一種檢測輔助工裝的制作方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明屬于檢測工裝領域，具體涉及一種檢測輔助工裝。
【背景技術】
[0002]批量生產的產品深孔的測量，一般加工現(xiàn)場采用功能性通止規(guī)的量具進行測量，但對于精度較高的產品深孔測量，功能性量具一般滿足不了制程監(jiān)控的要求，需要采用較精密的測量內孔的檢具進行測量，而專用的測量深孔內徑的數(shù)顯內徑千分表價格較普通數(shù)顯內徑千分表要高很多，普通的數(shù)顯內徑千分表因無法到達底部基準而無法定位測量，現(xiàn)訂做的輔助檢測工裝是專用的，通用性不強，測量不同產品不同的深孔內徑需要不同的輔助檢測工裝,造成生產成本較高。

【發(fā)明內容】

本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術中存在的不足，提供一種結構簡單、巧妙、合理的檢測輔助工裝，該檢測輔助工裝可根據待檢孔的尺寸大小進行調節(jié)，避免專品專用的輔助工裝浪費，降低生產成本。
[0003]按照本發(fā)明提供的技術方案:一種檢測輔助工裝，包括底盤，定位支柱，所述底盤上設置有內螺紋孔，所述內螺紋孔為多個，并以底盤的中心120°分度布局在底盤上，所述定位支柱數(shù)量為三個，所述定位支柱的端部設置有外螺紋端，所述定位支柱的外螺紋端通過螺紋緊固連接在同一分度圓上3個內螺紋孔上，在同一分度圓上三個定位支柱組成的最大圓邊界設置有尺寸線，所述尺寸線上設置有尺寸值。
[0004]本發(fā)明與現(xiàn)有技術相比，優(yōu)點在于:結構簡單、巧妙、合理，可以有效避免專品專用的輔助工裝浪費，降低生產成本。
【附圖說明】
[0005]圖1為本發(fā)明的結構示意圖。
[0006]圖2為圖1的局部剖視圖。
[0007]圖3為本發(fā)明的零件的示意圖。
[0008]圖4為本發(fā)明裝配后的結構示意圖。
[0009]附圖標識:1-底盤；2_尺寸線；3_尺寸值；4_內螺紋孔；5_定位支柱；5-1_外螺紋端。
[0010]實施方式
下面結合具體附圖和實施例對本發(fā)明作進一步說明。
[0011]如圖1-4所示，所述一種檢測輔助工裝，包括底盤1，定位支柱5，所述底盤I上設置有內螺紋孔4，所述內螺紋孔4為多個，并以底盤I的中心120°分度布局在底盤I上，所述定位支柱5數(shù)量為三個，所述定位支柱5的端部設置有外螺紋端5-1，所述定位支柱5的外螺紋端5-1通過螺紋緊固連接在同一分度圓上3個內螺紋孔4上，在同一分度圓上三個定位支柱5組成的最大圓邊界設置有尺寸線2，所述尺寸線2上設置有尺寸值3。使用時，只需按照產品深孔內徑尺寸的大小調整所述定位支柱5安放位置即可。
[0012]本發(fā)明的這種檢測輔助工裝結構簡單、巧妙、合理，可以有效避免專品專用的輔助工裝浪費，降低生產成本。
【主權項】
1.一種檢測輔助工裝，其特征在于，包括底盤(I )，定位支柱(5)，所述底盤(I)上設置有內螺紋孔(4)，所述內螺紋孔(4)為多個，并以底盤(I)的中心120°分度布局在底盤(I)上，所述定位支柱(5 )數(shù)量為三個，所述定位支柱(5 )的端部設置有外螺紋端(5-1)，所述定位支柱(5)的外螺紋端(5-1)通過螺紋緊固連接在同一分度圓上3個內螺紋孔(4)上，在同一分度圓上三個定位支柱(5)組成的最大圓邊界設置有尺寸線(2)，所述尺寸線(2)上設置有尺寸值(3)。
【專利摘要】本發(fā)明屬于檢測工裝領域，具體涉及一種檢測輔助工裝，其包括底盤，定位支柱，所述底盤上設置有內螺紋孔，所述內螺紋孔為多個，并以底盤的中心120°分度布局在底盤上，所述定位支柱數(shù)量為三個，所述定位支柱的端部設置有外螺紋端，所述定位支柱的外螺紋端通過螺紋緊固連接在同一分度圓上3個內螺紋孔上，在同一分度圓上三個定位支柱組成的最大圓邊界設置有尺寸線，所述尺寸線上設置有尺寸值，本發(fā)明與現(xiàn)有技術相比，優(yōu)點在于：結構簡單、巧妙、合理，可以有效避免專品專用的輔助工裝浪費，降低生產成本。
【IPC分類】G01B5-12
【公開號】CN104677239
【申請?zhí)枴緾N201310623281
【發(fā)明人】王文剛
【申請人】王文剛
【公開日】2015年6月3日
【申請日】2013年11月30日