本公開大致涉及檢測領域，尤其涉及一種檢測方法和檢測系統(tǒng)。

背景技術：

1、連接器裸露pin針需接插在基座孔槽里，pin針位置對于連接器而言至關重要。如果pin針過于歪斜不僅不利于信號有效傳輸，而且容易導致pin針和基座兩種物料報廢。而現(xiàn)有的方案難以準確地檢測pin針的位置。因此，有必要提出一種新的解決方案來優(yōu)化pin針的位置檢測。

2、背景技術部分的內(nèi)容僅僅是發(fā)明人所知曉的技術，并不當然代表本領域的現(xiàn)有技術。

技術實現(xiàn)思路

1、針對現(xiàn)有技術存在問題中的一個或多個，本公開提供一種檢測方法，用于檢測pin針，所述pin可針插接于基座，所述檢測方法包括：通過圖像采集裝置，采集所述基座的圖像；根據(jù)所述基座的圖像，對比所述基座的預定位置及其在所述圖像中的位置，建立基于所述基座圖像的基座坐標系；通過同一個所述圖像采集裝置，采集所述pin針的圖像；根據(jù)所述基座坐標系以及所述pin針的圖像，確定所述pin針的實際位置；和對比所述pin針的實際位置以及其預定位置，確定所述pin針的位置偏差。

2、可選地，所述根據(jù)所述基座的圖像，對比基座的預定位置及其在圖像中的位置，建立基于基座圖像的基座坐標系，進一步包括：根據(jù)所述基座的圖像，識別定位特征；根據(jù)所述定位特征，確定所述基座的基準原點；和根據(jù)所述基準原點，確定所述基座的位置。

3、可選地，所述定位特征包括所述基座的定位銷、邊緣、和邊角中的至少一項，所述確定所述基準原點的步驟包括：根據(jù)至少兩個所述定位特征，確定所述基座的中心，將所述中心作為所述基準原點。

4、可選地，所述采集所述pin針的圖像包括：采用線光源以照射所述pin針。

5、可選地，所述線光源包括第一線光源和第二線光源，所述第一線光源和第二線光源對稱設置在所述pin針兩側，并且兩者出射的光垂直于所述pin針。

6、可選地，所述第一線光源和第二線光源包括線激光光源，其中所述根據(jù)所述基座坐標系以及所述pin針的圖像，確定所述pin針的實際位置的步驟包括：根據(jù)所述pin針的圖像，識別所述pin針的針頭；和基于所述基座坐標系，確定所述針頭中心的坐標，將其作為所述pin針在所述基座坐標系中的實際位置。

7、可選地，所述確定所述pin針的位置偏差的步驟包括：確定所述實際位置與所述預定位置的間距平方根；和根據(jù)所述間距平方根和預設閾值，判斷所述pin針的位置偏差是否異常。

8、可選地，所述采集所述基座的圖像的步驟包括：開啟補光裝置照射所述基座。

9、可選地，當所述基座為平面結構時，所述補光裝置的補光角度為正入射至所述基座；當所述基座為非平面結構時，所述補光角度為斜入射至所述基座。

10、可選地，所述補光裝置包括發(fā)光單元和開口，所述發(fā)光單元圍繞所述開口設置，所述圖像采集裝置設置在所述補光裝置的與所述基座相反的一側，所述開口、所述圖像采集裝置以及所述基座共軸設置。

11、本公開還提供一種檢測系統(tǒng)，用于檢測pin針，所述pin針可插接于基座，所述檢測系統(tǒng)包括：圖像采集裝置；和控制器，連接至所述圖像采集裝置，并被配置為執(zhí)行如上所述的檢測方法。

12、可選地，所述檢測系統(tǒng)還包括：補光裝置，連接至所述控制器，并且包括發(fā)光單元和開口，所述發(fā)光單元圍繞所述開口設置，所述圖像采集裝置設置在所述補光裝置的與所述基座相反的一側，所述開口、所述圖像采集裝置以及所述基座共軸設置。

13、可選地，所述檢測系統(tǒng)還包括：線光源，所述線光源包括第一線光源和第二線光源，對稱設置在所述pin針兩側，并且連接至所述控制器，所述第一線光源和第二線光源出射的光垂直于所述pin針，所述第一線光源和第二線光源包括線激光光源。

14、本公開還提供一種計算機可讀存儲介質，包括存儲于其上的計算機可執(zhí)行指令，所述可執(zhí)行指令在被處理器執(zhí)行時實施如上所述的檢測方法。

15、本公開的檢測方法和檢測系統(tǒng)，可以采用線光源進行兩次圖像采集，基于基座圖像構建基座坐標系，進而確定pin針在基座坐標系中的實際位置，從而可以在pin針插接基座之前，實現(xiàn)pin針位置偏差的精準檢測，有助于及時發(fā)現(xiàn)位置異常的pin針，避免pin針歪斜插入基座，造成物料浪費。當pin針應用于連接器時，通過對pin針的位置偏差進行精準檢測，有助于提高連接器傳輸信號的可靠性。

技術特征：

1.一種檢測方法，用于檢測pin針，所述pin可針插接于基座，其特征在于，所述檢測方法包括：

2.根據(jù)權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述根據(jù)所述基座的圖像，對比基座的預定位置及其在圖像中的位置，建立基于基座圖像的基座坐標系，進一步包括：

3.根據(jù)權利要求2所述的檢測方法，其特征在于，所述定位特征包括所述基座的定位銷、邊緣、和邊角中的至少一項，所述確定所述基準原點的步驟包括：

4.根據(jù)權利要求1-3中任一項所述的檢測方法，其特征在于，所述采集所述pin針的圖像包括：

5.根據(jù)權利要求4所述的檢測方法，其特征在于，所述線光源包括第一線光源和第二線光源，所述第一線光源和第二線光源對稱設置在所述pin針兩側，并且兩者出射的光垂直于所述pin針。

6.根據(jù)權利要求5所述的檢測方法，其特征在于，所述第一線光源和第二線光源包括線激光光源，其中所述根據(jù)基座坐標系以及pin針的圖像，確定所述pin針的實際位置的步驟包括：

7.根據(jù)權利要求6所述的檢測方法，其特征在于，所述確定所述pin針的位置偏差的步驟包括：

8.根據(jù)權利要求1-3中任一項所述的檢測方法，其特征在于，所述采集所述基座的圖像的步驟包括：開啟補光裝置照射所述基座。

9.根據(jù)權利要求8所述的檢測方法，其特征在于，當所述基座為平面結構時，所述補光裝置的補光角度為正入射至所述基座；當所述基座為非平面結構時，所述補光角度為斜入射至所述基座。

10.根據(jù)權利要求8所述的檢測方法，其特征在于，所述補光裝置包括發(fā)光單元和開口，所述發(fā)光單元圍繞所述開口設置，所述圖像采集裝置設置在所述補光裝置的與所述基座相反的一側，所述開口、所述圖像采集裝置以及所述基座共軸設置。

11.一種檢測系統(tǒng)，用于檢測pin針，所述pin針插接于基座，其特征在于，所述檢測系統(tǒng)包括：

12.根據(jù)權利要求11所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述檢測系統(tǒng)還包括：

13.根據(jù)權利要求11或12所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述檢測系統(tǒng)還包括：

技術總結
一種檢測方法、檢測系統(tǒng)以及計算機可讀存儲介質，用于檢測PIN針，PIN針可插接于基座。檢測方法包括：通過圖像采集裝置，采集基座的圖像；根據(jù)基座的圖像，對比基座的預定位置及其在圖像中的位置，建立基于基座圖像的基座坐標系；通過同一個圖像采集裝置，采集PIN針的圖像；根據(jù)基座坐標系以及PIN針的圖像，確定PIN針的實際位置；和對比PIN針的實際位置以及其預定位置，確定PIN針的位置偏差。本公開的檢測方法，可以在PIN針插接基座之前，實現(xiàn)PIN針位置偏差的精準檢測，有助于及時發(fā)現(xiàn)位置異常的PIN針，避免PIN針歪斜插入基座，造成物料浪費。當PIN針應用于連接器時，通過對PIN針的位置偏差進行精準檢測，有助于提高連接器傳輸信號的可靠性。

技術研發(fā)人員：吳義興,劉家奇,朱曉峰,史書軍,鄧玉龍,尚明柱
受保護的技術使用者：上海禾賽科技有限公司
技術研發(fā)日：
技術公布日：2024/12/19