技術特征：

技術總結
本發(fā)明公開了一種基于干涉圖閉合環(huán)的InSAR解纏誤差探測方法，獲取研究區(qū)域的SLC影像，進行多視、濾波、干涉、去平、去除地形相位、解纏操作，獲取解纏的InSAR差分干涉圖；選擇目標干涉對，探測能與目標干涉對組成閉合環(huán)的其他兩個干涉對，得到多組干涉圖閉合環(huán)，解算每組中三個干涉對的殘差；對含有軌道誤差的干涉對閉合環(huán)殘差進行多項式擬合，并用最小二乘方法求解多項式參數(shù)，求解閉合環(huán)殘差與多項式擬合結果的差值；取各組閉合差結果中絕對值小于0.5·2π弧度的像素，其他像素掩模掉，將保留的各個差值干涉對取并集；將并集結果與目標干涉對像素取交集，目標干涉對掩模掉的像素便是解纏誤差存在的像素。本發(fā)明提高了定位解纏誤差結果的有效性及準確性。

技術研發(fā)人員：王霞迎;高雅萍;趙超英;劉媛媛
受保護的技術使用者：長安大學
技術研發(fā)日：2017.04.13
技術公布日：2017.09.26