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一種惠斯通全橋檢測(cè)電路的制作方法

文檔序號(hào):11590217閱讀:902來(lái)源:國(guó)知局

本實(shí)用新型屬于傳感檢測(cè)電路的技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種具有惠斯通電橋的傳感檢測(cè)電路。



背景技術(shù):

惠斯通全橋電路是一種常見的傳感器檢測(cè)電路,廣泛用于工業(yè)、醫(yī)療、消費(fèi)電子等各個(gè)領(lǐng)域,檢測(cè)信號(hào)影響電橋中的電阻阻值,通過(guò)檢測(cè)電阻阻值的變化可以反應(yīng)出檢測(cè)信號(hào)的變化。

傳統(tǒng)的惠斯通全橋電路如圖1所示,包含4個(gè)應(yīng)變電阻(R1~R4),在a、b端接入恒定參考電壓源VS,在c、d端輸出差分信號(hào)(S+、S-)接入ADC采樣接口。根據(jù)電阻分壓原理,當(dāng)4個(gè)應(yīng)變電阻阻值發(fā)生改變時(shí),差分信號(hào)也會(huì)隨之發(fā)生變化,從而可以檢測(cè)出使電阻發(fā)生變化的外部應(yīng)力大小。

而當(dāng)系統(tǒng)中接入多組全橋電路時(shí),需要的ADC采樣接口數(shù)量則以N x 2倍數(shù)方式增加,如圖2所示。每個(gè)惠斯通全橋電路連接于一個(gè)ADC。

當(dāng)這種電路檢測(cè)方式應(yīng)用在對(duì)信號(hào)檢測(cè)精度要求不高、檢測(cè)通道數(shù)量較多的系統(tǒng)中時(shí),必然會(huì)提高產(chǎn)品成本,降低市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

基于此,因此本實(shí)用新型的首要目地是提供一種惠斯通全橋檢測(cè)電路,該電路能夠有效地減小ADC接口的數(shù)量,大大減少了ADC芯片的使用數(shù)量,為產(chǎn)品應(yīng)用節(jié)省成本。

本實(shí)用新型的另一個(gè)目地在于提供一種惠斯通全橋檢測(cè)電路,該電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)便,成本低廉。

為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型的技術(shù)方案為:

一種惠斯通全橋檢測(cè)電路,其包括有惠斯通全橋電路,其特征在于所述檢測(cè)電路包含N組惠斯通全橋電路;且所述N組惠斯通全橋電路共用同一路參考電源VS。由此,采用共享ADC的方式,將N組惠斯通全橋電路組合起來(lái),能夠大大減少了ADC芯片的使用數(shù)量,降低產(chǎn)品成本。

進(jìn)一步,所述N組惠斯通全橋電路中差分信號(hào)負(fù)極(S-)接入同一個(gè)ADC接口,差分信號(hào)正極(S+)分別接入ADC的不同接口;也就是說(shuō),差分信號(hào)正極(S+)并聯(lián)接入ADC。

進(jìn)一步,不同差分信號(hào)正極(S+)與公共差分信號(hào)負(fù)極(S-)構(gòu)成各組惠斯通全橋電路的差分信號(hào)正負(fù)端,通過(guò)ADC芯片采樣通道為S+、S-對(duì)該路差分信號(hào)進(jìn)行ADC信號(hào)轉(zhuǎn)換。

進(jìn)一步,所述惠斯通全橋電路與主控芯片連接,主控芯片為10188SOC芯片,該SOC芯片包含8位RISC MCU、5路單端輸入24-bits ADC、內(nèi)置16MHz振蕩器,其中5路單端輸入ADC通道可將其中1路做成公共端,其余4路與公共端構(gòu)成差分輸入檢測(cè)模式。

芯片通道AIN0作為公共引腳,接入N組惠斯通全橋電路差分負(fù)端(S-),N組全橋應(yīng)變電路差分正端(S1+~Sn+)分別接入芯片引腳AIN1、AIN2、……和AINn。

本實(shí)用新型所實(shí)現(xiàn)的惠斯通全橋檢測(cè)電路通過(guò)差分信號(hào)負(fù)端共用的方式,將原ADC接口數(shù)量由N*2個(gè)變?yōu)镹+1個(gè),大大減少了ADC芯片的使用數(shù)量,為產(chǎn)品應(yīng)用節(jié)省成本。

附圖說(shuō)明

圖1是現(xiàn)有技術(shù)方式一所實(shí)施的電路圖。

圖2是現(xiàn)有技術(shù)方式二所實(shí)施的電路圖。

圖3是本實(shí)用新型所實(shí)施的電路圖。

圖4是本實(shí)用新型所實(shí)施的應(yīng)用示意圖。

具體實(shí)施方式

為了使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白,以下結(jié)合附圖及實(shí)施例,對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解,此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本實(shí)用新型,并不用于限定本實(shí)用新型。

如圖3所示,本實(shí)用新型所實(shí)現(xiàn)的惠斯通全橋檢測(cè)電路,在該電路中可包含N組惠斯通全橋結(jié)構(gòu);其中,

各組惠斯通全橋結(jié)構(gòu)中共用同一路參考電源VS。

各組惠斯通全橋結(jié)構(gòu)中差分信號(hào)負(fù)極(S-)接入同一個(gè)ADC接口,差分信號(hào)正極(S+)分別接入ADC的不同接口。

不同差分信號(hào)正極(S+)與公共差分信號(hào)負(fù)極(S-)構(gòu)成各組惠斯通全橋電路的差分信號(hào)正負(fù)端。

通過(guò)依次配重ADC芯片采樣通道為S+、S-,對(duì)該路差分信號(hào)進(jìn)行ADC信號(hào)轉(zhuǎn)換,直至所有通道均轉(zhuǎn)換完成。

圖4為具體應(yīng)用的電路圖,惠斯通全橋電路與主控芯片連接,主控芯片采用芯??萍纪瞥龅?0188SOC芯片,該SOC芯片包含8位RISC MCU、5路單端輸入24-bits ADC、內(nèi)置16MHz振蕩器,其中5路單端輸入ADC通道可將其中1路做成公共端,其余4路與公共端構(gòu)成差分輸入檢測(cè)模式。

電路圖中為4組惠斯通全橋檢測(cè)電路,將芯片通道AIN0作為公共引腳,接入四組全橋應(yīng)變電路差分負(fù)端(S-),四組全橋應(yīng)變電路差分正端(S1+~S4+)分別接入芯片引腳AIN1、AIN2、AIN3和AIN4。

由此,依次采集各組全橋電路的信號(hào)轉(zhuǎn)換值:

1)配置10188采樣寄存器,設(shè)置ADC采樣差分通道為AIN1與AIN0,啟動(dòng)ADC轉(zhuǎn)換功能,完成第1組應(yīng)變電路信號(hào)采樣轉(zhuǎn)換。

2)配置10188采樣寄存器,設(shè)置ADC采樣差分通道為AIN2與AIN0,啟動(dòng)ADC轉(zhuǎn)換功能,完成第2組應(yīng)變電路信號(hào)采樣轉(zhuǎn)換。

3)配置10188采樣寄存器,設(shè)置ADC采樣差分通道為AIN3與AIN0,啟動(dòng)ADC轉(zhuǎn)換功能,完成第3組應(yīng)變電路信號(hào)采樣轉(zhuǎn)換。

4)配置10188采樣寄存器,設(shè)置ADC采樣差分通道為AIN4與AIN0,啟動(dòng)ADC轉(zhuǎn)換功能,完成第4組應(yīng)變電路信號(hào)采樣轉(zhuǎn)換。

本實(shí)用新型所實(shí)現(xiàn)的惠斯通全橋檢測(cè)電路通過(guò)差分信號(hào)負(fù)端共用的方式,將原ADC接口數(shù)量由N*2個(gè)變?yōu)镹+1個(gè),大大減少了ADC芯片的使用數(shù)量,為產(chǎn)品應(yīng)用節(jié)省成本。

該電路可應(yīng)用在對(duì)檢測(cè)精度要求不高、對(duì)成本要求低的應(yīng)用場(chǎng)合。

以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已,并不用以限制本實(shí)用新型,凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。

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