本申請涉及電子測量，尤其涉及一種模板測試數(shù)據(jù)生成方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、模板測試功能通常分為兩種，分別是波形極限模板測試和標(biāo)準(zhǔn)模板測試。其中，波形極限模板測試主要用于檢測信號(hào)的抖動(dòng)和毛刺信號(hào)。

2、在進(jìn)行極限測試時(shí)，測試模板會(huì)在原始波形的基礎(chǔ)上增加一定的水平容限值和垂直容限值，從而將波形顯示區(qū)域分割為上下兩個(gè)部分。任何超出這兩個(gè)容限范圍的信號(hào)都將被視為不符合規(guī)范。而在測試前，極限測試模板的生成、保存、加載對于后續(xù)的波形對比至關(guān)重要，因?yàn)樗峁┝嘶鶞?zhǔn)，使得后續(xù)的信號(hào)分析能夠在一個(gè)統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)下進(jìn)行。

3、目前在相關(guān)技術(shù)中，還沒有關(guān)于極限測試模板模板數(shù)據(jù)的生成方法，因此，亟需一種極限測試模板模板數(shù)據(jù)的生成方法。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本申請的主要目的在于提供一種模板測試數(shù)據(jù)生成方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，以在示波器極限測試過程中，實(shí)現(xiàn)模板數(shù)據(jù)的生成功能。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的，本申請?zhí)峁┮环N模板測試數(shù)據(jù)生成方法，包括：

3、獲取基礎(chǔ)波形的坐標(biāo)數(shù)據(jù)和容限數(shù)據(jù)；

4、對所述基礎(chǔ)波形的坐標(biāo)數(shù)據(jù)進(jìn)行像素坐標(biāo)轉(zhuǎn)換，得到像素波形和所述像素波形的像素坐標(biāo)數(shù)據(jù)；

5、基于所述像素坐標(biāo)數(shù)據(jù)和所述容限數(shù)據(jù)，確定極限測試模板的頂點(diǎn)數(shù)據(jù)，并基于所述頂點(diǎn)數(shù)據(jù)得到極限測試模板的模板數(shù)據(jù)。

6、可選地，所述容限數(shù)據(jù)包括第一像素容限值和第二像素容限值；所述基于所述像素坐標(biāo)數(shù)據(jù)和所述容限數(shù)據(jù)，確定極限測試模板的頂點(diǎn)數(shù)據(jù)，包括：沿所述極限測試模板圖幅的寬度方向創(chuàng)建多個(gè)掃描線段，所述掃描線段基于所述第一像素容限值創(chuàng)建，且各所述掃描線段分布于所述像素波形高度方向的兩側(cè)；針對任一掃描線段，利用所述掃描線段并基于所述第二像素容限值確定子頂點(diǎn)數(shù)據(jù)；基于各所述掃描線段對應(yīng)的子頂點(diǎn)數(shù)據(jù)確定所述極限測試模板的頂點(diǎn)數(shù)據(jù)。

7、可選地，所述利用所述掃描線段并基于所述第二像素容限值確定子頂點(diǎn)數(shù)據(jù)，包括：控制所述掃描線段沿所述圖幅的高度方向向所述像素波形移動(dòng)，并檢測所述掃描線段是否移動(dòng)至對應(yīng)的目標(biāo)位置；若所述掃描線段移動(dòng)至對應(yīng)的目標(biāo)位置，則控制所述掃描線段沿背離所述像素波形的方向移動(dòng)，并移動(dòng)至與所述目標(biāo)位置距離所述第二像素容限值的位置處；基于移動(dòng)后所述掃描線段的像素坐標(biāo)數(shù)據(jù)確定所述子頂點(diǎn)數(shù)據(jù)。

8、可選地，所述檢測所述掃描線段是否移動(dòng)至對應(yīng)的目標(biāo)位置，包括：獲取所述掃描線段當(dāng)前所在像素點(diǎn)的像素值和所述掃描線段在下次移動(dòng)后所在像素點(diǎn)的像素值；確定所述掃描線段當(dāng)前所在像素點(diǎn)的像素值與所述掃描線段在下次移動(dòng)后所在像素點(diǎn)的像素值是否相同；若所述掃描線段當(dāng)前所在像素點(diǎn)的像素值與所述掃描線段在下次移動(dòng)后所在像素點(diǎn)的像素值相同，則確定所述掃描線段移動(dòng)至對應(yīng)的目標(biāo)位置。

9、可選地，所述對所述基礎(chǔ)波形的坐標(biāo)數(shù)據(jù)進(jìn)行像素坐標(biāo)轉(zhuǎn)換，得到像素波形和所述像素波形的像素坐標(biāo)數(shù)據(jù)，包括：基于所述基礎(chǔ)波形的橫坐標(biāo)取值范圍和所述極限測試模板的預(yù)設(shè)圖幅寬度確定第一轉(zhuǎn)換因子；基于所述基礎(chǔ)波形的縱坐標(biāo)取值范圍和所述極限測試模板的預(yù)設(shè)圖幅高度確定第二轉(zhuǎn)換因子；利用預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)換公式、所述第一轉(zhuǎn)換因子和所述第二轉(zhuǎn)換因子對所述基礎(chǔ)波形的坐標(biāo)數(shù)據(jù)進(jìn)行像素坐標(biāo)轉(zhuǎn)換，得到像素波形和所述像素波形的像素坐標(biāo)數(shù)據(jù)。

10、可選地，所述容限數(shù)據(jù)包括第一初始容限值和第二初始容限值，在基于所述像素坐標(biāo)數(shù)據(jù)和所述容限數(shù)據(jù)，確定極限測試模板的頂點(diǎn)數(shù)據(jù)之前，所述方法還包括：利用所述第一轉(zhuǎn)換因子將所述第一初始容限值進(jìn)行轉(zhuǎn)換，得到第一像素容限值；利用所述第二轉(zhuǎn)換因子將所述第二初始容限值進(jìn)行轉(zhuǎn)換，得到第二像素容限值。

11、可選地，所述基于所述頂點(diǎn)數(shù)據(jù)得到所述極限測試模板的模板數(shù)據(jù)，包括：將所述頂點(diǎn)數(shù)據(jù)進(jìn)行值坐標(biāo)轉(zhuǎn)換，得到頂點(diǎn)值坐標(biāo)數(shù)據(jù)；利用預(yù)設(shè)歸一化算法對所述頂點(diǎn)值坐標(biāo)數(shù)據(jù)進(jìn)行歸一化處理，得到所述極限測試模板的模板數(shù)據(jù)。

12、此外，為實(shí)現(xiàn)上述目的，本申請還提供了一種模板測試數(shù)據(jù)生成裝置，包括：獲取模塊，用于獲取基礎(chǔ)波形的坐標(biāo)數(shù)據(jù)和容限數(shù)據(jù)；轉(zhuǎn)換模塊，用于對所述基礎(chǔ)波形的坐標(biāo)數(shù)據(jù)進(jìn)行像素坐標(biāo)轉(zhuǎn)換，得到像素波形和所述像素波形的像素坐標(biāo)數(shù)據(jù)；生成模塊，用于基于所述像素坐標(biāo)數(shù)據(jù)和所述容限數(shù)據(jù)，確定極限測試模板的頂點(diǎn)數(shù)據(jù)，并基于所述頂點(diǎn)數(shù)據(jù)得到所述極限測試模板的模板數(shù)據(jù)。

13、本申請還提供一種電子設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如上述任一種所述的模板測試數(shù)據(jù)生成方法。

14、本申請還提供一種非暫態(tài)計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，該計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如上述任一種所述的模板測試數(shù)據(jù)生成方法。

15、本申請的模板測試數(shù)據(jù)生成方法，通過獲取基礎(chǔ)波形的坐標(biāo)數(shù)據(jù)和容限數(shù)據(jù)；并對基礎(chǔ)波形的坐標(biāo)數(shù)據(jù)進(jìn)行像素坐標(biāo)轉(zhuǎn)換，得到像素波形和像素波形的像素坐標(biāo)數(shù)據(jù)；進(jìn)一步再基于像素坐標(biāo)數(shù)據(jù)和容限數(shù)據(jù)，確定極限測試模板的頂點(diǎn)數(shù)據(jù)，最后通過頂點(diǎn)數(shù)據(jù)就可以得到極限測試模板的模板數(shù)據(jù)，從而實(shí)現(xiàn)了模板數(shù)據(jù)的生成功能。

技術(shù)特征：

1.一種模板測試數(shù)據(jù)生成方法，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的模板測試數(shù)據(jù)生成方法，其特征在于，所述容限數(shù)據(jù)包括第一像素容限值和第二像素容限值；所述基于所述像素坐標(biāo)數(shù)據(jù)和所述容限數(shù)據(jù)，確定極限測試模板的頂點(diǎn)數(shù)據(jù)，包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的模板測試數(shù)據(jù)生成方法，其特征在于，所述利用所述掃描線段并基于所述第二像素容限值確定子頂點(diǎn)數(shù)據(jù)，包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的模板測試數(shù)據(jù)生成方法，其特征在于，所述檢測所述掃描線段是否移動(dòng)至對應(yīng)的目標(biāo)位置，包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的模板測試數(shù)據(jù)生成方法，其特征在于，所述對所述基礎(chǔ)波形的坐標(biāo)數(shù)據(jù)進(jìn)行像素坐標(biāo)轉(zhuǎn)換，得到像素波形和所述像素波形的像素坐標(biāo)數(shù)據(jù)，包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的模板測試數(shù)據(jù)生成方法，其特征在于，所述容限數(shù)據(jù)包括第一初始容限值和第二初始容限值，在基于所述像素坐標(biāo)數(shù)據(jù)和所述容限數(shù)據(jù)，確定極限測試模板的頂點(diǎn)數(shù)據(jù)之前，所述方法還包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求1-6任一項(xiàng)所述的模板測試數(shù)據(jù)生成方法，其特征在于，所述基于所述頂點(diǎn)數(shù)據(jù)得到所述極限測試模板的模板數(shù)據(jù)，包括：

8.一種模板測試數(shù)據(jù)生成裝置，其特征在于，包括：

9.一種電子設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述模板測試數(shù)據(jù)生成方法。

10.一種非暫態(tài)計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述模板測試數(shù)據(jù)生成方法。

技術(shù)總結(jié)
本申請公開了一種模板測試數(shù)據(jù)生成方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，涉及電子測量技術(shù)領(lǐng)域。該方法包括：獲取基礎(chǔ)波形的坐標(biāo)數(shù)據(jù)和容限數(shù)據(jù)；對基礎(chǔ)波形的坐標(biāo)數(shù)據(jù)進(jìn)行像素坐標(biāo)轉(zhuǎn)換，得到像素波形和像素波形的像素坐標(biāo)數(shù)據(jù)；基于所述像素坐標(biāo)數(shù)據(jù)和所述容限數(shù)據(jù)，確定極限測試模板的頂點(diǎn)數(shù)據(jù)，并基于所述頂點(diǎn)數(shù)據(jù)得到極限測試模板的模板數(shù)據(jù)。由此，以在示波器極限測試過程中，實(shí)現(xiàn)模板數(shù)據(jù)的生成功能。

技術(shù)研發(fā)人員：劉俊,李毅紅,周科吉
受保護(hù)的技術(shù)使用者：成都玖錦科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/19