專利名稱:便攜式數(shù)字電路測(cè)試儀的制作方法
本實(shí)用新型是一種測(cè)試數(shù)字電路的電子儀器。
隨著電子工業(yè)的飛躍發(fā)展，數(shù)字集成電路日益廣泛地應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域，使用量急劇增長(zhǎng)。由于集成電路品種多、外形各異、邏輯功能復(fù)雜和接腳毫無規(guī)律等原因，使設(shè)計(jì)和制造一種通用的集成電路測(cè)試儀帶來了較大的困難。目前，國(guó)內(nèi)外的集成電路測(cè)試儀通常采用兩種方法，一是比較法，它采取把需測(cè)集成電路和標(biāo)準(zhǔn)電路進(jìn)行比較的方法，例如國(guó)營(yíng)南昌無線電儀器廠生產(chǎn)的NY3122型數(shù)字集成電路測(cè)試儀；二是計(jì)算法，它采取把被測(cè)電路輸出信號(hào)按頻帶壓縮理論壓縮成特征值，是近期國(guó)內(nèi)外普遍采用的方法，例如美國(guó)IST公司的370A數(shù)字集成電路測(cè)試儀。由于采取以上方法制造的集成電路測(cè)試儀電路結(jié)構(gòu)復(fù)雜，成本高，目前只能測(cè)試24個(gè)接腳以下的集成電路，并且不能用數(shù)字顯示失效的接腳編號(hào)和失效性質(zhì)(邏輯或電平)，因而不能被普遍采用。
本實(shí)用新型的目的是提供一種能測(cè)試28接腳以下各種數(shù)字電路，且能顯示出發(fā)生失效的接腳編號(hào)，具有測(cè)試容量大、成本低、體積小、操作簡(jiǎn)單的便攜式數(shù)字電路測(cè)試儀。
本實(shí)用新型采取以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)1.掃描比較電路。為了簡(jiǎn)化儀器的電路結(jié)構(gòu)，降低成本，并能顯示失效性質(zhì)和失效的接腳編號(hào)，本儀器采用對(duì)被測(cè)電路和標(biāo)準(zhǔn)電路的各個(gè)接腳進(jìn)行同步掃描測(cè)試比較。來鑒別被測(cè)電路是否失效。在測(cè)試中，信號(hào)發(fā)生器〔1〕發(fā)生脈沖信號(hào)，通過掃描控制器〔2〕控制電子選擇開關(guān)〔10〕、〔11〕，對(duì)標(biāo)準(zhǔn)電路〔8〕和被測(cè)電路〔9〕的各個(gè)對(duì)應(yīng)接腳進(jìn)行同步掃描測(cè)試。在確定的狀態(tài)下，經(jīng)過對(duì)所有接腳的掃描比較測(cè)試，CP計(jì)數(shù)器〔3〕達(dá)到了預(yù)定數(shù)值后，發(fā)出一個(gè)狀態(tài)改變信號(hào)發(fā)給序列、狀態(tài)發(fā)生器〔4〕，CP信號(hào)及狀態(tài)經(jīng)過電平變換器〔7〕變換成被測(cè)電路所需標(biāo)準(zhǔn)電平信號(hào)，使標(biāo)準(zhǔn)電路〔8〕和被測(cè)電路〔9〕改變測(cè)試狀態(tài)，電子選擇開關(guān)〔10〕、〔11〕在掃描控制器〔2〕的控制下進(jìn)行新狀態(tài)的掃描比較測(cè)試。當(dāng)所有狀態(tài)都進(jìn)行掃描測(cè)試后，如果被測(cè)電路輸出電平和邏輯輸出與標(biāo)準(zhǔn)相符，則由序列狀態(tài)發(fā)生器〔4〕發(fā)出信號(hào)，合格顯示器〔5〕顯示出合格信號(hào)，同時(shí)信號(hào)發(fā)生器〔1〕停止發(fā)送信號(hào)，整個(gè)測(cè)試結(jié)束。在每次掃描測(cè)試中，如果被測(cè)電路〔9〕的輸出邏輯與標(biāo)準(zhǔn)電路〔8〕的輸出邏輯不同，由電平變換器〔12〕和電平鑒別器〔13〕輸出的信號(hào)通過邏輯比較器〔14〕比較后，使失效顯示器〔15〕顯示出邏輯失效信號(hào)；如果被測(cè)電路〔9〕的輸出電平不符合標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，電平鑒別器〔13〕發(fā)出信號(hào)，使失效顯示器〔15〕顯示出電平失效信號(hào)。在失效顯示器〔15〕顯示出失效信號(hào)的同時(shí)，使得信號(hào)發(fā)生器〔1〕停止發(fā)出信號(hào)，掃描控制器〔2〕停止掃描，掃描顯示器〔6〕即顯示出失效接腳的編號(hào)。
2.測(cè)試卡電路。為了有效地解決不同類型、不同品種電路的兼容測(cè)試問題，本儀器將各種標(biāo)準(zhǔn)電路裝在帶有測(cè)試條件的電路板接插件上，構(gòu)成各種測(cè)試卡。當(dāng)測(cè)試不同種類的電路時(shí)，只要變換測(cè)試卡就能實(shí)現(xiàn)，既利于自動(dòng)測(cè)試，又為新品種擴(kuò)展測(cè)試帶來方便。
3.歸一化技術(shù)。由于集成電路種類很多，接腳排列毫無規(guī)律，各個(gè)接腳都有可能是輸入、輸出，電源或空腳，為了減少人工判別的工作量，本儀器在測(cè)試時(shí)每一個(gè)接腳都看成輸出端進(jìn)行測(cè)試，即稱為歸一化技術(shù)。
本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下優(yōu)點(diǎn)1.電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，成本低；2.測(cè)試容量大，便于新品種擴(kuò)展測(cè)試；3.顯示直觀，不僅能顯示電路是否合格，而且能顯示電路是邏輯失效還是電平失效，以及顯示失效接腳的編號(hào)。
4.體積小、重量輕、便于攜帶、操作簡(jiǎn)便。
圖1是本儀器的電路方框圖；圖2是電子掃描測(cè)試原理示意圖。
本實(shí)用新型可采取以下方案實(shí)施由二輸入端的四個(gè)與非門和電阻、電容構(gòu)成環(huán)形振蕩器作為信號(hào)發(fā)生器〔1〕。掃描控制器〔2〕由四位二進(jìn)制同步加法計(jì)數(shù)器組成，它將來自信號(hào)發(fā)生器〔1〕的信號(hào)轉(zhuǎn)換成8421碼控制電子選擇開關(guān)〔10〕、〔11〕，并通過螢光數(shù)碼管組成的掃描顯示器〔6〕顯示出來，同時(shí)，掃描控制器〔2〕還輸出一個(gè)信號(hào)給由四位二進(jìn)制同步加法計(jì)數(shù)器組成的CP計(jì)數(shù)器〔3〕，CP計(jì)數(shù)器〔3〕發(fā)出CP脈沖通過電平變換器〔7〕向標(biāo)準(zhǔn)電路〔8〕和被測(cè)電路〔9〕輸出CP脈沖(對(duì)時(shí)序電路而言，若組合電路則不必使用)，當(dāng)CP脈沖到達(dá)預(yù)定數(shù)值時(shí)，發(fā)出一個(gè)狀態(tài)脈沖給序列狀態(tài)發(fā)生器〔4〕；由二個(gè)雙四位二進(jìn)制同步加法計(jì)數(shù)器組成的序列狀態(tài)發(fā)生器〔4〕——最大可產(chǎn)生216的各種可能下的不同組合測(cè)試信號(hào)，此信號(hào)通過電平變換器〔7〕向標(biāo)準(zhǔn)電路〔8〕和被測(cè)電路〔9〕，提供各種測(cè)試所需的不同組合標(biāo)準(zhǔn)電平信號(hào)，電平變換器〔7〕由開關(guān)三極管及可調(diào)電壓源組成，其作用是把序列狀態(tài)發(fā)生器〔4〕產(chǎn)生的信號(hào)轉(zhuǎn)換成被測(cè)電路所需要的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電平，由于各類電路的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電平不同，故可以通過選擇開關(guān)控制可調(diào)電壓源，獲得所需的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電平。
掃描測(cè)試技術(shù)的實(shí)現(xiàn)如圖2所示，電子選擇開關(guān)〔10〕、〔11〕分別用四塊八通道模擬轉(zhuǎn)換器4051組成，為了便于顯示被測(cè)電路〔9〕失效的接腳編號(hào)，在掃描控制器〔2〕的控制下，對(duì)被測(cè)電路〔9〕和標(biāo)準(zhǔn)電路〔8〕的上下兩排接腳分兩組同時(shí)對(duì)被測(cè)電路上排和下排進(jìn)行掃描測(cè)試比較，由兩組邏輯比較器和電平鑒別器控制失效顯示器〔15〕。失效顯示器〔15〕由四個(gè)六反相緩沖變換器分別驅(qū)動(dòng)四個(gè)發(fā)光二極管，顯示被測(cè)電路的上、下排接腳的電平失效和邏輯失效。邏輯比較器〔14〕由兩組異或門組成，當(dāng)被測(cè)電路與標(biāo)準(zhǔn)電路的邏輯輸出相一致時(shí)，異或門輸出低電平，如果被測(cè)電路與標(biāo)準(zhǔn)電路的邏輯輸出不一致時(shí)，異或門輸出高電平，使失效顯示器〔15〕中指示上排邏輯失效或下排邏輯失效的發(fā)光二極管發(fā)光，指示出電路的邏輯失效，同時(shí)由數(shù)碼管顯示掃描狀態(tài)，一旦掃描控制器停止掃描，此時(shí)顯示器則顯示該失效腳的腳號(hào)。
為了便于變換測(cè)試不同品種的集成電路，標(biāo)準(zhǔn)電路直接安裝在帶測(cè)試條件的測(cè)試卡上，只要改換測(cè)試卡就能進(jìn)行不同種類電路的測(cè)試。
權(quán)利要求
1.一種測(cè)試數(shù)字電路的便攜式數(shù)字電路測(cè)試儀，由信號(hào)發(fā)生器[1]，掃描控制器[2]，CP計(jì)數(shù)器[3]，序列狀態(tài)發(fā)生器[4]，合格顯示器[5]，掃描顯示器[6]和失效顯示器[15]等組成，其特征在于信號(hào)發(fā)生器[1]發(fā)出的信號(hào)通過掃描控制器[2]控制電子選擇開關(guān)[10]、[11]，對(duì)標(biāo)準(zhǔn)電路[8]和被測(cè)電路[9]的各個(gè)接腳進(jìn)行同步掃描測(cè)試比較，電平變換器[12]和電平鑒別器[13]的輸出信號(hào)經(jīng)邏輯比較器[14]控制失效顯示器[15]進(jìn)行失效顯示；CP計(jì)數(shù)器[3]到達(dá)預(yù)定數(shù)值時(shí)發(fā)出狀態(tài)變化脈沖，序列狀態(tài)發(fā)生器[4]發(fā)出的各種組合信號(hào)通過電平變換器[7]變換成被測(cè)電路所需的各種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)，并控制合格顯示器[5]；掃描顯示器[6]由掃描控制器[2]控制顯示失效接腳編號(hào)。
2.根據(jù)權(quán)利要求
1中所述的測(cè)試儀，其特征在于電子選擇開關(guān)〔10〕、〔11〕分別由控制標(biāo)準(zhǔn)電路〔8〕和被測(cè)電路〔9〕的上、下兩排接腳進(jìn)行同時(shí)掃描測(cè)試的四塊八通道模擬轉(zhuǎn)換器組成。
3.根據(jù)權(quán)利要求
1中所述的測(cè)試儀，其特征在于標(biāo)準(zhǔn)電路安裝在帶測(cè)試條件的接插板上組成測(cè)試卡。
專利摘要
本實(shí)用新型是一種測(cè)試數(shù)字電路的電子儀器。本測(cè)試儀采用掃描測(cè)試比較方法和測(cè)試卡技術(shù)，使電路結(jié)構(gòu)大為簡(jiǎn)化，成本大大下降。本測(cè)試儀的測(cè)試容量大，便于新品種擴(kuò)展測(cè)試。顯示直觀，操作方便，可以測(cè)試28接腳以下的各種集成電路。由于體積小、重量輕，故便于攜帶。
文檔編號(hào)G01R31/28GK86205229SQ86205229
公開日1987年8月26日 申請(qǐng)日期1986年7月17日
發(fā)明者屠錫余 申請(qǐng)人:屠錫余導(dǎo)出引文BiBTeX, EndNote, RefMan