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檢測(cè)方法和檢測(cè)系統(tǒng)與流程

文檔序號(hào):11578230閱讀:246來源:國知局
檢測(cè)方法和檢測(cè)系統(tǒng)與流程

本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種檢測(cè)方法和檢測(cè)系統(tǒng)。



背景技術(shù):

隨著智能化制造技術(shù)的發(fā)展,自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(automaticopticinspection,簡(jiǎn)稱aoi)在顯示面板的生產(chǎn)檢測(cè)環(huán)節(jié)日益廣泛使用。自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)采用無人化自動(dòng)檢測(cè)的方式,檢測(cè)速度快、性能穩(wěn)定、可調(diào)控性好,成為替代人工檢測(cè)的主要檢測(cè)模式。

圖1為現(xiàn)有技術(shù)之中類設(shè)備線的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示,類設(shè)備線501由成盒檢測(cè)設(shè)備本身在量產(chǎn)使用時(shí)造成,量產(chǎn)過程之中經(jīng)常由于探針單元異常、壓合穩(wěn)定性偏差等情況造成類設(shè)備線假不良。類設(shè)備線501的產(chǎn)生特征具有必然性、突發(fā)性和反復(fù)性,其中突發(fā)性體現(xiàn)在測(cè)試的任意時(shí)刻、顯示面板500的任意位置都可能突然出現(xiàn)類設(shè)備線501,而先前出現(xiàn)的類設(shè)備線501也可能在任意時(shí)刻消失。反復(fù)性體現(xiàn)在一旦出現(xiàn)類設(shè)備線501,那么相同位置將會(huì)反復(fù)多次出現(xiàn)。這類設(shè)備線假不良在實(shí)際生產(chǎn)中對(duì)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)造成極大干擾,影響了自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)的有效性。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

為解決上述問題,本發(fā)明提供一種檢測(cè)方法和檢測(cè)系統(tǒng),至少部分解決現(xiàn)有技術(shù)之中類設(shè)備線假不良對(duì)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)造成極大干擾,影響了自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)的有效性的問題。

為此,本發(fā)明提供一種檢測(cè)方法,包括:

獲取顯示面板顯示的檢測(cè)畫面之中的類設(shè)備線;

判斷所述類設(shè)備線是否位于已有的免檢區(qū)域之內(nèi);

若所述類設(shè)備線位于所述已有的免檢區(qū)域之外,則基于所述類設(shè)備線形成所述顯示面板的不良信息,并根據(jù)所述類設(shè)備線形成新的免檢區(qū)域。

可選的,若所述類設(shè)備線位于所述已有的免檢區(qū)域之內(nèi),則將所述類設(shè)備線的所有子像素的灰階值替換為正常子像素的平均灰階值。

可選的,根據(jù)所述類設(shè)備線形成新的免檢區(qū)域的步驟包括:

將所述類設(shè)備線的寬度擴(kuò)大預(yù)設(shè)倍數(shù);

將擴(kuò)大后的類設(shè)備線所在區(qū)域確定為所述新的免檢區(qū)域。

可選的,所述預(yù)設(shè)倍數(shù)的范圍為1至10。

可選的,所述獲取顯示面板顯示的檢測(cè)畫面之中的類設(shè)備線的步驟包括:

獲取所述檢測(cè)畫面中顯示的圖像線,所述圖像線對(duì)應(yīng)的所有子像素具有相同的橫坐標(biāo)或者相同的縱坐標(biāo);

判斷所述圖像線是否同時(shí)滿足如下兩個(gè)條件:

圖像線子像素的灰階值與正常子像素的平均灰階值之間的第一比例系數(shù)在第一預(yù)設(shè)范圍之內(nèi),所述圖像線子像素為所述圖像線對(duì)應(yīng)的子像素,所述正常子像素為正常顯示區(qū)域的子像素;

所述圖像線子像素的灰階值與相鄰的子像素的灰階值之間的第二比例系數(shù)在第二預(yù)設(shè)范圍之內(nèi);

若所述圖像線同時(shí)滿足上述兩個(gè)條件,確定所述圖像線為類設(shè)備線。

可選的,所述第一預(yù)設(shè)范圍為0至0.9,所述第二預(yù)設(shè)范圍均為0.1至0.9。

可選的,所述第一預(yù)設(shè)范圍和所述第二預(yù)設(shè)范圍均為0.15至0.2。

可選的,還包括:

若所述檢測(cè)畫面中的類設(shè)備線在同一位置出現(xiàn)的次數(shù)大于等于q次,則生成第一報(bào)警信息;

若所述檢測(cè)畫面中同時(shí)出現(xiàn)超過n條類設(shè)備線的連續(xù)次數(shù)大于等于m次,則生成第二報(bào)警信息;

其中,所述q、m、n為正整數(shù)。

可選的,所述q的范圍為5至50,所述m的范圍為2至20,所述n的范圍為5至50。

本發(fā)明還提供一種檢測(cè)系統(tǒng),包括:

獲取單元,用于獲取顯示面板顯示的檢測(cè)畫面之中的類設(shè)備線;

判斷單元,用于判斷所述類設(shè)備線是否位于已有的免檢區(qū)域之內(nèi);

形成單元,用于若所述類設(shè)備線位于所述已有的免檢區(qū)域之外,則基于所述類設(shè)備線形成所述顯示面板的不良信息,并根據(jù)所述類設(shè)備線形成新的免檢區(qū)域。

本發(fā)明具有下述有益效果:

本發(fā)明提供的檢測(cè)方法和檢測(cè)系統(tǒng)之中,獲取顯示面板顯示的檢測(cè)畫面之中的類設(shè)備線,判斷所述類設(shè)備線是否位于已有的免檢區(qū)域之內(nèi),若所述類設(shè)備線位于所述已有的免檢區(qū)域之外,則基于所述類設(shè)備線形成所述顯示面板的不良信息,并根據(jù)所述類設(shè)備線形成新的免檢區(qū)域。本發(fā)明提供的技術(shù)方案能夠識(shí)別類設(shè)備線,再根據(jù)類設(shè)備線形成免檢區(qū)域,有效降低類設(shè)備線假不良造成的干擾,極大提升自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)的使用效能與適用范圍,為全面推動(dòng)無人化智能檢測(cè)、降低生產(chǎn)運(yùn)營成本、提升判斷準(zhǔn)確度以及降低廢品損失起到極大的促進(jìn)作用。另外,本發(fā)明提供的技術(shù)方案形成了多個(gè)位置與數(shù)量不斷變化的免檢區(qū)域,既濾除了重復(fù)發(fā)生的類設(shè)備線假不良對(duì)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)造成的干擾,又保證了漏檢率水平不因類設(shè)備線濾除而升高,極大提升了自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)的有效適用性,使得自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)能夠?qū)嶋H應(yīng)用于大尺寸高分辨率產(chǎn)品的成盒檢測(cè),最終有效解決了自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)類設(shè)備線過檢以及設(shè)備宕機(jī)難題。

附圖說明

圖1為現(xiàn)有技術(shù)之中類設(shè)備線的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖2為本發(fā)明實(shí)施例一提供的一種檢測(cè)方法的流程圖;

圖3為實(shí)施例一中圖像線對(duì)應(yīng)的子像素的灰階值示意圖;

圖4為實(shí)施例一中類設(shè)備線的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖5為圖4所示類設(shè)備線對(duì)應(yīng)的免檢區(qū)域的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖6為實(shí)施例一中連續(xù)出現(xiàn)類設(shè)備線的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖7為本發(fā)明實(shí)施例二提供的一種檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

為使本領(lǐng)域的技術(shù)人員更好地理解本發(fā)明的技術(shù)方案,下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明提供的檢測(cè)方法和檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行詳細(xì)描述。

實(shí)施例一

圖2為本發(fā)明實(shí)施例一提供的一種檢測(cè)方法的流程圖。如圖2所示,所述檢測(cè)方法包括:

步驟101、獲取顯示面板顯示的檢測(cè)畫面之中的類設(shè)備線。

步驟102、判斷所述類設(shè)備線是否位于已有的免檢區(qū)域之內(nèi)。

步驟103、若所述類設(shè)備線位于所述已有的免檢區(qū)域之外,則基于所述類設(shè)備線形成所述顯示面板的不良信息,并根據(jù)所述類設(shè)備線形成新的免檢區(qū)域。

步驟104、若所述類設(shè)備線位于所述已有的免檢區(qū)域之內(nèi),則將所述類設(shè)備線的所有子像素的灰階值替換為正常子像素的平均灰階值。

本實(shí)施例獲取顯示面板顯示的檢測(cè)畫面之中的類設(shè)備線,判斷所述類設(shè)備線是否位于已有的免檢區(qū)域之內(nèi),若所述類設(shè)備線位于所述已有的免檢區(qū)域之外,則確認(rèn)該類設(shè)備線為有效的顯示不良,可以基于所述類設(shè)備線形成所述顯示面板的不良信息,并根據(jù)所述類設(shè)備線形成新的免檢區(qū)域。若類設(shè)備線位于已有的免檢區(qū)域之內(nèi),則確認(rèn)該類設(shè)備線不是有效的顯示不良,為了實(shí)現(xiàn)對(duì)該類設(shè)備線的免檢,可以將類設(shè)備線的所有子像素的灰階值替換為正常子像素的平均灰階值。

本實(shí)施例提供的技術(shù)方案能夠識(shí)別類設(shè)備線,再根據(jù)類設(shè)備線形成免檢區(qū)域,有效降低類設(shè)備線假不良造成的干擾,極大提升自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)的使用效能與適用范圍,為全面推動(dòng)無人化智能檢測(cè)、降低生產(chǎn)運(yùn)營成本、提升判斷準(zhǔn)確度以及降低廢品損失起到極大的促進(jìn)作用。另外,本實(shí)施例提供的技術(shù)方案形成了多個(gè)位置與數(shù)量不斷變化的免檢區(qū)域,既濾除了重復(fù)發(fā)生的類設(shè)備線假不良對(duì)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)造成的干擾,又保證了漏檢率水平不因類設(shè)備線濾除而升高,極大提升了自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)的有效適用性,使得自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)能夠?qū)嶋H應(yīng)用于大尺寸高分辨率產(chǎn)品的成盒檢測(cè),最終有效解決了自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)類設(shè)備線過檢以及設(shè)備宕機(jī)難題。

本實(shí)施例中,所述獲取顯示面板顯示的檢測(cè)畫面之中的類設(shè)備線的步驟包括:獲取所述檢測(cè)畫面中顯示的圖像線,所述圖像線對(duì)應(yīng)的所有子像素具有相同的橫坐標(biāo)或者相同的縱坐標(biāo);判斷所述圖像線是否同時(shí)滿足如下兩個(gè)條件:圖像線子像素的灰階值與正常子像素的平均灰階值之間的第一比例系數(shù)在第一預(yù)設(shè)范圍之內(nèi),所述圖像線子像素為所述圖像線對(duì)應(yīng)的子像素,所述正常子像素為正常顯示區(qū)域的子像素;所述圖像線子像素的灰階值與相鄰的子像素的灰階值之間的第二比例系數(shù)在第二預(yù)設(shè)范圍之內(nèi);若所述圖像線同時(shí)滿足上述兩個(gè)條件,確定所述圖像線為類設(shè)備線??蛇x的,所述第一預(yù)設(shè)范圍為0至0.9,所述第二預(yù)設(shè)范圍均為0.1至0.9。優(yōu)選的,所述第一預(yù)設(shè)范圍和所述第二預(yù)設(shè)范圍均為0.15至0.2。

可選地,正常子像素的灰階值t0可以根據(jù)下面公式進(jìn)行計(jì)算:f(x,y)為正常取值域

圖3為實(shí)施例一中圖像線對(duì)應(yīng)的子像素的灰階值示意圖。如圖3所示,以縱向的圖像線601在顯示畫面的灰階值為127為例,運(yùn)算矩陣的坐標(biāo)原點(diǎn)為左上角的子像素,記為(1,1),因此圖像線對(duì)應(yīng)的子像素的灰階值集合為{x1,x2,......xn},其中n值為顯示面板的縱向分辨率一致。本實(shí)施例所述的圖像線601對(duì)應(yīng)的所有子像素具有相同的橫坐標(biāo)或者相同的縱坐標(biāo)。

本實(shí)施例判斷圖像線601為類設(shè)備線的條件之一為:圖像線對(duì)應(yīng)的子像素的灰階值與正常子像素的平均灰階值之間的第一比例系數(shù)在預(yù)設(shè)范圍之內(nèi)。也就是,要求圖像線對(duì)應(yīng)的子像素的灰階值集合{x1,x2,......xn}之中的每個(gè)灰階值≤k*t,其中t為正常子像素的平均灰階值,k為可調(diào)試的第一比例系數(shù)。t=a/b,其中a為正常顯示區(qū)域600的所有子像素的灰階值之和,b為正常顯示區(qū)域600的所有子像素的數(shù)量之和。可選的,所述第一比例系數(shù)的范圍為0至0.9。優(yōu)選的,所述第一比例系數(shù)的范圍為0.15至0.2。更優(yōu)選的,所述第一比例系數(shù)為0.2。

本實(shí)施例判斷圖像線601為類設(shè)備線的條件之二為:所述圖像線對(duì)應(yīng)的子像素的灰階值與相鄰的子像素的灰階值之間的第二比例系數(shù)在預(yù)設(shè)范圍之內(nèi)。參見圖3,本實(shí)施例將圖像線601的相鄰兩側(cè)的子像素陣列分別記為{y1,y2,......yn}&{z1,z2,......、zn},其灰度值與類設(shè)備線相互影響,為使本實(shí)施例提供的識(shí)別方法更加嚴(yán)謹(jǐn),本實(shí)施例要求xm≤{ym,zm}*s,其中1≤m≤n,s為可調(diào)試的第二比例系數(shù),此時(shí)可以確認(rèn)類設(shè)備線為自發(fā)性暗線不良,與相鄰區(qū)域的灰度影響無關(guān)??蛇x的,所述第二比例系數(shù)的范圍為0.1至0.9。優(yōu)選的,所述第二比例系數(shù)為0.15至0.2。

可選的,所述根據(jù)所述類設(shè)備線形成新的免檢區(qū)域的步驟包括:將所述類設(shè)備線的寬度擴(kuò)大預(yù)設(shè)倍數(shù),將擴(kuò)大后的類設(shè)備線所在區(qū)域確定為所述新的免檢區(qū)域。優(yōu)選的,所述預(yù)設(shè)倍數(shù)的范圍為1至10。圖4為實(shí)施例一中類設(shè)備線的結(jié)構(gòu)示意圖,圖5為圖4所示類設(shè)備線對(duì)應(yīng)的免檢區(qū)域的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖4和圖5所示,類設(shè)備線602對(duì)應(yīng)的子像素的灰階值為35,將類設(shè)備線602的寬度擴(kuò)大3倍,從而形成替換區(qū)域,再將替換區(qū)域的灰階值替換為正常子像素的平均灰階值127,最終形成新免檢區(qū)域603。同樣,類設(shè)備線604對(duì)應(yīng)的子像素的灰階值為40,將類設(shè)備線604的寬度擴(kuò)大3倍,從而形成替換區(qū)域,再將替換區(qū)域的灰階值替換為正常子像素的平均灰階值127,最終形成新免檢區(qū)域605。本實(shí)施例形成的免檢區(qū)域有效降低類設(shè)備線假不良造成的干擾,極大提升自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)的使用效能與適用范圍,為全面推動(dòng)無人化智能檢測(cè)、降低生產(chǎn)運(yùn)營成本、提升判斷準(zhǔn)確度以及降低廢品損失起到極大的促進(jìn)作用。

本實(shí)施例中,若所述檢測(cè)畫面中的類設(shè)備線在同一位置出現(xiàn)的次數(shù)大于等于q次,則生成第一報(bào)警信息;若所述檢測(cè)畫面中同時(shí)出現(xiàn)超過n條類設(shè)備線的連續(xù)次數(shù)大于等于m次,則生成第二報(bào)警信息;其中,所述q、m、n為正整數(shù)??蛇x的,所述q的范圍為5至50,所述m的范圍為2至20,所述n的范圍為5至50。圖6為實(shí)施例一中連續(xù)出現(xiàn)類設(shè)備線的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖6所示,顯示面板500的同一位置出現(xiàn)類設(shè)備線501的次數(shù)大于等于q次,生成第一報(bào)警信息。顯示面板500同時(shí)出現(xiàn)超過n條類設(shè)備線501的連續(xù)次數(shù)大于等于m次,則生成第二報(bào)警信息。本實(shí)施例通過上述方法可以判斷異常狀況,例如,探針單元的針腳缺失、探針單元的芯片異?;蛘咴O(shè)備整體狀態(tài)異常等情況。因此,本實(shí)施例通過對(duì)異常狀況進(jìn)行判斷,從而可以減少漏檢風(fēng)險(xiǎn)。

本實(shí)施例提供的檢測(cè)方法之中,獲取顯示面板顯示的檢測(cè)畫面之中的類設(shè)備線,判斷所述類設(shè)備線是否位于已有的免檢區(qū)域之內(nèi),若所述類設(shè)備線位于所述已有的免檢區(qū)域之外,則基于所述類設(shè)備線形成所述顯示面板的不良信息,并根據(jù)所述類設(shè)備線形成新的免檢區(qū)域。本實(shí)施例提供的技術(shù)方案能夠識(shí)別設(shè)備線,再根據(jù)設(shè)備線形成免檢區(qū)域,有效降低設(shè)備線假不良造成的干擾,極大提升自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)的使用效能與適用范圍,為全面推動(dòng)無人化智能檢測(cè)、降低生產(chǎn)運(yùn)營成本、提升判斷準(zhǔn)確度以及降低廢品損失起到極大的促進(jìn)作用。另外,本實(shí)施例提供的技術(shù)方案形成了多個(gè)位置與數(shù)量不斷變化的免檢區(qū)域,既濾除了重復(fù)發(fā)生的設(shè)備線假不良對(duì)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)造成的干擾,又保證了漏檢率水平不因設(shè)備線濾除而升高,極大提升了自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)的有效適用性,使得自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)能夠?qū)嶋H應(yīng)用于大尺寸高分辨率產(chǎn)品的成盒檢測(cè),最終有效解決了自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備線過檢以及設(shè)備宕機(jī)難題。

實(shí)施例二

圖7為本發(fā)明實(shí)施例二提供的一種檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖7所示,所述檢測(cè)系統(tǒng)包括獲取單元1001、判斷單元1002以及形成單元1003,所述獲取單元1001獲取顯示面板顯示的檢測(cè)畫面之中的類設(shè)備線,所述判斷單元1002判斷所述類設(shè)備線是否位于已有的免檢區(qū)域之內(nèi),若所述類設(shè)備線位于所述已有的免檢區(qū)域之外,所述形成單元1003基于所述類設(shè)備線形成所述顯示面板的不良信息,并根據(jù)所述類設(shè)備線形成新的免檢區(qū)域。

本實(shí)施例提供的檢測(cè)系統(tǒng)之中,獲取顯示面板顯示的檢測(cè)畫面之中的類設(shè)備線,判斷所述類設(shè)備線是否位于已有的免檢區(qū)域之內(nèi),若所述類設(shè)備線位于所述已有的免檢區(qū)域之外,則基于所述類設(shè)備線形成所述顯示面板的不良信息,并根據(jù)所述類設(shè)備線形成新的免檢區(qū)域。本實(shí)施例提供的技術(shù)方案能夠識(shí)別設(shè)備線,再根據(jù)設(shè)備線形成免檢區(qū)域,有效降低設(shè)備線假不良造成的干擾,極大提升自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)的使用效能與適用范圍,為全面推動(dòng)無人化智能檢測(cè)、降低生產(chǎn)運(yùn)營成本、提升判斷準(zhǔn)確度以及降低廢品損失起到極大的促進(jìn)作用。另外,本實(shí)施例提供的技術(shù)方案形成了多個(gè)位置與數(shù)量不斷變化的免檢區(qū)域,既濾除了重復(fù)發(fā)生的設(shè)備線假不良對(duì)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)造成的干擾,又保證了漏檢率水平不因設(shè)備線濾除而升高,極大提升了自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)的有效適用性,使得自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)能夠?qū)嶋H應(yīng)用于大尺寸高分辨率產(chǎn)品的成盒檢測(cè),最終有效解決了自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備線過檢以及設(shè)備宕機(jī)難題。

可以理解的是,以上實(shí)施方式僅僅是為了說明本發(fā)明的原理而采用的示例性實(shí)施方式,然而本發(fā)明并不局限于此。對(duì)于本領(lǐng)域內(nèi)的普通技術(shù)人員而言,在不脫離本發(fā)明的精神和實(shí)質(zhì)的情況下,可以做出各種變型和改進(jìn),這些變型和改進(jìn)也視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。

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