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一種逆向工程掃描裝置

文檔序號(hào):40402663發(fā)布日期:2024-12-20 12:26閱讀:5來源:國(guó)知局
一種逆向工程掃描裝置

本技術(shù)屬于逆向掃描,特別涉及一種逆向工程掃描裝置。


背景技術(shù):

1、逆向掃描通常使用渣談掃描頭自下而上、從右往左進(jìn)行掃描,以此獲得與正向掃描相反的掃描結(jié)果,目前現(xiàn)有技術(shù)中,例如公開號(hào)為cn207832138u的中國(guó)實(shí)用新型專利公開了“三維逆向工程設(shè)備”,具體公開了包括底座,所述底座的兩端上方分別設(shè)置有夾持機(jī)構(gòu)和掃描機(jī)構(gòu);所述夾持機(jī)構(gòu)包括圓盤和轉(zhuǎn)動(dòng)電機(jī),所述圓盤的中部開設(shè)有圓孔,且圓盤的底部固定連接有支撐桿,所述支撐桿的底端固定連接底座的頂部,所述轉(zhuǎn)動(dòng)電機(jī)位于圓孔的正下方,且轉(zhuǎn)動(dòng)電機(jī)固定在底座的頂部,所述轉(zhuǎn)動(dòng)電機(jī)的轉(zhuǎn)子穿過圓孔,且轉(zhuǎn)動(dòng)電機(jī)的轉(zhuǎn)子的頂部固定連接有支撐立桿,所述圓盤的頂部固定連接有豎桿,所述豎桿偏離圓盤的中心,且豎桿的頂部固定連接有橫板,所述橫板上開設(shè)有內(nèi)螺紋孔,所述內(nèi)螺紋孔位于圓孔的正上方,且內(nèi)螺紋孔內(nèi)通過有與其配合的外螺紋管,所述外螺紋管的底端通過軸承活動(dòng)連接有接觸頭,所述接觸頭呈圓臺(tái)狀。但是,在旋轉(zhuǎn)樣品對(duì)其掃描時(shí),容易出現(xiàn)旋轉(zhuǎn)時(shí)樣品放置角度發(fā)生變化且底部無法掃描的現(xiàn)象,導(dǎo)致掃描參數(shù)存在誤差、參數(shù)殘缺不完整的問題。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、基于此,有必要針對(duì)在旋轉(zhuǎn)樣品對(duì)其掃描時(shí),容易出現(xiàn)旋轉(zhuǎn)時(shí)樣品放置角度發(fā)生變化且底部無法掃描的現(xiàn)象,導(dǎo)致掃描參數(shù)存在誤差、參數(shù)殘缺不完整的問題,提供一種逆向工程掃描裝置。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型采取以下方案:

3、一種逆向工程掃描裝置,包括:

4、第一殼體、第二殼體、支撐組件及掃描組件,所述第二殼體設(shè)置在所述第一殼體內(nèi),且與所述第一殼體固定連接,所述第一殼體的內(nèi)壁與所述第二殼體的外壁之間形成緩沖區(qū);所述支撐組件貫穿所述第一殼體的側(cè)壁并伸入所述緩沖區(qū),且所述支撐組件能夠沿伸入方向滑動(dòng)到所述第二殼體內(nèi),所述支撐組件用于固定樣品;所述掃描組件與所述第二殼體的內(nèi)壁滑動(dòng)連接。

5、優(yōu)選地,所述支撐組件包括至少兩個(gè)第一支撐桿,兩個(gè)所述第一支撐桿水平方向分別貫穿所述第一殼體相對(duì)的兩側(cè),且能夠沿水平方向伸入所述第二殼體內(nèi)。

6、優(yōu)選地,所述支撐組件包括至少兩個(gè)第二支撐桿,兩個(gè)所述第一支撐桿豎直方向分別貫穿所述第一殼體相對(duì)的兩側(cè),且能夠沿豎直方向伸入所述第二殼體內(nèi)。

7、優(yōu)選地,所述掃描組件包括至少兩個(gè)第一掃描桿,所述第一掃描桿與所述第二殼體的內(nèi)壁滑動(dòng)連接。

8、優(yōu)選地,所述第一掃描桿上設(shè)置有第一測(cè)距儀及若干第一相機(jī),所述第一測(cè)距儀設(shè)置在所述第一掃描桿的兩端,用于檢測(cè)所述第一掃描桿距離所述第二殼體內(nèi)壁的距離,所述第一相機(jī)設(shè)置在所述第一掃描桿靠近樣品的一側(cè),用于掃描樣品的參數(shù)。

9、優(yōu)選地,所述第一掃錨桿上還設(shè)置有第二測(cè)距儀,且所述第二測(cè)距儀的水平投影與所述支撐組件的水平投影重合。

10、優(yōu)選地,所述掃描組件包括至少兩個(gè)第二掃描桿,所述第二掃描桿與所述第二殼體的內(nèi)壁滑動(dòng)連接。

11、優(yōu)選地,所述第二掃描桿上設(shè)置有若干第二相機(jī)及第三測(cè)距儀,所述第二相機(jī)設(shè)置在所述第二掃描桿靠近樣品的一側(cè),所述第三測(cè)距儀設(shè)置在所述第二掃描桿的兩端,用于檢測(cè)所述第二掃描桿距離所述第二殼體內(nèi)壁的距離。

12、優(yōu)選地,還包括移動(dòng)組件,所述移動(dòng)組件包括滑軌及電動(dòng)小車,所述滑軌設(shè)置在所述第二殼體的內(nèi)壁上,所述電動(dòng)小車滑動(dòng)連接在所述滑軌上,且與所述掃描組件固定連接。

13、優(yōu)選地,還包括控制組件,所述控制組件設(shè)置在所述第一殼體的一側(cè),且分別與所述移動(dòng)組件、掃描組件及支撐組件電性連接。

14、本申請(qǐng)采用的技術(shù)方案能夠達(dá)到以下有益效果:

15、本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N逆向工程掃描裝置采用的技術(shù)方案能夠達(dá)到以下有益效果,通過設(shè)置第一殼體與第二殼體,將支撐組件一端收入緩沖區(qū),通過多個(gè)支撐組件的配合,解決掃描時(shí),樣品的部分區(qū)域因支撐無法被掃描的問題,從而避免掃描參數(shù)殘缺的現(xiàn)象,同時(shí),通過相對(duì)的兩個(gè)支撐組件夾持及多個(gè)支撐組件的配合,解決掃描時(shí),樣品轉(zhuǎn)動(dòng)角度改變導(dǎo)致掃描參數(shù)出現(xiàn)誤差的問題,通過將掃描組件與第二殼體內(nèi)壁滑動(dòng)連接,配合緩沖區(qū)的設(shè)置,解決掃描組件掃描時(shí),支撐組件阻擋其滑動(dòng)的問題,同時(shí),通過樣品局部二次掃描,掃描參數(shù)相互對(duì)比校核,提高掃描的準(zhǔn)確性。



技術(shù)特征:

1.一種逆向工程掃描裝置,其特征在于,包括:

2.如權(quán)利要求1所述逆向工程掃描裝置,其特征在于,所述支撐組件包括至少兩個(gè)第一支撐桿,兩個(gè)所述第一支撐桿水平方向分別貫穿所述第一殼體相對(duì)的兩側(cè),且能夠沿水平方向伸入所述第二殼體內(nèi)。

3.如權(quán)利要求2所述逆向工程掃描裝置,其特征在于,所述支撐組件包括至少兩個(gè)第二支撐桿,兩個(gè)所述第一支撐桿豎直方向分別貫穿所述第一殼體相對(duì)的兩側(cè),且能夠沿豎直方向伸入所述第二殼體內(nèi)。

4.如權(quán)利要求1所述逆向工程掃描裝置,其特征在于,所述掃描組件包括至少兩個(gè)第一掃描桿,所述第一掃描桿與所述第二殼體的內(nèi)壁滑動(dòng)連接。

5.如權(quán)利要求4所述逆向工程掃描裝置,其特征在于,所述第一掃描桿上設(shè)置有第一測(cè)距儀及若干第一相機(jī),所述第一測(cè)距儀設(shè)置在所述第一掃描桿的兩端,用于檢測(cè)所述第一掃描桿距離所述第二殼體內(nèi)壁的距離,所述第一相機(jī)設(shè)置在所述第一掃描桿靠近樣品的一側(cè),用于掃描樣品的參數(shù)。

6.如權(quán)利要求5所述逆向工程掃描裝置,其特征在于,所述第一掃描桿上還設(shè)置有第二測(cè)距儀,且所述第二測(cè)距儀的水平投影與所述支撐組件的水平投影重合。

7.如權(quán)利要求1所述逆向工程掃描裝置,其特征在于,所述掃描組件包括至少兩個(gè)第二掃描桿,所述第二掃描桿與所述第二殼體的內(nèi)壁滑動(dòng)連接。

8.如權(quán)利要求7所述逆向工程掃描裝置,其特征在于,所述第二掃描桿上設(shè)置有若干第二相機(jī)及第三測(cè)距儀,所述第二相機(jī)設(shè)置在所述第二掃描桿靠近樣品的一側(cè),所述第三測(cè)距儀設(shè)置在所述第二掃描桿的兩端,用于檢測(cè)所述第二掃描桿距離所述第二殼體內(nèi)壁的距離。

9.如權(quán)利要求1所述逆向工程掃描裝置,其特征在于,還包括移動(dòng)組件,所述移動(dòng)組件包括滑軌及電動(dòng)小車,所述滑軌設(shè)置在所述第二殼體的內(nèi)壁上,所述電動(dòng)小車滑動(dòng)連接在所述滑軌上,且與所述掃描組件固定連接。

10.如權(quán)利要求9所述逆向工程掃描裝置,其特征在于,還包括控制組件,所述控制組件設(shè)置在所述第一殼體的一側(cè),且分別與所述移動(dòng)組件、掃描組件及支撐組件電性連接。


技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)專利保護(hù)一種逆向工程掃描裝置。逆向工程掃描裝置包括:第一殼體、第二殼體、支撐組件及掃描組件,第二殼體設(shè)置在第一殼體內(nèi),且與第一殼體固定連接,第一殼體的內(nèi)壁與第二殼體的外壁之間形成緩沖區(qū);支撐組件貫穿第一殼體的側(cè)壁并伸入緩沖區(qū),且支撐組件能夠沿伸入方向滑動(dòng)到第二殼體內(nèi),支撐組件用于固定樣品;掃描組件與第二殼體的內(nèi)壁滑動(dòng)連接。通過設(shè)置緩沖區(qū),多個(gè)支撐組件的配合,解決樣品因支撐無法被掃描的問題,相對(duì)的兩個(gè)支撐組件夾持及多個(gè)支撐組件的配合,解決樣品轉(zhuǎn)動(dòng)角度改變導(dǎo)致掃描參數(shù)出現(xiàn)誤差的問題,同時(shí)通過樣品局部二次掃描,掃描參數(shù)相互對(duì)比校核,提高掃描的準(zhǔn)確性。

技術(shù)研發(fā)人員:單臣玉,劉瑩,劉云,李海榮
受保護(hù)的技術(shù)使用者:寧夏民族職業(yè)技術(shù)學(xué)院
技術(shù)研發(fā)日:20240402
技術(shù)公布日:2024/12/19
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