本公開涉及檢測(cè)裝置和檢測(cè)方法。本申請(qǐng)主張以2022年1月28日申請(qǐng)的日本申請(qǐng)?zhí)卦?022-11591號(hào)為基礎(chǔ)的優(yōu)先權(quán),并將其公開的全部?jī)?nèi)容引入此處。
背景技術(shù):
1、專利文獻(xiàn)1(日本特開2007-305478號(hào)公報(bào))中公開了如下的電纜的斷線檢測(cè)裝置。即,電纜的斷線檢測(cè)裝置具備:電纜,由多根電線、覆蓋所述多根電線的電屏蔽層以及覆蓋所述電屏蔽層的護(hù)套構(gòu)成;斷線檢測(cè)線,設(shè)置于所述電屏蔽層并由導(dǎo)線及其外周的絕緣層構(gòu)成;電壓源,與所述導(dǎo)線電連接;第一檢測(cè)器,與所述導(dǎo)線電連接;以及第二檢測(cè)器,與所述電屏蔽層電連接。
2、現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
3、專利文獻(xiàn)
4、專利文獻(xiàn)1:日本特開2007-305478號(hào)公報(bào)
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本公開的檢測(cè)裝置具備:信號(hào)輸出部,向?qū)ο缶€輸出具有頻率成分的測(cè)量信號(hào);測(cè)量部,從所述對(duì)象線接收包含所述測(cè)量信號(hào)被反射后的信號(hào)的響應(yīng)信號(hào),并測(cè)量接收到的所述響應(yīng)信號(hào)的振幅和相位的至少任意一方;以及檢測(cè)部,根據(jù)所述測(cè)量部的測(cè)量結(jié)果計(jì)算評(píng)價(jià)值,并根據(jù)計(jì)算出的所述評(píng)價(jià)值的時(shí)間變化檢測(cè)所述對(duì)象線的彎曲程度的變化。
2、本公開的檢測(cè)方法是檢測(cè)裝置中的檢測(cè)方法,包括如下步驟:向?qū)ο缶€輸出具有頻率成分的測(cè)量信號(hào);從所述對(duì)象線接收包含所述測(cè)量信號(hào)被反射后的信號(hào)的響應(yīng)信號(hào),并測(cè)量接收到的所述響應(yīng)信號(hào)的振幅和相位的至少任意一方;以及根據(jù)所述振幅和所述相位的至少任意一方的測(cè)量結(jié)果計(jì)算評(píng)價(jià)值,并根據(jù)計(jì)算出的所述評(píng)價(jià)值的時(shí)間變化檢測(cè)所述對(duì)象線的彎曲程度的變化。
3、本公開的一種方式不僅能夠?qū)崿F(xiàn)為具備這樣的特征性處理部的檢測(cè)裝置,還能夠?qū)崿F(xiàn)為用于使計(jì)算機(jī)執(zhí)行相應(yīng)特征性處理的步驟的程序、或者能夠?qū)崿F(xiàn)為實(shí)現(xiàn)檢測(cè)裝置的一部分或者全部的半導(dǎo)體集成電路、或者實(shí)現(xiàn)為包括檢測(cè)裝置的系統(tǒng)。
1.一種檢測(cè)裝置,具備:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置,其中,
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的檢測(cè)裝置,其中,
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的檢測(cè)裝置,其中,
5.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的檢測(cè)裝置,其中,
6.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的檢測(cè)裝置,其中,
7.根據(jù)權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的檢測(cè)裝置,其中,
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的檢測(cè)裝置,其中,
9.根據(jù)權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的檢測(cè)裝置,其中,
10.一種檢測(cè)方法,是檢測(cè)裝置中的檢測(cè)方法,包括如下步驟: