1.一種頻率特性測試儀，包括信號輸入模塊和顯示模塊，其特征在于，還包括掃頻信號發(fā)生器，掃頻信號發(fā)生器包括單片機和FPGA模塊，信號輸入模塊與單片機的輸入端相連，F(xiàn)PGA模塊的輸入端和顯示模塊分別與單片機的輸出端相連，F(xiàn)PGA模塊的輸出端依次連接低通濾波模塊、被測網絡、采樣調理電路、輸出波形采樣模塊和單片機的輸入端，F(xiàn)PGA模塊接收單片機發(fā)送的波形類型和頻率信息并輸出頻率可控的掃頻信號，單片機內設有存儲模塊、信號處理模塊和繼電器，輸出波形采樣模塊內設有ADC模塊。
2.根據權利要求1所述的一種頻率特性測試儀，其特征在于，所述FPGA模塊通過模擬DDS合成并輸出頻率受單片機控制的掃頻信號。
3.根據權利要求1所述的一種頻率特性測試儀，其特征在于，所述低通濾波模塊包括采用一個OPA211運放芯片制備的低通濾波電路，用于對FPGA模塊輸出的掃頻信號進行整形濾波。
4.根據權利要求1所述的一種頻率特性測試儀，其特征在于，所述被測網絡包括采用兩個OPA211運放芯片制備的有源濾波器，所述有源濾波器的截止頻率為10-100KHz。
5.根據權利要求1所述的一種頻率特性測試儀，其特征在于，所述采樣調理電路包括TILM6554放大器電路，用于對被測網絡輸出的波形進行整形調理。
6.根據權利要求1所述的一種頻率特性測試儀，其特征在于，所述ADC模塊為ADS4128芯片，用于對采樣調理電路輸出的波形進行采樣和傳送至單片機。
7.根據權利要求1所述的一種頻率特性測試儀，其特征在于，所述單片機為TM4C1294單片機，所述FPGA模塊為XC7A50T-1CSG324C。
8.根據權利要求1所述的一種頻率特性測試儀，其特征在于，所述顯示模塊為 LCD12864液晶顯示屏，通過繼電器驅動用于顯示頻率、幅度數(shù)據及特性曲線。
9.根據權利要求1所述的一種頻率特性測試儀，其特征在于，所述信號輸入模塊采用4*4矩陣鍵盤，用于輸入頻率數(shù)據和功能切換。