技術(shù)總結(jié)
本實(shí)用新型公開了一種實(shí)時(shí)自校準(zhǔn)熱電偶測溫電路，屬于電路領(lǐng)域。該電路包括熱電偶、熱電偶前置濾波電路、熱電偶前置電路、MCU、模擬開關(guān)電路、自校準(zhǔn)電路、放大電路；熱電偶前置濾波電路的輸出端與熱電偶前置電路的輸入端連接；熱電偶前置電路的輸出端分別與模擬開關(guān)電路、自校準(zhǔn)電路、連接；自校準(zhǔn)電路與模擬開關(guān)電路連接；模擬開關(guān)電路與放大電路的輸入端連接；放大電路與MCU連接；MCU與雙向光MOS管連接、模擬開關(guān)芯片連接；解決了現(xiàn)有技術(shù)中校驗(yàn)放大倍數(shù)和零點(diǎn)電壓時(shí)校驗(yàn)步驟繁瑣，校準(zhǔn)效率低的問題，達(dá)到了避免溫度、時(shí)間、器件參數(shù)等因素對校驗(yàn)值的影響，實(shí)時(shí)自動(dòng)對零點(diǎn)電壓和放大倍數(shù)的自校驗(yàn)，提高校驗(yàn)效率的效果。

技術(shù)研發(fā)人員：顏仲寧
受保護(hù)的技術(shù)使用者：無錫市百川科技股份有限公司
文檔號(hào)碼：201720103745
技術(shù)研發(fā)日：2017.01.24
技術(shù)公布日：2017.10.20