本實用新型涉及一種測試裝置，尤其是涉及一種壓敏電阻器測試頭夾具。

背景技術：

在鈦酸鍶環(huán)形壓敏電阻器的測試中，需要使用到與產品銀電極接觸良好且穩(wěn)定的測試夾具，對于不同的鈦酸鍶產品，其銀電極的涂裝位置會有不同，銀電極的數量也會有不同。

例如有的銀電極印刷在產品的正反面，而有的銀電極則印刷于產品的側面，而電極的數量也有三個、五個等等。對于銀電極印刷于產品正反面的鈦酸鍶環(huán)形壓敏電阻器樣品，其測試頭設計簡單，而對于銀電極印刷于產品側面的鈦酸鍶環(huán)形壓敏電阻器樣品，急需設計一種接觸良好，能夠長時間工作，測試穩(wěn)定的測試頭夾具。

技術實現要素：

基于此，有必要針對現有技術的不足，提供一種壓敏電阻器測試頭夾具，使得測試頭與銀電極的接觸良好，磨損率低，測試結果準確性高，提高了作業(yè)效率，產生了很好的經濟效益。

為解決上述技術問題，本實用新型所采用的技術方案是：一種壓敏電阻器測試頭夾具，其包括測試板、限位板、導向柱及測試機構，所述導向柱設置在測試板一側，所述限位板卡持在導向柱上并設置在測試板上方，所述測試機構卡持在導向柱上；所述限位板上開設有第二測試針孔，所述測試機構設置有導向塊、支撐板及測試針頭組，所述導向塊卡持在導向柱上，所述支撐板設置在導向塊一側，所述測試針頭組卡持在支撐板上，所述測試針頭組包括測試針，所述測試針對應第二測試針孔設置，所述測試針設置在限位板上方。

在其中一個實施例中，所述測試針數為4根。

在其中一個實施例中，所述測試針包括金屬殼體、彈簧及針頭，所述彈簧卡置在金屬殼體內，所述針頭卡置在金屬殼體下方，所述針頭另一端與彈簧抵接。

在其中一個實施例中，所述金屬殼體為圓柱體構造。

在其中一個實施例中，所述針頭末端為圓錐狀構造。

在其中一個實施例中，所述針頭末端為針尖形狀。

在其中一個實施例中，所述測試板上開設有第一測試針孔，所述第一測試針孔與第二測試針孔匹配對應設置。

在其中一個實施例中，所述測試板上安設有待測樣品，所述第一測試針孔圍設在待測樣品周側。

綜上所述，本實用新型壓敏電阻器測試頭夾具通過導向塊帶動測試針頭組移動，進而帶動針頭穿過第二測試針孔及第一測試針孔后，通過彈簧的調節(jié)作用，在測試針頭隨著導向塊下移過程中，自動調節(jié)測試針頭末端表面與待測樣品銀電極表面的接觸強度，實現穩(wěn)定的無懸空接觸，不會出現未接觸的高阻態(tài)，使得測試準確率高，極大的提高了生產效率。

附圖說明

圖1為本實用新型壓敏電阻器測試頭夾具的結構示意圖；

圖2為本實用新型金屬殼體結合彈簧的結構示意圖。

具體實施方式

為能進一步了解本實用新型的特征、技術手段以及所達到的具體目的、功能，下面結合附圖與具體實施方式對本實用新型作進一步詳細描述。

如圖1和圖2所示，本實用新型壓敏電阻器測試頭夾具包括測試板10、限位板20、導向柱30及測試機構100，所述導向柱30設置在測試板10一側，所述限位板20卡持在導向柱30上并設置在測試板10上方，所述測試機構100卡持在導向柱30上。

所述測試板10上開設有第一測試針孔11，所述限位板20上開設有第二測試針孔21，所述第一測試針孔11與第二測試針孔21匹配對應設置，所述測試板10上安設有待測樣品40，所述待測樣品40為側面印刷有銀電極的電阻器，所述第一測試針孔11圍設在待測樣品40周側，以方便對待測樣品40的銀電極進行測試。

所述測試機構100設置有導向塊50、支撐板60及測試針頭組70，所述導向塊50卡持在導向柱30上，所述支撐板60設置在導向塊50一側，所述測試針頭組70卡持在支撐板60上，所述導向塊50沿導向柱30方向上下移動，進而帶動支撐板60上下移動，使得卡持在支撐板60上的測試針頭組70也上下進行移動，以便對待測樣品40的銀電極性能進行測試。

具體地，所述測試針頭組70包括四根測試針71，所述測試針71對應第二測試針孔21設置，所述測試針71設置在限位板20上方，所述測試針71包括金屬殼體711、彈簧712及針頭713，所述金屬殼體711為圓柱體構造，所述彈簧712卡置在金屬殼體711內，所述針頭713卡置在金屬殼體711下方，所述針頭713另一端與彈簧712抵接，所述針頭713可在金屬殼體711內上下滑動，利用金屬殼體711內的彈簧712產生的形變力來使得針頭713復位。

在其中一個實施例中，所述針頭713末端為圓錐狀構造，具體地，所述針頭713末端為針尖形狀。

本實用新型具體測試時，導向塊50沿導向柱30向下移動，帶動測試針頭組70向下運動，此時，測試針71會穿過限位板20的第二測試針孔21，針頭713的末端會與待測樣品40的側面銀電極相接觸，導向塊50繼續(xù)向下移動，針頭713繼續(xù)下行，穿過測試板10的第一測試針孔11，針頭713受到待測樣品40的側面銀電極的阻力會停止移動，可以通過連接于四根測試針71的信號線配合壓敏電阻器測試儀對待測樣品40進行電性能測試；此時，測試針71頭會對彈簧712產生作用力，彈簧712產生形變，即通過彈簧712的調節(jié)作用，在測試針71頭隨著導向塊50下移過程中，自動調節(jié)測試針71頭末端表面與待測樣品40銀電極表面的接觸強度，實現穩(wěn)定的無懸空接觸，不會出現未接觸的高阻態(tài)，使得測試準確率高，極大的提高了生產效率。

本實用新型完成測試時，導向塊50向上移動，帶動測試針頭組70向上移動，測試針71依次從第一測試針孔11及第二測試針孔21內移出，針頭713在彈簧712的回復力作用下恢復原位，實現了與待測樣品40銀電極的接觸與分離，進而完成待測樣品40的測試功能。

綜上所述，本實用新型壓敏電阻器測試頭夾具通過導向塊50帶動測試針頭組70移動，進而帶動針頭713穿過第二測試針孔21及第一測試針孔11后，通過彈簧712的調節(jié)作用，在測試針71頭隨著導向塊50下移過程中，自動調節(jié)測試針71頭末端表面與待測樣品40銀電極表面的接觸強度，實現穩(wěn)定的無懸空接觸，不會出現未接觸的高阻態(tài)，使得測試準確率高，極大的提高了生產效率。

以上所述實施例僅表達了本實用新型的幾種實施方式，其描述較為具體和詳細，但并不能因此而理解為對本實用新型范圍的限制。應當指出的是，對于本領域的普通技術人員來說，在不脫離本實用新型構思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬于本實用新型的保護范圍。因此，本實用新型的保護范圍應以所附權利要求為準。