本發(fā)明涉及不可直接接觸的點熱源溫度測試方法技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種不可直接接觸的點熱源溫度測試方法。
背景技術(shù):
當發(fā)熱體的體積很?。ń茷辄c熱源),其表面溫度,由于某種原因不能直接用接觸式的溫度計測試方法測試溫度,由于體積太小也難于用非接觸式的紅外溫度計測試等測試方法測試溫度,特別是,通常還會在點熱源的外部進行隔熱封裝的情況,這樣點熱源的溫度直接測量更顯得困難。但實際中,又常常需要獲得點發(fā)熱源的表面溫度,為了解決點發(fā)熱源無法直接測量的問題,特設(shè)計一種溫度測試方法。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
本發(fā)明的目的在于提供一種不可直接接觸的點熱源溫度測試方法,以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供如下技術(shù)方案:一種不可直接接觸的點熱源溫度測試方法,將被測件置于溫箱的中部,用隔熱效果好、體積小的材料墊高,目的在于隔離空氣對流的擾動和外界溫度變化的擾動并更好地模擬環(huán)境,使得熱導(dǎo)率系數(shù)k值在相同的環(huán)境溫度和相同的被測件的表面溫度情況下,具有相同的數(shù)值;進一步地,在被測件的表面溫度與環(huán)境溫度之差相同的情況下,熱導(dǎo)率系數(shù)k具有相同的數(shù)值。環(huán)境溫度的測試點置于既不靠近被測件也不靠近箱壁的位置上,理由是:由于是被測件是點熱源,溫度穩(wěn)定時,環(huán)境溫度受熱源的影響將與其距離熱源的距離的三次方成反比;由于保溫箱也非絕對隔熱,故環(huán)境溫度也應(yīng)遠離箱壁,箱體較大的目的是保證環(huán)境溫度測試點距離兩者都較遠。溫度測試的連線與加熱電源線應(yīng)不影響保溫箱的密封與隔熱效果,測試時,記錄箱內(nèi)環(huán)境溫度與被測件溫度穩(wěn)定時的表面溫度以及加熱功率,注意每次改變加熱功率時等待足夠長時間,亦即保證加溫的升溫過程穩(wěn)定;為使得k值準確,需多次測試,通過逐漸調(diào)節(jié)電源電壓進行多組實驗,測試過程加溫從低溫到高溫,再從高溫到低溫進行一個來回。通過所采集實驗數(shù)據(jù):測量點發(fā)熱源溫度
去掉誤差過大的ki,計算剩余的m組數(shù)據(jù),得,
即可近似的取得待定系數(shù)k,在獲得k后,待測點源溫度可以通過下式求得:
這樣即可通過測量加熱功率和環(huán)境溫度間接地測量待測點熱源的溫度。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果是:該溫度測試方法可以不用直接接觸測試,對于點熱源,特別是外部進行隔熱封裝的情況,點熱源的溫度直接測量更顯得困難情況,該情況下通過此方法可以間接測量。
附圖說明
圖1為本發(fā)明測試環(huán)境布置圖示意圖。
具體實施方式
下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖,對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例,而不是全部的實施例。基于本發(fā)明中的實施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本發(fā)明保護的范圍。
請參閱圖1,本發(fā)明提供一種技術(shù)方案:
實施例1:
一種不可直接接觸的點熱源溫度測試方法,將被測件置于溫箱的中部,用隔熱效果好、體積小的材料墊高,目的在于隔離空氣對流的擾動和外界溫度變化的擾動并更好地模擬環(huán)境,使得熱導(dǎo)率系數(shù)k值在相同的環(huán)境溫度和被測件的表面溫度相同的情況下,具有相同的數(shù)值;進一步地,在被測件的表面溫度與環(huán)境溫度之差相同情況下,熱導(dǎo)率系數(shù)k值具有相同的數(shù)值。環(huán)境溫度的測試點置于既不靠近被測件又不靠近箱壁的位置上,由于被測件是點熱源,溫度穩(wěn)定時,環(huán)境溫度受熱源的影響將與其距離熱源的距離的三次方成反比;由于保溫箱非絕對隔熱,故環(huán)境溫度也應(yīng)遠離箱壁,箱體較大的目的是為了保證環(huán)境溫度測試點距離兩者都較遠,溫度測試的連線與加熱電源線應(yīng)不影響保溫箱的密封與隔熱效果,測試時,記錄箱內(nèi)環(huán)境溫度與被測件溫度穩(wěn)定時的表面溫度以及加熱功率,注意每次注意改變加熱功率時等待足夠長時間,亦即保證加溫的升溫過程穩(wěn)定;為使得k值準確,需進行多次測試,通過逐漸調(diào)節(jié)電源電壓進行多組實驗,測試過程加溫從低溫到高溫,再從高溫到低溫進行一個來回。通過所采集實驗數(shù)據(jù):測量點發(fā)熱源溫度
去掉誤差過大的ki,計算剩余的m組數(shù)據(jù),得,
即可近似的取得待定系數(shù)k,已獲得k后,待測點源溫度可以通過下式求得:
這樣即可通過測量加熱功率和環(huán)境溫度間接地測量待測點熱源的溫度。
盡管已經(jīng)示出和描述了本發(fā)明的實施例,對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言,可以理解在不脫離本發(fā)明的原理和精神的情況下可以對這些實施例進行多種變化、修改、替換和變型,本發(fā)明的范圍由所附權(quán)利要求及其等同物限定。