本發(fā)明涉及顯示設備檢測技術領域，特別涉及一種顯示面板中不良坐標位置的核驗方法及系統(tǒng)。

背景技術：

目前，在顯示面板在生產過程中，由于各種不可控因素，會出現一些有不良的顯示面板，會給顯示面板生產帶來損失。但這些有不良的顯示面板并不是所有都會報廢，其中某些特定的點、線等不良是可以通過維修手段來修善不良的。

在維修不良的顯示面板的過程中，需要精確標定不良在顯示面板上的具體坐標位置，目前，可利用信號發(fā)生器測量方式確定顯示面板中不良的坐標位置，然后，通過人工復判的方式對顯示面板的不良的坐標位置進行復判，或者，通過人工測量標定方式。

其中，人工測量標定方式檢測人員通過測量設備例如尺子來測量顯示面板中不良的坐標位置，這種標定坐標方式緩慢，生成效率低，且標定的坐標位置容易受人為因素影響而坐標位置存在誤差，從而影響了維修不良的顯示面板的成功率。

其中，利用信號發(fā)生器測量的方式是通過信號發(fā)生器產生的十字光標與顯示面板不良相重合，從信號發(fā)生器的十字光標的位置來獲得顯示面板不良的坐標位置。這種方式需要信號發(fā)生器能夠獲得十字光標的位置，這就要求測量方式是探針與顯示面板的信號接線是一對一的對應。如果顯示面板的信號接線有短接，則在第一次檢測完后，需要用激光器切割掉信號線短接的部分，再把有可維修不良的面板進行再次人工檢測來上傳坐標，這樣相當于多進行了一次檢測，降低了生產效率。并且對于中小尺寸的面板，信號接線間的間距較小，用探針與信號接線一對一的連接方式技術難度較大。

相關技術中的人工復判方式為在復判工位暗室中安裝激光投影儀，然后，利用所獲得的顯示面板的不良坐標數據直接在復判面板表面進行激光投影，標示出不良實際位置。然而，上述復判方式至少存在以下問題：(1)因激光投影距離與方向定位，極易出現投影位置與實際不良位置有較大偏差，反而干擾作業(yè)員復判操作；(2)因成盒檢測工藝設備中前偏光玻璃板的必要存在，實際投影出的光點反射和散射非常強烈，幾乎不能實際觀察到有效投影光點。(3)該方法僅能對點不良進行標示，對其他類型的不良無法對作業(yè)員進行有效提示，存在一定的局限性。

技術實現要素：

本發(fā)明旨在至少在一定程度上解決上述技術問題。

為此，本發(fā)明的第一個目的在于提出一種顯示面板中不良坐標位置的核驗方法，將顯示面板的不良坐標位置準確投射至模擬顯示面板之上，方便了相關人員根據模型顯示面板上的坐標位置進行復判，精確標定了不良在顯示面板上的坐標位置，進而可提高維修不良的顯示面板的效率。

本發(fā)明的第二個目的在于提出一種顯示面板中不良坐標位置的核驗系統(tǒng)。

為達上述目的，根據本發(fā)明第一方面實施例提出了一種顯示面板中不良坐標位置的核驗方法，包括以下步驟：獲取待檢測顯示面板的不良坐標位置；根據所述待檢測顯示面板的不良坐標位置生成模擬顯示面板的模擬坐標位置；在所述模擬顯示面板中顯示所述模擬坐標位置以將所述待檢測顯示面板的不良坐標位置投影至所述模擬顯示面板之上。

優(yōu)選地，所述獲取待檢測顯示面板的不良坐標位置具體包括：控制所述待檢測顯示面板顯示檢測畫面；對所述待檢測顯示面板進行拍照以獲取對應的顯示圖像；對所述顯示圖像進行分析以獲取不良坐標位置。

優(yōu)選地，所述根據所述待檢測顯示面板的不良坐標位置生成模擬顯示面板的模擬坐標位置具體包括：獲取所述待檢測顯示面板的橫向分辨率和縱向分辨率；獲取所述模擬顯示面板的橫向長度值和縱向寬度值；根據所述不良坐標位置、所述待檢測顯示面板的橫向分辨率和縱向分辨率，以及所述模擬顯示面板的橫向長度值和縱向寬度值生成所述模擬顯示面板的模擬坐標位置。

優(yōu)選地，在所述對所述待檢測顯示面板進行拍照以獲取對應的顯示圖像之后，還包括：根據所述顯示圖像檢測所述待檢測顯示面板的不良類型代碼；在所述模擬顯示面板中標記所述不良類型代碼。

優(yōu)選地，所述獲取待檢測顯示面板的不良坐標位置具體包括：讀取所述待檢測顯示面板的標識；根據所述待檢測顯示面板的標識從服務器讀取對應的不良坐標位置。

為達上述目的，本發(fā)明第二方面實施例提出了一種顯示面板中不良坐標位置的核驗系統(tǒng)，包括：檢測裝置，用于獲取待檢測顯示面板的不良坐標位置；模擬顯示面板；以及控制裝置，用于根據所述待檢測顯示面板的不良坐標位置生成模擬顯示面板的模擬坐標位置，并在所述模擬顯示面板中顯示所述模擬坐標位置以將所述待檢測顯示面板的不良坐標位置投影至所述模擬顯示面板之上。

優(yōu)選地，所述檢測裝置包括：控制模塊，用于控制所述待檢測顯示面板顯示檢測畫面；圖像獲取模塊，用于對所述待檢測顯示面板進行拍照以獲取對應的顯示圖像；分析模塊，用于對所述顯示圖像進行分析以獲取不良坐標位置。

優(yōu)選地，所述控制裝置包括：第一獲取模塊，用于獲取所述待檢測顯示面板的橫向分辨率和縱向分辨率；第二獲取模塊，用于獲取所述模擬顯示面板的橫向長度值和縱向寬度值；生成模塊，用于根據所述不良坐標位置、所述待檢測顯示面板的橫向分辨率和縱向分辨率，以及所述模擬顯示面板的橫向長度值和縱向寬度值生成所述模擬顯示面板的模擬坐標位置。

優(yōu)選地，所述檢測裝置還包括：檢測模塊，用于根據所述顯示圖像檢測所述待檢測顯示面板的不良類型代碼；所述控制裝置還包括：標記模塊，用于在所述模擬顯示面板中標記所述不良類型代碼。

優(yōu)選地，還包括：讀取裝置，用于讀取所述待檢測顯示面板的標識；服務器，用于存儲所述檢測裝置發(fā)送的不良坐標位置，其中，所述控制裝置根據所述待檢測顯示面板的標識從所述服務器讀取對應的不良坐標位置。

本發(fā)明實施例的顯示面板中不良坐標位置的核驗方法及系統(tǒng)，獲取待檢測顯示面板的不良坐標位置，根據待檢測顯示面板的不良坐標位置生成模擬顯示面板的模擬坐標位置，以及在模擬顯示面板中顯示模擬坐標位置以將待檢測顯示面板的不良坐標位置投影至模擬顯示面板之上，由此，將顯示面板的不良坐標位置準確投射至模擬顯示面板之上，方便了相關人員根據模型顯示面板上的坐標位置進行復判，精確標定了不良在顯示面板上的坐標位置，進而可提高維修不良的顯示面板的效率。

本發(fā)明的附加方面和優(yōu)點將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本發(fā)明的實踐了解到。

附圖說明

本發(fā)明的上述和/或附加的方面和優(yōu)點從結合下面附圖對實施例的描述中將變得明顯和容易理解，其中：

圖1為根據本發(fā)明一個實施例的顯示面板中不良坐標位置的核驗方法的流程圖；

圖2為根據待檢測顯示面板的不良坐標位置生成模擬顯示面板的模擬坐標位置的細化流程圖；

圖3為根據本發(fā)明一個具體實施例的顯示面板中不良坐標位置的核驗方法的流程圖；

圖4a為包含縱向貫穿線的模擬顯示面板的示例圖；

圖4b為包含橫向貫穿線的模擬顯示面板的示例圖；

圖4c為包含縱向貫穿線的模擬顯示面板的示例圖；

圖4d為包含橫向未貫穿線的模擬顯示面板的示例圖；

圖4e為橫縱交叉貫穿線的模擬顯示面板的示例圖；

圖5為在模擬顯示面板距離左邊71.6mm處顯示出縱向的線不良的示例圖；

圖6為在模擬顯示面板分別距離上邊緣處18.3mm、74.1mm、118.6mm處顯示出三條橫向的線不良的示例圖；

圖7為在模擬顯示面板(87.8,31.4)處顯示出點不良的示例圖；

圖8為根據本發(fā)明一個實施例的顯示面板中不良坐標位置的核驗系統(tǒng)的結構示意圖；

圖9為根據本發(fā)明另一個實施例的顯示面板中不良坐標位置的核驗系統(tǒng)的結構示意圖；

圖10為根據本發(fā)明又一個實施例的顯示面板中不良坐標位置的核驗系統(tǒng)的結構示意圖；

圖11為根據本發(fā)明再一個實施例的顯示面板中不良坐標位置的核驗系統(tǒng)的結構示意圖；

圖12為根據本發(fā)明另一個實施例的顯示面板中不良坐標位置的核驗系統(tǒng)的結構示意圖。

具體實施方式

下面詳細描述本發(fā)明的實施例，實施例的示例在附圖中示出，其中自始至終相同或類似的標號表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描述的實施例是示例性的，僅用于解釋本發(fā)明，而不能理解為對本發(fā)明的限制。

下面參考附圖描述根據本發(fā)明實施例的顯示面板中不良坐標位置的核驗方法及系統(tǒng)。

圖1為根據本發(fā)明一個實施例的顯示面板中不良坐標位置的核驗方法的流程圖。

如圖1所示，根據本發(fā)明實施例的顯示面板中不良坐標位置的核驗方法，包括以下步驟。

s11，獲取待檢測顯示面板的不良坐標位置。

在本發(fā)明的一個實施例中，在需要對待檢測顯示面板進行核驗時，可通過多種方式獲取待檢測顯示面板的不良坐標位置，可以根據實際應用需要進行選擇，本實施例對此不作限制，為了更加清楚的說明獲取待檢測顯示面板的不良坐標位置的過程，舉例說明如下：

方式一，可控制待檢測顯示面板顯示檢測畫面，然后，對待檢測顯示面板進行拍照以獲取對應的顯示圖像，以及對顯示圖像進行分析以獲取不良坐標位置。

具體地，在獲得待檢測顯示面板后，可對待檢測顯示面板上電，并控制待檢測顯示面板顯示預設的檢測畫面，然后，通過圖像采集裝置例如像素鏡頭對待檢測顯示面板進行拍照，以獲取待檢測顯示面板對應的顯示圖像，然后，通過對顯示圖像中各個像素的灰階值進行分析，以確定出待檢測顯示面板中的不良坐標位置。

其中，需要說明的是，可通過現有技術對顯示圖像進行分析以獲取不良坐標位置，此處不再贅述。

方式二，可讀取待檢測顯示面板的標識，然后，根據待檢測顯示面板的標識從服務器讀取對應的不良坐標位置。

具體地，在需要對待檢測顯示面板進行核驗時，可通過讀取裝置讀取待檢測顯示面板的標識，然后，將所讀取的待檢測顯示面板的標識發(fā)送給服務器，對應的服務器根據待檢測顯示面板的標識獲取待檢測顯示面板的不良坐標位置，并返回待檢測顯示面板的不良坐標位置。

其中，待檢測顯示面板的標識用于唯一標識待檢測顯示面板，每個待檢測顯示面板對應的標識均不相同。

s12，根據待檢測顯示面板的不良坐標位置生成模擬顯示面板的模擬坐標位置。

在本發(fā)明的一個實施例中，根據待檢測顯示面板的不良坐標位置生成模擬顯示面板的模擬坐標位置的過程，如圖2所示，可以包括：

s21，獲取待檢測顯示面板的橫向分辨率和縱向分辨率。

s22，獲取模擬顯示面板的橫向長度值和縱向寬度值。

s23，根據不良坐標位置、待檢測顯示面板的橫向分辨率和縱向分辨率，以及模擬顯示面板的橫向長度值和縱向寬度值生成模擬顯示面板的模擬坐標位置。

假設用(x，y)表示不良坐標位置，(x′，y′)表示模擬坐標位置，v和h分別表示橫向分辨率和縱向分辨率，a和b表示模擬顯示面板的橫向長度值和縱向長度值。不良坐標位置和和模擬坐標位置之間的關系如下公式所示：

s13，在模擬顯示面板中顯示模擬坐標位置以將待檢測顯示面板的不良坐標位置投影至模擬顯示面板之上。

本發(fā)明實施例的顯示面板中不良坐標位置的核驗方法，獲取待檢測顯示面板的不良坐標位置，根據待檢測顯示面板的不良坐標位置生成模擬顯示面板的模擬坐標位置，以及在模擬顯示面板中顯示模擬坐標位置以將待檢測顯示面板的不良坐標位置投影至模擬顯示面板之上，由此，將顯示面板的不良坐標位置準確投射至模擬顯示面板之上，方便了相關人員根據模型顯示面板上的坐標位置進行復判，精確標定了不良在顯示面板上的坐標位置，進而可提高維修不良的顯示面板的效率。

基于上述實施例的基礎上，為了提示相關人員準確選擇檢測顯示面板的不良名稱，在本發(fā)明的一個實施例中，在獲取待檢測顯示面板的顯示圖像后，還可以根據顯示圖像檢測待檢測顯示面板的不良類型代碼，以及在模擬顯示面板中標記不良類型代碼。由此，使得相關人員可根據模擬顯示面板中的標記選擇待檢測顯示面板的不良名稱，有效提示了相關人員，進而可提高相關人員的標定效率。

其中，不良類型可以包括但不限于點、線和mura(云紋)。

其中，線不良類型可以包括縱向貫穿、橫向貫穿、縱向或者橫向未貫穿、橫向與縱向交叉貫穿等具體的線不良。

舉例而言，對于不良類型是點或mura，模擬顯示面板中可以用不同顏色的圓圈標記點或mura不良類型，對于不良類型是線，模擬顯示面板可以用縱向貫穿線、橫向貫穿線、縱向或者橫向未貫穿線、橫向與縱向交叉貫穿線。

其中，需要理解的是，模擬顯示面板中縱向或者橫向未貫穿線的起點與終點是根據待檢測顯示面板的縱向或者橫向未貫穿線的起點與終點轉換而來的。

其中，需要說明的是，不同不良類型所使用的不良類型代碼不同，例如，不良類型為點、線和mura，可通過不良類型代碼1表示不良類型點，可通過不良類型代碼2表示不良類型線，可通過不良類型代碼3表示不良類型mura。

其中，需要理解的是，在獲取待檢測顯示面板的不良類型代碼后，可通過解析不良類型代碼確定待檢測顯示面板的不良類型。

舉例而言，假設不良類型代碼1表示不良類型點，不良類型代碼2表示不良類型線，不良類型代碼3表示不良類型mura，如果獲取待檢測顯示面板的不良類型代碼為2，此時，可確定待檢測顯示面板的不良類型為線不良。

圖3為根據本發(fā)明一個具體實施例的顯示面板中不良坐標位置的核驗方法的流程圖。

如圖3所示，根據本發(fā)明實施例的顯示面板中不良坐標位置的核驗方法，包括以下步驟。

s31，檢測裝置控制待檢測顯示面板顯示檢測畫面。

具體地，在檢測裝置獲取待檢測顯示面后，檢測裝置可對待檢測顯示面板上電，并控制待檢測顯示面板顯示預設的檢測畫面。

s32，檢測裝置對待檢測顯示面板進行拍照以獲取對應的顯示圖像。

在檢測裝置控制待檢測顯示面板顯示預設的檢測畫面后，檢測裝置可通過圖像采集裝置例如像素鏡頭對待檢測顯示面板進行拍照，以獲取對應的顯示圖像。

s33，檢測裝置對顯示圖像進行分析以獲取不良坐標位置。

作為一種示例性的實施方式，在檢測裝置獲取待檢測顯示面板對應的顯示圖像(不良相貌原始圖像)后，檢測裝置可通過以左上角為坐標原點的圖像分析軟件對顯示圖像進行分析，以通過顯示圖像的分析結果確定出待檢測顯示面板的不良坐標位置信息。

在本發(fā)明的一個實施例中，在檢測裝置獲取待檢測顯示面板對應的顯示圖像(不良相貌原始圖像)后，檢測裝置根據顯示圖像檢測待檢測顯示面板的不良類型代碼。

s34，檢測裝置通過對待檢測顯示面板的不良坐標位置進行分析，以生成待檢測顯示面板的判級信息。

其中，待檢測顯示面板的判級信息可以包括但不限于待檢測顯示面板的等級、不良類型代碼和不良坐標位置等信息。其中，待檢測顯示面板的等級是根據出貨客戶端的要求以及根據不良的程度進行區(qū)分的。其中，客戶要求不同等級也有所不同。例如，待測顯示面板的等級可以包括p等級、s等級、q等級和n等級，其中，p等級、s等級、q等級和n等級表示待檢測顯示面板的等級依次降低。

s35，檢測裝置將待檢測顯示面板的判級信息上傳至服務器，以使服務器保存待檢測顯示面板的判級信息。

s36，控制裝置讀取待檢測顯示面板的標識。

s37，控制裝置根據待檢測顯示面板的標識從服務器中讀取待檢測顯示面板的判級信息。

其中，判級信息中包含待檢測顯示面板的等級、不良類型代碼和不良坐標等信息。

s38，控制裝置根據待檢測顯示面板的不良坐標位置生成模擬顯示面板的模擬坐標位置。

在本發(fā)明的一個實施例中，在獲取待檢測顯示面板的不良坐標和不良類型代碼后，還可以根據不良類型代碼和不良坐標位置生成模擬顯示面板的模擬坐標位置。

作為一種示例性的實施方式，在獲取待檢測顯示面板的不良坐標和不良類型代碼后，可根據不良類型代碼和不良坐標位置，按照預先設置的轉換規(guī)則，生成模擬顯示面板的模擬坐標位置。

在控制裝置獲取待檢測顯示面板的判級信息后，可分析判級信息中的不良類型代碼和不良坐標位置的特征確定待檢測顯示面板的不良類型以及不良的坐標位置。

作為一種示例性的實施方式，在獲取待檢測顯示面板的判級信息，如果根據不良類型代碼確定不良類型為點，則根據不良坐標位置、待檢測顯示面板的橫向分辨率和縱向分辨率，以及模擬顯示面板的橫向長度值和縱向寬度值生成模擬顯示面板的模擬坐標位置。

如果根據不良類型代碼確定不良類型為mura，則根據不良坐標位置、待檢測顯示面板的橫向分辨率和縱向分辨率，以及模擬顯示面板的橫向長度值和縱向寬度值生成模擬顯示面板的模擬坐標位置。

如果根據不良類型代碼確定不良類型為線不良，則根據不良坐標位置的特征確定線不良的具體類型，下面分別對確定線不良的具體分類的過程進行描述：

(1)縱向貫穿的線不良

如果分析確定不良坐標位置中坐標的第二個數值為1，則確定待檢測顯示面板的不良為縱向貫穿的線不良，然后，根據不良坐標位置中的x軸上的數值、待檢測顯示面板的橫向分辨率和縱向分辨率，以及模擬顯示面板的橫向長度值和縱向寬度值生成模擬顯示面板的模擬坐標位置中x軸上的數值了，并在模擬顯示面板中對應的x軸上的相應位置上以縱向貫穿線標示。

其中，模擬顯示面板上的x位置上，以縱向貫穿線標示，坐標顯示(x,1)的示例圖，如圖4a所示。

(2)橫向貫穿的線不良

如果分析確定不良坐標位置中坐標的第一個數值為1，則確定待檢測顯示面板的不良為橫向貫穿的線不良，然后，根據不良坐標位置中的y軸上的數值、待檢測顯示面板的橫向分辨率和橫向分辨率，以及模擬顯示面板的橫向長度值和橫向寬度值生成模擬顯示面板的模擬坐標位置中y軸上的數值了，并在模擬顯示面板中對應的y軸上的相應位置上以橫向貫穿線標示。

其中，在模擬顯示面板上的y位置上，以橫向貫穿線標示，坐標顯示(1,y)的示例圖，如圖4b所示。

(3)縱向未貫穿的線不良

如果確定待檢測顯示面板的不良坐標位置有兩個，且這兩個不良坐標位置中x軸上的坐標數值相同，y軸上的坐標取值不同，則確定待檢測顯示面板的不良為縱向未貫穿的線不良，然后，根據不良坐標位置、待檢測顯示面板的橫向分辨率和縱向分辨率，以及模擬顯示面板的橫向長度值和縱向寬度值生成模擬顯示面板的模擬坐標位置。假設獲取模擬顯示面板的模擬坐標位置為(x,y1)和(x,y2)，在模擬顯示面板的x位置上以縱向未貫穿線標示。其中，縱向未貫穿線的起點坐標(x,y1)，終點坐標(x,y2)，如圖4c所示。

(4)橫向未貫穿的線不良

如果確定待檢測顯示面板的不良坐標位置有兩個，且這兩個不良坐標位置中y軸上的坐標數值相同，x軸上的坐標取值不同，則確定待檢測顯示面板的不良為橫向未貫穿的線不良，然后，根據不良坐標位置、待檢測顯示面板的橫向分辨率和橫向分辨率，以及模擬顯示面板的橫向長度值和橫向寬度值生成模擬顯示面板的模擬坐標位置。假設獲取模擬顯示面板的模擬坐標位置為(x1,y)和(x2,y)，在模擬顯示面板的y位置上以橫向未貫穿線標示。其中，橫向未貫穿線的起點坐標(x1,y)，終點坐標(x2,y)，如圖4d所示。

(5)橫縱交叉貫穿的線不良

如果確定待檢測顯示面板的不良坐標位置有兩個，且這兩個不良坐標位置中有一個不良坐標位置中坐標的第一個數值為1，且另一個不良坐標位置中坐標的第二個數值為1，或者，或者有一個不良坐標位置中坐標的第二個數值為1，且另一個不良坐標位置中坐標的第二個數值為1，則確定待檢測顯示面板的不良為橫縱交叉貫穿的線不良。然后，根據不良坐標位置、待檢測顯示面板的橫向分辨率和橫向分辨率，以及模擬顯示面板的橫向長度值和橫向寬度值生成模擬顯示面板的模擬坐標位置。假設獲取模擬顯示面板的模擬坐標位置為(x,1)和(1,y)，在模擬顯示面板的y位置上以橫向貫穿線標示，并在模擬顯示面板的x位置上以縱向貫穿線標示。其中，模擬顯示面板中顯示的橫縱交叉貫穿的線不良的示例圖，如圖4e所示。

舉例而言，當一張在第372列像素處有亮線不良的32寸高清顯示面板進入到檢測裝置進行點亮并判定時，檢測裝置中的像素鏡頭可對顯示面板的各個檢測畫面進行拍照，檢測判定結束后生成面板不良相貌原始圖片，然后，通過分析原始圖片判定顯示面板有一條縱向貫穿亮線并標定坐標為(372,1)，即不良坐標位置為(372,1)，并將線不良對應的不良類型代碼以及不良坐標位置上傳至服務器。在該顯示面板進入人工復判時，控制裝置可根據顯示面板的標識從服務器中獲取顯示面板的判級信息，根據不良類型代碼可以知道是線不良，以及根據不良坐標位置的第二個坐標是“1”，根據模擬規(guī)則為縱向線不良。假設32寸高清顯示面板的分辨率為1366×768，利用不良坐標變換出不良在263×148大小的模擬顯示面板上的位置是距離左邊緣71.6mm。在模擬顯示面板距離左邊71.6mm處顯示出縱向的線不良(如圖5所示)。在作業(yè)員對該顯示面板進行復判時，通過模擬顯示面板的提示，在顯示面板對應的位置上發(fā)現了一條縱向的線不良。作業(yè)員判定等級和不良名稱后，點擊模擬顯示面板上縱向的線，控制裝置根據作業(yè)員點擊的線不良，生成檢測裝置判定的坐標(372,1)，即，在模擬顯示面板上顯示(372,1)。

其中，需要說明的是，在實際應用中，圖5中所示的縱向貫穿的線是有顏色的。

又例如，當一張在第1082行像素處有亮線不良的55寸超高清顯示面板進入到檢測裝置進行點亮并判定時，檢測裝置中的像素鏡頭會對顯示面板的各個檢測畫面進行拍照，檢測判定結束后生成面板不良相貌原始圖片，假設根據不良相貌原始圖片分析出三條橫向亮線并標定坐標分別為(1,267)、(1,1082)、(1,1731)，將線不良對應的不良類型代碼以及不良坐標位置上傳至服務器，以使服務器保存該顯示面板的不良類型代碼以及不良坐標位置。在該顯示面板需要復判時，控制裝置根據顯示面板的標識從服務器中獲取該顯示面板的不良類型代碼以及不良坐標位置，根據不良代碼可以知道是線不良，通過分析可以確定三個不良坐標位置中，每個不良坐標位置中坐標的第一個數值均是“1”，根據模擬規(guī)則確定不良為橫向線不良。55寸超高清顯示面板的分辨率為3840×2160，利用不良坐標變換出不良在263×148大小的模擬顯示面板上的位置是距離上邊緣18.3mm、74.1mm、118.6mm。在模擬顯示面板分別距離上邊緣處18.3mm、74.1mm、118.6mm處顯示出三條橫向的線不良(如圖6所示)，在作業(yè)員對該顯示面板復判時，通過模擬顯示面板的提示，在顯示面板上只發(fā)現了一條橫向的線不良。作業(yè)員根據實際顯示面板上不良判定等級和不良名稱后，點擊模擬顯示面板上與真實不良位置相對應的橫向線，控制模塊就能根據作業(yè)員點擊的線不良，生成檢測裝置判定的坐標(1082,1)。

其中，需要說明的是，在實際應用中，圖6中所示的三條橫向貫穿的線是有顏色的。

又例如，在一張在像素(456,163)處有點不良的32寸高清顯示面板進入到檢測裝置進行點亮并判定時，檢測裝置中的像素鏡頭會對顯示面板的各個檢測畫面進行拍照，檢測判定結束后生成面板不良相貌原始圖片，通過分析原始圖片判定顯示面板點不良并標定坐標為(456,163)，然后，檢測裝置將點不良對應的不良類型代碼以及不良坐標位置上傳至服務器。當該顯示面板進入人工復判時，控制裝置根據該顯示面板的標識從服務器中獲取該顯示面板的判級信息，根據不良代碼可以知道是點不良。假設32寸高清顯示面板的分辨率為1366×768，利用不良坐標變換出不良在263×148大小的模擬顯示面板上的位置是(87.8,31.4)。在模擬顯示面板(87.8,31.4)處顯示出點不良(如圖7所示)，作業(yè)員在對該顯示面板復判時，通過模擬顯示面板的提示，在顯示面板對應的位置上發(fā)現了一個點不良。作業(yè)員選擇不良名稱后，點擊模擬顯示面板上的點不良，控制模塊能根據作業(yè)員點擊的點不良，生成檢測裝置判定的坐標(456,163)。

s39，控制裝置在模擬顯示面板中顯示模擬坐標位置以及不良代碼類型對應的標記。

其中，需要理解的是，在模擬顯示面板中顯示不良類型代碼的標記后，在作業(yè)員進行待檢測顯示面板復判時，作業(yè)員可根據該標記的提示來選擇不良名稱，控制模塊接收作業(yè)員選擇的不良名稱，并根據作業(yè)員的點擊操作生成檢測裝置判定的不良坐標，即，在模擬顯示面板中顯示待檢測面板中的不良坐標位置信息。

其中，需要說明的是，若作業(yè)員在選擇不良名稱后，控制模塊接收到作業(yè)員的多次點擊操作，控制模塊可根據點擊操作將不良名稱與顯示待檢測面板中的多個不良坐標位置對應。

本發(fā)明實施例的顯示面板中不良坐標位置的核驗方法，獲取待檢測顯示面板的不良坐標位置，根據待檢測顯示面板的不良坐標位置生成模擬顯示面板的模擬坐標位置，以及在模擬顯示面板中顯示模擬坐標位置以將待檢測顯示面板的不良坐標位置投影至模擬顯示面板之上，由此，將顯示面板的不良坐標位置準確投射至模擬顯示面板之上，方便了相關人員根據模型顯示面板上的坐標位置進行復判，精確標定了不良在顯示面板上的坐標位置，進而可提高維修不良的顯示面板的效率。

為了實現上述實施例，本發(fā)明還提出一種顯示面板中不良坐標位置的核驗系統(tǒng)。

圖8為根據本發(fā)明一個實施例的顯示面板中不良坐標位置的核驗系統(tǒng)的結構示意圖。

如圖8所示，根據本發(fā)明實施例的顯示面板中不良坐標位置的核驗系統(tǒng)，包括檢測裝置100、模擬顯示面板200和控制裝置300，其中：

檢測裝置100用于獲取待檢測顯示面板的不良坐標位置。

控制裝置300用于根據待檢測顯示面板的不良坐標位置生成模擬顯示面板的模擬坐標位置，并在模擬顯示面板200中顯示模擬坐標位置以將待檢測顯示面板的不良坐標位置投影至模擬顯示面板之上。

在本發(fā)明的一個實施例中，在圖8所示的基礎上，如圖9所示，該檢測裝置100可以包括控制模塊110、圖像獲取模塊120和分析模塊130，其中：

控制模塊110用于控制待檢測顯示面板顯示檢測畫面。

圖像獲取模塊120用于對待檢測顯示面板進行拍照以獲取對應的顯示圖像。

分析模塊130用于對顯示圖像進行分析以獲取不良坐標位置。

在本發(fā)明的一個實施例中，在圖8所示的基礎上，如圖10所示，控制裝置300可以包括第一獲取模塊310、第二獲取模塊320和生成模塊330，其中：

第一獲取模塊310用于獲取待檢測顯示面板的橫向分辨率和縱向分辨率。

第二獲取模塊320用于獲取模擬顯示面板的橫向長度值和縱向寬度值。

生成模塊330用于根據不良坐標位置、待檢測顯示面板的橫向分辨率和縱向分辨率，以及模擬顯示面板的橫向長度值和縱向寬度值生成模擬顯示面板的模擬坐標位置。

假設用(x，y)表示不良坐標位置，(x′，y′)表示模擬坐標位置，v和h分別表示橫向分辨率和縱向分辨率，a和b表示模擬顯示面板的橫向長度值和縱向長度值。不良坐標位置和和模擬坐標位置之間的關系如下公式所示：

在本發(fā)明的一個實施例中，在圖9所示的基礎上，如圖11所示，該檢測裝置100還可以包括檢測模塊140，該檢測模塊140用于根據顯示圖像檢測待檢測顯示面板的不良類型代碼。

如圖11所示，該控制裝置300還可以包括標記模塊340，該標記模塊340用于在模擬顯示面板中標記不良類型代碼。

其中，不良類型可以包括但不限于點、線和mura(云紋)。

其中，線不良類型可以包括縱向貫穿、橫向貫穿、縱向或者橫向未貫穿、橫向與縱向交叉貫穿等具體的線不良。

舉例而言，對于不良類型是點或mura，模擬顯示面板中可以用不同顏色的圓圈標記點或mura不良類型，對于不良類型是線，模擬顯示面板可以用縱向貫穿線、橫向貫穿線、縱向或者橫向未貫穿線、橫向與縱向交叉貫穿線。

其中，需要理解的是，模擬顯示面板中縱向或者橫向未貫穿線的起點與終點是根據待檢測顯示面板的縱向或者橫向未貫穿線的起點與終點轉換而來的。

其中，需要說明的是，不同不良類型所使用的不良類型代碼不同，例如，不良類型為點、線和mura，可通過不良類型代碼1表示不良類型點，可通過不良類型代碼2表示不良類型線，可通過不良類型代碼3表示不良類型mura。

其中，需要理解的是，在控制裝置300獲取待檢測顯示面板的不良類型代碼后，控制裝置300可通過解析不良類型代碼確定待檢測顯示面板的不良類型。舉例而言，假設不良類型代碼1表示不良類型點，不良類型代碼2表示不良類型線，不良類型代碼3表示不良類型mura，如果獲取待檢測顯示面板的不良類型代碼為2，此時，可確定待檢測顯示面板的不良類型為線不良。

在本發(fā)明的一個實施例中，在獲取待檢測顯示面板的不良坐標和不良類型代碼后，控制裝置300還可以根據不良類型代碼和不良坐標位置生成模擬顯示面板的模擬坐標位置。

作為一種示例性的實施方式，在獲取待檢測顯示面板的不良坐標和不良類型代碼后，控制裝置300可根據不良類型代碼和不良坐標位置，按照預先設置的轉換規(guī)則，生成模擬顯示面板的模擬坐標位置。

其中，需要說明的是，根據不良類型代碼和不良坐標位置，按照預先設置的轉換規(guī)則，生成模擬顯示面板的模擬坐標位置的具體過程，可參見上述顯示面板中不良坐標位置的核驗方法實施例的相關描述，此處不再贅述。

在本發(fā)明的一個實施例中，如圖8所示的基礎上，如圖12所示，該系統(tǒng)還可以包括讀取裝置400和服務器500，其中：

讀取裝置400用于讀取待檢測顯示面板的標識。

服務器500用于存儲檢測裝置發(fā)送的不良坐標位置，其中，控制裝置300根據待檢測顯示面板的標識從服務器500讀取對應的不良坐標位置。

其中，需要說明的是，前述對顯示面板中不良坐標位置的核驗方法的解釋說明也適用于該實施例的顯示面板中不良坐標位置的核驗系統(tǒng)，此處不再贅述。

本發(fā)明實施例的顯示面板中不良坐標位置的核驗系統(tǒng)，獲取待檢測顯示面板的不良坐標位置，根據待檢測顯示面板的不良坐標位置生成模擬顯示面板的模擬坐標位置，以及在模擬顯示面板中顯示模擬坐標位置以將待檢測顯示面板的不良坐標位置投影至模擬顯示面板之上，由此，將顯示面板的不良坐標位置準確投射至模擬顯示面板之上，方便了相關人員根據模型顯示面板上的坐標位置進行復判，精確標定了不良在顯示面板上的坐標位置，進而可提高維修不良的顯示面板的效率。

在本說明書的描述中，參考術語“一個實施例”、“一些實施例”、“示例”、“具體示例”、或“一些示例”等的描述意指結合該實施例或示例描述的具體特征、結構、材料或者特點包含于本發(fā)明的至少一個實施例或示例中。在本說明書中，對上述術語的示意性表述不必須針對的是相同的實施例或示例。而且，描述的具體特征、結構、材料或者特點可以在任一個或多個實施例或示例中以合適的方式結合。此外，在不相互矛盾的情況下，本領域的技術人員可以將本說明書中描述的不同實施例或示例以及不同實施例或示例的特征進行結合和組合。

此外，術語“第一”、“第二”僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對重要性或者隱含指明所指示的技術特征的數量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隱含地包括至少一個該特征。在本發(fā)明的描述中，“多個”的含義是兩個或兩個以上，除非另有明確具體的限定。

流程圖中或在此以其他方式描述的任何過程或方法描述可以被理解為，表示包括一個或更多個用于實現特定邏輯功能或過程的步驟的可執(zhí)行指令的代碼的模塊、片段或部分，并且本發(fā)明的優(yōu)選實施方式的范圍包括另外的實現，其中可以不按所示出或討論的順序，包括根據所涉及的功能按基本同時的方式或按相反的順序，來執(zhí)行功能，這應被本發(fā)明的實施例所屬技術領域的技術人員所理解。

在流程圖中表示或在此以其他方式描述的邏輯和/或步驟，例如，可以被認為是用于實現邏輯功能的可執(zhí)行指令的定序列表，可以具體實現在任何計算機可讀介質中，以供指令執(zhí)行系統(tǒng)、裝置或設備(如基于計算機的系統(tǒng)、包括處理器的系統(tǒng)或其他可以從指令執(zhí)行系統(tǒng)、裝置或設備取指令并執(zhí)行指令的系統(tǒng))使用，或結合這些指令執(zhí)行系統(tǒng)、裝置或設備而使用。就本說明書而言，"計算機可讀介質"可以是任何可以包含、存儲、通信、傳播或傳輸程序以供指令執(zhí)行系統(tǒng)、裝置或設備或結合這些指令執(zhí)行系統(tǒng)、裝置或設備而使用的裝置。計算機可讀介質的更具體的示例(非窮盡性列表)包括以下：具有一個或多個布線的電連接部(電子裝置)，便攜式計算機盤盒(磁裝置)，隨機存取存儲器(ram)，只讀存儲器(rom)，可擦除可編輯只讀存儲器(eprom或閃速存儲器)，光纖裝置，以及便攜式光盤只讀存儲器(cdrom)。另外，計算機可讀介質甚至可以是可在其上打印所述程序的紙或其他合適的介質，因為可以例如通過對紙或其他介質進行光學掃描，接著進行編輯、解譯或必要時以其他合適方式進行處理來以電子方式獲得所述程序，然后將其存儲在計算機存儲器中。

應當理解，本發(fā)明的各部分可以用硬件、軟件、固件或它們的組合來實現。在上述實施方式中，多個步驟或方法可以用存儲在存儲器中且由合適的指令執(zhí)行系統(tǒng)執(zhí)行的軟件或固件來實現。例如，如果用硬件來實現，和在另一實施方式中一樣，可用本領域公知的下列技術中的任一項或他們的組合來實現：具有用于對數據信號實現邏輯功能的邏輯門電路的離散邏輯電路，具有合適的組合邏輯門電路的專用集成電路，可編程門陣列(pga)，現場可編程門陣列(fpga)等。

本技術領域的普通技術人員可以理解實現上述實施例方法攜帶的全部或部分步驟是可以通過程序來指令相關的硬件完成，所述的程序可以存儲于一種計算機可讀存儲介質中，該程序在執(zhí)行時，包括方法實施例的步驟之一或其組合。

此外，在本發(fā)明各個實施例中的各功能單元可以集成在一個處理模塊中，也可以是各個單元單獨物理存在，也可以兩個或兩個以上單元集成在一個模塊中。上述集成的模塊既可以采用硬件的形式實現，也可以采用軟件功能模塊的形式實現。所述集成的模塊如果以軟件功能模塊的形式實現并作為獨立的產品銷售或使用時，也可以存儲在一個計算機可讀取存儲介質中。

上述提到的存儲介質可以是只讀存儲器，磁盤或光盤等。盡管上面已經示出和描述了本發(fā)明的實施例，可以理解的是，上述實施例是示例性的，不能理解為對本發(fā)明的限制，本領域的普通技術人員在本發(fā)明的范圍內可以對上述實施例進行變化、修改、替換和變型。