本發(fā)明涉及電子設備技術(shù)，尤其涉及一種手持測試儀。

背景技術(shù)：

在實際生產(chǎn)生活當中，經(jīng)常需要對線路進行測試，以確定線路的通斷情況。

目前主要利用萬用表測試線路的通斷情況，萬用表包括表體和兩個探筆。具體的操作過程為：需先將表體可靠地放置在測試點附近的平臺或地面上，再雙手各持一個探筆接觸線路的測試點的兩端，進而判斷線路的通斷情況。

現(xiàn)有技術(shù)的不足之處在于，使用萬用表測試時，雙手各持一個探筆，而表體需可靠地放置在測試點附近的平臺或地面上，如果操作現(xiàn)場沒有這樣的條件，往往需要用身體的其他部位將表體進行固定，這樣給測試帶來很大的不便。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明提供一種手持測試儀，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中通斷測試不方便的問題。

本發(fā)明提供一種手持測試儀，包括：

第一手持器，包括第一殼體、N個第一探頭和第一檢測電路，各所述第一探頭和所述第一檢測電路均設置在第一殼體中，其中N為大于或等于2的整數(shù)；

第二手持器，包括第二殼體和N個第二探頭，各所述第二探頭均設置在第二殼體中；

其中，第一檢測電路可與一個所述第一探頭的第一端連接，并可與一個所述第二探頭的第一端連接，所述第一檢測電路用于檢測所述第一探頭的第二端和第二探頭的第二端同時接觸的線路是否導通。

根據(jù)如上所述的手持測試儀，可選地，至少有2個第一探頭的規(guī)格不同和/或至少有2個第二探頭的規(guī)格不同。

根據(jù)如上所述的手持測試儀，可選地，還包括切換開關(guān)，所述第一檢測電路通過切換開關(guān)與各所述第一探頭連接。

根據(jù)如上所述的手持測試儀，可選地，所述第一探頭包括第一滑道和第一探筆，所述第一滑道設置在所述第一殼體上，所述第一探頭通過所述第一滑道向所述第一殼體的外部滑出。

根據(jù)如上所述的手持測試儀，可選地，所述第二探頭包括第二滑道和第二探筆，所述第二滑道設置在所述第二殼體上，所述第二探頭通過所述第二滑道向所述第二殼體的外部滑出。

根據(jù)如上所述的手持測試儀，可選地，所述第一檢測電路包括：

電源；

第一分壓電路，與所述電源并聯(lián)，所述第一分壓電路包括依次串聯(lián)的第一電阻、第二電阻和第三電阻；

第二分壓電路，與所述電源并聯(lián)，所述第二分壓電路包括依次串聯(lián)的第四電阻、連接端和第五電阻，所述連接端的第一端用于連接所述第一探頭，所述連接端的第二端用于連接所述第二探頭；

比較器，與所述電源并聯(lián)，所述比較器的第一輸入端連接在所述第二電阻和所述第三電阻之間，所述比較器的第二輸入端連接在所述連接端的第二端和所述第五電阻之間；

指示器，與所述比較器的輸出端連接，所述指示器用于根據(jù)所述輸出端輸出的電平信號發(fā)出指示；

其中，所述第一電阻和所述第四電阻阻值相同，所述第三電阻和所述第五電阻阻值相同。

根據(jù)如上所述的手持測試儀，可選地，所述指示器包括以下儀器中的至少一種：蜂鳴器、LED燈。

根據(jù)如上所述的手持測試儀，可選地，所述第二手持器還包括設置在所述第二殼體中的第二檢測電路，第二檢測電路可與一個所述第一探頭的第一端連接，并可與一個所述第二探頭的第一端連接，所述第二檢測電路用于檢測所述第一探頭的第二端和第二探頭的第二端同時接觸的線路是否導通。

根據(jù)如上所述的手持測試儀，可選地，所述第二檢測電路和所述第一檢測電路的結(jié)構(gòu)相同。

根據(jù)如上所述的手持測試儀，可選地，還包括照明燈，所述照明燈分別設置在所述第一手持器和所述第二手持器上，用于提供照明。

本發(fā)明提供的手持測試儀，通過設置兩個能夠手持的第一手持器和第二手持器，且第一手持器上設置有第一探頭以及第二手持器上設置有第二探頭，第一探頭與第二探頭分別與第一檢測電路連接，這樣，通過第一檢測電路就能夠?qū)崿F(xiàn)線路通斷測試，這樣的手持測試儀能夠?qū)崿F(xiàn)使線路通斷測試操作更加便捷，而且提高線路通斷測試的效率。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作一簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發(fā)明一實施例提供的手持測試儀的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本發(fā)明另一實施例提供的手持測試儀中的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3a為本發(fā)明另一實施例提供的手持測試儀中的第一手持器的主視圖；

圖3b為本發(fā)明另一實施例提供的手持測試儀中的第一手持器的左視圖；

圖3c為本發(fā)明另一實施例提供的手持測試儀中的第一手持器的右視圖；

圖4a為本發(fā)明另一實施例提供的手持測試儀中的第二手持器的主視圖；

圖4b為本發(fā)明另一實施例提供的手持測試儀中的第二手持器的左視圖；

圖4c為本發(fā)明另一實施例提供的手持測試儀中的第二手持器的右視圖；

圖5為本發(fā)明再一實施例提供的手持測試儀中的第一檢測電路的結(jié)構(gòu)示意圖。

附圖標記：

1：第一手持器；2：第二手持器；3：杜邦線；

11：第一殼體；21：第二殼體；41：母頭；

12：第一探頭；22：第二探頭；42：公頭；

13：第一照明燈；23：第二照明燈；31：電源；

14：第一照明燈的開關(guān)；24：第二照明燈的開關(guān)；36：電源開關(guān)；

121：第一探筆；221：第二探筆；35：指示器；

122：第一滑道；222：第二滑道；351：第一限流電阻；

32：第一分壓電路；33：第二分壓電路；352：第二限流電阻；

321：第一電阻；331：第四電阻；353：LED燈；

322：第二電阻；332：連接端；355：蜂鳴器；

323：第三電阻；333：第五電阻；354：VMOS場效應管；

34：比較器；3321：連接端的第一端；3541：柵極；

341：比較器的第一輸入端；3322：連接端的第二端；3542：源極；

342：比較器的第二輸入端；344：比較器的第一電源端；3543：漏極；

343：比較器的輸出端；345：比較器的第二電源端；123：第一滑動鍵；

223：第二滑動鍵。

具體實施方式

為使本發(fā)明實施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。

實施例一

圖1為本發(fā)明一實施例提供的手持測試儀的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示，本實施例的手持測試儀包括：第一手持器1和第二手持器2。

其中，第一手持器1包括第一殼體11、N個第一探頭12和第一檢測電路(圖1中未標出)，各第一探頭12和第一檢測電路均設置在第一殼體11中，其中N為大于或等于2的整數(shù)；第二手持器2包括第二殼體21和N個第二探頭22，各第二探頭22均設置在第二殼體21中。

舉例來說，第一殼體11和第二殼體21按人體工程學設計外形以方便手持，比如手柄狀，同時第一殼體11和第二殼體21的體積不宜過大，例如以能夠歸置到眼鏡盒大小的容具中的體積為佳，這樣輕便且易攜帶。此外將第一檢測電路封裝在第一殼體11中，能夠進一步地使手持測試儀輕便且易攜帶。

需要說明的是，可以將第一探頭12和第二探頭22的個數(shù)均設置成多個。各第一探頭12的規(guī)格可以完全相同，也可以各不相同，或者至少有2個第一探頭12的規(guī)格不同，同樣，各第二探頭22的規(guī)格可以完全相同，也可以各不相同，或者至少有2個第二探頭22的規(guī)格不同。

當各第一探頭12的規(guī)格完全相同時，若有一個第一探頭12損壞，可以采用另外一個第一探頭12繼續(xù)檢測，這樣能夠保證測試的及時性。對于第二探頭22的情況相同。

而且，若有多個不同規(guī)格的探頭，可以更加便于使用對應規(guī)格的探頭來檢測電子設備的線路是否導通，即可以同時使用相同規(guī)格的第一探頭12和第二探頭22來進行檢測，也可使用規(guī)格不同的第一探頭12和第二探頭來進行檢測，具體可以根據(jù)實際需要設定。

舉例來說，第一探頭12和第二探頭22的個數(shù)分別至少有3個，即第一探頭12和第二探頭22均至少具有Φ1.5mm、Φ2mm、Φ2.5mm三種規(guī)格，當待測試的線路的測試點的孔徑為Φ1.5mm時，就使用Φ1.5mm探頭測試，當待測試的線路的測試點的孔徑為Φ2mm時，就使用Φ2mm或Φ1.5mm探頭測試，只要滿足所選擇的探頭規(guī)格不超過測試點的孔徑就行，以此類推，根據(jù)線路的測試點的孔徑選擇合適的探頭進行通斷測試。

更為具體地，當待測試的線路的一個測試點為9針串行接口中的一針時，假如采用現(xiàn)有技術(shù)中的萬用表測試，受限于萬用表探頭過粗，無法直接插入9針串行接口中接觸測試點，這時往往就需要用一根較細的銅絲將萬用表探頭纏繞起來，通過銅絲接觸9針串行接口中的測試點進行測量，顯然這種通斷測試效率低。更為具體地，當待測試的線路為端子排的線路時，由于端子排的金屬端子安裝位置比較深，萬用表探頭由于探頭過粗難以深入端子排的測試孔接觸金屬端子測量。若采用本實施例的手持測試儀，操作者在使用手持測試儀時，根據(jù)線路的測試點的孔徑選擇合適的探頭進行通斷測試，從而實現(xiàn)對具有多種孔徑的測試點的線路進行更好地通斷測試。

其中，第一檢測電路可與一個第一探頭12的第一端連接，并可與一個第二探頭22的第一端連接，第一檢測電路用于檢測第一探頭12的第二端和第二探頭22的第二端同時接觸的線路是否導通。舉例來說，待測試的線路的兩個測試點分別在不同的9針串行接口中，其中一個測試點與第一探頭12的第二端連接，另一個測試點與第二探頭22的第二端連接，第一探頭12的第一端和第二探頭22的第一端分別與第一檢測電路連接，這時，第一檢測電路根據(jù)測試結(jié)果判斷被測的線路的通斷情況。

第一檢測電路可以與每一個第一探頭12以及每一個第二探頭22連接，進行測試時，第一檢測電路分別與一個第一探頭12和一個第二探頭22連接。第一檢測電路與各探頭連接的方式可以有多種，例如，通過切換開關(guān)進行連接。舉例來說，第一手持器1具有3個第一探頭12，那么在對切換開關(guān)的選型時，至少要選取三路及以上的切換開關(guān)，切換開關(guān)切換線路屬于現(xiàn)有技術(shù)，在此不做贅述。

可選地，本實施例的第一殼體11上設置有杜邦線連接頭，例如母頭41，第二殼體上設置有杜邦線連接頭，例如公頭42，兩個杜邦線連接頭上可以連接有杜邦線3，第一檢測電路通過該杜邦線3可以與第二探頭22連接。此外，根據(jù)線路的測試點之間的距離自由地選擇相應長度的杜邦線3連接第一手持器1和第二手持器2，顯然，本實施例通過杜邦線3延長手持測試儀，能夠避免出現(xiàn)因線路的測試點相距較遠而出現(xiàn)通斷測試困難的情況，進而能夠?qū)崿F(xiàn)進一步提高線路通斷測試的便利性。

可選地，手持測試儀還包括照明燈，照明燈分別設置在第一手持器1和第二手持器2上，用于提供照明。舉例來說，第一手持器1設置有第一照明燈13和第一照明燈的開關(guān)14，第二手持器2設置有第二照明燈23和第二照明燈的開關(guān)24，通過在手持測試儀上安裝照明燈，從而使操作者可根據(jù)操作現(xiàn)場的光照程度選擇是否使用照明燈，為通斷測試提供更好地照明環(huán)境，進而實現(xiàn)更好地線路通斷測試。

本實施例提供的手持測試儀，通過設置兩個能夠手持的第一手持器1和第二手持器2，且第一手持器1上設置有第一探頭12以及第二手持器2上設置有第二探頭22，第一探頭12與第二探頭12分別與第一檢測電路連接，這樣，通過第一檢測電路就能夠?qū)崿F(xiàn)線路通斷測試，這樣的手持測試儀能夠?qū)崿F(xiàn)使線路通斷測試操作更加便捷，而且提高線路通斷測試的效率。

實施例二

本實施例對實施例一的手持測試儀做進一步補充說明。具體對實施例一的手持測試儀中的第一探頭、第二探頭做進一步補充說明。

圖2為本發(fā)明另一實施例提供的手持測試儀中的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3a為本發(fā)明另一實施例提供的手持測試儀中的第一手持器的主視圖；圖3b為本發(fā)明另一實施例提供的手持測試儀中的第一手持器的左視圖；圖3c為本發(fā)明另一實施例提供的手持測試儀中的第一手持器的右視圖；圖4a為本發(fā)明另一實施例提供的手持測試儀中的第二手持器的主視圖；圖4b為本發(fā)明另一實施例提供的手持測試儀中的第二手持器的左視圖；圖4c為本發(fā)明另一實施例提供的手持測試儀中的第二手持器的右視圖。

如圖3a-3b所示，本實施例的第一手持器1的第一探頭12包括第一滑道122和第一探筆121；如圖4a-4b所示，本實施例的第二手持器2的第二探頭包括第二滑道222和第二探筆221。

具體來說，第一滑道122設置在第一殼體11上，第一探頭12通過第一滑道122向第一殼體11的外部滑出，第二滑道222設置在第二殼體21上，第二探頭22通過第二滑道222向第二殼體21的外部滑出，每個探頭都具有相應的滑道和探筆。

舉例來說，第一手持器1和第二手持器2均設置有3個探頭，3個探頭中的探筆鋪設在滑道，在每根探筆上設置滑動鍵，如第一滑動鍵123或或第二滑動鍵223用于將探筆在滑道中滑出和滑進，實現(xiàn)將探筆在滑道中滑出和滑進的功能不限于舉例說明的在每根探筆上設置滑動鍵。

本實施例探頭包括滑道和探筆，探筆可在滑道上的平滑移動，從而可根據(jù)線路的測試點的孔徑，簡單方便地選擇合適規(guī)格型號的探頭進行通斷測試。

實施例三

本實施例對上述實施例的第一檢測電路做進一步補充說明。圖5為本發(fā)明再一實施例提供的手持測試儀中的第一檢測電路的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖5所示，第一檢測電路包括：電源31、第一分壓電路32、第二分壓電路33、比較器34和指示器35。

其中，電源31是第一檢測電路的電能來源，比如可以采用DC 6V紐扣電池作為電源31，此外還可以設置一個電源開關(guān)36用于控制電源31是否導通。例如，當需要用到手持測試儀時，打開電源開關(guān)36，第一檢測電路能夠執(zhí)行通斷測試工作；當不需要用到手持測試儀時，斷開電源開關(guān)36，第一檢測電路因無電源供應，不能執(zhí)行通斷測試工作。本實施例可以通過電源31和一個電源開關(guān)36的配合能夠?qū)崿F(xiàn)控制第一檢測電路是否執(zhí)行通斷測試工作，從而能夠?qū)崿F(xiàn)降低第一檢測電路的損耗，進一步地提升手持測試儀的使用壽命。

其中，第一分壓電路32與電源31并聯(lián)，第一分壓電路包括依次串聯(lián)的第一電阻321、第二電阻322和第三電阻323；第二分壓電路33與電源31并聯(lián)，第二分壓電路33包括依次串聯(lián)的第四電阻331、連接端332和第五電阻333，連接端332的第一端3321用于連接第一探頭12，連接端的第二端3322用于連接第二探頭22；其中，第一電阻321和第四電阻331阻值相同，第三電阻323和第五電阻333阻值相同。

需要說明的是，第一分壓電路32和第二分壓電路33的具體電路結(jié)構(gòu)不限，舉例來說，第一分壓電路32、第二分壓電路33不限于只串聯(lián)三個電阻，還可以串聯(lián)更多個電阻，串聯(lián)3個及其以上電阻組成的分壓電路的好處在于，以本實施例中的第一分壓電路32和第二分壓電路33舉例來說，在第一電阻321和第四電阻阻值331相同，第三電阻323和第五電阻阻值333相同的前提之下，將第二電阻322預設為線路通斷的電阻臨界值200mΩ，通過比較與連接端332連接的待測的線路和第二電阻322的阻值大小，與連接端連接332的待測的線路大于第二電阻322的阻值時，線路處于斷開狀態(tài)，與連接端332連接的待測的線路小于第二電阻322的阻值時，線路處于連通狀態(tài)，進而能夠?qū)崿F(xiàn)簡單方便地對線路的通斷情況進行有效判斷。

其中，比較器34的第一輸入端341連接在第二電阻322和第三電阻323之間，比較器34的第二輸入端342連接在連接端332的第二端3322和第五電阻333之間。需要說明的是，比較器34通過第一電源端344和第二電源端345與電源31并聯(lián)，即電源31為比較器34提供工作電源。

舉例來說，比較器34可選為電壓比較器，第一輸入端341可選為電壓比較器的正相輸入端，第二輸入端342可選為電壓比較器的反相輸入端，當比較器的第一輸入端341的電壓大于比較器的第二輸入端342的電壓時，比較器的輸出端343輸出高電平，反之比較器的輸出端343輸出低電平。在本實施例中，與連接端332連接的待測的線路小于第二電阻322的阻值時，比較器34的輸出端343輸出高電平。與連接端332連接的待測的線路大于第二電阻322的阻值時，比較器32的輸出343輸出低電平。

其中，指示器35與比較器34的輸出端343連接，指示器35用于根據(jù)比較器34的輸出端343輸出的電平信號發(fā)出指示。

舉例來說，指示器35的電路結(jié)構(gòu)可以采用一個VMOS(V-groove metal-oxide semiconductor，V型槽金屬氧化物半導體)場效應管354、蜂鳴器355和/或LED燈353組成，當線路導通時，蜂鳴器355可以發(fā)出聲音，或者LED燈353可以發(fā)出光亮。其中，VMOS場效應管354共有三個連接端，分別為柵極3541、源極3542和漏極3543，當VMOS場效應管354的柵極3541和VMOS場效應管的源極3542的電壓大于0.6V時，VMOS場效應管354工作于飽和區(qū)，相當于VMOS場效應管354導通，電流流過VMOS場效應管354的源極3542和漏極3543；當VMOS場效應管的柵極3541和VMOS場效應管的源極3542之間的電壓小于0.6V時，VMOS場效應管354工作于截止區(qū)，相當于VMOS場效應管354關(guān)閉，無電流流過VMOS場效應管354的源極3542和漏極3543。

利用VMOS場效應管354的特性設計指示器，比如說，VMOS場效應管354的柵極3541通過第一限流電阻351與比較器34的輸出端343連接，VMOS場效應管354的漏極3543通過第二限流電阻352與電源31的正極連接，VMOS場效應管354的源極3542與電源31的負極連接，同時在VMOS場效應管354的源極3542與電源31的負極之間串聯(lián)有以下器件或電路中的至少一種：蜂鳴器355、LED(light emitting diode，發(fā)光二極管)燈353、由蜂鳴器355和LED燈353并聯(lián)組成電路，或者在VMOS場效應管354的漏極3543與電源31的正極之間串聯(lián)有蜂鳴器355或LED燈353或由蜂鳴器355和LED燈353并聯(lián)組成電路。需要說明的是，不限于利用VMOS場效應管的特性設計指示器，還可以是其他的電力電子器件。

當與連接端332連接的待測的線路小于第二電阻322的阻值時，比較器34的輸出端343輸出高電平，VMOS場效應管354導通，蜂鳴器355產(chǎn)生蜂鳴，或LED燈353發(fā)出光亮，或蜂鳴器355產(chǎn)生蜂鳴同時LED燈353發(fā)出光亮。當與連接端332連接的待測的線路大于第二電阻322的阻值時，比較器34的輸出端343輸出低電平，VMOS場效應管354關(guān)閉，蜂鳴器355不產(chǎn)生蜂鳴，或LED燈353不發(fā)出光亮，或蜂鳴器355不產(chǎn)生蜂鳴同時LED燈353不發(fā)出光亮。本實施例設計的指示器35利用蜂鳴器355或LED燈353對線路的通斷狀態(tài)進行指示，能夠解決光線較差和/或噪音較大的操作環(huán)境時通斷測試不方便的問題，進而實現(xiàn)更好地線路通斷測試。

可選地，第二手持器2還包括設置在第二殼體21中的第二檢測電路，第二檢測電路可與一個第一探頭12的第一端連接，并可與一個第二探頭22的第一端連接，第二檢測電路用于檢測第一探頭12的第二端和第二探頭22的第二端同時接觸的線路是否導通。可選地，第二檢測電路和第一檢測電路的結(jié)構(gòu)相同，在此不再累述第二檢測電路。當操作者采用本實施例中的手持測試儀進行通斷測試時，可以自由地選擇第一手持器1或第二手持器2的檢測電路，在第一手持器1或第二手持器2都設置檢測電路是出于冗余設計的考慮，提高手持測試儀的可靠性。

本實施例提供的手持測試儀，通過設置均與電源31并聯(lián)的第一分壓電路32、第二分壓電路33和比較器34實現(xiàn)線路通斷的檢測，并通過指示器35告知操作者測試結(jié)果，這樣在有效判斷線路通斷基礎上，結(jié)構(gòu)簡單且成本較低。

本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解：實現(xiàn)上述方法實施例的全部或部分步驟可以通過程序指令相關(guān)的硬件來完成，前述的程序可以存儲于一計算機可讀取存儲介質(zhì)中，該程序在執(zhí)行時，執(zhí)行包括上述方法實施例的步驟；而前述的存儲介質(zhì)包括：ROM、RAM、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質(zhì)。

最后應說明的是：以上實施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案，而非對其限制；盡管參照前述實施例對本發(fā)明進行了詳細的說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應當理解：其依然可以對前述各實施例所記載的技術(shù)方案進行修改，或者對其中部分技術(shù)特征進行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實施例技術(shù)方案的范圍。