本申請涉及光學(xué)測量，具體而言，涉及一種自聚焦透鏡陣列調(diào)制傳遞函數(shù)值的測試裝置及方法。

背景技術(shù)：

1、現(xiàn)有技術(shù)中對被測物鏡進行測試時，通常采用的是如圖1所示的測試儀器，包括：光源1、聚光鏡2、可變?yōu)V光片3、可變狹縫4、平行光管物鏡5、被測物鏡6、空間頻率狹縫7、透鏡8、旋轉(zhuǎn)光柵掃描器9、半反半透鏡10、目視觀察鏡11、聚光鏡12和光電接收器13；在具體地實施過程中，被測物鏡6將可變狹縫4成像在旋轉(zhuǎn)光柵掃描器9上，實現(xiàn)可變狹縫4和旋轉(zhuǎn)光柵掃描器9之間的相對掃描，有效掃描孔隨時間變化的光通量由光電接收器13接收后變成電信號，從而實現(xiàn)變頻。

2、由于被測物鏡6至光電接收器13之間的距離很長，因此，圖1所示的測試儀器可用于測量長焦距、具備一定口徑尺寸、軸線對稱結(jié)構(gòu)的被測物鏡，而無法測量短焦距、口徑小、軸線不對稱的被測物鏡。如何能夠測試短焦距、小口徑、非軸線對稱的被測物鏡，且成本較低，是目前急需解決的技術(shù)問題。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本申請的一些實施例的目的在于提供一種自聚焦透鏡陣列調(diào)制傳遞函數(shù)值的測試裝置及方法，通過本申請的實施例的技術(shù)方案，測試裝置至少包括：光源模塊、分辨率模塊、陣列移動模塊和測量模塊，其中，分辨率模塊位于光源模塊和陣列移動模塊中間，陣列移動模塊上放置有待測陣列；光源模塊用于提供原始光源；分辨率模塊用于根據(jù)原始光源，確定與原始光源對應(yīng)的周期性光源；陣列移動模塊用于移動待測陣列，以使光源模塊的中心、分辨率模塊的中心、待測陣列的中心和測量模塊的中心位于同一直線上；測量模塊用于對待測陣列的成像進行拍照，得到測量圖像，并根據(jù)測量圖像，確定與待測陣列對應(yīng)的調(diào)制傳遞函數(shù)值，通過本申請實施例提供的自聚焦透鏡陣列調(diào)制傳遞函數(shù)值的測試裝置，通過調(diào)節(jié)待測陣列與測量模塊之間的距離，對待測陣列的成像進行拍照分析，從而計算調(diào)制傳遞函數(shù)值，由于待測陣列和測量模塊之間的距離可以根據(jù)需要隨意調(diào)節(jié)，因此，可以測量短焦距的自聚焦透鏡陣列，且測試效率較高。

2、第一方面，本申請的一些實施例提供了一種自聚焦透鏡陣列調(diào)制傳遞函數(shù)值的測試裝置，所述測試裝置至少包括：光源模塊、分辨率模塊、陣列移動模塊和測量模塊，其中，所述分辨率模塊位于所述光源模塊和所述陣列移動模塊中間，所述陣列移動模塊上放置有待測陣列；

3、所述光源模塊用于提供原始光源；

4、所述分辨率模塊用于根據(jù)所述原始光源，確定與所述原始光源對應(yīng)的周期性光源；

5、所述陣列移動模塊用于移動所述待測陣列，以使所述光源模塊的中心、所述分辨率模塊的中心、待測陣列的中心和所述測量模塊的中心位于同一直線上；

6、所述測量模塊用于對所述待測陣列的成像進行拍照，得到測量圖像，并根據(jù)所述測量圖像，確定與所述待測陣列對應(yīng)的調(diào)制傳遞函數(shù)值。

7、本申請的一些實施例通過調(diào)節(jié)待測陣列與測量模塊之間的距離，對待測陣列的成像進行拍照，從而計算調(diào)制傳遞函數(shù)值，由于待測陣列和測量模塊之間的距離可以根據(jù)需要隨意調(diào)節(jié)，因此，可以測量短焦距的自聚焦透鏡陣列，且測試效率較高。

8、在一些實施例，所述測量模塊具體用于：

9、在無光源的情況下，對環(huán)境和探測能量進行標定，得到標定數(shù)值；

10、在所述光源模塊發(fā)出光源的情況下，獲取測量圖像，并根據(jù)所述測量圖像，確定測量數(shù)值；

11、根據(jù)所述測量數(shù)值和所述標定數(shù)值，確定與所述測量圖像對應(yīng)的光強最大值和光強最小值；

12、根據(jù)所述光強最大值和所述光強最小值，確定在所述待測陣列的工作距離下的調(diào)制傳遞函數(shù)值。

13、本申請的一些實施例通過對環(huán)境和和探測能量進行標定，得到標定數(shù)值，在根據(jù)預(yù)設(shè)光源獲取測量圖像，計算在所述待測陣列的工作距離下的調(diào)制傳遞函數(shù)值，減少了環(huán)境的干擾，提高了檢測效率。

14、在一些實施例，所述陣列移動模塊具體用于從三個不同方向移動所述待測陣列，以使所述光源模塊的中心、所述分辨率模塊的中心、待測陣列的中心和所述測量模塊的中心位于同一直線上。

15、本申請的一些實施例通過陣列移動模塊對待測陣列實時移動，確保從三個不同方向移動所述待測陣列，以使所述光源模塊的中心、所述分辨率模塊的中心、待測陣列的中心和所述測量模塊的中心位于同一直線上，提高檢測的準確性。

16、在一些實施例，所述光源模塊用于提供單色或復(fù)色的原始光源。

17、本申請的一些實施例，可以設(shè)置單色或復(fù)色的原始光源，通過設(shè)置單色的光源，減少檢測的干擾因素，提高檢測的準確性。

18、在一些實施例，所述分辨率模塊至少包括分辨率柵格板，所述分辨率柵格板用于將所述原始光源轉(zhuǎn)換成周期性明暗條紋圖像。

19、本申請的一些實施例通過設(shè)置分辨率柵格板，可以生成清晰的待檢測目標周期頻率的像，便于計算調(diào)制傳遞函數(shù)值。

20、在一些實施例，所述測量模塊至少包括測量單元和移動單元，所述移動單元與所述測量單元相連，所述移動單元用于控制所述測量單元移動，以使所述待測陣列位于所述分辨率模塊和所述測量單元的中間位置。

21、本申請的一些實施例通過設(shè)置移動單元，該移動單元驅(qū)動測量單元在光軸上移動，保證被測陣列時刻處于工作距離內(nèi)，保證檢測的準確性。

22、在一些實施例，所述測量單元至少包括照相機或近場分析儀中的一種。

23、本申請的一些實施例中的測量可以是照相機，也可以是近場分析儀，可以獲取成像的照片進行能量或相對能量的分析。

24、在一些實施例，所述測試裝置還包括遠程終端，其中，所述遠程終端與所述測量單元相連，所述遠程終端用于控制所述測量單元移動，以使所述待測陣列位于所述分辨率模塊和所述測量單元的中間位置。

25、本申請的一些實施例，通過將測量單元與遠程終端相連，可以控制測量單元移動，提高測量單元的移動效率。

26、在一些實施例，所述測試裝置還包括勻化模塊，所述勻化模塊位于所述光源模塊和所述分辨率模塊中間，所述勻化模塊用于將所述原始光源均勻化。

27、本申請的一些實施例通過勻化模塊對原始光源進行均勻化處理，提高光源成像的準確性。

28、第二方面，本申請的一些實施例提供了一種自聚焦透鏡陣列調(diào)制傳遞函數(shù)值的測試方法，應(yīng)用于第一方面任一所述的自聚焦透鏡陣列調(diào)制傳遞函數(shù)值的測試裝置，所述方法包括：

29、在光源模塊的中心、分辨率模塊的中心、待測陣列的中心和測量模塊的中心位于同一直線，且所述待測陣列位于所述分辨率模塊和所述測量模塊的中間位置的情況下，對所述待測陣列的成像進行拍照，得到測量圖像；

30、根據(jù)所述測量圖像，確定與所述待測陣列對應(yīng)的調(diào)制傳遞函數(shù)值。

技術(shù)特征：

1.一種自聚焦透鏡陣列調(diào)制傳遞函數(shù)值的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置至少包括：光源模塊、分辨率模塊、陣列移動模塊和測量模塊，其中，所述分辨率模塊位于所述光源模塊和所述陣列移動模塊中間，所述陣列移動模塊上放置有待測陣列；

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自聚焦透鏡陣列調(diào)制傳遞函數(shù)值的測試裝置，其特征在于，所述測量模塊具體用于：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自聚焦透鏡陣列調(diào)制傳遞函數(shù)值的測試裝置，其特征在于，所述陣列移動模塊具體用于從三個不同方向移動所述待測陣列，以使所述光源模塊的中心、所述分辨率模塊的中心、待測陣列的中心和所述測量模塊的中心位于同一直線上。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自聚焦透鏡陣列調(diào)制傳遞函數(shù)值的測試裝置，其特征在于，所述光源模塊用于提供單色或復(fù)色的原始光源。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自聚焦透鏡陣列調(diào)制傳遞函數(shù)值的測試裝置，其特征在于，所述分辨率模塊至少包括分辨率柵格板，所述分辨率柵格板用于將所述原始光源轉(zhuǎn)換成周期性明暗條紋圖像。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自聚焦透鏡陣列調(diào)制傳遞函數(shù)值的測試裝置，其特征在于，所述測量模塊至少包括測量單元和移動單元，所述移動單元與所述測量單元相連，所述移動單元用于控制所述測量單元移動，以使所述待測陣列位于所述分辨率模塊和所述測量單元的中間位置。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的自聚焦透鏡陣列調(diào)制傳遞函數(shù)值的測試裝置，其特征在于，所述測量單元至少包括照相機或近場分析儀中的一種。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的自聚焦透鏡陣列調(diào)制傳遞函數(shù)值的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括遠程終端，其中，所述遠程終端與所述測量單元相連，所述遠程終端用于控制所述測量單元移動，以使所述待測陣列位于所述分辨率模塊和所述測量單元的中間位置。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自聚焦透鏡陣列調(diào)制傳遞函數(shù)值的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括勻化模塊，所述勻化模塊位于所述光源模塊和所述分辨率模塊中間，所述勻化模塊用于將所述原始光源均勻化。

10.一種自聚焦透鏡陣列調(diào)制傳遞函數(shù)值的測試方法，其特征在于，應(yīng)用于如權(quán)利要求1-9任一所述的自聚焦透鏡陣列調(diào)制傳遞函數(shù)值的測試裝置，所述方法包括：

技術(shù)總結(jié)
本申請的一些實施例提供一種自聚焦透鏡陣列調(diào)制傳遞函數(shù)值的測試裝置及方法，該裝置包括：光源模塊、分辨率模塊、陣列移動模塊和測量模塊，光源模塊用于提供原始光源；分辨率模塊用于根據(jù)原始光源，確定與原始光源對應(yīng)的周期性光源；陣列移動模塊用于移動待測陣列；測量模塊用于對待測陣列的成像進行拍照，得到測量圖像，并根據(jù)測量圖像，確定與待測陣列對應(yīng)的調(diào)制傳遞函數(shù)值，通過調(diào)節(jié)待測陣列與測量模塊之間的距離，對待測陣列的成像進行拍照分析，從而計算調(diào)制傳遞函數(shù)值，由于待測陣列和測量模塊之間的距離可以根據(jù)需要隨意調(diào)節(jié)，因此，可以測量短焦距的自聚焦透鏡陣列，且測試效率較高，且成本較低。

技術(shù)研發(fā)人員：房艷,王旭東
受保護的技術(shù)使用者：飛秒光電科技(西安)有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/19