本發(fā)明涉及顯示面板檢測領域，尤其涉及一種圓偏光面板檢測方法及圓偏光面板檢測裝置。

背景技術：

隨著顯示技術的發(fā)展，液晶顯示面板(Liquid Crystal Display，LCD)與有機發(fā)光二極管顯示面板(Organic Light Emitting Diode，OLED)等平板顯示器件已經(jīng)逐步取代CRT顯示器。

LCD面板具有厚度薄、省電、無輻射等眾多優(yōu)點，得到了廣泛地應用：如：液晶電視、移動電話、個人數(shù)字助理(PDA)、數(shù)字相機、計算機屏幕或筆記本電腦屏幕等。

OLED面板具有自發(fā)光、驅(qū)動電壓低、發(fā)光效率高、響應時間短、清晰度與對比度高、近180°視角、使用溫度范圍寬，可實現(xiàn)柔性顯示與大面積全色顯示等諸多優(yōu)點，被業(yè)界公認為最有發(fā)展?jié)摿Α?/p>

然而，當在戶外或在室內(nèi)強光下使用LCD面板或OLED面板時，經(jīng)常會因為外界光線過強，面板所顯示的影像畫面無法發(fā)揮較佳的能見度，造成用戶無法清楚地觀看該影像畫面，此外，面板表面還會因強光反射而映出強光的影像，進一步破壞了用戶的觀賞體驗，且不利于用戶的眼睛健康。

為解決上述問題，在顯示面板表面貼附圓偏光片的圓偏光面板應運而生。圓偏光片是一種由直線偏光片和1/4波長的光學延遲片組成的光學元件，能夠?qū)⑷肷涞淖匀还廪D(zhuǎn)變?yōu)槠夤廨S隨光的前行而呈螺旋變化的圓偏振光。圓偏光面板可以提高影像的清晰度和表現(xiàn)力，消除有害的反射光，且具有健康護眼效果。

目前，對圓偏光面板成品效果的檢測，尤其是對面板圓偏光特性的檢測，尚未有較好的方法。

現(xiàn)有的圓偏光檢測設備價格高，僅能逐一測量單個波長，且僅能測試透光的樣品，無法準確測試現(xiàn)有的圓偏光面板產(chǎn)品。

技術實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種圓偏光面板檢測方法，能夠較快速準確地測量面板的圓偏光特性，對圓偏光面板品質(zhì)進行評估，有效監(jiān)控圓偏光面板模組制程。

本發(fā)明的另一目的在于提供一種圓偏光面板檢測裝置，利用該裝置能夠較快速準確地測量面板的圓偏光特性。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明首先提供一種圓偏光面板檢測方法，包括如下步驟：

步驟S1、提供待檢測的圓偏光面板、及置于圓偏光面板出光側(cè)的圓偏光面板檢測裝置；

所述圓偏光面板檢測裝置包括檢偏器、及置于檢偏器后方的光譜儀；

所述檢偏器包括偏光片、及快軸方向與偏光片的光軸方向呈一固定角度夾角的退偏濾片；

步驟S2、開啟圓偏光面板使其發(fā)光，以一預設角度為間隔旋轉(zhuǎn)檢偏器內(nèi)的偏光片，光線經(jīng)偏光片與退偏濾片進入光譜儀，每旋轉(zhuǎn)一次偏光片，使用光譜儀測量一次全光譜；

步驟S3、根據(jù)光譜儀測量到的全光譜數(shù)據(jù)計算相對均方根偏差最小的波長λ0，得到圓偏光波長。

所述圓偏光面板檢測方法還包括步驟S4、計算圓偏光延遲量值、及波長延遲量值。

所述步驟S4中計算圓偏光延遲量值使用的計算公式為：

當λ≤λ0時；

當λ>λ0時；

其中：

S_λ0(min)、S_λ0(max)分別為波長λ0的光隨檢偏器內(nèi)的偏光片的角度變化時測量到光譜輻射強度的最大值、最小值；

θ為圓偏光延遲量值；S_λ(min)、S_λ(max)分別為任一波長λ的可見光隨檢偏器內(nèi)的偏光片的角度變化時測量到的光譜輻射強度的最大值、最小值；

所述步驟S4中計算波長延遲量值使用的計算公式為：

其中，Re為波長延遲量值，θ為圓偏光延遲量值，λ為可見光的任一波長。

所述偏光片的光軸方向與退偏濾片的快軸方向呈+45°、或-45°的夾角。

所述步驟S2以5°或10°為間隔旋轉(zhuǎn)檢偏器內(nèi)的偏光片。

所述光譜儀為光纖光譜儀，其光纖末端設置有積分球。

本發(fā)明還提供一種圓偏光面板檢測裝置，包括檢偏器、及置于檢偏器后方的光譜儀；

所述檢偏器包括偏光片、及快軸方向與偏光片的光軸方向呈一固定角度夾角的退偏濾片；所述偏光片能夠以一預設角度為間隔旋轉(zhuǎn)。

所述偏光片的光軸方向與退偏濾片的快軸方向呈+45°、或-45°的夾角。

所述偏光片能夠以5°或10°為間隔旋轉(zhuǎn)。

所述光譜儀為光纖光譜儀，其光纖末端設置有積分球。

本發(fā)明的有益效果：本發(fā)明提供的一種圓偏光面板檢測方法，根據(jù)波長分散性的原理，以一預設角度為間隔旋轉(zhuǎn)檢偏器內(nèi)的偏光片，圓偏光面板發(fā)出的光線經(jīng)偏光片與退偏濾片進入光譜儀，每旋轉(zhuǎn)一次偏光片，使用光譜儀測量一次全光譜，然后根據(jù)光譜儀測量到的全光譜數(shù)據(jù)便能夠計算得到圓偏光波長、及圓偏光延遲量值，從而能夠較快速準確地測量面板的圓偏光特性，對圓偏光面板品質(zhì)進行評估，有效監(jiān)控圓偏光面板模組制程。本發(fā)明提供的一種圓偏光面板檢測裝置，設置有檢偏器、及光譜儀，檢偏器內(nèi)的偏光片能夠以一預設角度為間隔旋轉(zhuǎn)，光譜儀配合偏光片的旋轉(zhuǎn)來測量全光譜，能夠較快速準確地測量面板的圓偏光特性。

附圖說明

為了能更進一步了解本發(fā)明的特征以及技術內(nèi)容，請參閱以下有關本發(fā)明的詳細說明與附圖，然而附圖僅提供參考與說明用，并非用來對本發(fā)明加以限制。

附圖中，

圖1為本發(fā)明的圓偏光面板檢測方法的流程圖；

圖2為本發(fā)明的圓偏光面板檢測裝置的示意簡圖；

圖3為本發(fā)明的圓偏光面板檢測裝置中檢偏器的結(jié)構簡圖；

圖4為本發(fā)明的圓偏光面板檢測裝置的檢偏器中偏光片的光軸方向與退偏濾片快軸方向呈固定角度夾角的示意圖；

圖5為本發(fā)明的圓偏光面板檢測方法的步驟S3的示意圖。

具體實施方式

為更進一步闡述本發(fā)明所采取的技術手段及其效果，以下結(jié)合本發(fā)明的優(yōu)選實施例及其附圖進行詳細描述。

請參閱圖1，本發(fā)明首先提供一種圓偏光面板檢測方法，包括如下步驟：

步驟S1、結(jié)合圖2，提供待檢測的圓偏光面板1、及置于圓偏光面板1出光側(cè)的圓偏光面板檢測裝置；

所述圓偏光面板檢測裝置包括檢偏器3、及置于檢偏器3后方的光譜儀5。

如圖3與圖4所示，所述檢偏器3包括偏光片31、及快軸方向與偏光片31的光軸方向呈一固定角度夾角的退偏濾片33，優(yōu)選的所述偏光片31的光軸方向與退偏濾片33的快軸方向呈+45°、或-45°的夾角。

步驟S2、開啟圓偏光面板1使其發(fā)光，以一預設角度為間隔旋轉(zhuǎn)檢偏器3內(nèi)的偏光片31，光線經(jīng)偏光片31與退偏濾片33進入光譜儀5，每旋轉(zhuǎn)一次偏光片31，使用光譜儀5測量一次全光譜。

具體地，該步驟S2優(yōu)選以5°或10°為間隔旋轉(zhuǎn)檢偏器3內(nèi)的偏光片31。

所述光譜儀5可以是任意類型的光譜儀。若該光譜儀5為光纖光譜儀，則在其光纖末端設置積分球來提高光譜儀5的再現(xiàn)性。

步驟S3、請參閱圖5，根據(jù)光譜儀5測量到的全光譜數(shù)據(jù)計算相對均方根偏差最小的波長λ0，此波長下的光最接近圓偏光，也就相當于得到了圓偏光波長。以及步驟S4、計算圓偏光延遲量值、及波長延遲量值。

具體地，該步驟S4中計算圓偏光延遲量值使用的計算公式為：

當λ≤λ0時；

當λ>λ0時；

其中：

S_λ0(min)、S_λ0(max)分別為波長λ0隨檢偏器3內(nèi)的偏光片31的角度變化時測量到光譜輻射強度的最大值、最小值；

θ為圓偏光延遲量值；S_λ(min)、S_λ(max)分別為任一波長λ的可見光隨檢偏器3內(nèi)的偏光片31的角度變化時測量到的光譜輻射強度的最大值、最小值；

該步驟S4中計算波長延遲量值使用的計算公式為：

其中，Re為波長延遲量值，θ為圓偏光延遲量值，λ為可見光的任一波長。

本發(fā)明的圓偏光面板檢測方法，根據(jù)波長分散性的原理，以一預設角度為間隔旋轉(zhuǎn)檢偏器3內(nèi)的偏光片31，圓偏光面板1發(fā)出的光線經(jīng)偏光片31與退偏濾片32進入光譜儀5，每旋轉(zhuǎn)一次偏光片31，使用光譜儀5測量一次全光譜，然后根據(jù)光譜儀5測量到的全光譜數(shù)據(jù)便能夠計算得到圓偏光波長、及圓偏光延遲量值，從而能夠較快速準確地測量面板1的圓偏光特性，對圓偏光面板品質(zhì)進行評估，有效監(jiān)控圓偏光面板模組制程。

請同時參閱圖2、圖3、與圖4，本發(fā)明還提供一種圓偏光面板檢測裝置，包括檢偏器3、及置于檢偏器3后方的光譜儀5。

所述檢偏器3包括偏光片31、及快軸方向與偏光片31的光軸方向呈一固定角度，優(yōu)選+45°、或-45°的夾角的退偏濾片33；所述偏光片31能夠以一預設角度，優(yōu)選5°或10°為間隔旋轉(zhuǎn)。

所述光譜儀5可以是任意類型的光譜儀。若該光譜儀5為光纖光譜儀，則在其光纖末端設置積分球來提高光譜儀5的再現(xiàn)性。

當檢偏器3內(nèi)的偏光片31以一預設角度為間隔旋轉(zhuǎn)時，每旋轉(zhuǎn)一次偏光片31便使用光譜儀5測量一次全光譜。

根據(jù)光譜儀5測量到的全光譜數(shù)據(jù)計算相對均方根偏差最小的波長λ0即得到圓偏光波長；

還可以使用以下公式來計算圓偏光延遲量值：

當λ≤λ0時；

當λ>λ0時；

其中：

S_λ0(min)、S_λ0(max)分別為波長λ0隨檢偏器3內(nèi)的偏光片31的角度變化時測量到光譜輻射強度的最大值、最小值；

θ為圓偏光延遲量值；S_λ(min)、S_λ(max)分別為任一波長λ的可見光隨檢偏器3內(nèi)的偏光片31的角度變化時測量到的光譜輻射強度的最大值、最小值。

以及可以使用以下公式來計算波長延遲量值：

其中，Re為波長延遲量值，θ為圓偏光延遲量值，λ為可見光的任一波長。

因此，本發(fā)明的圓偏光面板檢測裝置通過光譜儀配合檢偏器內(nèi)偏光片的旋轉(zhuǎn)來測量全光譜，能夠較快速準確地測量面板的圓偏光特性。

綜上所述，本發(fā)明的圓偏光面板檢測方法，根據(jù)波長分散性的原理，以一預設角度為間隔旋轉(zhuǎn)檢偏器內(nèi)的偏光片，圓偏光面板發(fā)出的光線經(jīng)偏光片與退偏濾片進入光譜儀，每旋轉(zhuǎn)一次偏光片，使用光譜儀測量一次全光譜，然后根據(jù)光譜儀測量到的全光譜數(shù)據(jù)便能夠計算得到圓偏光波長、及圓偏光延遲量值，從而能夠較快速準確地測量面板的圓偏光特性，對圓偏光面板品質(zhì)進行評估，有效監(jiān)控圓偏光面板模組制程。本發(fā)明的圓偏光面板檢測裝置，設置有檢偏器、及光譜儀，檢偏器內(nèi)的偏光片能夠以一預設角度為間隔旋轉(zhuǎn)，光譜儀配合偏光片的旋轉(zhuǎn)來測量全光譜，能夠較快速準確地測量面板的圓偏光特性。

以上所述，對于本領域的普通技術人員來說，可以根據(jù)本發(fā)明的技術方案和技術構思作出其他各種相應的改變和變形，而所有這些改變和變形都應屬于本發(fā)明后附的權利要求的保護范圍。