1.一種分光耦合裝置，其特征在于，包括第一分光鏡、第一全反射鏡、第一光調(diào)節(jié)器、第二光調(diào)節(jié)器以及光電探測(cè)器，
目標(biāo)發(fā)出的輻射光入射到所述第一分光鏡，一部分所述輻射光經(jīng)所述第一分光鏡反射到所述第一光調(diào)節(jié)器，經(jīng)所述第一光調(diào)節(jié)器處理為第一預(yù)設(shè)波長(zhǎng)范圍的光束并會(huì)聚到所述光電探測(cè)器；另一部分所述輻射光透過所述第一分光鏡入射到所述第一全反射鏡，經(jīng)所述第一全反射鏡反射后入射到所述第二光調(diào)節(jié)器，經(jīng)所述第二光調(diào)節(jié)器處理為第二預(yù)設(shè)波長(zhǎng)范圍的光束并會(huì)聚到所述光電探測(cè)器。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，還包括像增強(qiáng)器，所述像增強(qiáng)器設(shè)置在所述第一光調(diào)節(jié)器與所述光電探測(cè)器之間及所述第二光調(diào)節(jié)器與所述光電探測(cè)器之間的光傳播路徑中。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，還包括第二分光鏡、第二全反射鏡及第三光調(diào)節(jié)器，經(jīng)所述第一分光鏡反射后的所述輻射光入射到所述第二分光鏡，一部分所述輻射光透過所述第二分光鏡入射到所述第一光調(diào)節(jié)器，另一部分所述輻射光經(jīng)所述第二分光鏡反射后由所述第三光調(diào)節(jié)器處理為第三預(yù)設(shè)波長(zhǎng)范圍的光束并會(huì)聚到所述像增強(qiáng)器。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的裝置，其特征在于，所述第一預(yù)設(shè)波長(zhǎng)范圍、所述第二預(yù)設(shè)波長(zhǎng)范圍和所述第三預(yù)設(shè)波長(zhǎng)范圍不盡相同。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的裝置，其特征在于，還包括第三分光鏡、第三全反射鏡及第四光調(diào)節(jié)器，入射到所述第一全反射鏡的所述輻射光經(jīng)所述第一全反射鏡反射后入射到所述第三分光鏡，一部分入射到所述第三分光鏡的所述輻射光透過所述第三分光鏡入射到所述第二光調(diào)節(jié)器，另一部分入射到所述第三分光鏡的所述輻射光經(jīng)所述第三 分光鏡反射后由所述第四光調(diào)節(jié)器處理為第四預(yù)設(shè)波長(zhǎng)范圍的光束并會(huì)聚到所述像增強(qiáng)器。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，所述第一預(yù)設(shè)波長(zhǎng)范圍、所述第二預(yù)設(shè)波長(zhǎng)范圍、所述第三預(yù)設(shè)波長(zhǎng)范圍和所述第四預(yù)設(shè)波長(zhǎng)范圍不盡相同。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，還包括第二分光鏡、第二全反射鏡、第三光調(diào)節(jié)器，入射到所述第一全反射鏡的所述輻射光經(jīng)所述第一全反射鏡反射后入射到所述第二分光鏡，一部分入射到所述第二分光鏡的所述輻射光透過所述第二分光鏡入射到所述第一光調(diào)節(jié)器，另一部分入射到所述第二分光鏡的所述輻射光經(jīng)所述第二分光鏡反射后由所述第三光調(diào)節(jié)器處理為第三預(yù)設(shè)波長(zhǎng)范圍的光束并會(huì)聚到所述像增強(qiáng)器。
8.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的裝置，其特征在于，所述第一預(yù)設(shè)波長(zhǎng)范圍與所述第二預(yù)設(shè)波長(zhǎng)范圍不盡相同。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述光電探測(cè)器包括多個(gè)子探測(cè)器，且所述多個(gè)子探測(cè)器的工作波段不盡相同。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，所述光電探測(cè)器為電荷耦合器件探測(cè)器陣列。