1.一種利用巖屑X射線熒光光譜特征進(jìn)行分層卡層的方法，其特征在于步驟如下：
a、熟悉工區(qū)區(qū)域地層特征和地層劃分標(biāo)準(zhǔn)；
b、確定分層卡層的標(biāo)志層或輔助標(biāo)志層；
c、確定不同巖性的特征元素；
d、建立工區(qū)內(nèi)XRF剖面模型；
e、利用巖屑XRF譜圖特征進(jìn)行巖性的層位歸位；
f、根據(jù)所分析井段巖屑XRF數(shù)據(jù)繪制巖屑XRF剖面圖；
g、利用不同巖性特征元素曲線特征法、曲線交會(huì)法、元素比值法、特征元素法進(jìn)行層位劃分。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的利用巖屑X射線熒光光譜特征進(jìn)行分層卡層的方法，其特征在于：所述步驟a，具體是收集工區(qū)內(nèi)鉆井的錄井、測井資料。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的利用巖屑X射線熒光光譜特征進(jìn)行分層卡層的方法，其特征在于：所述步驟b，具體是確定對(duì)卡層具有指導(dǎo)意義的標(biāo)志層或標(biāo)志性巖性。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的利用巖屑X射線熒光光譜特征進(jìn)行分層卡層的方法，其特征在于：所述步驟c，根據(jù)不同巖性的元素組成，選取能表征該巖性的特征元素，如選取Si為砂巖的特征元素，Al、K為泥巖的特征元素，Ca、S為石膏的特征元素，Na、Cl為鹽巖的特征元素，Ca、Mg為灰?guī)r的特征元素。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的利用巖屑X射線熒光光譜特征進(jìn)行分層卡層的方法，其特征在于：所述步驟d，根據(jù)定量的XRF分析，建立工區(qū)內(nèi)的XRF模型，為所需井的XRF解釋提供模板。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的利用巖屑X射線熒光光譜特征進(jìn)行分層卡層的方法，其特征在于：所述步驟e，具體是利用不同的沉積環(huán)境下，同一種巖石中相同元素的含量有不同的原理，根據(jù)XRF分析譜圖特征來決定巖性的層位歸屬。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的利用巖屑X射線熒光光譜特征進(jìn)行分層卡層的方法，其特征在于：所述步驟f，將分析井的XRF數(shù)據(jù)繪制成XRF錄井圖。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的利用巖屑X射線熒光光譜特征進(jìn)行分層卡層的方法，其特征在于：所述步驟g，選取特征元素，并經(jīng)過數(shù)據(jù)處理，利用不同的解釋方法進(jìn)行層位的劃分。