本實(shí)用新型涉及汽車領(lǐng)域，特別涉及一種驅(qū)動(dòng)板欠壓檢測電路。

背景技術(shù)：

目前的IGBT驅(qū)動(dòng)板設(shè)計(jì)中，當(dāng)出現(xiàn)驅(qū)動(dòng)芯片副邊電壓供電不足或出現(xiàn)IGBT短路兩種情況，會(huì)通過驅(qū)動(dòng)芯片源邊的FAULT電平信號(hào)進(jìn)行報(bào)警，但是控制器無法判斷是由于欠壓導(dǎo)致故障或短路產(chǎn)生故障，在分析解決問題時(shí)，增大分析工作量，并且浪費(fèi)解決問題時(shí)間。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型提供了一種驅(qū)動(dòng)板欠壓檢測電路，其目的是為了解決控制器無法判斷由于欠壓導(dǎo)致故障或短路產(chǎn)生故障的問題。

為了達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型的實(shí)施例提供了一種驅(qū)動(dòng)板欠壓檢測電路，包括：

驅(qū)動(dòng)芯片的原邊電路和副邊電路，以及設(shè)置在所述原邊電路和所述副邊電路之間的光耦；

所述原邊電路與所述光耦的第一端電連接，所述光耦的第二端與所述副邊電路電連接，所述光耦獲取所述副邊電路的電壓值，并反饋到所述原邊電路上的單片機(jī)電壓輸入端口。

其中，所述光耦為模擬光耦。

其中，所述副邊電路的標(biāo)準(zhǔn)電壓值是通過分壓電路設(shè)置的第一預(yù)設(shè)電壓值。

其中，所述副邊電路包括：

電壓輸出件，所述電壓輸出件的輸出端與第一電阻的第一端電連接，所述第一電阻的第二端與所述模擬光耦的第一端電連接；

所述第一電阻的第二端還與第二電阻的第一端電連接，所述第二電阻的第二端與所述模擬光耦的第二端電連接，且所述第二電阻的第二端與所述電壓輸出件的輸入端電連接。

其中，所述原邊電路包括：

所述模擬光耦通過第一電容器與所述單片機(jī)電壓輸入端口電連接；

所述模擬光耦的第三端與所述單片機(jī)電壓輸入端口之間設(shè)置有電阻，所述電阻與所述第一電容器并聯(lián)；

所述模擬光耦的第四端與所述第一電容器之間設(shè)置有一電感，且所述模擬光耦的第四端通過等電勢接地。

其中，所述光耦為數(shù)字光耦。

其中，所述副邊電路包括：

電壓輸出件，所述電壓輸出件的輸出端與第一電阻的第一端電連接，所述第一電阻的第二端與第二電容器第一端電連接；

所述第二電容器的第二端與所述數(shù)字光耦的第一端電連接，所述第二電容器的第二端與所述數(shù)字光耦的第一端之間設(shè)置有電阻；

所述第一電阻的第二端還與第二電阻的第一端電連接，所述第二電阻的第二端與所述數(shù)字光耦的第二端電連接，且所述第二電阻的第二端與所述電壓輸出件的輸入端電連接。

其中，所述原邊電路包括：

所述數(shù)字光耦的第三端與單片機(jī)電源電連接，且所述數(shù)字光耦的第三端與單片機(jī)電源之間設(shè)置有電阻；

所述數(shù)字光耦的第三端還與單片機(jī)電壓輸入端口電連接，且所述數(shù)字光耦的第三端還與單片機(jī)電壓輸入端口之間設(shè)置有電阻；

所述數(shù)字光耦的第四端通過等電勢接地。

其中，所述副邊電路通過地線接地。

本實(shí)用新型的上述方案有如下的有益效果：

本實(shí)用新型所提供的驅(qū)動(dòng)板欠壓檢測電路通過光耦進(jìn)行隔離，將副邊電路的電壓信號(hào)反饋到原邊電路，可以實(shí)時(shí)準(zhǔn)確檢測出驅(qū)動(dòng)芯片副邊電路的電壓，并通過檢測副邊電路的電壓信號(hào)來檢測判斷是否發(fā)生了電源欠壓等問題，也就能夠準(zhǔn)確區(qū)分發(fā)生故障保護(hù)時(shí)是由短路引起還是由欠壓引起的，以便及時(shí)處理并排出故障。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型的第一實(shí)施例的電路圖；

圖2為本實(shí)用新型的第二實(shí)施例的電路圖。

【附圖標(biāo)記說明】

1-電壓輸出件；2-第一電阻；3-第二電阻；4-模擬光耦；5-單片機(jī)電壓輸入端口；6-第一電容器；7-電感；8-等電勢；9-數(shù)字光耦；10-第二電容器；11-單片機(jī)電源；12-地線。

具體實(shí)施方式

為使本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合附圖及具體實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)描述。

本實(shí)用新型針對現(xiàn)有的控制器無法判斷由于欠壓導(dǎo)致故障或短路產(chǎn)生故障的問題，提供了一種驅(qū)動(dòng)板欠壓檢測電路。

如圖1和圖2所示，本實(shí)用新型的實(shí)施例提供了一種驅(qū)動(dòng)板欠壓檢測電路，包括：驅(qū)動(dòng)芯片的原邊電路和副邊電路，以及設(shè)置在所述原邊電路和所述副邊電路之間的光耦；所述原邊電路與所述光耦的第一端電連接，所述光耦的第二端與所述副邊電路電連接，所述光耦獲取所述副邊電路的電壓值，并反饋到所述原邊電路上的單片機(jī)電壓輸入端口5。

本實(shí)用新型的上述實(shí)施例所述的驅(qū)動(dòng)板欠壓檢測電路通過光耦進(jìn)行隔離，將副邊電路的電壓信號(hào)反饋到原邊電路，可以實(shí)時(shí)準(zhǔn)確檢測出驅(qū)動(dòng)芯片副邊電路的電壓，并通過檢測副邊電路的電壓信號(hào)來檢測判斷是否發(fā)生了電源欠壓等問題，也就能夠準(zhǔn)確區(qū)分發(fā)生故障保護(hù)時(shí)是由短路引起還是由欠壓引起的，以便及時(shí)處理并排出故障。

如圖1所示，所述光耦為模擬光耦4。

其中，所述副邊電路的標(biāo)準(zhǔn)電壓值是通過分壓電路設(shè)置的第一預(yù)設(shè)電壓值。

本實(shí)用新型的上述實(shí)施例所述的副邊電路的實(shí)時(shí)電壓值低于所述副邊電路的標(biāo)準(zhǔn)電壓值時(shí)，所述模擬光耦4反饋到所述原邊電路上的單片機(jī)電壓輸入端口5的電壓信號(hào)減小，所述副邊電路的標(biāo)準(zhǔn)電壓值設(shè)定為15V，通過分壓電路設(shè)置到合適的電壓范圍后，經(jīng)過模擬光耦4后，再經(jīng)過一級運(yùn)放送入到單片機(jī)電壓輸入端口5，當(dāng)出現(xiàn)15V電壓信號(hào)由于某種原因出現(xiàn)故障時(shí)，故障引腳電平出現(xiàn)跳變，同時(shí)，該檢測電路檢測到15V電壓跌落后，模擬光耦4傳送的電壓信號(hào)變低，電壓輸入值減小，達(dá)到了檢測副邊電壓的目的。

其中，所述副邊電路包括：電壓輸出件1，所述電壓輸出件1的輸出端與第一電阻2的第一端電連接，所述第一電阻2的第二端與所述模擬光耦4的第一端電連接；所述第一電阻2的第二端還與第二電阻3的第一端電連接，所述第二電阻3的第二端與所述模擬光耦4的第二端電連接，且所述第二電阻3的第二端與所述電壓輸出件1的輸入端電連接。

其中，所述原邊電路包括：所述模擬光耦4通過第一電容器6與所述單片機(jī)電壓輸入端口5電連接；所述模擬光耦4的第三端與所述單片機(jī)電壓輸入端口5之間設(shè)置有電阻，所述電阻與所述第一電容器6并聯(lián)；所述模擬光耦4的第四端與所述第一電容器6之間設(shè)置有一電感7，且所述模擬光耦4的第四端通過等電勢8接地。

如圖2所示，所述光耦為數(shù)字光耦9。

其中，所述副邊電路包括：電壓輸出件1，所述電壓輸出件1的輸出端與第一電阻2的第一端電連接，所述第一電阻2的第二端與第二電容器10第一端電連接；所述第二電容器10的第二端與所述數(shù)字光耦9的第一端電連接，所述第二電容器10的第二端與所述數(shù)字光耦9的第一端之間設(shè)置有電阻；所述第一電阻2的第二端還與第二電阻3的第一端電連接，所述第二電阻3的第二端與所述數(shù)字光耦9的第二端電連接，且所述第二電阻3的第二端與所述電壓輸出件1的輸入端電連接。

其中，所述原邊電路包括：所述數(shù)字光耦9的第三端與單片機(jī)電源11電連接，且所述數(shù)字光耦9的第三端與單片機(jī)電源11之間設(shè)置有電阻；所述數(shù)字光耦9的第三端還與單片機(jī)電壓輸入端口5電連接，且所述數(shù)字光耦9的第三端還與單片機(jī)電壓輸入端口5之間設(shè)置有電阻；所述數(shù)字光耦9的第四端通過等電勢8接地。

本實(shí)用新型的上述實(shí)施例所述的光耦也可以是數(shù)字光耦9，當(dāng)所述光耦為數(shù)字光耦9時(shí)，所述副邊電路里設(shè)置有第二電容器10，所述第二電容器10預(yù)先配置一參考電壓值，所述參考電壓值和所述第一預(yù)設(shè)電壓值形成第一預(yù)設(shè)電壓范圍，所述副邊電路的實(shí)時(shí)電壓值不在所述第一預(yù)設(shè)電壓范圍內(nèi)，則輸出電平跳變，通過數(shù)字光耦9將數(shù)字信號(hào)傳送到單片機(jī)去，便于單片機(jī)的捕捉操作，所述數(shù)字光耦9將所述實(shí)時(shí)電壓值的數(shù)字信號(hào)反饋到所述原邊電路上的單片機(jī)電壓輸入端口5，實(shí)時(shí)觸發(fā)故障，并分析故障原因。

其中，所述副邊電路通過地線12接地。

本實(shí)用新型的上述實(shí)施例所述的驅(qū)動(dòng)板欠壓檢測電路中驅(qū)動(dòng)芯片的副邊電路均通過地線12接地，而所述驅(qū)動(dòng)芯片的原邊電路均通過等電勢8接地；并通過光耦進(jìn)行隔離，將副邊電路的電壓信號(hào)反饋到原邊電路，可以實(shí)時(shí)準(zhǔn)確檢測出驅(qū)動(dòng)芯片副邊電路的電壓，并通過檢測副邊電路的電壓信號(hào)來檢測判斷是否發(fā)生了電源欠壓等問題，也就能夠準(zhǔn)確區(qū)分發(fā)生故障保護(hù)時(shí)是由短路引起還是由欠壓引起的，以便及時(shí)處理并排出故障。

以上所述是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型所述原理的前提下，還可以作出若干改進(jìn)和潤飾，這些改進(jìn)和潤飾也應(yīng)視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。