本實(shí)用新型涉及一種耐壓測(cè)試儀，更具體的說，它涉及一種耐壓測(cè)試儀自動(dòng)切換裝置。

背景技術(shù)：

一般的耐壓測(cè)試儀的測(cè)試端口只有一個(gè)，只能同時(shí)測(cè)試兩個(gè)點(diǎn)之間的絕緣性能，但是在隔離型開關(guān)電源的測(cè)試中，我們需要測(cè)試三個(gè)點(diǎn)兩兩共三組的絕緣性能，這種測(cè)試稱為耐壓測(cè)試。

具體在開關(guān)電源中，耐壓測(cè)試需要測(cè)試輸入對(duì)輸出的絕緣，輸入對(duì)地線的絕緣，輸出對(duì)地線的絕緣，因此要測(cè)試三次，如果手動(dòng)切換連接，效率非常低下，尤其在生產(chǎn)過程中，因此自動(dòng)控制的測(cè)試非常有必要。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，本實(shí)用新型的目的在于提供一種能夠自動(dòng)對(duì)開關(guān)電源上的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行耐壓測(cè)試，提高了生產(chǎn)過程中的測(cè)試效率的耐壓測(cè)試儀自動(dòng)切換裝置。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供了如下技術(shù)方案：一種耐壓測(cè)試儀自動(dòng)切換裝置，包括耐壓測(cè)試儀的控制器，其包括MCU控制器、第一繼電器、第二繼電器、第三繼電器和第四繼電器，MCU控制器的輸入端與耐壓測(cè)試儀的控制器的輸出端連接，MCU控制器的第一輸出端連接第一繼電器的線圈端，MCU控制器的第二輸出端連接第二繼電器的線圈端，MCU控制器的第三輸出端連接第三繼電器的線圈端，MCU控制器的第四輸出端連接第四繼電器的線圈端，第一繼電器的常開觸點(diǎn)的一端和第二繼電器的常開觸點(diǎn)的一端均與耐壓測(cè)試儀的第一測(cè)試端連接，第三繼電器的常開觸點(diǎn)的一端和第四繼電器的常開觸點(diǎn)的一端均勻耐壓測(cè)試儀的第二測(cè)試端，第一繼電器的常開觸點(diǎn)的另一端、第二繼電器的常開觸點(diǎn)的另一端、第三繼電器的常開觸點(diǎn)的另一端、以及第四繼電器的常開觸點(diǎn)的另一端均用于連接開關(guān)電源上的測(cè)試點(diǎn)。

本實(shí)用新型進(jìn)一步設(shè)置為：所述第一繼電器的常開觸點(diǎn)遠(yuǎn)離第一測(cè)試端的一端連接在開關(guān)電源的火線和零線端的測(cè)試點(diǎn)上。

本實(shí)用新型進(jìn)一步設(shè)置為：所述第二繼電器的常開觸點(diǎn)遠(yuǎn)離第一測(cè)試端的一端和第三繼電器的常開觸點(diǎn)遠(yuǎn)離第二測(cè)試端的一端均連接在開關(guān)電源的地線殼體測(cè)試點(diǎn)上。

本實(shí)用新型進(jìn)一步設(shè)置為：所述第四繼電器的常開觸點(diǎn)遠(yuǎn)離第一測(cè)試端的一端連接在開關(guān)電源的輸出端的測(cè)試點(diǎn)上。

本實(shí)用新型具有下述優(yōu)點(diǎn)：通過MCU控制器對(duì)繼電器進(jìn)行控制，使得用于耐壓測(cè)試儀對(duì)開關(guān)電源上的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行耐壓測(cè)試，避免了需要手動(dòng)控制耐壓測(cè)試儀對(duì)開關(guān)電源上的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行連接控制，提高了生產(chǎn)過程中對(duì)開關(guān)電源的耐壓測(cè)試的操作過程，進(jìn)一步提高了測(cè)試效率。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型一種耐壓測(cè)試儀自動(dòng)切換裝置的電路系統(tǒng)框圖。

圖中：1、耐壓測(cè)試儀；2、MCU控制器；3、第一繼電器；4、第二繼電器；5、第三繼電器；6、第四繼電器。

具體實(shí)施方式

參照?qǐng)D1所示，本實(shí)施例的一種耐壓測(cè)試儀自動(dòng)切換裝置，包括耐壓測(cè)試儀1的控制器，其包括MCU控制器2、第一繼電器3、第二繼電器4、第三繼電器5和第四繼電器6，MCU控制器2的輸入端與耐壓測(cè)試儀1的控制器的輸出端連接，MCU控制器2的第一輸出端連接第一繼電器3的線圈端，MCU控制器2的第二輸出端連接第二繼電器4的線圈端，MCU控制器2的第三輸出端連接第三繼電器5的線圈端，MCU控制器2的第四輸出端連接第四繼電器6的線圈端，第一繼電器3的常開觸點(diǎn)的一端和第二繼電器4的常開觸點(diǎn)的一端均與耐壓測(cè)試儀1的第一測(cè)試端連接，第三繼電器5的常開觸點(diǎn)的一端和第四繼電器6的常開觸點(diǎn)的一端均勻耐壓測(cè)試儀1的第二測(cè)試端，第一繼電器3的常開觸點(diǎn)的另一端、第二繼電器4的常開觸點(diǎn)的另一端、第三繼電器5的常開觸點(diǎn)的另一端、以及第四繼電器6的常開觸點(diǎn)的另一端均用于連接開關(guān)電源上的測(cè)試點(diǎn)。

所述第一繼電器3的常開觸點(diǎn)遠(yuǎn)離第一測(cè)試端的一端連接在開關(guān)電源的火線和零線端的測(cè)試點(diǎn)上。

所述第二繼電器4的常開觸點(diǎn)遠(yuǎn)離第一測(cè)試端的一端和第三繼電器5的常開觸點(diǎn)遠(yuǎn)離第二測(cè)試端的一端均連接在開關(guān)電源的地線殼體測(cè)試點(diǎn)上。

所述第四繼電器6的常開觸點(diǎn)遠(yuǎn)離第一測(cè)試端的一端連接在開關(guān)電源的輸出端的測(cè)試點(diǎn)上。

通過采用上述技術(shù)方案，耐壓測(cè)試儀1，繼電器第一繼電器3、第二繼電器4、第三繼電器5和第四繼電器6均由控制單元MCU控制，

當(dāng)測(cè)試輸入對(duì)地線耐壓時(shí)，第一繼電器3的常開觸點(diǎn)和 第三繼電器5的常開觸點(diǎn)閉合，第二繼電器4的常開觸點(diǎn)和第四繼電器6的常開觸點(diǎn)斷開。同時(shí)MCU控制測(cè)試儀在完成上述步驟后開始測(cè)試。

當(dāng)測(cè)試輸入對(duì)輸出耐壓時(shí)，第一繼電器3的常開觸點(diǎn)和第四繼電器6的常開觸點(diǎn)閉合，第二繼電器4的常開觸點(diǎn)和第三繼電器5的常開觸點(diǎn)斷開。同時(shí)MCU控制測(cè)試儀在完成上述步驟后開始測(cè)試。

當(dāng)測(cè)試地線對(duì)輸出耐壓時(shí)，第二繼電器4的常開觸點(diǎn)和第四繼電器6的常開觸點(diǎn)閉合，第一繼電器3的常開觸點(diǎn)和第三繼電器5的常開觸點(diǎn)斷開。同時(shí)MCU控制測(cè)試儀在完成上述步驟后開始測(cè)試。

通過MCU控制器2對(duì)繼電器進(jìn)行控制，使得用于耐壓測(cè)試儀1對(duì)開關(guān)電源上的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行耐壓測(cè)試，避免了需要手動(dòng)控制耐壓測(cè)試儀1對(duì)開關(guān)電源上的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行連接控制，提高了生產(chǎn)過程中對(duì)開關(guān)電源的耐壓測(cè)試的操作過程，進(jìn)一步提高了測(cè)試效率。

以上所述僅是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式，本實(shí)用新型的保護(hù)范圍并不僅局限于上述實(shí)施例，凡屬于本實(shí)用新型思路下的技術(shù)方案均屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型原理前提下的若干改進(jìn)和潤飾，這些改進(jìn)和潤飾也應(yīng)視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。