲勞測試滿足要求的USB數(shù)據(jù)線樣品自然拉直時的長度，之后將USB數(shù)據(jù)線樣品安裝固定在拉力機(jī)上，在USB數(shù)據(jù)線樣品上逐漸施加IKG拉力，并持續(xù)拉I分鐘，觀察受力過程線體有無斷裂，之后再連接電腦檢查數(shù)據(jù)通訊功能及充電功能是否正常，得到接力強(qiáng)度測試滿足要求的USB數(shù)據(jù)線樣品; 將所述接力強(qiáng)度測試滿足要求的USB數(shù)據(jù)線樣品及USB座固定在插拔機(jī)上，設(shè)置以200次/小時的頻率進(jìn)行插拔測試，共進(jìn)行10000次插拔測試，觀察插拔中途接口及線體有無異常，每1000次檢查樣品充電及數(shù)據(jù)通訊功能是否正常，并測量其拔出力度，得到插拔疲勞測試滿足要求的USB數(shù)據(jù)線樣品；以及 給插拔疲勞測試滿足要求的USB數(shù)據(jù)線樣品施加2A的電流持續(xù)工作4小時，測量工作時線表最高溫，并觀察線體是否發(fā)燙，變軟，得到滿足滿載老化測試符合要求的USB數(shù)據(jù)線樣品，進(jìn)而得到測試合格的USB數(shù)據(jù)線。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的USB數(shù)據(jù)線測試方法，其特征在于，對USB數(shù)據(jù)線樣品進(jìn)行外觀及尺寸測試的方法為:在常溫下，在光線明亮環(huán)境中，通過目測檢查測試樣品的表面是否臟污，標(biāo)識是否正確，線體、插頭有無破損，插頭金屬邊緣有無披峰，金屬部件有無銹蝕，插頭內(nèi)部PIN針有無變形、翹起、氧化，量測數(shù)據(jù)線的長度是否滿足技術(shù)要求的參數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的USB數(shù)據(jù)線測試方法，其特征在于，在進(jìn)行彎曲疲勞測試之后，還包括對USB數(shù)據(jù)線樣品進(jìn)行高低溫貯存測試，所述對USB數(shù)據(jù)線樣品進(jìn)行高低溫貯存測試的方法為:將USB數(shù)據(jù)線樣品置于高溫70°C ±2的環(huán)境中，持續(xù)放置16小時，結(jié)束時，檢查USB數(shù)據(jù)線樣品高溫貯存后線體有無起泡、變形、變色、功能喪失，數(shù)據(jù)通信是否正常，再用絕緣電阻表250V檔位測量絕緣電阻值，絕緣電阻是否大于1000ΜΩ。高溫貯存無異常再將USB數(shù)據(jù)線置于低溫_40°C ±2的環(huán)境中，持續(xù)放置16小時，結(jié)束時，檢查USB數(shù)據(jù)線低溫貯存后線體有無起泡、變形、變色、功能喪失，數(shù)據(jù)通信是否正常，再用絕緣電阻表250V檔位測量絕緣電阻值，絕緣電阻是否大于1000M Ω，從而得到高低溫貯存測試合格的USB數(shù)據(jù)線樣品。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的USB數(shù)據(jù)線測試方法，其特征在于，還包括對高低溫貯存測試合格的USB數(shù)據(jù)線樣品耐濕熱性能測試，將USB數(shù)據(jù)線樣品置于溫度為40°C ±2、濕度93%±2環(huán)境下，持續(xù)48h，結(jié)束時檢查樣品濕熱后線體有無起泡、變形、變色、功能喪失，數(shù)據(jù)通信是否正常，再用絕緣電阻表250V檔位測量絕緣電阻值，線體無起泡、無變形、無變色、功能良好，數(shù)據(jù)通信正常，且絕緣電阻是否大于1000ΜΩ的耐濕熱性能測試合格的USB數(shù)據(jù)線樣品。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的USB數(shù)據(jù)線測試方法，其特征在于，還包括對耐濕熱性能測試合格的USB數(shù)據(jù)線樣品進(jìn)行鹽霧測試，所述鹽霧測試的方法為:將USB數(shù)據(jù)線樣品置于鹽霧箱內(nèi)，設(shè)置中性鹽霧條件，即在35 ±2°C的密閉環(huán)境中，溫度大于85%，PH值在6.5-7.2范圍內(nèi)，用5%±0.1%的Nacl溶液連續(xù)噴霧48小時，鹽霧后在常溫下用清水沖洗干凈并擱置2小時，檢查樣品外觀、接口金屬部分、PIN針有無腐蝕、生銹、氧化，數(shù)據(jù)通信是否正常，USB數(shù)據(jù)線樣品無腐蝕、無生銹、無氧化，數(shù)據(jù)通信正常，表明USB數(shù)據(jù)線樣品鹽霧測試測試通過。
【專利摘要】本發(fā)明提供一種USB數(shù)據(jù)線測試方法，用于對USB數(shù)據(jù)線進(jìn)行可靠性檢測，包括步驟:對USB數(shù)據(jù)線樣品進(jìn)行外觀及尺寸測試；并在進(jìn)行外觀及尺寸測試之后依次進(jìn)對USB數(shù)據(jù)線樣品進(jìn)行配合性測試、絕緣耐壓測試、彎曲疲勞測試、接力強(qiáng)度測試、插拔疲勞測試以及滿載老化測試。本發(fā)明提供的USB數(shù)據(jù)線的測試方法，能夠模擬USB數(shù)據(jù)線長期使用過程，能夠有效的對USB數(shù)據(jù)線的可靠性進(jìn)行檢測。
【IPC分類】G01R31-00, G01N17-00, G01N3-32, G01L5-00, G01N21-88, G01R31-12, G01B5-02, G01N3-08, G01N25-00
【公開號】CN104678199
【申請?zhí)枴緾N201310625472
【發(fā)明人】周明杰, 朱雄輝
【申請人】海洋王（東莞）照明科技有限公司, 海洋王照明科技股份有限公司, 深圳市海洋王照明工程有限公司
【公開日】2015年6月3日
【申請日】2013年11月29日