繼電器狀態(tài)的檢測處理電路及其檢測處理方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種用于檢測和處理電能表上繼電器狀態(tài)的裝置及方法，具體講是一種繼電器狀態(tài)的檢測處理電路及其檢測處理方法。
【背景技術(shù)】
[0002]在電能表的運輸過程中或受干擾的情況下，會導(dǎo)致繼電器的狀態(tài)，即從合閘狀態(tài)變成分閘狀態(tài)或者自分閘狀態(tài)變成合閘狀態(tài)。由于目前對于電能表內(nèi)的繼電器狀態(tài)是不檢測的，因此會導(dǎo)致繼電器的狀態(tài)錯誤，造成用戶無法正常用電或者電網(wǎng)公司受到損失，另夕卜，該故障需要派人上門查看和處理故障，維護成本比較高。因此，基于上述原因，提供一種繼電器狀態(tài)的檢測處理電路及其檢測處理方法，該電路及方法能夠?qū)^電器的狀態(tài)進行檢測并進行處理，從而使得繼電器的實時狀態(tài)正確，以解決上述問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是，提供一種繼電器狀態(tài)的檢測處理電路及其檢測處理方法，該電路及方法能夠?qū)^電器的狀態(tài)進行檢測并進行處理，從而使得繼電器的實時狀態(tài)正確。
[0004]本發(fā)明的技術(shù)方案是，提供一種繼電器狀態(tài)的檢測處理電路，包括一光電耦合器E1、電阻Rl、R2、R3，微處理器和與微處理器連接的存儲裝置；所述光電耦合器El的正極輸入端與繼電器的輸出端連接；所述光電耦合器El的負極輸入端與電阻Rl的一端連接；所述電阻Rl的另一端接地；所述光電親合器El的正極輸出端與電阻R2的一端、電阻R3的一端連接；所述電阻R2的另一端與電源端連接；所述電阻R3的另一端與微處理器連接；所述的微處理器與繼電器的輸入端連接。
[0005]所述的繼電器狀態(tài)的檢測處理電路還包括一穩(wěn)壓二極管TVS1，所述穩(wěn)壓二極管TVSl的陰極與光電耦合器El的負極輸入端連接，所述穩(wěn)壓二極管TVSl的陽極與電阻Rl的一端連接。
[0006]所述的繼電器狀態(tài)的檢測處理電路還包括一二極管VD1，所述二極管VDl的陽極與電阻Rl的一端連接，所述二極管VDl的陰極與光電耦合器El的正極輸入端連接。
[0007]所述的繼電器狀態(tài)的檢測處理電路還包括一電阻R4，所述電阻R4的一端與光電耦合器El的正極輸入端連接，所述電阻R4的另一端與電阻Rl的一端連接。
[0008]一種繼電器狀態(tài)的檢測處理方法，包括以下步驟:
[0009](I)、給繼電器狀態(tài)的檢測處理電路的各器件上電；
[0010](2)、微處理器讀取繼電器的實時狀態(tài)；
[0011](3)、將該繼電器的實時狀態(tài)與繼電器的最后一次執(zhí)行動作的狀態(tài)相比對，如果兩者的狀態(tài)相符，則判斷繼電器的狀態(tài)正常同時執(zhí)行步驟(5);
[0012](4)、否則，微處理器給繼電器發(fā)出命令，使得繼電器的實時狀態(tài)與繼電器的最后一次執(zhí)行動作后的狀態(tài)相符，接著執(zhí)行步驟(5)；
[0013](5)、N時間段計時開始；
[0014](6)、N時間段計時時間到，同時將繼電器的最后一次執(zhí)行動作的狀態(tài)存入存儲裝置內(nèi)并返回步驟(2)。
[0015]在執(zhí)行步驟(2)-(6)的過程中，若給繼電器狀態(tài)的檢測處理電路斷電，則將繼電器的最后一次執(zhí)行動作后的狀態(tài)存入存儲裝置內(nèi)。
[0016]采用以上結(jié)構(gòu)和方法后，本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下優(yōu)點:
[0017]本發(fā)明繼電器狀態(tài)的檢測處理電路在繼電器合閘或分閘時，會發(fā)出信號，使得光電耦合器工作，輸出高電平給微處理器，使得微處理器能夠?qū)崟r讀出繼電器的狀態(tài)，并使得微處理器根據(jù)該狀態(tài)對繼電器進行操作。由于本發(fā)明繼電器狀態(tài)的檢測處理電路能夠檢測出繼電器的狀態(tài)且能夠?qū)υ摖顟B(tài)進行改變，因此避免了繼電器的狀態(tài)錯誤，保證了用戶正常用電或者電網(wǎng)公司不受到經(jīng)濟損失，而且無需派人上門查看和處理故障，維護成本比較低。本發(fā)明繼電器狀態(tài)的檢測處理方法通過在初始化的時候檢測以及定時檢測兩種方法，能夠很大程度上保障繼電器的狀態(tài)，從而保證用戶的正常用電，以及保證電網(wǎng)公司不受到經(jīng)濟損失。
【附圖說明】
[0018]圖1是本發(fā)明繼電器狀態(tài)的檢測處理電路的電路原理圖。
[0019]圖2是本發(fā)明繼電器狀態(tài)的檢測處理方法的流程圖。
【具體實施方式】
[0020]下面結(jié)合附圖和具體實施例對本發(fā)明作進一步說明。
[0021]如圖1、圖2所示，本發(fā)明一種繼電器狀態(tài)的檢測處理電路，包括一光電耦合器E1、電阻R1、R2、R3，微處理器和與微處理器連接的存儲裝置；所述光電耦合器El的正極輸入端與繼電器的輸出端連接；所述光電耦合器El的負極輸入端與電阻Rl的一端連接；所述電阻Rl的另一端接地；所述光電耦合器El的正極輸出端與電阻R2的一端、電阻R3的一端連接；所述電阻R2的另一端與電源端連接；所述電阻R3的另一端與微處理器連接；所述的微處理器與繼電器的輸入端連接。繼電器在合閘時會輸出高電平，在分閘時輸出低電平。
[0022]所述的繼電器狀態(tài)的檢測處理電路還包括一穩(wěn)壓二極管TVS1，所述穩(wěn)壓二極管TVSl的陰極與光電耦合器El的負極輸入端連接，所述穩(wěn)壓二極管TVSl的陽極與電阻Rl的一端連接。TVSl為5.6V穩(wěn)壓管，通過分壓方式，控制光耦導(dǎo)通。原理如下:經(jīng)實測光耦小電流導(dǎo)通時Vf為IV左右，取R4 = 20k，Ve4= 20k/(510k+20k)*176V=6.64V,可以保證Un > 176V時，光耦可以穩(wěn)定導(dǎo)通。且此時的光耦實際電流if =(176V*1.414-6.6V)/510k-6.6V/20k = 0.145mA，由光耦廠家提供的測試數(shù)據(jù)(光耦前端驅(qū)動電流if彡0.1mA可穩(wěn)定導(dǎo)通)可知光親確實可有效導(dǎo)通。
[0023]所述的繼電器狀態(tài)的檢測處理電路還包括一二極管VD1，所述二極管VDl的陽極與電阻Rl的一端連接，所述二極管VDl的陰極與光電耦合器El的正極輸入端連接。Un為交流電，頻率為50Hz，VDl的作用是保證電路雙向都能導(dǎo)通，同時保護電路。
[0024]所述的繼電器狀態(tài)的檢測處理電路還包括一電阻R4，所述電阻R4的一端與光電耦合器El的正極輸入端連接，所述電阻R4的另一端與電阻Rl的一端連接。R4起分壓作用，給穩(wěn)壓管與光耦一個相對穩(wěn)定的電壓，以控制光耦導(dǎo)通，原理同第二點。
[0025]一種繼電器狀態(tài)的檢測處理方法，該檢測處理方法是基于繼電器狀態(tài)的檢測處理電路基礎(chǔ)上而得以實現(xiàn)的，包括以下步驟:在電能表出廠后，存儲裝置內(nèi)必然會有繼電器的最后一次執(zhí)行動作的狀態(tài)記錄；
[0026](I)、給繼電器狀態(tài)的檢測處理電路的各器件上電；
[0027](2)、微處理器讀取繼電器的實時狀態(tài)；
[0028](3)、將該繼電器的實時狀態(tài)與繼電器的最后一次執(zhí)行動作的狀態(tài)相比對，如果兩者的狀態(tài)相符，則判斷繼電器的狀態(tài)正常同時執(zhí)行步驟(5);該步驟是測試在運輸之后繼電器的狀態(tài)有沒有發(fā)生改變，并及時糾正。
[0029](3)、否則，微處理器給繼電器發(fā)出命令，使得繼電器的實時狀態(tài)與繼電器的最后一次執(zhí)行動作后的狀態(tài)相符，接著執(zhí)行步驟(5)；
[0030](5)、N時間段計時開始；
[0031](6)、N時間段計時時間到，同時將繼電器的最后一次執(zhí)行動作的狀態(tài)存入存儲裝置內(nèi)并返回步驟(2)。該步驟是測試在運行(如果收到磁干擾，則繼電器的狀態(tài)可能會有異常)中的繼電器的狀態(tài)有沒有發(fā)生改變，并及時糾正。
[0032]在執(zhí)行步驟(2)-(6)的過程中，若給繼電器狀態(tài)的檢測處理電路斷電，則將繼電器的最后一次執(zhí)行動作后的狀態(tài)存入存儲裝置內(nèi)。
[0033]以上僅就本發(fā)明的最佳實施例作了說明，但不能理解為是對權(quán)利要求的限制。本發(fā)明不僅限于以上實施例，其具體結(jié)構(gòu)允許有變化。但凡在本發(fā)明獨立權(quán)利要求的保護范圍內(nèi)所作的各種變化均在本發(fā)明的保護范圍內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種繼電器狀態(tài)的檢測處理電路，其特征在于:包括一光電耦合器E1、電阻Rl、R2、R3，微處理器和與微處理器連接的存儲裝置；所述光電耦合器El的正極輸入端與繼電器的輸出端連接；所述光電耦合器El的負極輸入端與電阻Rl的一端連接；所述電阻Rl的另一端接地；所述光電耦合器El的正極輸出端與電阻R2的一端、電阻R3的一端連接；所述電阻R2的另一端與電源端連接；所述電阻R3的另一端與微處理器連接；所述的微處理器與繼電器的輸入端連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述繼電器狀態(tài)的檢測處理電路，其特征在于:所述的繼電器狀態(tài)的檢測處理電路還包括一穩(wěn)壓二極管TVS1，所述穩(wěn)壓二極管TVSl的陰極與光電耦合器El的負極輸入端連接，所述穩(wěn)壓二極管TVSl的陽極與電阻Rl的一端連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述繼電器狀態(tài)的檢測處理電路，其特征在于:所述的繼電器狀態(tài)的檢測處理電路還包括一二極管VD1，所述二極管VDl的陽極與電阻Rl的一端連接，所述二極管VDl的陰極與光電耦合器El的正極輸入端連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述繼電器狀態(tài)的檢測處理電路，其特征在于:所述的繼電器狀態(tài)的檢測處理電路還包括一電阻R4，所述電阻R4的一端與光電耦合器El的正極輸入端連接，所述電阻R4的另一端與電阻Rl的一端連接。
5.一種繼電器狀態(tài)的檢測處理方法，其特征在于:包括以下步驟: (1)、給繼電器狀態(tài)的檢測處理電路的各器件上電； (2)、微處理器讀取繼電器的實時狀態(tài)； (3)、將該繼電器的實時狀態(tài)與繼電器的最后一次執(zhí)行動作的狀態(tài)相比對，如果兩者的狀態(tài)相符，則判斷繼電器的狀態(tài)正常同時執(zhí)行步驟(5); (4)、否則，微處理器給繼電器發(fā)出命令，使得繼電器的實時狀態(tài)與繼電器的最后一次執(zhí)行動作后的狀態(tài)相符，接著執(zhí)行步驟(5); (5)、N時間段計時開始； (6)、N時間段計時時間到，同時將繼電器的最后一次執(zhí)行動作的狀態(tài)存入存儲裝置內(nèi)并返回步驟(2)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述繼電器狀態(tài)的檢測處理方法，其特征在于:在執(zhí)行步驟(2)-(6)的過程中，若給繼電器狀態(tài)的檢測處理電路斷電，則將繼電器的最后一次執(zhí)行動作后的狀態(tài)存入存儲裝置內(nèi)。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種繼電器狀態(tài)的檢測處理電路，包括一光電耦合器E1、電阻R1、R2、R3，微處理器和與微處理器連接的存儲裝置；所述光電耦合器E1的正極輸入端與繼電器的輸出端連接；所述光電耦合器E1的負極輸入端與電阻R1的一端連接；所述電阻R1的另一端接地；所述光電耦合器E1的正極輸出端與電阻R2的一端、電阻R3的一端連接；所述電阻R2的另一端與電源端連接；所述電阻R3的另一端與微處理器連接；所述的微處理器與繼電器的輸入端連接。該電路及方法能夠?qū)^電器的狀態(tài)進行檢測并進行處理，從而使得繼電器的實時狀態(tài)正確。
【IPC分類】G01R31-327
【公開號】CN104535924
【申請?zhí)枴緾N201410850903
【發(fā)明人】鄭堅江, 余轉(zhuǎn)麗, 王道安
【申請人】寧波三星電氣股份有限公司
【公開日】2015年4月22日
【申請日】2014年12月30日