技術總結
本發(fā)明提供一種圓偏光面板檢測方法及圓偏光面板檢測裝置。該圓偏光面板檢測方法根據(jù)波長分散性的原理，以一預設角度為間隔旋轉檢偏器(3)內的偏光片(31)，圓偏光面板(1)發(fā)出的光線經(jīng)偏光片(31)與退偏濾片(33)進入光譜儀(5)，每旋轉一次偏光片(31)，使用光譜儀(5)測量一次全光譜，然后根據(jù)光譜儀(5)測量到的全光譜數(shù)據(jù)便能夠計算得到圓偏光波長、及圓偏光延遲量值，從而能夠較快速準確地測量面板的圓偏光特性，對圓偏光面板品質進行評估，有效監(jiān)控圓偏光面板模組制程。

技術研發(fā)人員：徐亮;林奇穎
受保護的技術使用者：武漢華星光電技術有限公司
文檔號碼：201611230328
技術研發(fā)日：2016.12.27
技術公布日：2017.05.17