【技術(shù)領(lǐng)域】

本發(fā)明是有關(guān)于一種探針固定導(dǎo)接方法及構(gòu)造，尤指一種用以檢測電子元件(例如被動(dòng)元件)的電氣特性(例如電阻值)的電子元件檢測裝置的探針固定導(dǎo)接方法及機(jī)構(gòu)。

背景技術(shù)：

按，一般電子元件由于具有不同的物理特性，故常需經(jīng)由檢測、分類的程序來進(jìn)行包裝或分類，在進(jìn)行檢測時(shí)常借一檢測座上間歇旋轉(zhuǎn)的載盤，載盤周緣設(shè)有環(huán)列布設(shè)的凹槽，使電子元件輸入凹槽中被間歇旋轉(zhuǎn)搬送，并在檢測座下方設(shè)有檢測裝置，使檢測裝置中的探針穿經(jīng)檢測座而凸伸至凹槽中底部，俾被間歇旋轉(zhuǎn)輸送至對應(yīng)探針定位處的凹槽中電子元件可被檢測；

此類檢測裝置由于探針長期檢測下與電子元件間容易發(fā)生接觸磨損，因此必須經(jīng)常作探針伸出檢測座高度的調(diào)整；此種探針通常螺設(shè)于一固定座的固定部中，借由調(diào)整固定部的旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)而相對的轉(zhuǎn)為使探針作上伸或下降的直線運(yùn)動(dòng)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

然而由于一般探針必須以導(dǎo)線連接檢測儀器，導(dǎo)線通常焊接于該金屬(通常為銅質(zhì)材料)制成的固定部上，以傳導(dǎo)至同為金屬導(dǎo)電材質(zhì)的探針，故固定部在作旋轉(zhuǎn)調(diào)整時(shí)容易使導(dǎo)線的焊接部位斷裂脫落，另，由于固定部是以螺接件螺固于固定座具內(nèi)螺紋的固定孔中，該固定座通常為不導(dǎo)電的材質(zhì)例如壓克力、電木，每次調(diào)整固定部皆需轉(zhuǎn)動(dòng)螺接件作對固定部的松放及螺固操作，長期操作下容易使固定座的內(nèi)螺紋損壞。

爰是，本發(fā)明的目的，在于提供一種使探針座的探針螺設(shè)定位更穩(wěn)固的電子元件檢測裝置的探針固定導(dǎo)接方法。

本發(fā)明的另一目的，在于提供一種使探針座的探針螺設(shè)定位更穩(wěn)固的電子元件檢測裝置的探針固定導(dǎo)接構(gòu)造。

本發(fā)明的又一目的，在于提供一種用以執(zhí)行如任一所述電子元件檢測裝置的探針固定導(dǎo)接方法的構(gòu)造。

依據(jù)本發(fā)明目的的電子元件檢測裝置的探針固定導(dǎo)接方法，包括：提供一探針座，使其可受驅(qū)動(dòng)進(jìn)行上、下位移；提供一探針，設(shè)于該探針座上，包括一針部及供針部螺設(shè)的固定部；提供一導(dǎo)線，使該導(dǎo)線一端與探針連接，另一端接設(shè)及傳遞信號至檢測儀器；使該探針的固設(shè)定位，是以一螺抵件先穿經(jīng)探針座一通孔，再螺經(jīng)一嵌塊具有內(nèi)螺紋的螺抵孔，然后至前端穿經(jīng)探針座一抵孔而抵及探針的固定部周緣，使探針獲得鎖固定位。

依據(jù)本發(fā)明另一目的的電子元件檢測裝置的探針固定導(dǎo)接構(gòu)造，包括：一探針座，可受驅(qū)動(dòng)進(jìn)行上、下位移，探針座設(shè)有凹槽；一探針，設(shè)于該探針座上，包括一針部及供針部螺設(shè)的固定部；一導(dǎo)線，該導(dǎo)線一端與探針連接，另一端接設(shè)及傳遞信號至檢測儀器；一嵌塊，設(shè)于該探針座的凹槽中，嵌塊設(shè)有具內(nèi)螺紋的一螺抵孔；一螺抵件，螺經(jīng)該嵌塊的螺抵孔并抵及探針的固定部周緣。

依據(jù)本發(fā)明又一目的的電子元件檢測裝置的探針固定導(dǎo)接構(gòu)造，包括用以執(zhí)行任一所述電子元件檢測裝置的探針固定導(dǎo)接方法的構(gòu)造。

本發(fā)明實(shí)施例的電子元件檢測裝置的探針固定導(dǎo)接方法及構(gòu)造，由于使提供內(nèi)螺紋供螺固件螺經(jīng)的嵌塊可以輕易的自凹槽中取放，而螺抵探針的固定部周緣的螺抵件所螺設(shè)之內(nèi)螺紋是設(shè)于探針座外的金屬嵌塊上，探針座并不受內(nèi)螺紋的損毀影響，且配合用以固定嵌塊的螺固件在螺固后即不需經(jīng)常旋進(jìn)旋出，故探針可以獲得穩(wěn)固的鎖固；且由于導(dǎo)線是以端子套嵌套于每一探針螺設(shè)針部的固定部下端，不僅端子套容易拆拔取下，亦使取下端子套后的固定部的旋轉(zhuǎn)調(diào)整無礙導(dǎo)線的連接。

【附圖說明】

圖1是本發(fā)明實(shí)施例中檢測裝置構(gòu)造配置的示意圖。

圖2是本發(fā)明實(shí)施例的探針固定導(dǎo)接構(gòu)造立體分解示意圖。

圖3是本發(fā)明實(shí)施例中探針固定導(dǎo)接構(gòu)造的組合剖面示意圖(一)。

圖4是本發(fā)明實(shí)施例中探針固定導(dǎo)接構(gòu)造的組合剖面示意圖(二)。

圖5是本發(fā)明實(shí)施例中另一探針導(dǎo)接實(shí)施例的檢測裝置構(gòu)造配置示意圖。

圖6是本發(fā)明實(shí)施例中另一探針導(dǎo)接實(shí)施例示意圖的剖面示意圖。

【符號說明】

1座架11電磁機(jī)構(gòu)

111旋臂112彈性元件

12探針座121樞孔

122聯(lián)結(jié)部123凹槽

124抵孔125通孔

126嵌塊127螺抵孔

128螺抵孔129固接孔

13探針131針部

132固定部14探針架

141鉆座15樞座

16固定架161端子座

162端子套163導(dǎo)線

164金屬扣片171螺固件

172螺抵件

【具體實(shí)施方式】

請參閱圖1、2，本發(fā)明電子元件檢測裝置的探針固定導(dǎo)接方

法及構(gòu)造實(shí)施例可以如圖所示的裝置來說明，包括：

一座架1，座架1上設(shè)有電磁機(jī)構(gòu)11，其驅(qū)動(dòng)一探針座12可作上下位移，探針座12上設(shè)有多個(gè)支探針13；座架1同時(shí)固設(shè)有一探針架14，各探針13伸經(jīng)探針架14上端的一鉆座141，以進(jìn)行觸抵電子元件作檢測；在探針架14一側(cè)下端設(shè)有一樞座15，其位于探針座12與探針架14間，并供各探針13樞經(jīng)以作引導(dǎo)及支撐細(xì)長的探針13；座架1設(shè)有一固定架16，其上設(shè)有對應(yīng)探針13數(shù)目的端子座161，各端子座161用以接設(shè)及傳遞信號至檢測儀器；

該探針座12設(shè)有方形矩陣排列的多個(gè)樞孔121，該探針13各包括一針部131及一固定部132，所述針部131螺設(shè)于固定部132上端，各固定部132并樞設(shè)于各對應(yīng)的探針座12上樞孔121；探針座12一側(cè)同時(shí)設(shè)有一凹設(shè)的聯(lián)設(shè)部122供一受電磁機(jī)構(gòu)11驅(qū)動(dòng)的懸臂111一端固設(shè)，懸臂111另一端樞設(shè)于座架1，兩端之間則受一彈性元件112抵撐，電磁機(jī)構(gòu)11的電磁吸附及松放，配合彈性元件112的被壓縮及回復(fù)，使懸臂111連動(dòng)該探針座12、探針13作上下往復(fù)位移。

請參閱圖2、3，該探針座12上方形矩陣排列的多個(gè)樞孔121，在本實(shí)施例中使用四支探針13，各探針13各據(jù)矩陣的四角，每二探針13各形成一方形矩陣的其中一直邊，于位于方形矩陣相平行的二直邊相對應(yīng)的兩外側(cè)，在相隔各該直邊一間距并與該直邊平行下，分別各設(shè)有一長度超過該直邊中二探針13間寬度的凹槽123，該凹槽123底部為盲底狀，上方則為開口狀，每一凹槽123中二平行長邊的內(nèi)側(cè)壁，相對應(yīng)分別設(shè)有二貫通并朝該對應(yīng)的方形矩陣二直邊處二樞孔121的抵孔124，及二貫通并朝探針座12外側(cè)的通孔125，同時(shí)在該凹槽123底部亦設(shè)有相隔間距朝探針座12底面貫通的二固定孔126；該凹槽123中相隔間距設(shè)有二金屬材質(zhì)的嵌塊127，該金屬材質(zhì)以銅質(zhì)為佳，每一嵌塊127上設(shè)有水平設(shè)置并前后貫通且分別對應(yīng)抵孔124及通孔125的螺抵孔128，螺抵孔128中設(shè)有內(nèi)螺紋，每一嵌塊127上亦設(shè)有垂直設(shè)置并對應(yīng)固定孔126的固接孔129，固接孔129中設(shè)有內(nèi)螺紋；該嵌塊127上水平設(shè)置的螺抵孔128與垂直設(shè)置的固接孔129相隔間距而不相交錯(cuò)貫通；

每一探針13螺設(shè)針部131的固定部132下端各嵌套一端子套162，端子套162各以導(dǎo)線163連接各對應(yīng)的端子座161，以接設(shè)及傳遞信號至檢測儀器。

請參閱圖3、4，該嵌塊127借由一螺絲構(gòu)成的螺固件171自探針座12底部的固定孔126朝凹槽123中嵌塊127的固接孔129螺設(shè)，使嵌塊127被固設(shè)于探針座12的凹槽123中定位；該探針座12以無頭螺絲構(gòu)成的螺抵件172穿經(jīng)通孔125，而螺經(jīng)嵌塊127上水平設(shè)置并前后貫通且具有內(nèi)螺紋的螺抵孔128，至前端穿經(jīng)抵孔124而抵及探針13的固定部132周緣，使固定部132獲得鎖固定位。

本發(fā)明實(shí)施例的電子元件檢測裝置的探針固定導(dǎo)接方法及構(gòu)造，由于使提供內(nèi)螺紋供螺固件171螺經(jīng)的嵌塊127可以輕易的自凹槽123中取放，而螺抵探針13的固定部132周緣的螺抵件172所螺設(shè)之內(nèi)螺紋是設(shè)于探針座12外的金屬嵌塊127上，探針座12并不受內(nèi)螺紋的損毀影響，且配合用以固定嵌塊127的螺固件171在螺固后即不需經(jīng)常旋進(jìn)旋出，故探針13可以獲得穩(wěn)固的鎖固；且由于導(dǎo)線163是以端子套162嵌套于每一探針13螺設(shè)針部131的固定部132下端，不僅端子套162容易拆拔取下，亦使取下端子套162后的固定部132的旋轉(zhuǎn)調(diào)整無礙導(dǎo)線163的連接。

本發(fā)明另一實(shí)施例，請參閱圖5、6，該導(dǎo)線163的線端可連接一金屬扣片164，使該金屬扣片164嵌夾于螺固件171與探針座12底部間，則因金屬扣片164可以經(jīng)螺固件171、嵌塊127，螺抵件172而與探針13螺設(shè)針部131的固定部132形成信號導(dǎo)通；此種方式可以在作固定部132旋轉(zhuǎn)微調(diào)時(shí)，金屬扣片164完全無需拆下，使操作更簡便。

惟以上所述者，僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，當(dāng)不能以此限定本發(fā)明實(shí)施的范圍，即大凡依本發(fā)明申請專利范圍及發(fā)明說明內(nèi)容所作的簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發(fā)明專利涵蓋的范圍內(nèi)。