本發(fā)明涉及電能表的測(cè)試領(lǐng)域，更確切地說(shuō)涉及一種帶誤差自校驗(yàn)功能的電能表的測(cè)試方法。

背景技術(shù)：

普通的電能表沒有誤差自動(dòng)檢驗(yàn)的功能，供電部門需要定期或不定期地使用電能表校驗(yàn)儀對(duì)電能表進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)校驗(yàn)，以確保電能表計(jì)量的準(zhǔn)確性。所謂現(xiàn)場(chǎng)校驗(yàn)，是指對(duì)連接在供電網(wǎng)絡(luò)上的電能表進(jìn)行校驗(yàn)。使用電能表校驗(yàn)儀對(duì)電能表進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)校驗(yàn)時(shí)，電能表校驗(yàn)儀與電能表電連接，電能表與電能表校驗(yàn)儀分別計(jì)算有功功率，并由電能表校驗(yàn)儀計(jì)算出兩者計(jì)算的有功功率的誤差。這種現(xiàn)場(chǎng)校驗(yàn)的方式不僅耗費(fèi)人力，而且還不能及時(shí)發(fā)現(xiàn)電能表誤差，無(wú)法保證電能表的準(zhǔn)確性。

帶誤差自校驗(yàn)功能的電能表是為解決上述問題而誕生的。該電能表內(nèi)部集成電壓、電流基準(zhǔn)源電路，電能表進(jìn)入自檢模式時(shí)，表內(nèi)電路就與電壓、電流基準(zhǔn)源電路連通，電壓、電流基準(zhǔn)源為表內(nèi)電路提供基準(zhǔn)電壓和基準(zhǔn)電流，從而使電能表實(shí)現(xiàn)自校驗(yàn)，因此，只要電能表內(nèi)部設(shè)定程序，使電能表定期自檢就可及時(shí)發(fā)現(xiàn)電能表計(jì)量異常的現(xiàn)象。為了保證電能表的質(zhì)量，電能表在出廠之前都需要對(duì)其進(jìn)行性能測(cè)試，目前還沒有出現(xiàn)對(duì)這種帶誤差自校驗(yàn)功能的電能表進(jìn)行性能測(cè)試的方法。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是，提供一種帶誤差自校驗(yàn)功能的電能表的測(cè)試方法，該測(cè)試方法能測(cè)試帶誤差自校驗(yàn)功能的電能表的誤差自校驗(yàn)功能是否正常。

本發(fā)明的技術(shù)解決方案是，提供一種具有以下結(jié)構(gòu)的帶誤差自校驗(yàn)功能的電能表的測(cè)試方法，測(cè)試裝置包括被測(cè)電能表、檢驗(yàn)臺(tái)體及PC機(jī)；所述的PC機(jī)與所述的檢驗(yàn)臺(tái)體電連接，所述的檢驗(yàn)臺(tái)體與所述的被測(cè)電能表電連接；所述的被測(cè)電能表與所述的PC機(jī)電連接；所述的測(cè)試方法包括以下步驟：

S1、PC機(jī)發(fā)送控制信號(hào)給檢驗(yàn)臺(tái)體；

S2、所述的檢驗(yàn)臺(tái)體根據(jù)接收到的控制信號(hào)向被測(cè)電能表輸出不同工況；

S3、所述的PC機(jī)讀取被測(cè)電能表的數(shù)據(jù)，判斷被測(cè)電能表是否檢測(cè)到誤差故障；

S4、若被測(cè)電能表檢測(cè)到誤差故障，則被測(cè)電能表誤差自校驗(yàn)功能正常；否則，被測(cè)電能表誤差自校驗(yàn)功能不正常。

采用以上結(jié)構(gòu)后，本發(fā)明的帶誤差自校驗(yàn)功能的電能表的測(cè)試方法，與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下優(yōu)點(diǎn)：

由于本發(fā)明帶誤差自校驗(yàn)功能的電能表的測(cè)試方法中，PC機(jī)控制檢驗(yàn)臺(tái)體，檢驗(yàn)臺(tái)體輸出不同工況，PC機(jī)讀取被測(cè)電能表的數(shù)據(jù)，根據(jù)被測(cè)電能表傳輸給PC機(jī)的數(shù)據(jù)來(lái)判斷被測(cè)電能表誤差自校驗(yàn)功能是否正常，以確保帶誤差自校驗(yàn)功能的電能表的誤差自校驗(yàn)功能的正常使用。

作為改進(jìn)，在步驟S2中，輸出的工況包括切斷被測(cè)電能表內(nèi)的計(jì)量芯片的電源或改變被測(cè)電能表的計(jì)量參數(shù)或?qū)Ρ粶y(cè)電能表的數(shù)據(jù)清零或更換不同頻率的計(jì)量芯片的晶振或?qū)τ?jì)量芯片進(jìn)行頻繁復(fù)位。

作為改進(jìn)，所述的檢驗(yàn)臺(tái)體通過(guò)串口與所述的PC機(jī)電連接；所述的被測(cè)電能表電壓、電流端子與所述的檢驗(yàn)臺(tái)體電連接；所述的被測(cè)電能表通過(guò)RS485線與所述的PC機(jī)電連接。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說(shuō)明。

本發(fā)明的帶誤差自校驗(yàn)功能的電能表的測(cè)試裝置包括被測(cè)電能表、檢驗(yàn)臺(tái)體及PC機(jī)。所述的PC機(jī)與所述的檢驗(yàn)臺(tái)體電連接，所述的檢驗(yàn)臺(tái)體與所述的被測(cè)電能表電連接。所述的被測(cè)電能表與所述的PC機(jī)電連接。

本具體實(shí)施例中，所述的檢驗(yàn)臺(tái)體通過(guò)串口與所述的PC機(jī)電連接。所述的被測(cè)電能表電壓、電流端子與所述的檢驗(yàn)臺(tái)體電連接。所述的被測(cè)電能表通過(guò)RS485線與所述的PC機(jī)電連接。所述的PC機(jī)與所述的臺(tái)體之間實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)交互。所述的臺(tái)體為被測(cè)電能表提供電壓、電流。所述的臺(tái)體與被測(cè)電能表脈沖信號(hào)連接，使被測(cè)電能表獲取誤差數(shù)據(jù)。所述的PC機(jī)與電能表之間實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)交互。

本發(fā)明的帶誤差自校驗(yàn)功能的電能表的測(cè)試方法包括以下步驟：

S1、PC機(jī)發(fā)送控制信號(hào)給檢驗(yàn)臺(tái)體。

S2、所述的檢驗(yàn)臺(tái)體根據(jù)接收到的控制信號(hào)向被測(cè)電能表輸出不同工況。

操作工況可以包括以下幾種情況：

1、計(jì)量芯片的電源故障，比如切斷被測(cè)電能表內(nèi)的計(jì)量芯片的電源。

2、改變被測(cè)電能表的計(jì)量參數(shù)。

3、對(duì)被測(cè)電能表的數(shù)據(jù)清零。

4、計(jì)量芯片晶振故障或換用不同頻率的晶振。

5、對(duì)計(jì)量芯片進(jìn)行頻繁復(fù)位。

6、其他外部干擾。

S3、所述的PC機(jī)讀取被測(cè)電能表的數(shù)據(jù)，判斷被測(cè)電能表是否檢測(cè)到誤差故障。即實(shí)時(shí)讀取電能表計(jì)量故障狀態(tài)字并做記錄，判斷被測(cè)電能表計(jì)量故障發(fā)生時(shí)，電能表是否及時(shí)上報(bào)。

S4、若被測(cè)電能表檢測(cè)到誤差故障，則被測(cè)電能表誤差自校驗(yàn)功能正常。否則，被測(cè)電能表誤差自校驗(yàn)功能不正常。