1.一種溫度檢測電路，其特征在于，包括：電壓調(diào)制單元和比較單元；
其中，所述比較單元的第一輸入端與基準電壓相連，第二輸入端與所述電壓調(diào)制單元的輸出端相連，用于將所述電壓調(diào)制單元輸出的電壓與所述基準電壓進行比較，并根據(jù)比較結(jié)果產(chǎn)生控制指令，以控制所述電壓調(diào)制單元進行電壓調(diào)制；
所述電壓調(diào)制單元的輸入端與所述比較單元的輸出端相連，用于接收所述比較單元輸出的控制指令，并在所述控制指令的控制下改變輸出電壓，以使所述輸出電壓與所述基準電壓逐次逼近。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，所述比較單元包括：比較器和逐次逼近寄存器；
其中，所述比較器的第一輸入端與所述基準電壓相連，第二輸入端與所述電壓調(diào)制單元的輸出端相連，輸出端與所述逐次逼近寄存器的輸入端相連，用于將所述電壓調(diào)制單元輸出的電壓與所述基準電壓進行比較，并將比較結(jié)果輸出給所述逐次逼近寄存器；
所述逐次逼近寄存器的輸出端與所述電壓調(diào)制單元的輸入端相連，用于根據(jù)所述比較結(jié)果調(diào)整溫度數(shù)字碼，并將所述溫度數(shù)字碼輸出給所述電壓調(diào)制單元，以使所述電壓調(diào)制單元根據(jù)所述溫度數(shù)字碼進行電壓調(diào)制。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電路，其特征在于，所述逐次逼近寄存器還用于根據(jù)所述比較結(jié)果直接輸出相應的溫度數(shù)字碼。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項所述的電路，其特征在于，所述電壓調(diào)制單元包括：電壓調(diào)制器和電阻串選擇電路；
其中，所述電壓調(diào)制器與所述電阻串選擇電路相連，用于為所述電阻串選擇電路產(chǎn)生一個不會溢出的正向端調(diào)制電壓；
所述電阻串選擇電路用于根據(jù)所述控制指令選擇對應的電阻電壓，以使所述電壓調(diào)制單元的輸出電壓與所述基準電壓逐次逼近。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電路，其特征在于，還包括：基準電壓產(chǎn)生單元，用于產(chǎn)生所述基準電壓。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電路，其特征在于，所述基準電壓為flash芯片的一個隨溫度線性變化的電壓。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電路，其特征在于，還包括：放大單元，用于對所述隨溫度線性變化的電壓進行放大。