技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種天平加載頭位姿檢測裝置，所述裝置包括：指示光源、位置探測結(jié)構(gòu)，所述指示光源安裝在待檢測天平加載頭上表面，所述位置探測結(jié)構(gòu)包括：指示光斑照射靶面、光學(xué)成像系統(tǒng)、位置探測器，所述指示光斑照射靶面開設(shè)有中心孔，所述位置探測器的端面設(shè)有開口，所述開口中心線與所述中心孔中心線重合，所述位置探測器固定在所述指示光斑照射靶面的背面，所述光學(xué)成像系統(tǒng)位于所述指示光斑照射靶面的正面前方，實(shí)現(xiàn)了利用本申請中的裝置加載頭位置姿態(tài)的大范圍變化監(jiān)測與復(fù)位位置姿態(tài)附近的高精密檢測可以同時進(jìn)行，并滿足了加載頭位置姿態(tài)檢測的大范圍、高精度測量要求。

技術(shù)研發(fā)人員：江孝國;李洪;楊興林;王遠(yuǎn);楊國君;龍全紅;張小丁;李一丁;蔣薇;李偉峰
受保護(hù)的技術(shù)使用者：中國工程物理研究院流體物理研究所
技術(shù)研發(fā)日：2016.10.19
技術(shù)公布日：2017.08.18