技術(shù)總結(jié)
本實(shí)用新型涉及高壓測(cè)試設(shè)備領(lǐng)域，公開(kāi)了一種擊穿電壓試驗(yàn)設(shè)備，包含：絕緣殼體、控制單元、驅(qū)動(dòng)單元、絕緣傳動(dòng)軸、導(dǎo)電傳動(dòng)軸、第一導(dǎo)電口、第二導(dǎo)電口、第一旋轉(zhuǎn)刀盤(pán)、第二旋轉(zhuǎn)刀盤(pán)；所述第一旋轉(zhuǎn)刀盤(pán)為絕緣體，并設(shè)有N個(gè)電壓工位，N為大于1的自然數(shù)；所述第二旋轉(zhuǎn)刀盤(pán)為絕緣體，設(shè)置在所述導(dǎo)電傳動(dòng)軸上，并設(shè)有M個(gè)測(cè)試工位，M為大于1的自然數(shù)。相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)而言，該擊穿電壓實(shí)驗(yàn)設(shè)備可以不經(jīng)拆卸，對(duì)多個(gè)試品進(jìn)行測(cè)試并可選擇合適的電壓等級(jí)，提高測(cè)試效率。

技術(shù)研發(fā)人員：吳波;唐志明;董瑞利;董學(xué)虎;陳銀波;陳華
受保護(hù)的技術(shù)使用者：上海杰智電工科技有限公司
文檔號(hào)碼：201720097780
技術(shù)研發(fā)日：2017.01.25
技術(shù)公布日：2017.08.22