專利名稱:光學(xué)巖組儀的制作方法
一種測(cè)定巖石巖組的光學(xué)巖組儀。
現(xiàn)有測(cè)定巖組的一般方法是顯微鏡測(cè)量、費(fèi)氏臺(tái)測(cè)量和X光-巖組儀測(cè)量。顯微鏡測(cè)巖組，需要兩塊互相垂直的定向薄片，恢復(fù)空間優(yōu)選方位，用肉眼逐粒測(cè)定，測(cè)定一塊巖石薄片需用10小時(shí)左右，只能手工成圖，測(cè)定速度慢。費(fèi)氏臺(tái)測(cè)巖組，需要一塊定向巖石薄片，只能逐一測(cè)量每個(gè)顆粒的空間角度，由于靠肉眼測(cè)量，手工成圖，速度慢，且技術(shù)要求高。X光-巖組儀測(cè)巖組需要一至三塊定向薄片，需要二至三小時(shí)，可以手工成圖和計(jì)算機(jī)成圖，儀器價(jià)格昂貴。成都地質(zhì)學(xué)院李之權(quán)等研制成功的JGT型計(jì)算機(jī)光筆式圖象分析儀(見成都地質(zhì)學(xué)院學(xué)報(bào)1982年第四期)由攝像機(jī)、顯微鏡、視頻箱和微機(jī)組成，其動(dòng)能是進(jìn)行礦物粒度測(cè)量和百分含量統(tǒng)計(jì)，但不能測(cè)量巖組。
設(shè)計(jì)一種能快速測(cè)定巖組，操作簡(jiǎn)單，測(cè)量精度高能計(jì)算機(jī)成圖的光學(xué)巖組儀是本發(fā)明的目的。
本發(fā)明的光學(xué)巖組儀由費(fèi)氏臺(tái)(1)，彩色攝像機(jī)(2)、視頻板(3)、電視監(jiān)測(cè)器(4)、微機(jī)(5)和輸出設(shè)備(6)連接組成。在費(fèi)氏臺(tái)(1)壓片孔螺絲上安裝有薄片平移器(7)，費(fèi)氏臺(tái)(1)顯微鏡試板孔中插有一塊萬能試板。其組合關(guān)系是費(fèi)氏臺(tái)(1)鏡筒頂部口上接彩色攝像機(jī)(2)，彩色攝像機(jī)(2)視頻輸出口(17)接視頻板視頻輸入口(18)，視頻板(3)視頻輸出口(19)接在電視監(jiān)測(cè)器(4)上，視頻板(3)整體插入微機(jī)(5)總接線槽中，微機(jī)(5)連接輸出設(shè)備(6)。其原理是根據(jù)定量晶體光學(xué)理論把視域內(nèi)的圖象分解成上萬個(gè)象素，每個(gè)象素當(dāng)做一個(gè)顆粒，經(jīng)過彩色攝像機(jī)(2)轉(zhuǎn)變成電視訊號(hào)，由視頻板(3)將電視訊號(hào)轉(zhuǎn)變成數(shù)字，再由微機(jī)(5)對(duì)數(shù)字進(jìn)行處理，然后由輸出設(shè)備(6)自動(dòng)繪出巖組圖。
薄片平移器(7)由環(huán)形薄板(8)和U形框架(9)組成，環(huán)形薄板(8)上安有二根固定針(10)和平移螺絲(11)，并開有二個(gè)固定孔(12)，環(huán)形薄板(8)和U形框架(9)可由金屬或有機(jī)材料一次壓成。萬能試板(13)上有三塊試板，第一試板(14)選用石英或石膏材料制成，光程差為550毫微米左右，第二試板(15)選用石膏或白云母材料制成，光程差為1100毫微米左右，第三試板選用方解石材料制光，光程差為2500～3000毫微米左右，上述三個(gè)試板厚度在0.02-0.07毫米之間，萬能試板(13)框架可由金屬或有機(jī)材料一次壓成。
附圖1.光學(xué)巖組儀組合示意圖。
附圖2.薄片平移器平面圖。
附圖3.萬能試板平面圖。
1.費(fèi)氏臺(tái)2.彩色攝像機(jī)3.視頻板4.電視監(jiān)測(cè)器5.微機(jī)6.輸出設(shè)備7.薄片平移器8.環(huán)形薄板9.U形框架10.固定針11.平移螺絲12.固定孔13.萬能試板14.第一試板
15.第二試板16.第三試板17.彩色攝像機(jī)視頻輸出口18.視頻板視頻輸入口19.視頻板視頻輸出口。
實(shí)施例1將待測(cè)巖石薄片置于費(fèi)氏臺(tái)薄片平移器(7)上，插入萬能試板第一試板(14)，將費(fèi)氏臺(tái)I軸置于0°位，轉(zhuǎn)動(dòng)物臺(tái)至0°位，敲微機(jī)(5)任意一鍵，再轉(zhuǎn)動(dòng)物臺(tái)2n°，敲微機(jī)(5)任意一鍵，然后將費(fèi)氏臺(tái)I軸順時(shí)針旋轉(zhuǎn)20°，重新將物臺(tái)置于0°位，重復(fù)上述步驟，獲得數(shù)據(jù)，微機(jī)(5)按程序計(jì)算，經(jīng)輸出設(shè)備(6)自動(dòng)繪出一軸晶巖組圖。
實(shí)施例2按實(shí)施例1各操作步驟完成操作，然后將費(fèi)氏臺(tái)I軸歸0°位，并逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)20°，重新將物臺(tái)置于0°位，敲微機(jī)(5)任意一鍵，轉(zhuǎn)動(dòng)物臺(tái)n°，敲微機(jī)(5)任意一鍵，再轉(zhuǎn)動(dòng)物臺(tái)2n°，敲微機(jī)(5)任意一鍵，獲得數(shù)據(jù)，微機(jī)(5)按程序計(jì)算，經(jīng)輸出設(shè)備(6)自動(dòng)繪出二軸晶巖組圖。
本發(fā)明采用定量晶體光學(xué)理論計(jì)算和最小二乘法擬合，提高了巖組的測(cè)量精度和速度，一般可在20～60分鐘內(nèi)自動(dòng)繪出巖組圖。另外，使用本發(fā)明的光學(xué)巖組儀，還可進(jìn)行礦物粒度測(cè)量和百分含量統(tǒng)計(jì)。
權(quán)利要求
1.一種光學(xué)巖組儀，其特征在于由費(fèi)氏臺(tái)(1)、彩色攝像機(jī)(2)、視頻板(3)、電視監(jiān)測(cè)器(4)、微機(jī)(5)和輸出設(shè)備(6)組成，費(fèi)氏臺(tái)(1)鏡頭頂部口上接彩色攝像機(jī)(2)，彩色攝像機(jī)視頻輸出口(17)接視頻板視頻輸入口(18)，視頻板視頻輸出口(19)接在電視監(jiān)測(cè)器上，視頻板(3)整體插入微機(jī)(5)總線槽中，微機(jī)(5)連接輸出設(shè)備(6)，在費(fèi)氏臺(tái)(1)壓片孔螺絲上安裝有薄片平移器(7)，費(fèi)氏臺(tái)(1)顯微鏡試板孔中插有一塊萬能試板(13)。
2.按權(quán)利要求
1所述的光學(xué)巖組儀，其特征在于薄片平移器(7)由環(huán)形薄板(8)和U形框架(9)組成，環(huán)形薄板(8)上安有二根固定針(10)和平移螺絲(11)，并開有二個(gè)固定孔(12)，環(huán)形薄板(8)和U形框架(9)可由金屬或有機(jī)材料一次壓成。
3.按權(quán)利要求
1所述的光學(xué)巖組儀，其特征在于萬能試板(13)上有三個(gè)試板，第一試板(14)選用石英和石膏制成，光程差550毫微米左右;第二試板(15)選用石膏或白云母制成，光程差1100毫微米左右;第三試板(16)選用方解石制成，光程差2500～3000毫微米左右，萬能試板框架(20)由金屬或有機(jī)材料一次壓成。
專利摘要
本發(fā)明的光學(xué)巖組儀由費(fèi)氏臺(tái)、彩色攝像機(jī)、視頻板、電視監(jiān)測(cè)器、微機(jī)和輸出設(shè)備組成。在費(fèi)氏臺(tái)物臺(tái)上裝有薄片平移器，在費(fèi)氏臺(tái)顯微鏡試板孔中插有一塊萬能試板。本發(fā)明采用定量晶體光學(xué)理論計(jì)算和最小二乘法擬合，提高了巖組測(cè)量精度和速度，一般可在20—60分種內(nèi)自動(dòng)繪出巖組圖。另外，還可進(jìn)行礦物粒度測(cè)量和百分含量統(tǒng)計(jì)。
文檔編號(hào)G01N21/01GK86107175SQ86107175
公開日1987年11月11日 申請(qǐng)日期1986年11月1日
發(fā)明者朱中一 申請(qǐng)人:武漢地質(zhì)學(xué)院導(dǎo)出引文BiBTeX, EndNote, RefMan