本發(fā)明涉及鋰電池，具體涉及一種導(dǎo)電漿料電阻率測(cè)試裝置及導(dǎo)電漿料電阻率測(cè)試方法。

背景技術(shù)：

1、鋰離子電池的電極一般由集流體鋁箔和涂覆于鋁箔上的導(dǎo)電漿料組成，導(dǎo)電漿料的電阻率是評(píng)價(jià)鋰離子電池導(dǎo)電性能的參考數(shù)值之一。而現(xiàn)有測(cè)試導(dǎo)電漿料的方法一般是先去除溶劑然后通過(guò)四探針?lè)y(cè)試，涂膜-固定壓力法(參考：國(guó)標(biāo)gb/t?33818-2017碳納米管導(dǎo)電漿料)直接把導(dǎo)電漿料涂布刮膜，然后烘干，用四探針測(cè)試不同壓力下薄膜的體積電阻率(或電導(dǎo)率)。但導(dǎo)電漿料通過(guò)四探針測(cè)試法測(cè)試時(shí)，涂布刮膜時(shí)壓力不均勻極易造成測(cè)試數(shù)據(jù)不穩(wěn)定，且這種方法測(cè)試數(shù)據(jù)較單一，數(shù)據(jù)易產(chǎn)生不穩(wěn)定現(xiàn)象。

2、上述問(wèn)題是亟待解決的。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是：本發(fā)明提供了一種導(dǎo)電漿料測(cè)試裝置能夠減少影響因素，大大提高數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性。本發(fā)明還提供了使用上述導(dǎo)電漿料測(cè)試裝置的一種導(dǎo)電漿料電阻率測(cè)試方法。

2、本發(fā)明解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是：提供一種導(dǎo)電漿料電阻率測(cè)試裝置，包括恒流源、風(fēng)機(jī)以及設(shè)置于所述風(fēng)機(jī)下的測(cè)試箱，所述測(cè)試箱內(nèi)部底面正中央放置有樣品臺(tái)，所述樣品臺(tái)上表面設(shè)有樣品槽，所述樣品臺(tái)上面放置有刮刀，所述測(cè)試箱內(nèi)部頂端連接有四探針測(cè)試筆，將導(dǎo)電漿料放置于所述樣品槽中，再打開(kāi)所述風(fēng)機(jī)將導(dǎo)電漿料烘干，烘干導(dǎo)電漿料后關(guān)閉所述風(fēng)機(jī)，然后使用所述刮刀將烘干后的導(dǎo)電漿料刮平，將所述四探針測(cè)試筆置于所述樣品槽中央，測(cè)試數(shù)據(jù)。

3、進(jìn)一步的，所述恒流源為直流電源，恒流源的正負(fù)極連接有導(dǎo)線，所述風(fēng)機(jī)的出風(fēng)口連接有進(jìn)風(fēng)管。

4、進(jìn)一步的，所述測(cè)試箱為開(kāi)口殼體，所述測(cè)試箱上面開(kāi)設(shè)有圓形進(jìn)風(fēng)口，所述進(jìn)風(fēng)管卡合在所述進(jìn)風(fēng)口之中，所述測(cè)試箱側(cè)立面開(kāi)設(shè)有兩個(gè)進(jìn)線孔，所述導(dǎo)線通過(guò)所述進(jìn)線孔進(jìn)入所述測(cè)試箱中，所述測(cè)試箱底面開(kāi)設(shè)有出風(fēng)格柵，所述測(cè)試箱底面四個(gè)角落及正中央設(shè)有五根支撐腳，所述測(cè)試箱后立面開(kāi)設(shè)有刮刀導(dǎo)軌。

5、進(jìn)一步的，所述樣品槽的深度為2mm，所述樣品槽內(nèi)徑為50mm。

6、進(jìn)一步的，所述樣品臺(tái)四周放置有廢料槽，所述樣品臺(tái)卡合在廢料槽之中，所述刮刀刮下的廢料直接落入所述廢料槽中，所述樣品槽上覆蓋有蓋板，所述蓋板上開(kāi)設(shè)有與所述樣品槽對(duì)應(yīng)的四個(gè)限位槽，所述限位槽深度為4mm，所述限位槽底部設(shè)有限位凸起。

7、進(jìn)一步的，所述刮刀后側(cè)面設(shè)有手持部，所述手持部一端伸出所述刮刀導(dǎo)軌。

8、進(jìn)一步的，所述四探針測(cè)試筆頂端設(shè)有連接部，所述四探針測(cè)試筆底端設(shè)有四根所述探針，所述導(dǎo)線與所述四探針測(cè)試筆連接。

9、進(jìn)一步，所述測(cè)試箱內(nèi)部上面正中央設(shè)有驅(qū)動(dòng)電機(jī)，所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)與所述樣品槽中心軸一致，所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)上連接有擺桿，所述擺桿沿所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)中心軸做圓周運(yùn)動(dòng)，所述擺桿遠(yuǎn)離所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)一端設(shè)有所述筆形氣缸，所述筆形氣缸下端連接有所述四探針測(cè)試筆，所述筆形氣缸控制下端的所述四探針測(cè)試筆做上下運(yùn)動(dòng)，所述四探針測(cè)試筆隨所述擺桿做圓周運(yùn)動(dòng)，所述樣品槽的中心點(diǎn)均位于所述四探針測(cè)試筆的圓周運(yùn)動(dòng)軌跡上。

10、本發(fā)明解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是：還提供一種導(dǎo)電漿料電阻率測(cè)試方法，使用上述的導(dǎo)電漿料電阻率測(cè)試裝置。

11、進(jìn)一步的，所述導(dǎo)電漿料電阻率測(cè)試方法先以導(dǎo)電漿料樣品為導(dǎo)電劑，再以一定比例的聚偏氟氯乙烯溶劑為粘結(jié)劑制備出均勻的導(dǎo)電漿料后，烘干后使用所述四探針測(cè)試筆測(cè)量數(shù)據(jù)，具體包括以下步驟：

12、步驟一：在200m?l燒杯中加入50m?l去離子水，取待測(cè)導(dǎo)電漿料50g加入攪拌器中攪拌以1200rmp轉(zhuǎn)速攪拌處理30min，得到均勻分散的導(dǎo)電漿料。

13、步驟二：在步驟一中得到的導(dǎo)電漿料中加入聚偏氟氯乙烯溶劑100m?l，攪拌處理1.5h。

14、步驟三：將處理好的導(dǎo)電漿料通過(guò)移液槍吸取1m?l至所述樣品槽之中。

15、步驟四：開(kāi)啟所述風(fēng)機(jī)，冷風(fēng)烘干導(dǎo)電漿料2h，待烘干導(dǎo)電漿料后，關(guān)閉所述風(fēng)機(jī)，取走所述蓋板。

16、步驟五：左右移動(dòng)所述刮刀將溢出所述樣品槽的導(dǎo)電漿料全部清理至所述廢料槽之中。

17、步驟六：所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)控制所述擺桿轉(zhuǎn)動(dòng)，所述筆形氣缸控制所述四探針測(cè)試筆上下移動(dòng)至所述樣品槽中央位置，打開(kāi)所述恒流源，讀出相應(yīng)的電壓與電流值，根據(jù)測(cè)定的數(shù)值計(jì)算導(dǎo)電漿料的電阻率。

18、本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明的導(dǎo)電漿料電阻率測(cè)試裝置測(cè)試時(shí)，樣品槽上覆蓋有蓋板，蓋板上開(kāi)設(shè)有與樣品槽對(duì)應(yīng)的四個(gè)限位槽，限位槽底部設(shè)有限位凸起，樣品槽深度為2mm，涂布刮膜時(shí)漿料的涂覆的厚度確定，測(cè)試影響因數(shù)減少，四探針測(cè)試筆測(cè)試比對(duì)四組數(shù)據(jù)，使得數(shù)據(jù)更加穩(wěn)定。

技術(shù)特征：

1.一種導(dǎo)電漿料電阻率測(cè)試裝置，其特征在于：包括恒流源(10)、風(fēng)機(jī)(20)以及設(shè)置于所述風(fēng)機(jī)(20)下的測(cè)試箱(30)，所述測(cè)試箱(30)內(nèi)部底面正中央放置有樣品臺(tái)(31)，所述樣品臺(tái)(31)上表面設(shè)有樣品槽(311)，所述樣品臺(tái)(31)上面放置有刮刀(32)，所述測(cè)試箱(30)內(nèi)部正上方設(shè)有四探針測(cè)試筆(33)，將導(dǎo)電漿料放置于所述樣品槽(311)中，再打開(kāi)所述風(fēng)機(jī)(20)將導(dǎo)電漿料烘干，烘干導(dǎo)電漿料后關(guān)閉所述風(fēng)機(jī)(20)，然后使用所述刮刀(32)將烘干后的導(dǎo)電漿料刮平，將所述四探針測(cè)試筆(33)置于所述樣品槽(311)中央，測(cè)試數(shù)據(jù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種導(dǎo)電漿料電阻率測(cè)試裝置，其特征在于：所述恒流源(10)為直流電源，恒流源(10)的正負(fù)極連接有導(dǎo)線(11)，所述風(fēng)機(jī)(20)的出風(fēng)口連接有進(jìn)風(fēng)管(21)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種導(dǎo)電漿料電阻率測(cè)試裝置，其特征在于：所述測(cè)試箱(30)為開(kāi)口殼體，所述測(cè)試箱(30)上面開(kāi)設(shè)有圓形進(jìn)風(fēng)口(305)，所述進(jìn)風(fēng)管(21)卡合在所述進(jìn)風(fēng)口(305)之中，所述測(cè)試箱(30)側(cè)立面開(kāi)設(shè)有兩個(gè)進(jìn)線孔(301)，所述導(dǎo)線(11)通過(guò)所述進(jìn)線孔(301)進(jìn)入所述測(cè)試箱(30)中，所述測(cè)試箱(30)底面開(kāi)設(shè)有出風(fēng)格柵(302)，所述測(cè)試箱(30)底面四個(gè)角落及正中央設(shè)有五根支撐腳(304)，所述測(cè)試箱(30)后立面開(kāi)設(shè)有刮刀導(dǎo)軌(303)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種導(dǎo)電漿料電阻率測(cè)試裝置，其特征在于：所述樣品槽(311)的深度為2mm，所述樣品槽(311)內(nèi)徑為50mm。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種導(dǎo)電漿料電阻率測(cè)試裝置，其特征在于：所述樣品臺(tái)(31)四周放置有廢料槽(312)，所述樣品臺(tái)(31)卡合在廢料槽(312)之中，所述刮刀(32)刮下的廢料直接落入所述廢料槽(312)中，所述樣品槽(311)上覆蓋有蓋板(34)，所述蓋板(34)上開(kāi)設(shè)有與所述樣品槽(311)對(duì)應(yīng)的四個(gè)限位槽(341)，所述限位槽(341)深度為4mm，所述限位槽(341)底部設(shè)有限位凸起(342)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種導(dǎo)電漿料電阻率測(cè)試裝置，其特征在于：所述刮刀(32)后側(cè)面設(shè)有手持部(321)，所述手持部(321)一端伸出所述刮刀導(dǎo)軌(303)。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種導(dǎo)電漿料電阻率測(cè)試裝置，其特征在于：所述四探針測(cè)試筆(33)頂端設(shè)有連接部(332)，所述四探針測(cè)試筆(33)底端設(shè)有四根所述探針(331)，所述導(dǎo)線(11)與所述四探針測(cè)試筆(33)連接。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種導(dǎo)電漿料電阻率測(cè)試裝置，其特征在于：所述測(cè)試箱(30)內(nèi)部上面正中央設(shè)有驅(qū)動(dòng)電機(jī)(35)，所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)(35)與所述樣品槽(311)中心軸一致，所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)(35)上連接有擺桿(351)，所述擺桿(351)沿所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)(35)中心軸做圓周運(yùn)動(dòng)，所述擺桿(351)遠(yuǎn)離所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)(35)一端設(shè)有所述筆形氣缸(352)，所述筆形氣缸(352)下端連接在所述四探針測(cè)試筆(33)頂端的連接部(332)上，所述筆形氣缸(352)控制下端的所述四探針測(cè)試筆(33)做上下運(yùn)動(dòng)，所述四探針測(cè)試筆(33)隨擺桿(351)做圓周運(yùn)動(dòng)，所述樣品槽(311)的中心點(diǎn)均位于所述四探針測(cè)試筆(33)的圓周運(yùn)動(dòng)軌跡上。

9.一種導(dǎo)電漿料電阻率測(cè)試方法，其特征在于：所述導(dǎo)電漿料電阻率測(cè)試方法使用上述權(quán)利要求1-8任一項(xiàng)所述的導(dǎo)電漿料電阻率測(cè)試裝置(1)。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的一種導(dǎo)電漿料電阻率測(cè)試方法，其特征在于：所述導(dǎo)電漿料電阻率測(cè)試方法先以導(dǎo)電漿料樣品為導(dǎo)電劑，再以一定比例的聚偏氟氯乙烯溶劑為粘結(jié)劑制備出均勻的導(dǎo)電漿料后，烘干后使用四探針測(cè)試筆(33)測(cè)量數(shù)據(jù)，具體包括以下步驟：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供的一種導(dǎo)電漿料電阻率測(cè)試裝置，包括恒流源、風(fēng)機(jī)以及設(shè)置于風(fēng)機(jī)下的測(cè)試箱，測(cè)試箱內(nèi)部底面正中央放置有樣品臺(tái)，樣品臺(tái)上表面設(shè)有樣品槽，樣品臺(tái)上面放置有刮刀，測(cè)試箱內(nèi)部頂端連接有四探針測(cè)試筆，將導(dǎo)電漿料放置于樣品槽中，再打開(kāi)風(fēng)機(jī)將導(dǎo)電漿料烘干，烘干導(dǎo)電漿料后關(guān)閉風(fēng)機(jī)，然后使用刮刀將烘干后的導(dǎo)電漿料刮平，將四探針測(cè)試筆置于樣品槽中央，測(cè)試數(shù)據(jù)。本發(fā)明一種導(dǎo)電漿料電阻率測(cè)試方法，分散、均勻?qū)щ姖{料后烘干處理再進(jìn)行刮平，使用四探針測(cè)試筆測(cè)試出數(shù)值，根據(jù)測(cè)定數(shù)值計(jì)算導(dǎo)電漿料的電阻率。導(dǎo)電漿料測(cè)試裝置涂布刮膜時(shí)漿料的涂覆的厚度確定，測(cè)試影響因數(shù)減少，四探針測(cè)試筆測(cè)試比對(duì)四組數(shù)據(jù)，使得數(shù)據(jù)更加穩(wěn)定。

技術(shù)研發(fā)人員：陳欣,董賀存,陳玉,王益民
受保護(hù)的技術(shù)使用者：江蘇希誠(chéng)新材料科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/11/18