技術(shù)編號(hào)：11130567
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及光學(xué)測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種數(shù)字散斑干涉測(cè)量方法。背景技術(shù)數(shù)字散斑干涉技術(shù)和剪切數(shù)字散斑干涉技術(shù)是兩種基于激光散斑干涉技術(shù)的全場(chǎng)、非接觸、高精度、高靈敏度的光學(xué)測(cè)量技術(shù)。前者廣泛應(yīng)用于物體表面的變形測(cè)量、振動(dòng)分析、形貌測(cè)試和缺陷檢測(cè)等，而后者可直接測(cè)量物體變形的斜率，主要應(yīng)用于工業(yè)無損檢測(cè)領(lǐng)域。整合數(shù)字散斑干涉技術(shù)和剪切數(shù)字散斑干涉技術(shù)開展物體變形及其斜率信息的同步測(cè)量研究，對(duì)于解決具有相對(duì)較大變形和相對(duì)較小斜率物體的內(nèi)部缺陷無損檢測(cè)問題顯得較為方便，這也為實(shí)現(xiàn)工程結(jié)構(gòu)中不同類型缺陷...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。