專利名稱：通用集成電路測(cè)試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬半導(dǎo)體器件檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。
對(duì)集成電路性能的檢測(cè)，現(xiàn)有的方法是用專用測(cè)試儀器進(jìn)行測(cè)定。這種專用測(cè)試儀只能測(cè)試單種(類)集成電路，且造價(jià)昂貴，結(jié)構(gòu)復(fù)雜。如國(guó)營(yíng)韶光電工廠設(shè)計(jì)生產(chǎn)的MTS－3集成電路測(cè)試系統(tǒng)，即是如此。針對(duì)現(xiàn)有測(cè)試儀器，設(shè)計(jì)了雙列集成電路測(cè)試儀，即通用集成電路測(cè)試儀。這種測(cè)試儀的原理是對(duì)于相同的集成塊，如果處在相同的工作條件下它們的相同引腳上應(yīng)有相同的特征值。其測(cè)試方法是將被測(cè)集成電路與功能和特性均在規(guī)定指標(biāo)范圍里的標(biāo)準(zhǔn)集成電路進(jìn)行比較，通過運(yùn)算判斷從而決定被測(cè)集成電路的性能好壞及損壞程度。其原理方框圖如附

圖1。其中開關(guān)部分對(duì)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊與被測(cè)塊的相同引腳上的參數(shù)進(jìn)行提取；準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊工作條件及被測(cè)塊工作條件是對(duì)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊和被測(cè)塊建立模擬工作狀態(tài)，取得準(zhǔn)特征值及離散特征值；運(yùn)算判斷電路的作用是對(duì)準(zhǔn)特征值及離散特征值完成一定的運(yùn)算及判斷功能；閾值調(diào)節(jié)電路其作用是對(duì)合格／不合格范圍進(jìn)行控制；電源供給本裝置各部分多種電壓；顯示器是由發(fā)光元件對(duì)判斷結(jié)果進(jìn)行直觀顯示。
本實(shí)用新型可以迅速定性判斷被測(cè)集成塊的性能好壞，同時(shí)半定量地反映其質(zhì)量的穩(wěn)定程度。
本實(shí)用新型的目的在于提供一種簡(jiǎn)單易行的通用集成電路測(cè)試技術(shù)，為集成電路的研究、生產(chǎn)、銷售、應(yīng)用、維修等部門提供出相應(yīng)的實(shí)用儀器，實(shí)現(xiàn)對(duì)集成電路的快速判斷。
本實(shí)用新型與現(xiàn)行的測(cè)試儀器相比，具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，造價(jià)低廉，判斷準(zhǔn)確、迅速等優(yōu)點(diǎn)，且克服了專用儀器造價(jià)昂貴的缺點(diǎn)，便于推廣使用，節(jié)約時(shí)間和器材，提供了大批量工業(yè)生產(chǎn)的可能性。
附圖1是本實(shí)用新型原理方框圖。
附圖2是本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)圖，亦可作為本實(shí)用新型的實(shí)施例。其中1為2×22雙刀開關(guān)，分別接至準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊和被測(cè)集成塊相應(yīng)引腳處。2是由44只阻值相同的電阻組成的完全相同的兩個(gè)集成塊模擬工作條件，其中22只電阻上端分別接至兩插座第一列，下端與二級(jí)管D4的正極相接；另外22只上端接至兩只插座的第二列，上端接V＋·3即D4，為硅二極管，負(fù)極接地。4即A1為 1/4 運(yùn)算放大器它的輸入端接被測(cè)塊電路開關(guān)的公共端，輸出端接電阻R1，電阻R1RW，R2依次串連，R2的另一端接地，RW為可變電阻。5即A2為 1/4 運(yùn)算放大器，輸入端接準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊電路開關(guān)的公共端，輸出端接電阻R4，R4、R3串接，R3另一端接地。6即A3為 1/4 運(yùn)算放大器，同相輸入端接R1和RW之間，反相輸入端接R3和R4之間，輸出端接電阻R7。7即A4為 1/4 運(yùn)算放大器，反相輸入端與A3反相輸入端相接，同相輸入端接RW和R2之間，其輸出端接電阻R8，R7的另一端與紅色發(fā)光二極管D2正極相接，D2負(fù)極接地，R8的另一端接紅色發(fā)光二極管D3的負(fù)極，D3正極接地，D1為綠色發(fā)光二極管，正極接R7與D2之間，負(fù)極接R8與D3之間。8為電源E為整機(jī)直流電源，K為電源開關(guān)，電阻R5、R6對(duì)電源分壓，A5為單運(yùn)算放大器，同相輸入端接R5與R6之間，反相輸入端接輸出，輸出端接地，在V＋與地線之間接電解電容C1，V－與地線之間接電解電容C2。以上結(jié)構(gòu)中R1＝R2，R3＝R4，R5＝R6，R7＝R8，C1＝C2。
上述為測(cè)試22腳以內(nèi)的雙列集成塊的結(jié)構(gòu)圖。如測(cè)24～42腳以內(nèi)雙列集成塊需另設(shè)計(jì)2只安裝集成塊的插座及2×42雙刀開關(guān)，工作條件中的電阻應(yīng)擴(kuò)展為84只同阻值電阻，組成兩個(gè)模擬工作條件，其原理與上述相同。其開關(guān)部分用機(jī)械開關(guān)或電子開關(guān)均可。
本實(shí)用新型在使用時(shí)應(yīng)先確定誤差范圍E。
E＝± 1/2 (Rw)/(R1+R2+Rw) ×100％。當(dāng)｜E｜＜5％時(shí)則為性能良好的范圍。｜E｜＝5％～10％之間時(shí)為一般可用范圍。｜E｜＞10％時(shí)，則不可使用。另外需要確認(rèn)被測(cè)塊的地線端(GND)。將地線端所在的列安置在插座第一列，準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊插在與5相接的插座上，被測(cè)塊插于另一插座。電路接通后，旋轉(zhuǎn)開關(guān)1－周，如有紅燈亮則表明被測(cè)塊性能超出由E所確定的誤差范圍，僅有綠燈亮?xí)r，則表明被測(cè)塊性能在由E所決定的誤差范圍以內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種由2×22雙刀開關(guān)1、模擬工作條件2、硅二極管3 1/4 運(yùn)算放大器4、5、6、7及電阻R1、R2、R3、R4、R7、R8、RW和發(fā)光二極管D1、D2、D3及電源8構(gòu)成的通用集成電路測(cè)試儀其特征在于模擬工作條件2是由44只阻值相同的電阻組成，其中22只電阻上端接至兩插座的第一列，下端與硅二極管3的正極相接，另外22只下端接至兩只插座的第二列，上端連V+、硅二極管3的負(fù)極接地。
2.由權(quán)利要求1所述的通用集成電路測(cè)試儀其特征在于6即A3為 1/4 運(yùn)算放大器，其同相輸入端接R1和RW之間，反相輸入端接R3和R4之間，輸出端接電阻R7；7即A4亦為 1/4 運(yùn)算放大器，反相輸入端與A3的反相輸入端相接，同相輸入端接RW和R2之間，其輸出端接電阻R8，R7的另一端與D2的正極相接；D2負(fù)極接地；R8的另一端與D3的負(fù)極相接，D3正極接地；D1的正極接R7與D2之間，負(fù)極接R8與D3之間。
專利摘要本實(shí)用新型是屬半導(dǎo)體器件檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。其主要解決集成電路性能檢測(cè)的技術(shù)問題，提供一種通用集成電路測(cè)試儀。其主要技術(shù)特征在于設(shè)計(jì)了由44只阻值相同的電阻組成完全相同的兩個(gè)集成塊模擬工作條件，采用運(yùn)算放大器組成了運(yùn)算判斷和閾值調(diào)節(jié)電路，由發(fā)光二極管顯示。其用途是能迅速定性地判斷被測(cè)集成塊的好壞，同時(shí)半定量地反映其質(zhì)量的穩(wěn)定程度，為集成電路的研究、生產(chǎn)、銷售，應(yīng)用和維修提供了實(shí)用測(cè)試儀器。
文檔編號(hào)G01R31/26GK2062852SQ8922056
公開日1990年9月26日 申請(qǐng)日期1989年12月1日 優(yōu)先權(quán)日1989年12月1日
發(fā)明者黃燁東 申請(qǐng)人:黃燁東