可釋放的探針連接的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本公開涉及測試和測量探針連接系統(tǒng)。該系統(tǒng)包括連接到電路的探針片(tab)、以及能夠可釋放地附接到探針片以便測量電路上的信號的連接器。
【背景技術(shù)】
[0002]插入器是典型地插入在存儲器集成電路(IC)芯片和存儲器IC芯片通常安裝于其上的印刷電路板之間的設(shè)備。插入器是小型印刷電路板或柔性電路，其對存儲器IC芯片和印刷電路板之間的信號進行采樣。諸如示波器的測試和測量儀器能夠通過探針連接到插入器以測量信號。
[0003]典型地，測試和測量儀器通過瀏覽器探針或焊入式(solder down)探針片連接到插入器。用于焊入式探針的設(shè)置的示例在圖1中示出，其并非按照比例繪制。插入器100安裝在印刷電路板102上。存儲器IC芯片104在插入器100的頂部上。焊點106提供在插入器上以焊接測試和測量儀器的探針尖部。焊入式探針由于現(xiàn)代存儲器系統(tǒng)所需的小幾何形狀和高帶寬而難以使用。瀏覽器探針也難以使用，這是因為瀏覽器探針需要在插入器上保持就位并且還可能具有比焊入式探針更低的帶寬。所需要的是可容易連接到插入器的探針以快速且精確地對存儲器IC芯片和印刷電路板之間的信號進行采樣。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]所公開的技術(shù)的某些實施例包括測試和測量探針連接系統(tǒng)，其包括插入器；連接到插入器的至少一個探針片；以及可釋放地可連接到所述至少一個探針片以測量來自插入器的信號的連接器。
[0005]某些實施例包括測試和測量探針連接系統(tǒng)，其包括電路；連接到插入器的至少一個探針片；以及可釋放地可連接到所述至少一個探針片以測量來自插入器的信號的連接器。
【附圖說明】
[0006]圖1圖示具有用于焊入式探針片的焊點的傳統(tǒng)插入器的示例。
[0007]圖2圖示具有所公開的技術(shù)的探針片的插入器的示例。
[0008]圖3圖示具有所附接的多個探針片的插入器。
[0009]圖4圖示用于將連接器連接到探針片的探針片連接系統(tǒng)。
[0010]圖5圖示所公開的技術(shù)的插入器。
【具體實施方式】
[0011]在并未按照比例繪制的附圖中，所公開的系統(tǒng)和方法的相似或?qū)?yīng)元素以相同附圖標記來指示。
[0012]本文所公開的技術(shù)消除了對測量各種電路上的信號的瀏覽器探針和焊入式探針的需求。圖2圖示位于電路202和存儲器IC芯片204之間的插入器200。并非用插入器上的焊點附接焊入式探針，而是探針片206附接到插入器200。探針片206是插入器200的一部分。探針片206允許測試和測量儀器對來自放置于插入器200的頂部上的存儲器IC芯片204的信號進行采樣。如以下將進一步詳細描述的，附接到測試和測量儀器的連接器能夠容易地可釋放地連接以讀取來自插入器200的信號。
[0013]圖3圖示具有六個探針片206的插入器200的示例。探針片206優(yōu)選地被制造為插入器200的一部分。也就是說，探針片206與插入器200 —體地形成。然而，探針片206也可以在制造期間或者由用戶焊接到插入器200上。
[0014]每一個探針片206允許測量連接到插入器200的IC芯片或電路的不同信號。盡管圖3圖示六個探針片206，但是所公開的技術(shù)并不限于六個探針片206?？梢匀鐖D2中所示地使用單個探針片206，或者可以在插入器上適配并需要任何數(shù)量的探針片。每一個探針片206引出來自電路的期望信號，如在下文將更詳細討論的。按照與傳統(tǒng)插入器100中使用焊點106類似的方式來使用探針片206。
[0015]圖4圖示探針片406和連接器402之間的連接。如圖4中所示，探針片406附接到電路400以引出來自電路的期望信號。探針片406與以上所述的探針片206 —樣地工作。例如，電路400可以是插入器，如以上所討論的。連接器402然后能夠可釋放地附接到探針片406以測量來自電路400的信號。然后，如果期望測量另一信號，則連接器402能夠從當(dāng)前的探針片406移除并且放置在另一探針片406上。這消除了對焊入式探針的需求并且允許用戶容易地測量期望信號，而無需能夠?qū)⒑溉胧教结樅附拥讲迦肫鞯膶I(yè)技能。
[0016]盡管圖4示出單個探針片406和單個連接器402，但是所公開的技術(shù)能夠在電路400上具有多個探針片406，類似于圖3中所示的那樣。此外，也能夠使用多個連接器402，每一個連接器402連接到不同的探針片。
[0017]連接器402附接到同軸或彎曲的線纜組件404的端部，該組件連接回到測試和測量儀器(未示出)。能夠提供多個同軸或彎曲的線纜組件404。具有在端部處的測量來自探針片406的信號的連接器402的每一個同軸或彎曲的線纜組件404附接到測試和測量信號并且允許一次測量多個信號。
[0018]如上文所提及的，連接器402可釋放地可連接到探針片406。這可以各種方式完成。連接器402能夠具有插入探針片406的狹槽408，如圖4中所示。在另一實施例中，連接器402的頂部能夠打開并且探針片406能夠放置在連接器402內(nèi)。然后，連接器402的頂部可以坍塌在探針片406上。為了移除探針片406，連接器402的頂部僅需要再次打開?？舍尫诺馗浇拥倪B接器402允許用戶快速且高效地測量信號，而無需將焊入式探針片焊接到小插入器或電路上的專業(yè)技能。
[0019]此外，探針片206和406以及連接器402被構(gòu)建成承受較高的帶寬并且允許用戶能夠精確地對來自電路的具有較高的帶寬的信號進行采樣或測量。
[0020]探針片206和406優(yōu)選地是附接到插入器200的柔性電路。然而，探針片206也可以是附接到插入器200或電路400的印刷電路板。探針片206必須能夠可釋放地與連接器402連接。探針片206具有在其上的電氣引線以將從存儲器IC芯片204采樣的信號通過插入器200引導(dǎo)到探針片206的端部。以下關(guān)于圖4更詳細地描述的連接器能夠可釋放地附接到探針片206并且對通過探針片206上的電氣引線行進的信號進行讀取。
[0021]圖5示出插入器200的示例。插入器200包括各種通路或焊墊500，其被用來安裝IC芯片，諸如以上所討論的存儲器IC芯片204。插入器200還包括探針片206。插入器200還包括內(nèi)部電阻器502，如圖5中所示。內(nèi)部電阻器502連接到插入器200上的內(nèi)部金屬跡線504。該內(nèi)部金屬跡線504連接到通路506和表面金屬跡線508。來自存儲器IC芯片204的信號從內(nèi)部電阻器502，通過內(nèi)部金屬跡線504，經(jīng)由通路506行進到表面金屬跡線 508。
[0022]連接器402包括兩個導(dǎo)體(未示出)。兩個導(dǎo)體與探針片206上的表面金屬跡線508對準。表面金屬跡線508上的信號然后通過連接器402中的兩個導(dǎo)體被發(fā)送到測試和測量儀器。
[0023]盡管與存儲器IC芯片一起使用中的插入器已經(jīng)在上文中進行討論，但是所公開的技術(shù)并不限于這樣的實施例。具有探針片的插入器可以與任何IC芯片一起使用。此外，所公開的技術(shù)并不限于與插入器一起使用。相反，所述技術(shù)能夠與任何類型的其中期望測量電路內(nèi)的信號的電路一起使用。探針片能夠附接到電路并且連接器能夠連接到探針片以測量信號。所公開的技術(shù)允許在小空間內(nèi)測量信號，而不必焊入探針片或者保持瀏覽器探針片。用戶能夠通過僅將連接器放置在探針片上、測量信號、并且然后將連接器斷開連接并將其放置在下一探針片上來快速地測量電路內(nèi)的各種信號。
[0024]此外，探針片206能夠采用任何形狀，只要它們能夠連接到連接器402即可。探針片206和406的形狀不是問題的關(guān)鍵。例如，形狀可以是圖3和4中所看到的那樣，或者探針片206和406能夠采用如圖5中所示的更簡單的矩形形狀。
[0025]已經(jīng)以其優(yōu)選實施例描述和圖示了所公開的技術(shù)的原理，應(yīng)當(dāng)清楚的是，所公開的技術(shù)能夠在布置和細節(jié)方面進行修改，而不脫離這樣的原理。我們要求保護落在所附權(quán)利要求的精神和范圍內(nèi)的所有修改和變型。
【主權(quán)項】
1.一種測試和測量探針連接系統(tǒng)，包括: 插入器； 連接到所述插入器的至少一個探針片；以及 連接器，其可釋放地可連接到所述至少一個探針片以測量來自所述插入器的信號。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試和測量探針連接系統(tǒng)，還包括連接到所述插入器的至少兩個探針片。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試和測量探針連接系統(tǒng)，其中所述連接器能夠從一個探針片移除并且可釋放地附接到另一探針片以測量來自所述插入器的不同信號。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試和測量探針連接系統(tǒng)，其中所述至少一個探針片是柔性電路或印刷電路板。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試和測量探針連接系統(tǒng)，還包括兩個連接器，每一個連接器可釋放地可附接到所述至少兩個探針片中的每一個以測量來自所述插入器的至少兩個信號。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試和測量探針連接系統(tǒng)，其中所述至少一個探針片與所述插入器一體地形成。
7.一種測試和測量探針連接系統(tǒng)，包括: 電路； 連接到所述電路的至少一個探針片；以及 連接器，其可釋放地可連接到所述至少一個探針片以測量來自所述電路的信號。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試和測量探針連接系統(tǒng)，還包括連接到所述插入器的至少兩個探針片。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試和測量探針連接系統(tǒng)，其中所述連接器能夠從一個探針片移除并且可釋放地附接到另一探針片以測量來自所述插入器的不同信號。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試和測量探針連接系統(tǒng)，其中所述至少一個探針片是柔性電路或印刷電路板。
11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試和測量探針連接系統(tǒng)，還包括兩個連接器，每一個連接器可釋放地可附接到所述至少兩個探針片中的每一個以測量來自所述插入器的至少兩個信號。
12.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試和測量探針連接系統(tǒng)，其中所述至少一個探針片與所述插入器一體地形成。
【專利摘要】本發(fā)明提供了可釋放的探針連接。一種測試和測量探針連接系統(tǒng)包括插入器；連接到插入器的至少一個探針片；以及可釋放地可連接到所述至少一個探針片以測量來自插入器的信號的連接器。
【IPC分類】G01R1-067
【公開號】CN104569512
【申請?zhí)枴緾N201410572924
【發(fā)明人】M.羅克威爾
【申請人】特克特朗尼克公司
【公開日】2015年4月29日
【申請日】2014年10月24日
【公告號】EP2866037A1, US20150114685