本實(shí)用新型涉及電纜性能檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種電纜金屬屏蔽層和導(dǎo)體電阻比測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

隨著我國城市電網(wǎng)的逐步發(fā)展，電力電纜的應(yīng)用越來越廣泛。電纜的結(jié)構(gòu)包括三相電纜芯，即三相導(dǎo)體，三相導(dǎo)體外部設(shè)有絕緣層和保護(hù)層，以及采用金屬材料制成的屏蔽層。

在制作電纜施工或運(yùn)行中電纜受外力及化學(xué)腐蝕等原因，可能導(dǎo)致電纜的金屬屏蔽層不連續(xù)或受損，甚至出現(xiàn)某一相或三相整段無金屬屏蔽層或金屬屏蔽層受損的現(xiàn)象；還有電氣安裝單位在做接頭時，接頭兩端的金屬屏蔽層接觸不良或電纜接頭處導(dǎo)體接觸不良等，從而導(dǎo)致電纜屏蔽層這些異常點(diǎn)處的電阻增大，在電纜運(yùn)行的過程中，這些異常點(diǎn)的端電位便會增大，導(dǎo)致出現(xiàn)局部放電的現(xiàn)象，甚至?xí)斐呻娎|故障。因此，為了防止出現(xiàn)上述問題，需要測試電纜金屬屏蔽層和導(dǎo)體的電阻比，同時測量金屬屏蔽層電阻和導(dǎo)體電阻比也為以后的預(yù)防性試驗(yàn)提供參考值，作為電纜是否受損的依據(jù)。

目前對電纜金屬屏蔽層與導(dǎo)體的電阻比進(jìn)行測試時，其測試裝置如圖1所示，采用短接導(dǎo)線將待測電纜1的第一相導(dǎo)體后端、金屬屏蔽層后端分別與第二相導(dǎo)體后端進(jìn)行短接，然后對第一相導(dǎo)體的前端施加電壓，分別測試出金屬屏蔽層前端與第二相導(dǎo)體前端之間的電壓U1，以及第一相導(dǎo)體與第二相導(dǎo)體之間的電壓U2，U1即為金屬屏蔽層兩端的電壓，U2即為第一相導(dǎo)體兩端的電壓；由于第一相導(dǎo)體與金屬屏蔽層串聯(lián)，所以電壓U1與U2之比即為待測電纜屬屏蔽層與導(dǎo)體的電阻比。

采用這種測試裝置進(jìn)行測試時，采用第二相導(dǎo)體作為測試電壓時的測試線，減少了測試的難度，方便操作。但是在測試時，由于第一相導(dǎo)體后端與第二相導(dǎo)體后端之間的短接導(dǎo)線自身存在電阻，所以上述測得的電壓值U2比第一相導(dǎo)體實(shí)際的電壓值之間存在偏差，同樣由于第二相導(dǎo)體后端與金屬屏蔽層后端的短接線其自身存在電阻，所以U1比金屬屏蔽層實(shí)際的電壓值之間也存在偏差，因此采用電壓U1和U2所求得的待測電纜屬屏蔽層與導(dǎo)體的電阻比與待測電纜屬屏蔽層與導(dǎo)體實(shí)際的電阻比之間存在較大的偏差。由此可見，這種測試裝置的精確度較低，所測得的待測電纜屬屏蔽層與導(dǎo)體的電阻比存在的誤差較大。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型提供一種電纜金屬屏蔽層和導(dǎo)體電阻比測試系統(tǒng)，用于解決上述測試現(xiàn)有的測試裝置在對電纜屬屏蔽層與導(dǎo)體的電阻比進(jìn)行測試時誤差較大的問題。

一種電纜金屬屏蔽層和導(dǎo)體電阻比測試系統(tǒng)，包括一個電源和一個短接裝置；所述電源連接一對用于提供測試電流的電流端子，這一對電流端子分別用于連接待測電纜的第一相導(dǎo)體前端和金屬屏蔽層前端；所述短接裝置用于將第一相導(dǎo)體后端與金屬屏蔽層后端短接，第二相導(dǎo)體后端與第一相導(dǎo)體后端短接，金屬屏蔽層后端與第三相導(dǎo)體后端短接；所述測試系統(tǒng)還包括電壓檢測單元，用于檢測第一相導(dǎo)體前端和第二相導(dǎo)體前端之間的電壓，以及第三相導(dǎo)體前端與金屬屏蔽層前端之間的電壓。

本實(shí)用新型所提供的一種電纜金屬屏蔽層和導(dǎo)體電阻比測試系統(tǒng)，采用短接裝置將第一相導(dǎo)體后端與金屬屏蔽層后端進(jìn)行短接后，再將第二相導(dǎo)體后端與第一相導(dǎo)體后端、第三相導(dǎo)體后端與金屬屏蔽層后端分別單獨(dú)進(jìn)行短接，此時電壓檢測單元能夠消除短接線及接觸面電阻的影響，進(jìn)而測出第一相導(dǎo)體和金屬屏蔽層實(shí)際的電壓值，因此能夠減少對電纜屬屏蔽層與導(dǎo)體電阻比進(jìn)行測試時誤差較大的問題。

進(jìn)一步的，所述電壓檢測單元連接有第一電壓檢測端口、第二電壓檢測端口、第三電壓檢測端口和第四電壓檢測端口，分別用于連接待測電纜的第一相導(dǎo)體前端、第二相導(dǎo)體前端、第三相導(dǎo)體前端和金屬屏蔽層前端；電壓檢測單元用于檢測第一電壓檢測端口和第二電壓檢測端口之間的電壓，以及第三電壓檢測端口和第四電壓檢測端口之間的電壓。

設(shè)置四個電壓檢測端口即能滿足對電纜金屬屏蔽層和導(dǎo)體電阻比測試的需求，方便用戶操作。

進(jìn)一步的，所述第一電壓檢測端口、第四電壓檢測端口與所述一對電流端子分別短接或者共用。

將測試端和輸出端進(jìn)行合并，能夠減少檢測裝置端口的數(shù)量，從而進(jìn)一步降低測試電纜金屬屏蔽層與導(dǎo)體電阻比時的操作難度。

進(jìn)一步的，所述一對電流端子、第一電壓檢測端口、第二電壓檢測端口、第三電壓檢測端口和第四電壓檢測端口均設(shè)有相應(yīng)的標(biāo)識。

進(jìn)一步的，所述短接裝置設(shè)有用于連接待測電纜各相導(dǎo)體后端和金屬屏蔽層后端的端口，并且所述各端口均設(shè)有相應(yīng)的標(biāo)識。

在電流端子、電壓檢測端口和短接裝置的端口設(shè)置相應(yīng)的標(biāo)識，能夠防止用戶在接線時出現(xiàn)錯誤。

進(jìn)一步的，所述測試系統(tǒng)還包括與電源串聯(lián)的、用于穩(wěn)定電源輸出電流的穩(wěn)流裝置。

設(shè)置穩(wěn)流裝置能夠防止測試過程中電壓檢測單元測得的電壓值出現(xiàn)不穩(wěn)定的現(xiàn)象，保證檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性。

進(jìn)一步的，所述測試系統(tǒng)還包括與穩(wěn)流裝置串聯(lián)的電流檢測裝置。

設(shè)置電流檢測裝置，能夠檢測出流過金屬屏蔽層和導(dǎo)體的電流，進(jìn)而能夠求出金屬屏蔽層和導(dǎo)體的電阻。

進(jìn)一步的，所述測試系統(tǒng)還設(shè)有處理器和顯示裝置，處理器采樣連接電壓檢測單元，并且通訊連接顯示裝置；處理器用于根據(jù)電壓檢測單元檢測到的電壓值計算出待測電纜金屬屏蔽層電阻和導(dǎo)體電阻比，顯示裝置用于顯示處理器計算出的被測電纜金屬屏蔽層電阻和導(dǎo)體電阻比和導(dǎo)體電阻、金屬屏蔽層電阻。

采用處理器根據(jù)電流檢測裝置檢測到的數(shù)據(jù)和電壓檢測裝置檢測到的數(shù)據(jù)計算出待測電纜金屬屏蔽層電阻和導(dǎo)體電阻比和待測電纜金屬屏蔽層電阻和導(dǎo)體電阻，并將其通過顯示裝置實(shí)施顯示出來，能夠方便使用者及時的查看測試結(jié)果。

附圖說明

圖1為現(xiàn)有技術(shù)待測電纜金屬屏蔽層和導(dǎo)體電阻比測試裝置系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖；

圖2為實(shí)施例中待測電纜金屬屏蔽層和導(dǎo)體電阻比測試裝置系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖；

圖3為實(shí)施例中短接裝置的內(nèi)部接線圖；

圖4為測試銅金屬屏蔽層和導(dǎo)體電阻的等效電路圖；

圖5為端口共用時待測電纜金屬屏蔽層和導(dǎo)體電阻比測試裝置系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖。

具體實(shí)施方式

本實(shí)用新型提供一種電纜金屬屏蔽層和導(dǎo)體電阻比測試系統(tǒng)，用于解決上述測試現(xiàn)有的測試裝置在對電纜屬屏蔽層與導(dǎo)體的電阻比進(jìn)行測試時誤差較大的問題。

一種電纜金屬屏蔽層和導(dǎo)體電阻比測試系統(tǒng)，包括一個電源和一個短接裝置；所述電源連接一對用于提供測試電流的電流端子，這一對電流端子分別用于連接待測電纜的第一相導(dǎo)體前端和金屬屏蔽層前端；所述短接裝置用于將第一相導(dǎo)體后端與金屬屏蔽層后端短接，第二相導(dǎo)體后端與第一相導(dǎo)體后端短接，金屬屏蔽層后端與第三相導(dǎo)體后端短接；所述測試系統(tǒng)還包括電壓檢測單元，用于檢測第一相導(dǎo)體前端和第二相導(dǎo)體前端之間的電壓，以及第三相導(dǎo)體前端與金屬屏蔽層前端之間的電壓。

本實(shí)用新型所提供的一種電纜金屬屏蔽層和導(dǎo)體電阻比測試系統(tǒng)，采用短接裝置將第一相導(dǎo)體后端與金屬屏蔽層后端進(jìn)行短接后，再將第二相導(dǎo)體后端與第一相導(dǎo)體后端、第三相導(dǎo)體后端與第三相導(dǎo)體后端分別單獨(dú)進(jìn)行短接，此時電壓檢測單元能夠消除短接線的影響，進(jìn)而測出第一相導(dǎo)體和金屬屏蔽層實(shí)際的電壓值，因此能夠減少對電纜屬屏蔽層與導(dǎo)體電阻比進(jìn)行測試時誤差較大的問題。

下面結(jié)合附圖對本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)說明。

本實(shí)施例提供的一種電纜金屬屏蔽層和導(dǎo)體電阻比測試系統(tǒng)，其結(jié)構(gòu)如圖2所示，包括電源、穩(wěn)流電路、電流檢測裝置、第一電壓檢測裝置、第二電壓檢測裝置、短接裝置、第一電壓檢測端口21、第二電壓檢測端口22、第三電壓檢測端口23、第四電壓檢測端口24、處理器和顯示裝置。其中第一電壓檢測裝置和第二電壓檢測裝置為電壓檢測單元，待測電纜1的金屬屏蔽層采用銅屏蔽層，待測電纜1被測的一端為前端，另一端為后端。

電源供電連接處理器和顯示裝置，處理器采集連接電流檢測裝置、第一電壓檢測裝置和第二電壓檢測裝置，處理器還通訊連接顯示裝置，顯示裝置設(shè)有顯示界面。

電源的一端經(jīng)過穩(wěn)流電路后連接第一電流端子01，在穩(wěn)流電路連接第一電流端子01的線路上述串設(shè)有電流檢測裝置，電源的另一端連接第二電流端子02，第一電流端子01連接待測電纜第一相導(dǎo)體的前端，第二電流端子02連接待測電纜金屬屏蔽層的前端。第一電壓檢測裝置連接第一電壓檢測端口21和第二電壓檢測端口22，第二電壓檢測裝置連接第三電壓檢測端口23和第四電壓檢測端口24。

第一電壓檢測端口21、第二電壓檢測端口22、第三電壓檢測端口23和第四電壓檢測端口24分別連接待測電纜第一相導(dǎo)體前端，第二相導(dǎo)體前端，第三相導(dǎo)體前端和金屬屏蔽層前端。

短接裝置3設(shè)有第一短接端口31、第二短接端口32、第三短接端口33和第四短接端口34，這些短接端口在短接裝置3中的連接方式如圖3所示，其中第一短接端口31和第四短接端口34均設(shè)有兩個端子，第一短接端口31與第四短接端口34之間采用短接線104進(jìn)行短接，第二短接端口32與第一短接端口31之間采用短接線102進(jìn)行短接，第三短接端口33與第四短接端口34之間采用短接線304進(jìn)行短接。

短接裝置3的第一短接端口31、第二短接端口32、第三短接端口33和第四短接端口34分別連接待測線纜1的第一相導(dǎo)體后端、第二相導(dǎo)體后端、第三相導(dǎo)體后端和金屬屏蔽層后端。

設(shè)第一單體的電阻為R_A，銅屏蔽層的電阻為R_P，本實(shí)施例所提供的一種電纜金屬屏蔽層和導(dǎo)體電阻比測試系統(tǒng)，測量待測電纜金屬屏蔽層和導(dǎo)體電阻比的等效電路圖如圖4所示，設(shè)第一電壓檢測裝置檢測的電壓值為U₁，第一電壓檢測裝置檢測的電壓值為U₂，則待測電纜1的銅屏蔽層和第一相導(dǎo)體的電阻比為

在本實(shí)施例中，第一電壓檢測端口21和第一電流端子01，第四電壓檢測端口24和第二電流端子02分別單獨(dú)設(shè)置，這樣可以提高測試結(jié)果的精度；作為本實(shí)用新型的其他實(shí)施方式，當(dāng)待測電纜比較長時，為了方便接線，可以將第一電壓檢測端口21和第一電流端子01，第四電壓檢測端口24和第二電流端子02進(jìn)行短接或共用，如圖5所示。

作為其他實(shí)施方式，可以將檢測裝置的各電流端子、電壓檢測端口和短接裝置3的各短接端口采用文字、顏色等進(jìn)行標(biāo)識，如第一電流端子01設(shè)置“+”符號標(biāo)識，第二電流端子02設(shè)置“-”符號標(biāo)識；短接裝置3的第一短接端口31采用黃色、第二短接端口32采用綠色、第三短接端口33紅色和第四短接端口34采用紫色，第一電壓檢測端口21、第二電壓檢測端口22、第三電壓檢測端口23和第四電壓檢測端口24也分別采用黃、綠、紅、紫色，接線時按照電壓測試端口和短接裝置3的各端口的顏色對應(yīng)連接待測電纜，從而減少操作難度。

在本實(shí)施例中，為了能夠檢測到待測電纜銅屏蔽層和各相導(dǎo)體的電阻值，在測試系統(tǒng)中增設(shè)了電流檢測裝置；作為其他實(shí)施方式，如果不需要讀取被測電纜銅屏蔽層和各相導(dǎo)體的電阻值，則不設(shè)置電流檢測裝置。

在本實(shí)施例中，采用處理器計算出待測電纜的銅屏蔽層和導(dǎo)體的電阻比之后將其顯示在顯示裝置的顯示界面上；作為其他實(shí)施方式，第一電壓檢測裝置和第二電壓檢測裝置可以采用電壓表，讀取U₁和U₂后人工計算出待測電纜的銅屏蔽層和導(dǎo)體的電阻比。

以上給出了本實(shí)用新型涉及的具體實(shí)施方式，但本實(shí)用新型不局限于所描述的實(shí)施方式。在本實(shí)用新型給出的思路下，采用對本領(lǐng)域技術(shù)人員而言容易想到的方式對上述實(shí)施例中的技術(shù)手段進(jìn)行變換、替換、修改，并且起到的作用與本實(shí)用新型中的相應(yīng)技術(shù)手段基本相同、實(shí)現(xiàn)的實(shí)用新型目的也基本相同，這樣形成的技術(shù)方案是對上述實(shí)施例進(jìn)行微調(diào)形成的，這種技術(shù)方案仍落入本實(shí)用新型的保護(hù)范圍內(nèi)。