本發(fā)明涉及金屬探傷檢測領(lǐng)域，特別涉及一種金屬焊件探傷的方法及傳感器。

背景技術(shù)：

焊接技術(shù)是制造業(yè)領(lǐng)域重要的加工技術(shù)，具有工作條件惡劣、工作量大以及質(zhì)量要求高等特點(diǎn)，由于在焊接過程中各種隨機(jī)干擾因素的影響，工件會(huì)產(chǎn)生裂紋、氣孔、夾渣等焊接缺陷。裂紋在金屬材料中是最常見的，也是對(duì)零件破壞性最強(qiáng)的缺陷，為了保證金屬焊件產(chǎn)品質(zhì)量，就需要及時(shí)有效監(jiān)測出焊接缺陷。

近年來，常用的檢測金屬焊件缺陷的方法，如磁粉檢測方法，會(huì)在被測工件的缺陷處產(chǎn)生不規(guī)則的磁力線，從而展現(xiàn)出缺陷，但這種檢測方式只能用于檢測工件表面附近的缺陷，另一種通過磁場檢測工件的方式是將工件置于磁場中通過檢測磁場的變化判斷是工件是否存在缺陷，但這種檢測方式只有在磁場與裂紋垂直時(shí)，磁場變化最為明顯，從而造成檢測不準(zhǔn)確的問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的是提供一種金屬焊件探傷檢測的方法，解決了金屬焊件探傷檢測結(jié)果不準(zhǔn)確的問題，提高了檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性和可用性。本發(fā)明的另一目的是提供一種金屬焊件探傷檢測的傳感器。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供一種金屬焊件探傷檢測的方法，該方法包括：

位于外加磁場內(nèi)的磁致旋光介質(zhì)接收入射的偏振光，其中，待檢測的金屬焊件位于所述外加磁場中，所述外加磁場的磁場方向在所述金屬焊件的待測截面內(nèi)隨時(shí)間變化；所述磁致旋光介質(zhì)將入射的所述偏振光反射到成像設(shè)備；所述成像設(shè)備對(duì)反射后的偏振光處理，獲得所述外加磁場的磁場方向?yàn)楦鱾€(gè)不同的方向時(shí)，所述偏振光的磁光圖像，以便根據(jù)磁光圖像判斷所述金屬焊件是否存在缺陷。

其中，所述成像設(shè)備對(duì)反射后的偏振光處理，獲得所述外加磁場的磁場方向?yàn)楦鱾€(gè)不同的方向時(shí)，所述偏振光的磁光圖像包括：

當(dāng)所述外加磁場的磁場方向?yàn)榈谝活A(yù)設(shè)磁場方向時(shí)，所述成像設(shè)備獲得第一磁光圖像；

當(dāng)所述外加磁場的磁場方向?yàn)榈诙A(yù)設(shè)磁場方向時(shí)，所述成像設(shè)備獲得第二磁光圖像；

其中，所述第一預(yù)設(shè)磁場方向和第二預(yù)設(shè)磁場方向不相互平行。

其中，所述外加磁場為磁場方向在預(yù)設(shè)周期內(nèi)旋轉(zhuǎn)180度的磁場；

所述成像設(shè)備對(duì)反射后的偏振光處理，獲得所述外加磁場的磁場方向?yàn)楦鱾€(gè)不同的方向時(shí)，所述偏振光的磁光圖像包括：

在所述預(yù)設(shè)周期內(nèi)，所述成像設(shè)備實(shí)時(shí)獲得所述偏振光的磁光圖像。

本發(fā)明還提供一種金屬焊件探傷檢測的傳感器，包括：

磁場發(fā)生裝置、偏振光源、磁致旋光介質(zhì)以及成像設(shè)備，所述磁致旋光介質(zhì)位于外加磁場內(nèi)；

所述磁場發(fā)生裝置用于產(chǎn)生外加磁場，待檢測的金屬焊件位于所述外加磁場中，所述外加磁場的磁場方向在金屬焊件的待測截面內(nèi)隨時(shí)間變化；

所述偏振光源，用于發(fā)出偏振光，并將所述偏振光入射到位于所述外加磁場內(nèi)的所述磁致旋光介質(zhì)；

所述磁致旋光介質(zhì)，用于將入射的所述偏振光反射到所述成像設(shè)備；

所述成像設(shè)備，用于對(duì)反射后的偏振光處理，獲得在所述外加磁場各個(gè)不同磁場方向時(shí)，所述偏振光的磁光圖像，以便根據(jù)磁光圖像判斷所述金屬焊件是否存在缺陷。

其中，所述磁場發(fā)生裝置為兩組饒有勵(lì)磁線圈的磁極；

當(dāng)?shù)谝唤M磁極的勵(lì)磁線圈接通電流時(shí)，所述外加磁場方向?yàn)榈谝活A(yù)設(shè)磁場方向；

當(dāng)?shù)诙M磁極的勵(lì)磁線圈接通電流時(shí)，所述外加磁場方向?yàn)榈诙A(yù)設(shè)磁場方向。

其中，所述外加磁場為磁場方向在預(yù)設(shè)周期內(nèi)旋轉(zhuǎn)180度的磁場；

所述成像設(shè)備具體用于在所述預(yù)設(shè)周期內(nèi)，所述成像設(shè)備實(shí)時(shí)獲得所述偏振光的磁光圖像。

其中，所述外加磁場為多個(gè)磁場方向不同，磁場大小在所述預(yù)設(shè)周期內(nèi)隨時(shí)間按正弦函數(shù)變化的磁場疊加的磁場。

其中，所述磁場發(fā)生裝置為兩組相互垂直饒有勵(lì)磁線圈的磁極，其中，所述勵(lì)磁線圈接通正弦交流電，兩組磁極的勵(lì)磁線圈接通的正弦交流電的相位差為90度。

其中，所述磁致旋光介質(zhì)為磁光薄膜，且所述磁光薄膜與金屬焊件待測截面垂直。

其中，所述成像設(shè)備包括檢偏器和coms相機(jī)，所述檢偏器用于接收所述磁光薄膜反射的偏振光，并將偏振光發(fā)送至所述coms相機(jī)；

所述coms相機(jī)用于對(duì)所述偏振光處理并生成磁光圖像，以便根據(jù)磁光圖像判斷所述金屬焊件是否存在缺陷。

本發(fā)明所提供的一種金屬焊件探傷檢測的方法，通過將金屬焊件至于外加磁場中，因?yàn)楫?dāng)金屬焊件的裂縫和外加磁場方向垂直時(shí)，對(duì)外加磁場的影響最大，所以為了能夠獲得更為準(zhǔn)確的金屬焊件的缺陷信息，本發(fā)明中的外加磁場方向隨著時(shí)間發(fā)生變化，以便在各個(gè)不同的方向?qū)饘俸讣牧芽p進(jìn)行檢測，在通過偏振光入射位于磁場中的磁致旋光介質(zhì)并反射至成像設(shè)備，獲得外加磁場變化的磁光圖像，從而將結(jié)果圖像化、清晰化，有利于更為準(zhǔn)確的了解金屬焊件的裂縫信息，提高了金屬焊件探傷檢測的準(zhǔn)確性和探傷結(jié)果的清晰化，為后續(xù)根據(jù)檢測結(jié)果分析產(chǎn)生裂縫原因的工作提供了更為清晰準(zhǔn)確的信息基礎(chǔ)，提高了檢測結(jié)果的可用性。

本發(fā)明還提供一種金屬焊件探傷檢測的傳感器，具有上述有益效果。

附圖說明

為了更清楚的說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單的介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發(fā)明提供的金屬焊件探傷檢測一種具體實(shí)施方式的流程圖；

圖2(a)為裂縫方向和磁場方向平行時(shí)外加磁場的磁場線示意圖；

圖2(b)為裂縫方向和磁場方向垂直時(shí)外加磁場的磁場線示意圖；

圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種金屬焊件探傷檢測的傳感器的結(jié)構(gòu)框圖；

圖4為本發(fā)明提供的磁場發(fā)生裝置一種具體實(shí)施方式的原理示意圖；

圖5為本發(fā)明提供的兩組磁極產(chǎn)生過程的一種具體實(shí)施方式示意圖；

圖6為本發(fā)明提供的兩組磁極產(chǎn)生的磁場在不同時(shí)刻疊加效果一種具體實(shí)施方式的示意圖；

附圖3中，1為磁場發(fā)生裝置、2為外加磁場、3為偏振光源、4為磁致旋光介質(zhì)、5為金屬焊件、6為檢偏器、7為coms相機(jī)。

具體實(shí)施方式

為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本發(fā)明方案，下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

本發(fā)明提供的金屬焊件探傷檢測一種具體實(shí)施方式的流程圖如圖1所示，該方法可以包括：

步驟s101：將待檢測的金屬焊件置于外加磁場中。

具體的，可以是外加磁場在平行于金屬焊件待測截面上的磁場分量的磁場方向隨著時(shí)間而變化，更為優(yōu)選的方案是將外加磁場的磁場方向只設(shè)置在和待測截面平行的平面上，且磁場方向隨時(shí)間變化。

本發(fā)明中金屬焊件的待測截面可以為在金屬焊件上任意一個(gè)需要檢測的截面，也即是說，可以采用本發(fā)明的技術(shù)方案探測金屬任意截面的裂縫情況，只要金屬焊件需要檢測的截面恰好位于外加磁場方向變化的平面內(nèi)即可。

步驟s102：磁致旋光介質(zhì)接收入射的偏振光。

具體的，磁致旋光現(xiàn)象，是指面偏振光沿磁場線方向通過磁場中的介質(zhì)時(shí)，偏振面發(fā)生旋轉(zhuǎn)的現(xiàn)象。將磁致旋光介質(zhì)置于外加磁場中，偏振光入射到磁致旋光介質(zhì)，受到外加磁場的磁力線影響，發(fā)生偏轉(zhuǎn)。如果外加磁場中的金屬焊件中不存在裂縫，偏振光經(jīng)過磁致旋光介質(zhì)后偏轉(zhuǎn)的角度是一定的，如果外加磁場中的金屬焊件中存在裂縫，則會(huì)使外加磁場的磁力線產(chǎn)生影響，進(jìn)而影響偏振光的偏轉(zhuǎn)方向。

步驟s103：磁致旋光介質(zhì)將入射的所述偏振光反射到成像設(shè)備。

步驟s104：所述成像設(shè)備對(duì)反射后的偏振光處理，獲得所述偏振光的磁光圖像。

成像設(shè)備通過檢測偏振光的偏轉(zhuǎn)方向判斷外加磁場磁力線的變化，并生成磁光圖像，從而清晰形象的顯示出金屬焊件的缺陷信息。

請(qǐng)參考圖2(a)，圖2(a)為裂縫方向和磁場線方向平行時(shí)外加磁場的磁場線的示意圖，圖2(b)為裂縫方向和磁場方向垂直時(shí)外加磁場的磁場線的示意圖。

需要說明的是，金屬焊件中裂縫的方向是不可預(yù)測的，但是只有裂縫方向和磁場方向恰好垂直時(shí)，如圖2(b)所示，對(duì)外加磁場的磁力線影響最為明顯，當(dāng)裂縫延伸方向和磁場方向平行時(shí)，對(duì)外加磁場的磁力線的影響可以忽略，如圖2(a)所示。為此，本發(fā)明中外加磁場的磁場方向在平行于金焊件待測截面的方向上隨時(shí)間變化，成像設(shè)備獲取的磁光圖像是該外加磁場的磁場方向在各個(gè)不同的方向時(shí)的偏振光的磁光圖像，以便達(dá)到從多個(gè)磁場方向檢測金屬焊件缺陷的情況，提高檢測的準(zhǔn)確性。

另外，成像設(shè)備處理偏振光得到的磁光圖像，能夠在一定程度上反映金屬焊件的裂縫的方向及大小，有利于后續(xù)對(duì)裂縫產(chǎn)生的原因進(jìn)行分析和研究，提高了檢測結(jié)構(gòu)的可用性。

基于上述實(shí)施例，本發(fā)明的另一具體實(shí)施例中，所述成像設(shè)備對(duì)反射后的偏振光處理，獲得所述外加磁場的磁場方向?yàn)楦鱾€(gè)不同的方向時(shí)，所述偏振光的磁光圖像包括：

當(dāng)所述外加磁場的磁場方向?yàn)榈谝活A(yù)設(shè)磁場方向時(shí)，所述成像設(shè)備獲得第一磁光圖像；

當(dāng)所述外加磁場的磁場方向?yàn)榈诙A(yù)設(shè)磁場方向時(shí)，所述成像設(shè)備獲得第二磁光圖像；

其中，所述第一預(yù)設(shè)磁場方向和第二預(yù)設(shè)磁場方向之間的夾角不相互平行。

需要說明的是，這僅僅是本發(fā)明的一種具體實(shí)施例，本發(fā)明中外加磁場的方向不僅限于第一預(yù)設(shè)磁場方向和第二預(yù)設(shè)磁場方向，還可以有第三、第四甚至更多的預(yù)設(shè)磁場方向，磁場方向越多，對(duì)應(yīng)記錄的偏振光的磁光圖像就會(huì)越多，檢測的結(jié)果也會(huì)越準(zhǔn)確，各個(gè)預(yù)設(shè)磁場方向需要遵循的一個(gè)最基本的原則是任意兩個(gè)預(yù)設(shè)磁場方向不相互平行。

另外，本發(fā)明中對(duì)各個(gè)磁場方向上的外加磁場的大小未做限定，一般來說磁場強(qiáng)度越大，金屬焊件的缺陷信息在磁光圖像上就會(huì)越明顯，但是同樣會(huì)給金屬焊件帶來一定的損傷，因此一般選擇適當(dāng)?shù)拇艌鰪?qiáng)度，且外加磁場的大小在每個(gè)磁場方向上應(yīng)盡可能的相同，避免磁場大小不同給磁光圖像帶來影響，但這只是本發(fā)明比較優(yōu)選的實(shí)施方式，并不是本發(fā)明必要的技術(shù)方案。

如前所述，考慮到磁場方向越多，對(duì)金屬焊件檢測的缺陷信息就越為準(zhǔn)確，對(duì)于上述實(shí)施例，盡管可以盡可能多的增加外加磁場的磁場方向，但是也并不能清晰檢測到所有方向上金屬焊件的裂縫信息，為此本發(fā)明的另一具體實(shí)施中，所述外加磁場為磁場方向在預(yù)設(shè)周期內(nèi)旋轉(zhuǎn)180度的磁場；

所述成像設(shè)備對(duì)反射后的偏振光處理，獲得所述外加磁場的磁場方向?yàn)楦鱾€(gè)不同的方向時(shí)，所述偏振光的磁光圖像包括：

在所述預(yù)設(shè)周期內(nèi)，所述成像設(shè)備實(shí)時(shí)獲得所述偏振光的磁光圖像。

具體的，可以以外加磁場旋轉(zhuǎn)180度所需要的時(shí)間作為預(yù)設(shè)周期，在預(yù)設(shè)周期時(shí)間內(nèi)實(shí)時(shí)獲取偏振光的磁光圖像，從每個(gè)角度都對(duì)金屬焊件的缺陷信息做檢測，獲得更為全面的檢測結(jié)果，同時(shí)如果金屬焊件內(nèi)存在裂縫，還可以根據(jù)實(shí)時(shí)獲取的磁光圖像的變化，判斷出裂縫準(zhǔn)確的方向，便于掌握更多的關(guān)于裂紋的信息，這對(duì)后續(xù)對(duì)產(chǎn)生裂縫的原因的研究和分析都有十分重要的作用。

另外，外加磁場的旋轉(zhuǎn)頻率不宜過快，因?yàn)橥饧哟艌龅男D(zhuǎn)會(huì)對(duì)金屬焊件產(chǎn)生影響，頻率過高會(huì)給金屬焊件帶來一定的損傷。

下面對(duì)本發(fā)明實(shí)施例提供的一種金屬焊件探傷檢測的傳感器進(jìn)行介紹，下文描述的一種金屬焊件探傷檢測的傳感器與上文描述的一種金屬焊件探傷檢測的方法可相互參照。

圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種金屬焊件探傷檢測的傳感器的結(jié)構(gòu)框圖，參照?qǐng)D3的金屬焊件探傷檢測的傳感器可以包括：

磁場發(fā)生裝置1、偏振光源3、磁致旋光介質(zhì)4以及成像設(shè)備，所述磁致旋光介質(zhì)4位于外加磁場2內(nèi)；

所述磁場發(fā)生裝置1用于產(chǎn)生外加磁場2，待檢測的金屬焊件5位于所述外加磁場2中，所述外加磁場2的磁場方向在金屬焊件5的待測截面內(nèi)隨時(shí)間變化；

所述偏振光源3，用于發(fā)出偏振光，并將所述偏振光入射到位于所述外加磁場2內(nèi)的所述磁致旋光介質(zhì)4；

所述磁致旋光介質(zhì)4，用于將入射的所述偏振光反射到所述成像設(shè)備；

所述成像設(shè)備，用于對(duì)反射后的偏振光處理，獲得在所述外加磁場2各個(gè)不同磁場方向時(shí)，所述偏振光的磁光圖像，以便根據(jù)磁光圖像判斷所述金屬焊件5是否存在缺陷。

需要說明的是，本發(fā)明中外加磁場2之所以需要隨時(shí)間發(fā)生變化，是為了存在多個(gè)不同方向的磁場對(duì)金屬焊件5的裂縫進(jìn)行檢測，但是對(duì)于具備多個(gè)不同方向的磁場并不一定是磁場方向會(huì)發(fā)生變化的磁場，例如，如果磁場發(fā)生裝置1為一塊磁鐵，產(chǎn)生的磁場以磁鐵為中心向四周輻射，此時(shí)就需要設(shè)置多個(gè)偏振光源3、磁致旋光介質(zhì)4以及成像設(shè)備，必然會(huì)造成傳感器的成本增加。

另外，要獲得金屬焊件5待測截面上各個(gè)方向上的檢測結(jié)果，也可以是只有一個(gè)磁場方向，使金屬焊件5在磁場中以垂直于待測截面的軸線為中心旋轉(zhuǎn)，但是金屬焊件5在旋轉(zhuǎn)過程中一旦發(fā)生橫向或縱向偏移，都會(huì)對(duì)檢測結(jié)果產(chǎn)生影響，因此這種方式在實(shí)際操作中實(shí)現(xiàn)的難度也會(huì)較大。

本發(fā)明中金屬焊件的待測截面可以為在金屬焊件上任意一個(gè)需要檢測的截面，也即是說，可以采用本發(fā)明的技術(shù)方案探測金屬任意截面的裂縫情況，只要金屬焊件需要檢測的截面恰好位于外加磁場方向變化的平面內(nèi)即可。

綜上所述，本發(fā)明的技術(shù)方案不僅能夠獲得比較準(zhǔn)確的檢測結(jié)果，而且簡單易行，成本低。

作為一種具體實(shí)施方式，本發(fā)明所提供的磁場發(fā)生裝置1還可以進(jìn)一步為兩組饒有勵(lì)磁線圈的磁極；

當(dāng)?shù)谝唤M磁極的勵(lì)磁線圈接通電流時(shí)，所述外加磁場2方向?yàn)榈谝活A(yù)設(shè)磁場方向；

當(dāng)?shù)诙M磁極的勵(lì)磁線圈接通電流時(shí)，所述外加磁場2方向?yàn)榈诙A(yù)設(shè)磁場方向。

需要說明的是，因?yàn)榇艌鼍哂携B加效應(yīng)，在本實(shí)施例中，設(shè)置兩組磁極的作用主要是為了產(chǎn)生兩個(gè)不同方向的磁場，所以兩組磁極的勵(lì)磁線圈接通電流是不同步的，當(dāng)?shù)谝唤M磁極的勵(lì)磁線圈接通電流時(shí)，外加磁場2由第一組磁極產(chǎn)生，而第二組磁極不產(chǎn)生磁場，反之，第二組磁極接通電流時(shí)，磁場有第二組磁極產(chǎn)生；考慮到磁場的疊加效應(yīng)，也可以使第一組磁極的勵(lì)磁線圈始終接通電流，而在接通和斷開第二組勵(lì)磁線圈時(shí)分別獲的兩個(gè)不通方向的磁場。

另外，采用兩組磁極只是本發(fā)明中的一種具體實(shí)施方式，本發(fā)明中對(duì)磁極的組數(shù)并沒有必然的限制，且在一定程度上，磁極的組數(shù)越多產(chǎn)生的外加磁場2的磁場方向也就越多，檢測金屬焊件5的缺陷信息也就越準(zhǔn)確，例如，采用三組磁極，分別接通三組磁極的勵(lì)磁線圈可以獲得三個(gè)不同方向的外加磁場2，選取任意兩組磁極的勵(lì)磁線圈也可以獲得三個(gè)不同方向的外加磁場2，同時(shí)接通三組磁極的勵(lì)磁線圈也可以獲得一個(gè)方向的外加磁場2。綜上所述，采用四組、五組磁極也能夠?qū)崿F(xiàn)本發(fā)明的技術(shù)方案。

并且，兩組磁極的勵(lì)磁線圈可以是接通直流電也可以接通交流電，接通直流電時(shí)產(chǎn)生的是恒定磁場，接通交流電時(shí)產(chǎn)生的是變化的磁場，兩個(gè)磁極產(chǎn)生磁場的大小發(fā)生變化時(shí)，疊加后產(chǎn)生磁場的方向也會(huì)不同。

作為一種具體實(shí)施方式，本發(fā)明所提供的金屬焊件5探傷檢測的傳感器還可以進(jìn)一步包括：

所述外加磁場2為磁場方向在預(yù)設(shè)周期內(nèi)旋轉(zhuǎn)180度的磁場；

所述成像設(shè)備具體用于在所述預(yù)設(shè)周期內(nèi)，所述成像設(shè)備實(shí)時(shí)獲得所述偏振光的磁光圖像。

具體的，為了避免金屬焊件5的待測截面某一方向的裂縫恰好未被各個(gè)磁場方向的外加磁場2檢測到，更為優(yōu)選的一種實(shí)施方式是在金屬待測截面上的每個(gè)方向都進(jìn)行檢測從而獲得更為全面的檢測結(jié)果，并通過實(shí)時(shí)獲取磁光圖像，得到金屬焊件5待測截面各個(gè)方向的檢測結(jié)果。

基于上述實(shí)施例，本發(fā)明的另一具體實(shí)施例中，可以包括：

所述磁場發(fā)生裝置1為兩組相互垂直饒有勵(lì)磁線圈的磁極，其中，所述勵(lì)磁線圈接通正弦交流電，兩組磁極的勵(lì)磁線圈接通的正弦交流電的相位差為90度。

請(qǐng)參考圖4、圖5、圖6，圖4為本發(fā)明提供的磁場發(fā)生裝置一種具體實(shí)施方式的原理示意圖，圖5為本發(fā)明提供的兩組磁極產(chǎn)生過程的一種具體實(shí)施方式示意圖，圖6為本發(fā)明提供的兩組磁極產(chǎn)生的磁場在不同時(shí)刻疊加效果一種具體實(shí)施方式的示意圖。

如圖4和圖5所示，兩組磁極相互垂直，在接通正弦交流電后，隨著電流大小的變化，兩磁極的n極和s極交替變化，且兩組磁極產(chǎn)生磁場的大小也發(fā)生變化，從而得到如圖6所示的變化磁場，兩組磁極產(chǎn)生的磁場分別為x1和x2，疊加后的磁場方向?yàn)閤，其中x1和x2的大小以及方向的隨著時(shí)間的變化而變化，疊加后的磁場方向逐漸旋轉(zhuǎn)。

需要說明的是，兩組磁極最終是為了產(chǎn)生上述實(shí)施例中在預(yù)設(shè)周期時(shí)間內(nèi)磁場方向旋轉(zhuǎn)180度的外加磁場2，但產(chǎn)生這一外加磁場2的磁場發(fā)生裝置1可以有多種，不一定為兩組磁極，可以是三組、四組甚至更多組磁極，且兩組磁極的勵(lì)磁線圈也不一定接通的是正弦交流電，但是為了兩組磁極產(chǎn)生的磁場疊加后，磁場方向能夠按照0到180度逐漸變化，而不會(huì)發(fā)生跳躍，就要求兩組磁極的勵(lì)磁線圈中接通的勵(lì)磁電流為不發(fā)生突變的交流電流。

因?yàn)椋緦?shí)施例中兩組磁極的勵(lì)磁線圈中接通的是正弦交流電，且兩組磁極相互垂直，所以兩組勵(lì)磁線圈中接通的電流的相位差為90度，這可以保證兩組線圈中接通同頻率、同峰值的正弦交流電時(shí)，兩組磁極產(chǎn)生的磁場疊加后，磁場方向隨時(shí)間發(fā)生旋轉(zhuǎn)，但是磁場大小可以保持為一個(gè)恒定值，對(duì)于不同組數(shù)的磁極，以及相鄰磁極之間的夾角不同的磁極，相位差可以根據(jù)實(shí)際情況設(shè)定，例如兩組磁極之間的夾角為60度，則相位差也為60度等。但是保持外加磁場2大小恒定并不是本發(fā)明的必要技術(shù)特征，而是本發(fā)明的一種比較優(yōu)選的實(shí)施方案。

基于上述任意實(shí)施例，本發(fā)明的另一具體實(shí)施例中，可以包括：

所述磁致旋光介質(zhì)4為磁光薄膜，且所述磁光薄膜與金屬焊件5待測截面垂直。

具體的，由于外加磁場2的磁場方向平行于待測截面，磁場線對(duì)垂直于磁場方向的平面上的偏振光的作用最為明顯，因此，一旦磁場發(fā)生變化，通過偏振光的偏轉(zhuǎn)能夠很靈敏的檢測到。需要說明的是，這僅僅是本發(fā)明的一種具體實(shí)施方式，磁光薄膜在大體與金屬焊件5相互垂直的位置也能夠?qū)崿F(xiàn)本發(fā)明的方案。

基于上述實(shí)施例，本發(fā)明的另一具體實(shí)施例中，可以包括：

所述成像設(shè)備包括檢偏器6和coms相機(jī)7；

其中，所述檢偏器6用于接收所述磁光薄膜反射的偏振光，并將偏振光發(fā)送至所述coms相機(jī)7；

所述coms相機(jī)7用于對(duì)所述偏振光處理并生成磁光圖像，以便根據(jù)磁光圖像判斷所述金屬焊件5是否存在缺陷。

具體的，檢偏器6能夠檢測出偏振光的偏轉(zhuǎn)角度，coms相機(jī)7根據(jù)偏振光生成磁光圖像，能夠清晰反映出金屬焊件5的缺陷信息。

本說明書中各個(gè)實(shí)施例采用遞進(jìn)的方式描述，每個(gè)實(shí)施例重點(diǎn)說明的都是與其它實(shí)施例的不同之處，各個(gè)實(shí)施例之間相同或相似部分互相參見即可。對(duì)于實(shí)施例公開的裝置而言，由于其與實(shí)施例公開的方法相對(duì)應(yīng)，所以描述的比較簡單，相關(guān)之處參見方法部分說明即可。

專業(yè)人員還可以進(jìn)一步意識(shí)到，結(jié)合本文中所公開的實(shí)施例描述的各示例的單元及算法步驟，能夠以電子硬件、計(jì)算機(jī)軟件或者二者的結(jié)合來實(shí)現(xiàn)，為了清楚地說明硬件和軟件的可互換性，在上述說明中已經(jīng)按照功能一般性地描述了各示例的組成及步驟。這些功能究竟以硬件還是軟件方式來執(zhí)行，取決于技術(shù)方案的特定應(yīng)用和設(shè)計(jì)約束條件。專業(yè)技術(shù)人員可以對(duì)每個(gè)特定的應(yīng)用來使用不同方法來實(shí)現(xiàn)所描述的功能，但是這種實(shí)現(xiàn)不應(yīng)認(rèn)為超出本發(fā)明的范圍。

結(jié)合本文中所公開的實(shí)施例描述的方法或算法的步驟可以直接用硬件、處理器執(zhí)行的軟件模塊，或者二者的結(jié)合來實(shí)施。軟件模塊可以置于隨機(jī)存儲(chǔ)器(ram)、內(nèi)存、只讀存儲(chǔ)器(rom)、電可編程rom、電可擦除可編程rom、寄存器、硬盤、可移動(dòng)磁盤、cd-rom、或技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)所公知的任意其它形式的存儲(chǔ)介質(zhì)中。

以上對(duì)本發(fā)明所提供的自動(dòng)提款機(jī)驗(yàn)證身份方法裝置及系統(tǒng)進(jìn)行了詳細(xì)介紹。本文中應(yīng)用了具體個(gè)例對(duì)本發(fā)明的原理及實(shí)施方式進(jìn)行了闡述，以上實(shí)施例的說明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想。應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以對(duì)本發(fā)明進(jìn)行若干改進(jìn)和修飾，這些改進(jìn)和修飾也落入本發(fā)明權(quán)利要求的保護(hù)范圍內(nèi)。