技術(shù)總結(jié)
本申請?zhí)峁┝艘环N基于暗條紋邏輯判斷的相位成像設(shè)備，包括光源裝置、擴束準直元件、空間光調(diào)制器、透鏡元件、陣列探測器以及圖像生成裝置，所述圖像生成裝置根據(jù)空間光調(diào)制器加載的多個相位掩膜和待測物體的相對相位取值構(gòu)建參考庫矩陣，根據(jù)陣列探測器記錄的對應于每個相位掩膜下的待測物體的二維強度圖像矩陣判別出每一幅二維強度圖像矩陣中相鄰像素點之間的暗條紋，再結(jié)合參考庫矩陣獲得相鄰像素點之間的相位比率，根據(jù)預設(shè)的基準像素點和規(guī)劃路徑生成每一個像素點和基準像素點之間累乘比率，構(gòu)建出待測物體的相位成像。本發(fā)明還提供了基于暗條紋邏輯判斷的相位成像方法。該設(shè)備和方法計算復雜度低、相位重建精度高、具有全局最優(yōu)性等優(yōu)點。

技術(shù)研發(fā)人員：俞文凱;熊安東;趙清
受保護的技術(shù)使用者：北京理工大學
文檔號碼：201611152055
技術(shù)研發(fā)日：2016.12.14
技術(shù)公布日：2017.05.24