1.基于光電耦合器的三相電能表空開信號檢測電路，包括負(fù)載、與負(fù)載連接的空氣開關(guān)以及電能表，其特征在于：所述電能表包括MCU、與MCU連接的表計繼電器以及與MCU連接的空開檢測電路，所述空開檢測電路還并聯(lián)表計繼電器，所述表計繼電器的一端還連接至電能表三相中的任意一端；所述表計繼電器的另一端還連接至空氣開關(guān)的第一引腳，所述空氣開關(guān)中與第一引腳對應(yīng)設(shè)置的第二引腳連接至負(fù)載的一端，所述負(fù)載的另一端連接至空氣開關(guān)的第四引腳，所述空氣開關(guān)中與第四引腳對應(yīng)設(shè)置的第三引腳連接至零線；所述空開檢測電路包括第一電阻（R1）、第二電阻（R2）、第三電阻（R3）、二極管（VD1）、光耦（E1）、第一電容（C1）和第二電容（C2）；所述第一電阻（R1）的一端與表計繼電器的一端連接，所述二極管（VD1）的正極與表計繼電器的另一端連接，所述二極管（VD1）的負(fù)極還與第一電阻（R1）的另一端連接，所述二極管（VD1）還并聯(lián)至光耦（E1）的第一引腳和第二引腳上；所述光耦（E1）的第四引腳接VDD電源，所述光耦（E1）的第三引腳連接第二電阻（R2）的一端，所述第二電阻（R2）的一端還連接第一電容（C1）的一端，所述第一電容（C1）的一端還連接第三電阻（R3）的一端，所述第三電阻（R3）的另一端連接第二電容（C2）的一端，所述第二電容（C2）的一端還連接至MCU的IO口，所述第二電阻（R2）的另一端、第一電容（C1）的另一端、第二電容（C2）的另一端都接GND。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于光電耦合器的三相電能表空開信號檢測電路，其特征在于：所述光耦（E1）的第一引腳連接二極管（VD1）的負(fù)極，所述光耦（E1）的第二引腳連接二極管（VD1）的正極。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于光電耦合器的三相電能表空開信號檢測電路，其特征在于：所述MCU的IO口為CHK_AC_POWER。
4.基于光電耦合器的三相電能表空開信號檢測方法，其特征在于：
當(dāng)空氣開關(guān)合閘，表計繼電器也合閘，空開檢測電路就被表計繼電器短路，導(dǎo)致二極管（VD1）的兩端電壓變?yōu)?，光耦（E1）不動作，MCU的IO口接收到低電平信號；
當(dāng)表計繼電器合閘，空氣開關(guān)拉閘，空開檢測電路就斷路，導(dǎo)致沒有電流通過；二極管（VD1）的兩端電壓變?yōu)?，光耦（E1）不動作，MCU的IO口接收到低電平信號；
當(dāng)表計繼電器拉閘，空氣開關(guān)合閘，空開檢測電路就會有交流電流通過；當(dāng)交流電幅值為正時，二極管（VD1）承受方向電壓，光耦（E1）動作，第二電阻（R2）兩端承受電壓，MCU的IO口接收高電平信號；當(dāng)交流電幅值為負(fù)時，二極管（VD1）正向?qū)?，光耦不動作，MCU的IO口接收低電平信號；
當(dāng)表計繼電器和空氣開關(guān)都拉閘，空開檢測電路就斷路，導(dǎo)致沒有電流通過；二極管（VD1）的兩端電壓變?yōu)?，光耦（E1）不動作，MCU的IO口接收到低電平信號。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于光電耦合器的三相電能表空開信號檢測方法，其特征在于：在空開檢測電路中有交流電流通過的若干個周期內(nèi)，MCU的IO口所接收的為50Hz的方波信號。