技術總結
本發(fā)明公開了一種基于數(shù)字散斑干涉的變形及斜率同步測量裝置及測量方法，激光器出射光被分光棱鏡分為第一束光和第二束光；第一束光經(jīng)另一分光棱鏡反射到單色CCD相機成像靶面上，構成參考光路；第二束光經(jīng)平面鏡反射照射在被測物體表面，形成激光散斑場，單色CCD相機從與光軸對稱的雙方向同時接收激光散斑場，構成兩個物光路；通過切換參考光路和物光路的開閉，形成同步測量的數(shù)字散斑干涉光路和剪切數(shù)字散斑干涉光路，提取散斑干涉條紋相位和剪切散斑干涉條紋相位，測得被測物體表面變形和斜率。本發(fā)明實現(xiàn)了被測物體變形及其斜率信息的同步、獨立測量，無需重復加載和后期分離；采用相移技術，提高測量精度；構建測量靈敏度可調且物光共用的散斑干涉雙光路，使系統(tǒng)整體結構簡單、緊湊。

技術研發(fā)人員：顧國慶;佘斌;孔海陵;王路珍
受保護的技術使用者：鹽城工學院
文檔號碼：201611149902
技術研發(fā)日：2016.12.14
技術公布日：2017.02.15