一種數(shù)字電路故障的快速檢測方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種電路的故障檢測方法，尤其是涉及一種數(shù)字電路故障的快速檢測 方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 數(shù)字電路在制造過程中電路中某些導(dǎo)線的可能發(fā)生連接錯誤。有些連線會固定地 接到低電平，有些導(dǎo)線會固定地接到高電平。發(fā)生這種錯誤連接以后，這些導(dǎo)線上的信號將 是一個固定值，即與電路的輸入值無關(guān)，從而使電路的邏輯功能發(fā)生錯誤。上述導(dǎo)線連接錯 誤中，發(fā)生接到低電平錯誤的稱為固定0故障，用S-a-0表示；發(fā)生接到高電平錯誤的稱為 固定1故障，用s-a-1表示。由于連接錯誤發(fā)生在電路的內(nèi)部，因此檢測的方法一般是通過 在電路外施加不同的輸入組合，并比較對應(yīng)輸出來判斷電路內(nèi)部是不是存在上述2種連接 錯誤。其中不同的輸入組合稱為測試矢量。
[0003] 如圖1所示的電路中，連線C在打"X"的地方發(fā)生連線錯誤，則根據(jù)測試?yán)碚?，?dāng) 連線c發(fā)生s-a-1故障時(shí)，對應(yīng)的測試矢量可以用
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種數(shù)字電路故障的快速檢測方法，其特征在于定義待測電路對應(yīng)的邏輯函數(shù)為 f ;電路輸入變量數(shù)定義為m，輸出變量數(shù)定義為η ;定義Pi，為屬于f的任意一對乘積項(xiàng)； 規(guī)定乘積項(xiàng)中的任一變量，用"〇"表示該變量以反變量形式出現(xiàn)，"1"表示該變量以原量形 式出現(xiàn)，表示該變量不出現(xiàn)；定義[ Pi]k為乘積項(xiàng)P Jl k位的取值；定義H為f的布爾 差分運(yùn)算標(biāo)志；H包含m位；定義[H]kS H的第k位的取值，0彡k彡（m-Ι);規(guī)定[H] k的取 值只能為" 1"或者"〇" ； [H]k為" 1"表示該位變量需要布爾差分運(yùn)算，[H] k為"0"表示該位 變量不需要進(jìn)行布爾差分運(yùn)算；用Xk(Pi，H)表示乘積項(xiàng) ？1與!1之間的第k位"位異或"運(yùn) 算，并規(guī)定當(dāng)[H]k= 1時(shí)，
其他情況下，Xk(Pi, H) = [Pi]k;定義A ? P/表 示Pi，Pj之間的不相交銳積運(yùn)算，A. ? P, = A. - A「l/V其中" Π "表示p# p』的邏輯"與" 運(yùn)算；本發(fā)明的具體步驟為： 步驟①.定義三個空的集合C1, (：2和C 3，并根據(jù)邏輯函數(shù)f對變量的布爾差分關(guān)系得到 布爾差分標(biāo)志H ; 步驟②.判斷f的邏輯表達(dá)式是否為多個乘積項(xiàng)之"或"形式，如果不是，將f展開為 乘積項(xiàng)之"或"形式；將構(gòu)成f的所有乘積項(xiàng)分別同時(shí)存儲于集合C1，集合C2和集合C 3中； 步驟③.在集合(：2中任取一個乘積項(xiàng)p' i，將p' 1與!1之間逐位進(jìn)行"位異或"運(yùn)算， 即將P' i的第k位值[p' Jk用Xk(p' i，H)進(jìn)行替換，0彡k彡（m-1); 步驟④.判斷集合C2中是否所有的乘積項(xiàng)都與布爾差分標(biāo)志H完成"位異或"運(yùn)算，如 果是，執(zhí)行步驟⑤，否則執(zhí)行步驟③； 步驟⑤.在集合C1中任取一個乘積項(xiàng)，記為Pi"，在集合C2中任取一個乘積項(xiàng)，記為 P" P進(jìn)行運(yùn)算，運(yùn)算結(jié)果存儲于集合(^中，并在集合C1中刪除p" i; 步驟⑥.判斷集合C1中的任何乘積項(xiàng)是否與C 2中的任何乘積項(xiàng)都不相交，如果是，執(zhí) 行步驟⑦，否則執(zhí)行步驟⑤； 步驟⑦.在集合C2中任取一個乘積項(xiàng)，記為P " v，在集合C3中任取一個乘積項(xiàng)，記為 P" w，并進(jìn)行/彳運(yùn)算，運(yùn)算結(jié)果存儲于集合(：2中，并在集合C2中刪除p" v; 步驟⑧.判斷集合C2中的任何乘積項(xiàng)是否與集合C 3中的任何乘積項(xiàng)都不相交，如果 是，執(zhí)行步驟⑨，否則執(zhí)行步驟⑦； 步驟⑨：將集合C1和集合C 2的乘積項(xiàng)進(jìn)行邏輯"或"運(yùn)算，就得到邏輯電路的布爾差分 結(jié)果； 步驟⑩：根據(jù)步驟⑨中得到的布爾差分結(jié)果，結(jié)合基于布爾差分的電路測試?yán)碚?，得?相應(yīng)的測試矢量，實(shí)現(xiàn)待測電路故障的檢測。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種數(shù)字電路故障的快速檢測方法，提出一種以乘積項(xiàng)不相交銳積運(yùn)算為基礎(chǔ)的布爾差分計(jì)算方法，通過引入乘積項(xiàng)與差分標(biāo)志之間的“位異或”運(yùn)算，再結(jié)合乘積項(xiàng)不相交銳積運(yùn)算，實(shí)現(xiàn)邏輯函數(shù)的差分運(yùn)算，本發(fā)明的方法避免邏輯函數(shù)的最小項(xiàng)或者圖形展開，優(yōu)點(diǎn)在于：(1)可以處理非常大的數(shù)字集成電路，并且運(yùn)算速度很快；(2)待求解的布爾差分階數(shù)對本發(fā)明的速度影響很小。
【IPC分類】G01R31-3177
【公開號】CN104535917
【申請?zhí)枴緾N201410809369
【發(fā)明人】王倫耀, 夏銀水, 儲著飛
【申請人】寧波大學(xué)
【公開日】2015年4月22日
【申請日】2014年12月23日