技術(shù)總結(jié)
一種用于確定輻射粒子探測(cè)器中的閃爍事件的位置的方法，所述輻射粒子探測(cè)器具有多個(gè)閃爍體元件位置并且具有多個(gè)光傳感器(5.1、5.2、5.3、5.4)，所述多個(gè)閃爍體元件位置被配置為響應(yīng)于輻射粒子在所述閃爍體元件位置處被吸收而發(fā)射光子的爆發(fā)，所述多個(gè)光傳感器被光學(xué)地耦合到所述閃爍體元件位置，所述方法包括以下步驟：針對(duì)所述光傳感器(5.1、5.2、5.3、5.4)中的每個(gè)，確定觸發(fā)概率，所述觸發(fā)概率指示所述光傳感器(5.1、5.2、5.3、5.4)測(cè)量到超過(guò)預(yù)定觸發(fā)閾值的光子的數(shù)量的概率；利用所述光傳感器(5.1、5.2、5.3、5.4)測(cè)量光子分布，所述光子分布指示入射在個(gè)體光傳感器(5.1、5.2、5.3、5.4)上的光子的數(shù)量；針對(duì)閃爍體元件位置中的每個(gè)，基于所測(cè)量的光子分布和所述光傳感器(5.1、5.2、5.3、5.4)中的每個(gè)的所述觸發(fā)概率來(lái)計(jì)算具有預(yù)定能量值的閃爍事件發(fā)生在所述閃爍體元件位置中的可能性；并且識(shí)別具有最大可能性的所述閃爍體元件位置。

技術(shù)研發(fā)人員：Y·貝爾克;V·舒爾茨
受保護(hù)的技術(shù)使用者：皇家飛利浦有限公司
文檔號(hào)碼：201680001631
技術(shù)研發(fā)日：2016.03.03
技術(shù)公布日：2017.02.22