技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供了一種SOC片上嵌入式IP硬核的測(cè)試訪問隔離結(jié)構(gòu)，有效降低了控制結(jié)構(gòu)的復(fù)雜度，除去功能端口外，只需要具備移位使能SE(scan_enable)、測(cè)試模式(wtest_en)、測(cè)試時(shí)鐘(test_clock)、掃描輸入/輸出(scan_in/scan_out)端口即可完成所有功能。根據(jù)不同內(nèi)外測(cè)試環(huán)境，可靈活配置隔離掃描鏈數(shù)量；并且本結(jié)構(gòu)具有與通用掃描結(jié)構(gòu)相同的測(cè)試控制方法，可以完美的融入已有的掃描測(cè)試結(jié)構(gòu)中，在實(shí)現(xiàn)嵌入式硬核IP測(cè)試隔離功能的同時(shí)，大大降低了集成難度，具有很強(qiáng)的可實(shí)現(xiàn)性和可操作性。

技術(shù)研發(fā)人員：李俊玲;顏偉;沈拉民;劉才強(qiáng)
受保護(hù)的技術(shù)使用者：西安微電子技術(shù)研究所
技術(shù)研發(fā)日：2017.06.15
技術(shù)公布日：2017.10.27