技術(shù)總結(jié)
一種探測(cè)器檢測(cè)系統(tǒng)，包含一個(gè)探測(cè)裝置及一個(gè)檢測(cè)裝置。該探測(cè)裝置包括一個(gè)具有一個(gè)基壁的固定座、一個(gè)能夠拆卸地安裝于該固定座的活動(dòng)座，及一個(gè)電極單元。該電極單元具有多個(gè)環(huán)繞設(shè)置的環(huán)形電極組，及多個(gè)設(shè)置于該活動(dòng)座且分別與所述環(huán)形電極組形成電連接的接觸電極。該檢測(cè)裝置包括一個(gè)伸縮桿組、一個(gè)檢測(cè)盤、多個(gè)電線及一端子臺(tái)。該檢測(cè)盤具有一個(gè)本體，及多個(gè)間隔設(shè)置于該本體且對(duì)應(yīng)于所述環(huán)形電極組的測(cè)試電極。所述電線分別連接所述測(cè)試電極。該端子臺(tái)具有多個(gè)分別電連接所述電線的檢測(cè)端。通過(guò)設(shè)置該伸縮桿組及該檢測(cè)盤，提升檢測(cè)的安全性，并通過(guò)設(shè)置所述環(huán)形電極組，使每一個(gè)測(cè)試電極鄰接于相對(duì)應(yīng)的該環(huán)形電極組的任意處皆能夠量測(cè)。

技術(shù)研發(fā)人員：黃英學(xué);紀(jì)人豪;楊冠雄
受保護(hù)的技術(shù)使用者：黃英學(xué)
文檔號(hào)碼：201621254621
技術(shù)研發(fā)日：2016.11.22
技術(shù)公布日：2017.07.21